一种测量时间交替adc采集系统偏置与增益误差的方法
【专利摘要】本发明公开了一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法，将余弦信号输入到时间交替ADC采集系统，在相同的时钟间隔上，时间交替ADC采集系统在不同采样时钟相位下，通过多路的并行通道以相同的采样频率进行并行采样，再将采样输出的信号进行傅里叶变换得到频谱幅值数据，在时间偏移误差为零时分别计算出各个通道的增益和偏置误差。这样可以简单快速的确定各个通道的增益和偏置误差，并完成误差校准。
【专利说明】一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法
【技术领域】
[0001]本发明属于信号采样【技术领域】，更为具体地讲，涉及一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法。
【背景技术】
[0002]多路并行ADC采集系统在保证高采样精度的同时可以有效的提高系统的等效采样率，然而在所有可能实现的并行ADC采集系统中，基于时间交替的并行ADC采集系统，即TIADC是最为简单的一种。理论上讲，TIADC采集系统的最高可实现采样率只限制于:1，输入信号的带宽；2，系统最大允许功耗；3，电路板或者集成电路的最大允许空间。
[0003]TIADC并行采集系统具有M个并行通道，各个通道采用相同的ADC实现以相同的采样率f (周期为T，T= ι/f)对输入信号并行采样。不同的是送到各通道ADC采样时钟相位不同，相邻两个通道之间时钟上升沿的时间差均为At = T/M，实现各通道之间的时间均匀采样，这样整个系统等效以T/Μ的采样间隔进行采样，等效采样率为fs = Mf,即为单通道ADC采样率的M倍，分辨率与各通道ADC分辨率相同。但是，由于ADC工艺或电路板布局布线及制作等各方面的原因，多个通道之间的采样不可能做到完全均匀，即各个通道出现通道失配，TIADC采集系统通道失配主要来自三种误差:增益、偏置及时间偏移误差。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法，通过对各个通道的采样数据计算，能够简单快速确定各个通道的增益和偏置误差，并完成误差校准。
[0005]为实现上述发明目的，本发明一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0006](I)、将余弦信号 x(t)输入到时间交替 ADC (TIADC, Time-1nterleaved ADC)采集系统，X(t)的幅度为A，频率为fin，初始相位则Φ?η，则x(t)可表示为x(t)=
Acos (2 fint+ Φ in)，其中
【权利要求】
1.一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法，其特征在于，包括以下步骤: (1)、将余弦信号x(t)输入到时间交替ADC(TIADC，Time-1nterleavedADC)采集系统，X (t)的幅度为A,频率为fin,初始相位则Φ in，则X (t)可表示为X (t) = Acos (2 31 fint+ φ in)，其中
【文档编号】H03M1/10GK103647554SQ201310683589
【公开日】2014年3月19日 申请日期:2013年12月16日 优先权日:2013年12月16日
【发明者】郭连平, 王志刚, 罗光坤, 刘涛, 邓小飞 申请人:电子科技大学