专利名称：光器件的故障检测方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及光学通信领域，尤其涉及一种光器件的故障检测方法及系统。
背景技术：
光器件主要用来对光电信号进行相应的转换，并对转换后的光信号的传输进行调节改变，从而使光信号的传输按事先设定要求进行以期达到预期目的。参考图1，现有技术的光器件包括具有发光源102的壳体100，在壳体100内封装有透镜103、陶瓷插芯104 ;壳体100与外部电源电连接，壳体100主要是对光或电信号进行转换与收发，即，接通电源后，使发光源102发光；透镜103的主要作用是将发光源102发出的光进行汇聚，以便于对光信 号的传输进行调节改变；陶瓷插芯104主要作用是将穿过光器件的光信号耦合到与光器件连接的光纤内部，从而使光信号与外界进行低损耗传接，或者将外部的光与光接收端的光电二极管之间进行低损耗传输。众所周知地，光器件投入使用之前，需对所述光器件进行检测确定其是否合格，从而使投入市场的各光器件均可正常使用，而当有部分光器件在检测过程中发现不合格不能正常使用时，生产厂商需对该不合格光器件进行检测以确定不合格光器件的故障原因所在。在现有技术中，并没有专门针对该不合格光器件故障检测的系统，在对不合格光器件的检测时，工作人员一般是直接将其壳体100掰开或拆开，以检测不合格光器件存在的故障原因。但是这种检测方法不仅在掰开或拆开过程中容易损坏壳体100内的其它器件，而且对不合格光器件故障的检测结果的准确性将受工作人员的工作熟练程度及认知能力等主观因素的影响而难以确保。因此有必要提供一种改进的光器件的故障检测方法及系统，以克服上述缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种光器件的故障检测方法及系统，该检测方法及系统可对不合格的光器件的故障进行精确检测，而且在检测过程中不会损坏所述光器件，延长了光器件的使用寿命。为实现上述目的，本发明提供一种光器件的故障检测方法，所述光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其中，所述检测方法包括如下步骤(I)在光器件和光功率器之间连接单模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过单模光纤后的光功率值，并记录为第一光功率值；(2)在光器件和光功率器之间连接多模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过多模光纤后的光功率值，并记录为第二光功率值；(3)通过对比第一光功率值与所述第二光功率值的大小关系，判定所述光器件的故障原因。较佳地，当所述第二光功率值与第一功率值的比值大于或等于120%时，则判定所述光器件的故障原因为光学对准的改变；当所述第二光功率值与第一功率值的比值为100%-120%时，则判定所述光器件的故障原因为光器件内部存在有遮挡杂物。较佳地，所述步骤(I)具体包括将单模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述单模光纤另一端连接于光功率器，接通发光源，所述光功率器测试光通过单模光纤后的光功率值，并将通过所述单模光纤的光功率值记录为第一光功率值。较佳地，所述步骤(I)具体为所述光功率器多次测试通过所述单模光纤后的光功率值，将通过所述单模光纤的多个光功率值取平均值，并将所述平均值记录为第一光功率值。较佳地，所述步骤(2)具体包括将多模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述多模光纤另一端连接于光功率器，所述光功率器测试光通过多模光纤后的光功率值，并将通过所述多模光纤的光功率值记录为第二光功率值。较佳地，所述步骤(2)具体为所述光功率器多次测试通过所述多模光纤后的光功率值，将通过所述多模光纤的多个光功率值取平均值，并将所述平均值记录为第二光功率值。 较佳地，在所述步骤(I)之前还包括步骤根据所述光器件的特性设置所述光功率器的测试光波长。相应地，本发明还提供了一种光器件的故障检测系统，所述光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其中，所述检测系统包括电源、光功率器、单模光纤、多模光纤及评估板，所述电源分别与所述评估板及光功率器电连接，所述光器件安装于所述评估板上，且所述评估板与所述光器件的发光源电连接，以使所述发光源通电发光，所述光器件具有陶瓷插芯的一端通过单模光纤或多模光纤与所述光功率器连接。较佳地，所述光器件的故障检测系统还包括分析设备，所述分析设备与所述光功率器电连接，所述光功率器将测试获得的所述第二光功率值与所述第一光功率值输入所述分析设备，且所述分析设备将所述第二光功率值与所述第一光功率值对比，并根据所述对比结果判定所述光器件的故障原因。本发明的有益效果本发明的光器件的故障检测方法及系统，通过所述光功率器分别测试光器件连接在单模光纤及多模光纤后的光功率值，并分别记录为第一光功率值与第二光功率值，再对比第二光功率值与第一光功率值的大小关系，根据对比结果即可检测判定所述光器件的故障原因；从而，在所述光器件的故障检测过程中，不需要将所述光器件的壳体掰开或拆开，避免了损坏所述光器件的内部器件，延长了光器件的使用寿命；在本发明的故障检测方法中，是通过对比第二光功率值与第一光功率值的大小关系而确定所述光功率器的故障原因，避免了人为主观因素对检测结果的影响，提高了检测结果的准确率。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
图I为现有技术的光器件的结构示意图。图2为本发明光器件故障的检测系统的结构框图。图3为本发明光器件故障的检测系统连接有分析设备的结构框图。图4为本发明光器件故障的检测方法的流程图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。本发明光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯；其中，所述光器件具体的结构组成及工作原理，均为本领域技术人员所熟知，在此不再详细描述。请参考图2，本发明的光器件的故障检测系统包括电源110、光功率器120、评估板130、单模光纤140及多模光纤150 ;所述电源110分别与所述光功率器120及评估板130电连接，为所述光功率器120及评估板130供电，以使所述光功率器120及评估板130可正常工作；所述光器件100安装于所述评估板130上，且与所述评估板130电连接，从而所述评估板130用以固定所述光器件100，且为所述光器件100供电；在本发明的实施例中，所述评估板130与所述光器件100的发光源电连接，为所述发光源供电，使所述发光源通电发 光；所述单模光纤140与多模光纤150均与所述光器件100具有陶瓷插芯的一端及光功率器120连接，从而所述光功率器120测试光通过所述光器件100与单模光纤140或多模光纤150后的光功率值。在本发明的优选实施方式中，所述单模光纤140和多模光纤150是以择一的方式连接于所述光功率器120与评估板130的；即，当需要测试光通过单模光纤的光功率值时，就连接所述单模光纤140，当需要测试光通过多模光纤的光功率时，就连接所述多模光纤150 ;另外，在本发明光器件的故障检测系统的实际应用中，为了测试方便，可以通过另外的器件与本发明的光器件连接，该器件同时连接所述单模光纤140与多模光纤150,且所述单模光纤140与多模光纤150分别连接一个所述光功率器120,使发光源发出的光同时等同地通过所述单模光纤140与多模光纤150，这样就可以同时测试光通过两路光纤后的光功率，提高测试效率。请再结合参考图3，作为本发明的一个优选实施方式，所述光器件的故障检测系统还包括分析设备160，所述分析设备160与所述光功率器120及电源110电连接，所述光功率器120将其测试获得的光功率数值输入给所述分析设备160，从而所述分析设备160对所获得的光功率数值进行具体分析处理，从而通过对光功率数值的分析处理得出所述光器件100的故障原因。另外，为配合所述分析设备160，还可使其与一显示器(图未示)连接，从而所述显示器可将所述分析设备160分析处理后获得的结果直接显示出来，以使测试工作者可直接获得光器件100的故障原因。本发明的光器件的故障检测系统具体的检测过程为根据所述光器件100的传播特性，设置所述光功率器120的测试光波长，以使所述光功率器120可准确地测试到光功率；然后，将所述单模光纤140连接于光器件100与光功率器120之间，接通所述电源110，所述光功率器120测试所述光器件100连接单模光纤140后的光功率，并记录为第一光功率值，同时所述光功率器120将所述第一光功率值输入所述分析设备160 ;尔后，拆卸所述单模光纤140，将所述多模光纤150连接于光器件100与光功率器120之间，接通所述电源110，所述光功率器120测试所述光器件100连接多模光纤150后的光功率，并记录为第二光功率值，同时所述光功率器120将所述第二光功率值输入所述分析设备160 ;最后通过所述分析设备160分析处理所述第二光功率值与第二光功率值即可判定所述光器件100的具体故障原因，且通过所述显示器将获得的故障原因显示出来。从而，利用本发明的光器件的故障检测系统对所述光器件100进行故障检测时，不需要将所述光器件100掰开或拆开，避免了损坏所述光器件100，延长了光器件100的使用寿命，而通过对比第二光功率值与第一光功率值的比值确定所述光功率器100的故障原因，避免了人为主观因素对检测结果的影响，提高了检测结果的准确率。在本发明光器件的故障检测系统的优选实施例中，所述单模光纤140与多模光纤150具有相同的长度，从而保证光通过所述单模光纤140与多模光纤150后的光功率值，除了受单模光纤与多模光纤本身特性的影响外，不会再受其它外部因素影响，保证了通过对比第二功率值与第一功率值的结果确定所述光器件100故障原因的准确性。请再参考图4，描述本发明光器件的故障检测方法的具体过程，本发明光器件故障的检测方法包括如下步骤
步骤S101，根据所述光器件的特性设置所述光功率器的测试光波长；在本步骤中，设置所述光功率器的测试光波长与所述光器件的特性对应，以使所述光功率器在后续步骤的测试中，可准确地测试通过所述光器件后的光功率值，保证了测试结果的准确性。步骤S102，在光器件和光功率器之间连接单模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过单模光纤后的光功率值，并记录为第一光功率值。在本步骤中，通过外接光功率器测试所述光器件连接单模光纤后的光功率；具体地，将单模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述单模光纤另一端连接于光功率器，接通电源，当发光源发出的光穿过所述光器件与单模光纤后，利用所述光功率器多次测试光通过单模光纤后的光功率，且将所获得的多个光功率值相加后取平均值，并将该平均值记录为第一光功率值；如此多次测试后取平均值，可确保所获得的第一光功率值为光通过光器件与单模光纤后的比较精确的功率值，减小了外界因素对光功率器测试光功率的影响，减小了误差的发生，提高了测试的精度。步骤S103，在光器件和光功率器之间连接多模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过多模光纤后的光功率值，并记录为第二光功率值。在本步骤中，通过外接光功率器测试所述光器件连接多模光纤后的光功率；具体地，将已测试完成后的单模光纤从所述光器件上拆卸下来，将多模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述多模光纤另一端连接于光功率器，接通电源；当发光源发出的光穿过所述光器件与多模光纤后，利用所述光功率器多次测试光通过多模光纤后的光功率值，且将所获得的多个光功率值相加后取平均值，并将该平均值记录为第二光功率值；如此多次测试，与测试通过单模光纤的光功率相同，可提高测试的精度，保证第二光功率值的准确率。步骤S104，通过对比第一光功率值与所述第二光功率值的大小关系，判定所述光器件的故障原因。在本步骤中，在对比所述第二光功率值与第一光功率值时，当所述第二光功率值与第一功率值的比值大于或等于120%时，则所述光器件的故障原因为光学对准的改变(比如透镜的移动，陶瓷插芯的移动，激光器的位移)；当第二光功率值与第一功率值的比值为100%-120%时，则所述光器件的故障原因为光器件内部存在有遮挡杂物，从而通过本发明的故障检测方法确定了该光器件的故障原因，使得在后续修理过程中可对所述光器件有针对性地进行到修理操作，加快了修理操作的进程。另外，在本步骤中，所述光功率器还可与分析设备连接，所述光功率器将测试所获得的光功率值传送给分析设备，从而可通过该分析设备直接分析对比所述第二功率值与第一功率值之间的比值关系而判定所述光器件的故障原因，可进一步加快对光器件故障的检测进程。在本发明的实施例中，发光源发出的光通过单模光纤与多模光纤后将产生不同的光功率，将两种不同的光功率值进行对比而得出所述光器件的故障原因，利用了单模光纤与多模光纤对光不同的传导特性，其中，所述单模光纤与多模光纤的具体结构原理及对光的传导特性均为本领域技术人员所熟知，在此不再详细描述。另外，本发明的光器件的故障检测方法，也可用来检测光器件是否合格，不过，在检测前需要对已知的良好光器件进行测试，从而通过测试良好光器件的参数，确定单模光纤与多模光纤的预期的标准光功率值，在具体测试过程中通过对比测试获得的光功率值与 标准光功率值而确定光器件是否合格。在每一批次的测试中，都应重新测量单模光纤与多模光纤预期的标准光功率。综上所述，利用本发明的光器件故障的检测方法及系统，在所述光器件故障的检测过程中，不需要将所述光器件掰开或拆开，从而避免了损坏所述光器件，延长了光器件的使用寿命；而且是通过对比第二光功率值与第一光功率值的比值确定所述光功率器的故障原因，避免了人为主观因素对检测结果的影响，提高了检测结果的准确率。本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
权利要求
1.一种光器件的故障检测方法，所述光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤 在光器件和光功率器之间连接单模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过单模光纤后的光功率值，并记录为第一光功率值； 在光器件和光功率器之间连接多模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过多模光纤后的光功率值，并记录为第二光功率值； 通过对比第一光功率值与所述第二光功率值的大小关系，判定所述光器件的故障原因。
2.如权利要求I所述的光器件的故障检测方法，其特征在于，当所述第二光功率值与第一功率值的比值大于或等于120%时，则判定所述光器件的故障原因为光学对准的改变；当所述第二光功率值与第一功率值的比值为100%-120%时，则判定所述光器件的故障原因为光器件内部存在有遮挡杂物。
3.如权利要求I所述的光器件的故障检测方法，其特征在于，所述步骤(I)具体包括将单模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述单模光纤另一端连接于光功率器，接通电源，所述光功率器测试光通过单模光纤后的光功率值，并将通过所述单模光纤的光功率值记录为第一光功率值。
4.如权利要求3所述的光器件的故障检测方法，其特征在于，所述步骤(I)具体为所述光功率器多次测试通过所述单模光纤后的光功率值，将通过所述单模光纤的多个光功率值取平均值，并将所述平均值记录为第一光功率值。
5.如权利要求I所述的光器件的故障检测方法，其特征在于，所述步骤(2)具体包括将多模光纤一端连接于所述光器件安装有陶瓷插芯的一端，将所述多模光纤另一端连接于光功率器，所述光功率器测试光通过多模光纤后的光功率值，并将通过所述多模光纤的光功率值记录为第二光功率值。
6.如权利要求5所述的光器件的故障检测方法，其特征在于，所述步骤(2)具体为所述光功率器多次测试通过所述多模光纤后的光功率值，将通过所述多模光纤的多个光功率值取平均值，并将所述平均值记录为第二光功率值。
7.如权利要求3或5所述的光器件的故障检测方法，其特征在于，在所述步骤(I)之前还包括步骤 根据所述光器件的特性设置所述光功率器的测试光波长。
8.一种光器件的故障检测系统，所述光器件包括具有发光源的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其特征在于，所述检测系统包括电源、光功率器、单模光纤、多模光纤及评估板，所述电源分别与所述评估板及光功率器电连接，所述光器件安装于所述评估板上，且所述评估板与所述光器件的发光源电连接，以使所述发光源通电发光，所述光器件具有陶瓷插芯的一端通过单模光纤或多模光纤与所述光功率器连接。
9.如权利要求8所述的光器件的故障检测系统，其特征在于，所述光功率器测试光通过光器件与单模光纤后的光功率值并记录为第一光功率值；所述光功率器测试光通过光器件与多模光纤后的光功率值并记录为第二光功率值。
10.如权利要求9所述的光器件的故障检测系统，其特征在于，还包括分析设备，所述分析设备与所述光功率器电连接，所述光功率器将测试获得的所述第二光功率值与所述第一光功率值输入所 述分析设备，且所述分析设备将所述第二光功率值与所述第一光功率值对比，并根据所述对比结果判定所述光器件的故障原因。
全文摘要
本发明公开了一种光器件的故障检测方法及系统，所述光器件包括具有光收/发接头的壳体，在壳体内封装有透镜、陶瓷插芯，其中，所述检测方法包括如下步骤(1)在光器件和光功率器之间连接单模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过单模光纤后的光功率值，并记录为第一光功率值；(2)在光器件和光功率器之间连接多模光纤，接通电源，测试所述光器件发光通过多模光纤后的光功率值，并记录为第二光功率值；(3)通过对比第一光功率值与所述第二光功率值的大小关系，判定所述光器件的故障原因。本发明的光器件的故障检测方法可对不合格的光器件的故障进行精确且快速的检测，而且在检测过程中不会损坏所述光器件，保持光器件的状态以便做进一步的分析并延长了光器件的使用寿命。
文档编号H04B10/08GK102752047SQ20121026180
公开日2012年10月24日 申请日期2012年7月27日 优先权日2012年7月27日
发明者克瑞斯·劳鲍特 申请人:索尔思光电(成都)有限公司