专利名称：一种解决因辐射干扰导致sim卡丢卡的方法
技术领域：
本发明涉及移动通信终端防电磁干扰技术领域，尤其是一种解决 因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方法。
背景技术：
随着个人移动通讯技术的发展，个人移动通信终端的更替日新月 异，集成度越来越高，单体终端上实现的功能日益增多，在此基础上， 各功能模块之间相互影响已经达到了一个突出的位置，EMC已经成 为最严重的问题和发展瓶颈之一。手机作为最广泛应用的日常消费电 子产品之一，已经与人类生活息息相关。
手机最基本的功能是要求能够识别SIM卡，保证手机待机、正 常接听拨打电话，但是由于现代手机产品越来越朝小型化、集成化发 展，而天线等射频器件受客观技术水平的影响还必须作为独立^f莫块存 在，因此作为射频干扰源，经常会对手机某些性能造成影响，有些影 响是致命的。
在实际工程中，由于天线辐射影响，而导致SIM卡受千扰，不 能正常工作的情况时有发生(如通话过程中突然产生SIM卡失卡 或及重启等现象发生)。因此，如何在保证手机天线性能指标的情况 下，最大程度减小对SIM卡因辐射干扰，保证手机基本功能不受影响，就成为需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于一种解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法， 主要解决现有技术中移动通信终端使用中，因天线辐射影响而导致 SIM卡受干扰，不能正常工作的技术问题，避免了通话过程中突然产 生SIM卡失卡或及重启等现象发生。
为实现上述发明目的，本发明是这样实现的
一种解决因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方法，其特征在于，它 包括如下步骤
步骤A:将移动通信终端置于微波暗室中，利用专业的仪器设备， 测试出手机天线电磁场辐射方向图；所述的专业仪器设备包括 一套 satimo测试系统，无线综合测试仪CMU200，网络分析仪agilent 5071B;
步骤B:利用场强计，测试移动通信终端在固定功率等级通话中， SIM卡上承受的电磁波辐射的场强和分布；
步骤C:分析出对天线辐射状态影响最大的是靠近天线支架的 RF模块屏蔽罩，通过改变该屏蔽罩形状，即在屏蔽罩一条边上增加 挡板，来改变天线场的分布，使得SIM卡上测得的干扰信号强度降 低直至可接受范围内；或者，通过改变屏蔽罩挡板高度、及宽度和位 置，调整天线辐射电磁场形态，使得SIM卡上测得的干扰信号强度 降低直至可接受范围内。所述的解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法，其特征在于， 所述步骤C中方式调整屏蔽罩结构，平衡天线性能满足标准要求并在 SIM卡上辐射干扰最小至不引起失卡。
所述的解决因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方法，其特征在于， 所述步骤C中修改主板上相邻屏蔽罩结构件形式，靠近天线一面反折 180度，或反复调整屏蔽罩反折180度后该面高度和宽度，并配合对 天线走线做适当修剪，在天线测试系统中测量出天线场分布参数图， 测量SIM卡上承受来自天线辐射场强；所述的天线测试系统中包括 测试天线场分布图需要天线测试系统设备和测试sim上辐射场强需 要用场强计。
本发明涉及解决手机在待机和通话过程中，由于天线辐射对SIM 卡的干扰，造成SIM卡电路受影响而造成工作不正常，经常出现失 卡和重新启动等现象。在移动通信终端中由于相似原因造成问题均适 用。
图l为手机在整改之前，此时SIM卡承受较大辐射干扰，易引 起通话及待机中掉卡，天线场辐射分布参数三维图，。
图2为手机相邻金属结构件调整后，同时对手机天线单体做了 走线修改，天线场辐射分布参数图。
具体实施例方式本发明提供了一种解决因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方法，它 包括如下步骤
步骤A:将移动通信终端置于微波暗室中，利用专业的仪器设备， 测试出手机天线电磁场辐射方向图；所述的专业仪器设备包括 一套 satimo测试系统，无线综合测试仪CMU200,网络分析仪agilent 5071B;上述列举的仪器设备是并列使用的。
步骤B:利用场强计，测试移动通信终端在固定功率等级通话中， SIM卡上承受的电磁波辐射的场强和分布；
步骤C:分析出对天线辐射状态影响最大的是靠近天线支架的 RF模块屏蔽罩，通过改变该屏蔽罩形状，即在屏蔽罩一条边上增加 挡板，来改变天线场的分布，使得SIM卡上测得的干扰信号强度降 低直至可接受范围内；或者，通过改变屏蔽罩挡板高度、及宽度和位 置，调整天线辐射电磁场形态，使得SIM卡上测得的干扰信号强度 降低直至可接受范围内。所述步骤C中方式调整屏蔽罩结构，平衡天 线性能满足标准要求并在SIM卡上辐射干扰最小至不引起失卡。
以下通过一实施例来进一步介绍本发明方法
手机通话状态下，在手机天线测试系统中，对手机天线〗故3D测 试，绘制出场型图，测试SIM卡上承受的来自天线辐射的场强度， 测试结果结果如图1所示。
修改主板上相邻屏蔽罩结构件形式，靠近天线一面反折180度， 或反复调整屏蔽罩反折180度后该面高度和宽度，并配合对天线走线做适当修剪，在天线测试系统(它包括测试天线场分布图需要天线测
试系统设备和测试sim上辐射场强需要用场强计)中测量出天线场分 布参数图，测量SIM卡上承受来自天线辐射场强，如图2所示。
在天线性能指标满足标准要求下，得到SIM卡承受辐射干扰最 小的状态，对该状态下屏蔽罩和天线打样，做系统的验证性测试，判 断没有掉卡现象发生。
综上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明的 实施范围。即凡依本发明申请专利范围的内容所作的等效变化与修 饰，都应为本发明的技术范畴。
权利要求
1、一种解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法，其特征在于，它包括如下步骤步骤A将移动通信终端置于微波暗室中，利用专业的仪器设备，测试出手机天线电磁场辐射方向图；所述的专业仪器设备包括一套satimo测试系统，无线综合测试仪CMU200，网络分析仪agilent5071B；步骤B利用场强计，测试移动通信终端在固定功率等级通话中，SIM卡上承受的电磁波辐射的场强和分布；步骤C分析出对天线辐射状态影响最大的是靠近天线支架的RF模块屏蔽罩，通过改变该屏蔽罩形状，即在屏蔽罩一条边上增加挡板，来改变天线场的分布，使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内；或者，通过改变屏蔽罩挡板高度、及宽度和位置，调整天线辐射电磁场形态，使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内。
2、 根据权利要求1所述的解决因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方 法，其特征在于，所述步骤C中方式调整屏蔽罩结构，平衡天线性 能满足标准要求并在SIM卡上辐射干扰最小至不引起失卡。
3、 根据权利要求1或2所述的解决因辐射千扰导致SIM卡丢卡 的方法，其特征在于，所述步骤C中修改主^^反上相邻屏蔽罩结构件 形式，靠近天线一面反折180度，或反复调整屏蔽罩反折180度后该面高度和宽度，并配合对天线走线做适当修剪，在天线测试系统中测量出天线场分布参数图，测量siM卡上承受来自天线辐射场强；所述的天线测试系统中包括测试天线场分布图需要天线测试系统i殳备 和测试sim上辐射场强需要用场强计。
全文摘要
本发明涉及一种解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法。步骤A将移动通信终端置于微波暗室中，测试出手机天线电磁场辐射方向图；步骤B利用场强计，测试移动通信终端在固定功率等级通话中，SIM卡上承受的电磁波辐射的场强和分布；步骤C分析出对天线辐射状态影响最大的是靠近天线支架的RF模块屏蔽罩，通过改变该屏蔽罩形状，即在屏蔽罩一条边上增加挡板，来改变天线场的分布，使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内；或者，通过改变屏蔽罩挡板高度、及宽度和位置，调整天线辐射电磁场形态，使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内。它避免了通话过程中突然产生SIM卡失卡或及重启等现象发生。
文档编号H04W24/00GK101420706SQ20081020410
公开日2009年4月29日 申请日期2008年12月5日 优先权日2008年12月5日
发明者王洪飞, 赵宝发 申请人:上海闻泰电子科技有限公司