技术总结
本发明公开一种SRAM型FPGA器件单粒子反转探测及纠错的电路，SRAM型FPGA器件包括SRAM、编程控制模块、地址指针移位寄存器组模块和数据移位寄存器组模块；地址指针移位寄存器组模块和数据移位寄存器组模块分别与SRAM连接，地址指针移位寄存器组模块和数据移位寄存器组模块分别与编程控制模块连接，编程控制模块设有地址计数器并在编程控制模块增加单粒子反转探测工作模式，数据移位寄存器组模块与编程控制模块的回路上设有校验检测模块；本发明利用已经存在的FPGA编程电路，并基于此加入SEU的检测及纠错电路，从而实现了在增加很小的芯片面积及成本的基础上有效的实现抗SEU功能。纠错的时间在第三类的方式中速度很快，大幅降低了器件正常工作受到的单粒子反转影响。
技术研发人员：朱璟辉;高三达
受保护的技术使用者：广东高云半导体科技股份有限公司
文档号码：201610728276
技术研发日：2016.08.25
技术公布日：2017.01.04