测试系统及测试方法与流程

本发明涉及一种测试系统及测试方法。具体而言，本发明涉及一种可提供多个显示区域的测试系统及测试方法。

背景技术：

目前业界的自动测试机台设计理念为，将原本人工进行的测试项目，整合至单一机台内进行连续测试，依照运作原理，大致可分为两种测试方法：一种测试方法为固定待测试模块，通过移动测试设备的方式，将测试设备移动到不同待测试模块的放置位置，以对待测试模块进行不同项目的测试；另一种方式为固定测试设备，通过移动待测试模块的方式，将待测试模块移动到对应测试项目的测试设备下进行测试。

然而，无论采上述何种方式，对于待测试模块因工艺公差与治具公差，或是因测试时摆放位置的位移所产生的最终成像偏移，需通过校正机构进行补偿，才能得到正确的测试结果，测试之前也须通过人工进行待测试模块的取放，而造成人力资源不必要的耗费。此外，传统的测试机台也有着设计过于复杂，而导致设备成本过高的情况。

如此一来，如何有效地校正待测试模块因工艺公差与治具公差，或是因测试时摆放位置的位移所产生的最终成像偏移，以取得正确的测试结果，并避免测试机台的机构设计复杂，而导致设备成本过高，则成为业界急待解决的问题。

技术实现要素：

在下文中给出关于本发明的简要概述，以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它并不是意图确定本发明的关键或重要部分，也不是意图限定本发明的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

本发明的一实施例涉及一测试系统。根据本发明一实施例，测试系统包括一显示面板及一底层平台。显示面板用以提供多个显示区域，显示区域分别显示对应相异测试项目的多个测试影像。底层平台用以同时承载多个待测影像模块，并使得待测影像模块的镜头朝向显示面板，待测影像模块各自拍摄测试影像其中一 个。

该底层平台为一旋转平台，该旋转平台包含：

多个影像模块放置区，用以承载该些待测影像模块；

其中该些影像待测模块分别排列在该旋转平台的平面上的上、下、左、右四个方位。

该旋转平台还包含：

一取放区，当该些待测影像模块其中的一待测影像模块被转动至该取放区的位置时，该些待测影像模块其中的该待测影像模块没有与任何显示区域对准，且被转动至该取放区的该些待测影像模块其中的该待测影像模块可选择性地自该旋转平台被取下或被尚未经测试的另一待测影像模块交替放置。

进一步地，还包含一控制单元，且该些待测影像模块中具有一第一待测影像模块、一第二待测影像模块、一第三待测影像模块；该些显示区域包含一第一显示区域、一第二显示区域、一第二显示区域；

该旋转平台相对于该显示面板选择性地旋转至一第一特定位置及一第二特定位置；

当该旋转平台相对于该显示面板旋转至该第一特定位置时，该第一待测影像模块拍摄该第一显示区域的该测试影像以取得一第一影像数据，该第二待测影像模块拍摄该第二显示区域的该测试影像以取得一第二影像数据，及该第三待测影像模块拍摄该第三显示区域的该测试影像以取得一第三影像数据。

进一步地，在该控制单元控制该旋转平台旋转至该第二特定位置后，该第一待测影像模块拍摄该第二显示区域的该测试影像，该第二待测影像模块拍摄该第三显示区域的该测试影像。

该显示面板所提供的该些显示区域包含：

一第一显示区域，用以显示一解析图及一定位图，且该定位图包含多个定位点；

一第二显示区域，用以显示一彩黑点测试图；

一第三显示区域，用以显示一白平衡测试图。

进一步地，还包含：

一运算单元，当该些待测影像模块的一第一待测影像模块拍摄该第一显示区域的该定位图以取得一第一影像数据后，该运算单元用以计算该第一影像数据中 的该些定位点的坐标，利用该第一影像数据中的该些定位点的坐标以计算该第一影像数据中的该些定位点之间的至少一距离与至少一夹角；以及

该运算单元通过该至少一距离与该至少一夹角以计算出该第一影像数据的一成像旋转角度、一成像倾斜度及一成像位移量，并通过该成像旋转角度、该成像倾斜度及该成像位移量计算出一校正参数，并依据该校正参数以校正该些定位点的显示位置。

该运算单元依据该成像旋转角度、该成像倾斜度及该位移量计算出一校正参数，并依据该校正参数以选择性地调整该解析图的水平位移、垂直位移、旋转角度或倾斜角度。

该些显示区域包含在一测试部件区，该测试部件区包含一黑卡。

进一步地，还包含一控制单元、一运算单元、一测试机台显示单元，该显示面板包含一第一显示区域，该些待测影像模块包含一第一待测影像模块，其中：

该显示面板在该第一显示区域显示一定位图；

该控制单元控制该底层平台旋转至一第一特定位置，该第一特定位置使该第一待测影像模块与该第一显示区域对准；

该第一待测影像模块拍摄该定位图；

该运算单元依据该定位图的多个定位点的坐标以计算一校正参数，并依据该校正参数以补偿一解析图；

该显示面板在该第一显示区域显示该解析图；

该第一待测影像模块拍摄该解析图；

该测试机台显示单元显示该第一待测影像模块所拍摄的该解析图及一测试结果。

进一步地，还包含一控制单元、一运算单元、一测试机台显示单元，该显示面板包含一第一显示区域，该些待测影像模块包含一第一待测影像模块，该底层平台系为一旋转平台，且该第一待测影像模块放置在该旋转平台上，其中：

该显示面板的该第一显示区域显示一具有定位功能的解析图；

该控制单元控制该旋转平台旋转至一特定位置，使该第一待测影像模块与该第一显示区域对准；

该第一待测影像模块拍摄该具有定位功能的解析图以取得一影像数据；

该运算单元依据所拍摄的该具有定位功能的解析图中的多个定位点以判断 该具有定位功能的解析图是否需要校正；

若该运算单元判断该具有定位功能的解析图需要校正，则计算该影像数据中的一定位点坐标，利用该定位点坐标以计算该影像数据的一成像旋转角度、一倾斜角度及一位移量，并通过该成像旋转角度、该倾斜角度、该位移量计算出一校正参数，并依据该校正参数以校正该些定位点的显示位置；以及

该运算单元判断该些校正后的定位点的显示位置与一预先决定的显示位置的差异是否小于一门坎值，若该运算单元判断该些校正后的定位点的显示位置与该预先决定的显示位置的差异小于该门坎值，则储存该校正参数并同时拍摄该具有定位功能的解析图，并显示拍摄的该具有定位功能的解析图。

本发明的另一实施例涉及一种测试方法。根据本发明一实施例，测试方法包含：提供多个显示区域，些显示区域分别显示对应相异测试项目的多个测试影像；以及同时承载多个待测影像模块在一底层平台，并使得待测影像模块的镜头朝向显示面板，待测影像模块各自拍摄测试影像其中一个。

通过应用上述一实施例，即可有效地校正待测试模块因工艺公差与治具公差，或是因测试时摆放位置的位移所产生的最终成像偏移，以取得正确的测试结果，并避免测试机台的机构设计复杂，而导致设备成本过高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为根据本发明一实施例所绘示的测试系统的示意图；

图2为根据本发明一实施例所绘示的测试部件区的示意图；

图3A为根据本发明一实施例所绘示的旋转平台的一俯视图；

图3B为根据本发明一实施例所绘示的旋转平台的另一俯视图；

图4为根据本发明一实施例所绘示的测试系统的示意图；

图5为根据本发明一实施例所绘示的定位点示意图；

图6为根据本发明一实施例所绘示的测试方法的流程图；

图7为根据本发明一实施例所绘示的校正方法的流程图；

图8为根据本发明一实施例所绘示的应用定位点以实施校正方法的示意图；

图9为根据本发明一实施例所绘示的测试方法的流程图。

附图标记：

200：测试部件区

100、400：测试系统

10：显示面板

11：第一显示区域

12：第二显示区域

13：第三显示区域

14：黑卡

50：运算单元

40：控制单元

60：测试机台显示单元

30：测试箱

20：底层平台

A～D：影像模块放置区

E：走线区

81～85：定位点

X1、X2、Y1、Y2：连线

601～608、701～706：步骤。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。在本发明的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。应当注意，为了清楚的目的，附图和说明中省略 了与本发明无关的、本领域普通技术人员已知的部件和处理的表示和描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

同时参照图1及图2。图1为根据本发明一实施例所绘示的测试系统100的示意图。图2为根据本发明一实施例所绘示的测试部件区200的示意图。在图1中，测试系统100包括一显示面板10及一底层平台20。在一实施例中，显示面板10包含在测试部件区200中，测试部件区200及底层平台20置在测试箱30中。

如图2所示，显示面板10用以提供多个显示区域。举例而言，显示面板10为一液晶显示面板，并通过一显示面显示一影像画面，且所述多个显示区域包含在显示面板10的所述显示面。在此实施例中，显示面板10上共提供三个不同的显示区域11～13。这些显示区域11～13分别位于显示面板10上不同位置并且分别显示对应相异测试项目的多个测试影像。在一实施例中，上述的多个测试影像可以分别为解析图/定位图、彩黑点测试图、白平衡测试图或是其他具相等性的光学测试用图样(如灰阶渐层图、色域图、色温分布图等)。举例来说，位于显示面板10上方的显示区域11可以显示解析图及定位图，位于显示面板10左下方的显示区域12可以显示彩黑点测试图，位于显示面板10右下方的显示区域13可以显示白平衡测试图。

底层平台20用以同时承载多个待测影像模块，底层平台20上具有多个影像模块放置区(在此实施例中为四个)并使得底层平台20上的多个待测影像模块的镜头均朝向显示面板10的所述显示面，其中所述多个待测影像模块的位置分别对应到显示面板10上不同的显示区域，由此，所述多个待测影像模块能够同时各自拍摄测试影像其中一个。

举例而言，当底层平台20承载三个待测影像模块时，此三个待测影像模块分别为第一待测影像模块、第二待测影像模块、第三待测影像模块。第一待测影像模块的镜头可用以拍摄显示区域11所显示的测试影像，显示区域11所显示的测试影像例如为一解析图及一定位图。在另一实施例中，显示区域11所显示的测试影像可为一具有定位功能的解析图，例如包含有多个定位点的解析图，此实施例将在下述对应在图9的说明书段落详述。通过拍摄解析图及一定位图，可取得此第一待测影像模块拍摄结果的成像位置，以判断第一待测影像模块是否具有工艺公差、治具公差，或是因测试时摆放位置的位移所产生的成像偏移；同时，第二待测影像模块的镜头可用以拍摄显示区域12所显示的测试影像，其中显示区域12所显示的测试影像例如为一白平衡测试图，通过拍摄白平衡测试图，可 测试此第二待测影像模块对于动态色温纯色画面的拍摄效果；同时，第三待测影像模块的镜头可用以拍摄显示区域13所显示的测试影像，其中显示区域13所显示的测试影像例如为一彩黑点测试图，通过拍摄彩黑点测试图，可测试此第三待测影像模块对于标准纯色画面的拍摄效果。

因此，通过显示区域11～13分别显示对应不同测试项目的多个测试影像，可让多个待测影像模块各自拍摄该些测试影像其中一个，以达到在同一时间各自针对不同的测试项目进行测试的效果，也解决了传统上需要准备多个测试箱分别设置不同测试影像，再一一进行拍摄，导致测试时间较长且所需空间较大的缺点。

此外，在另一实施例中，测试部件区200还包含一黑卡14。举例而言，当底层平台20承载两个待测影像模块时，一待测影像模块的镜头可用以拍摄显示区域12所显示的测试影像，其中显示区域12所显示的测试影像例如为一白平衡测试图，通过拍摄白平衡测试图，可测试此待测影像模块对于动态色温纯色画面的拍摄效果；在同一时间，另一待测影像模块的镜头可用以拍摄黑卡14(例如颜色为全黑的纸卡，或是其他黑色的物体)，通过拍摄黑卡14可测试此另一待测影像模块对于全遮黑画面的拍摄效果。

实际上，目前的显示技术中，采用显示面板10来显示全黑画面通常还是会有一定程度的漏光(例如液晶屏幕的全黑画面将仍有一定亮度，而非全黑无亮度的画面)，将可能导致测试误差，且无端浪费显示面板10的电能。在此实施例中，在测试部件区200中整合设置实体的黑卡14来进行全遮黑画面的测试，可以节省电能并达到较好的测试效果。但本揭示文件并不以包含黑卡为限，另一实施例中，也可利用显示面板10显示全黑画面来取代黑卡。

请参照图3A和图3B，图3A和图3B分别为根据本发明一实施例所绘示的旋转平台的俯视图。在此实施例中，底层平台可以为一旋转平台20，旋转平台20包含影像模块放置区A～D，用以分别承载多个待测影像模块。旋转平台20通过旋转方式将多个待测影像模块旋转到不同的位置，以各自对应拍摄不同显示区域11～13的测试影像。其中，旋转平台20可通过自动或手动方式旋转。在此实施例中，旋转平台20同时可容纳并承载四个待测影像模块，但本发明并不以此为限。在一实施例中，影像模块放置区A～D分别排列在旋转平台20的平面上的上、下、左、右四个方位，由此影像模块放置区A～D其中的至少三个影像模块放置区可分别与显示区域11～13对应，例如但不限于图2～3A图中，影像模块放置区D对应至显示区域12，影像模块放置区A对应至显示区域11，影像模块放置区B对应至显示区域13，在此例中，可使放置在影像模块放置区域D、B及A的影像模块分别拍摄到显示区域12、显示区域11及显示区域13的测试影像。

在另一例子中，如图3A所示，旋转平台20的影像模块放置区D可用以放置第一待测影像模块，第一待测影像模块用以拍摄显示区域12所显示的测试影像，影像模块放置区A可放置第二待测影像模块，第二待测影像模块用以拍摄显示区域11所显示的测试影像，当第一待测影像模块拍摄完显示区域12所显示的测试影像且第二待测影像模块拍摄完显示区域11所显示的测试影像之后，旋转平台20可相对于显示面板10以旋转(例如：往顺时钟方向转动90度)到一特定位置，如图3B所示，使第一待测影像模块被转动到得以拍摄到显示区域11所显示的测试影像的位置(例如：使第一待测影像模块位于显示区域11的正下方)，且同时使第二待测影像模块被转动到得以拍摄到显示区域13所显示的测试影像的位置(例如：使第二待测影像模块位于显示区域13的正下方)，以进行下一轮拍摄。

在另一实施例中，旋转平台20具有四个特定位置，例如图3A所示旋转平台20的特定位置、将图3A所示旋转平台20往右旋转90度的特定位置(如图3B所示)、将图3A所示旋转平台20往右旋转180度的特定位置以及将图3A所示旋转平台20往右旋转270度的特定位置等四个位置；当旋转平台20旋转至各个特定位置时，影像模块放置区A～D会各自依次对应到显示区域11～13和一取放区其中一个。由此。当待测影像模块被转动至该取放区的位置时，此待测影像模块没有与任何显示区域对准，并且使得此待测影像模块容易自旋转平台被取下和/或被另一个尚未经测试的待测影像模块交替放置。

因此，通过旋转平台20的转动，可让多个待测影像模块移动到对应尚未拍摄的测项的显示区域位置，以使待测影像模块各自针对尚未拍摄的测试影像进行拍摄。

在另一实施例中，测试系统100还包含一控制单元(未绘示)，且多个待测影像模块中具有第一待测影像模块、第二待测影像模块、第三待测影像模块；显示区域包含第一显示区域11、第二显示区域12、第三显示区域13；如第3A图所示，当控制单元控制旋转平台20旋转至一第一特定位置时，第一待测影像模块拍摄第一显示区域11的至少一测试影像以取得一第一影像数据，第二待测影像模块拍摄第二显示区域12的至少一测试影像以取得一第二影像数据，及第三待测影像模块13拍摄第三显示区域的至少一测试影像以取得一第三影像数据；接着，控制单元控制旋转平台20旋转至一第二特定位置，如第3B图所示。在控制单元控制旋转平台20旋转至第二特定位置后，第一待测影像模块拍摄第二显示区域12的至少一测试影像，第二待测影像模块拍摄第三显示区域13的至少一测试影像。在一实施例中，在控制单元控制旋转平台20旋转至第二特定位置后，第三待测影像模块用以拍摄第一显示区域11的至少一测试影像。

然，本发明的实施方式并不限于放置三个待测影像模块在旋转平台20上，显示面板10所提供的显示区域的数量也不限于三个；应可理解的，本发明可放置多个待测影像模块在旋转平台20，显示面板10可提供多个显示区域，且通过控制旋转平台20与显示面板10的相对转动，可使多个待测影像模块移动至得以拍摄到对应显示区域的位置，由此在同一时间使多个待测影像模块各自拍摄不同测试项目，并在拍摄完当前测试项目后，经由旋转平台20的转动，以移动各待测影像模块至各自对应的下一个欲测项目的显示区域下方，以拍摄下一个测试项目的测试影像。

需注意的是，在图3A～3B中，旋转平台20为设计为圆形平台但并不限于此，在实际实施时，可以视情况将旋转平台20设计为椭圆形平台、方形平台或其他形状的平台。此外，在一实施例中，旋转平台20将各个待测影像模块的走线集中放置在走线区E，以避免多条走线影响到旋转平台20的可旋转性。另外，在一实施例中，旋转平台20可通过自动或手动地旋转任一角度至一特定位置。

接着，请一并参阅图4～6。图4为根据本发明一实施例所绘示的测试系统的示意图。图5为根据本发明一实施例所绘示的定位点示意图。图6为根据本发明一实施例所绘示的测试方法的流程图。在本实施例中，测试系统400可依据各待测影像模块拍摄的影像数据以产生测试结果，并校正解析图的显示位置。其中，测试系统400的测试部件区200、显示面板10、底层平台20、测试箱30都与上述实施例相似，故此处不赘述。以下详述测试系统400的具体实施方式。

测试系统400包含一控制单元40、一运算单元50、一测试机台显示单元60，且显示面板10包含一第一显示区域11(如图2所示)，多个待测影像模块包含一第一待测影像模块。

在一实施例中，控制单元40、运算单元50、测试机台显示单元60可以分别置于测试箱30内、整并为放置在测试箱30内的单一装置，或是整并为与测试箱30分开的单一装置，且控制单元40、运算单元50、测试机台显示单元60可通过有线或无线传输方式与显示面板10及各待测影像模块连接。其中，控制单元40与运算单元50可以分别或整合为体积电路，如微控制单元(microcontroller)、微处理器(microprocessor)、数字信号处理器(digital signal processor)、特殊应用集成电路(application specific integrated circuit，ASIC)或一逻辑电路来实施。测试机台显示单元60可以由一显示器来实施。

在步骤601，放置第一待测影像模块在底层平台20上。在一实施例中，可通过使用者手动或经由测试系统400自动地放置多个待测影像模块在底层平台20上。

在步骤602，显示面板10在第一显示区域11显示定位图。举例而言，如图5所示，第一显示区域11显示的定位图可包含多个定位点81～85，通过各个定位点81～85之间的相对关系及各自的坐标位置，可将测试影像作精准定位。在另一实施例中，步骤602的次序也可以在步骤601之前；或者，另一实施例中，步骤602的次序也可以在步骤603之后和步骤604之前。

在步骤603，控制单元40控制底层平台20旋转至一第一特定位置，使第一待测影像模块与第一显示区域11对准。在一实施例中，第一显示区域11显示定位图及解析图。在另一实施例中，底层平台20可承载多个待测影像模块，此些待测影像模块至少包含第一待测影像模块、第二待测影像模块、第三待测影像模块，通过底层平台20旋转至第一特定位置后，此些待测影像模块的位置可各自对应至显示区域11～13，以利于各自拍摄显示区域11～13所显示的测试影像。

在步骤604，第一待测影像模块拍摄定位图。在一实施例中，底层平台20除第一待测影像模块之外，可进一步至少承载第二待测影像模块及第三待测影像模块，其中，第一待测影像模块用以拍摄显示区域11所显示的定位图及解析图，第二待测影像模块用以拍摄显示区域12所显示的白平衡测试图，第三待测影像模块用以拍摄显示区域13所显示的彩黑点测试图。此外，在一实施例中，解析图可以是一格纹图(SFR)、网栅图(MTF)、星状图(Star Chart)、或扫描线(TV line)解析图，但不以此为限。

在步骤605，运算单元50依据第一待测影像模块所拍摄的定位图中的多个定位点的坐标以计算一校正参数，并依据该校正参数以补偿一解析图。

举例而言，请参照图7～8。图7为根据本发明一实施例的校正方法的流程图。图8为根据本发明一实施例的应用定位点以实施校正方法的示意图。在一实施例中，步骤605所述的解析图补偿方法还包含以下步骤：

在步骤701中，当第一待测影像模块拍摄第一显示区域11的定位图以取得一第一影像数据后，运算单元50用以计算第一影像数据中的多个定位点的坐标。举例而言，如图8所示，运算单元50用以计算第一影像数据中的定位点81～84的坐标。

在步骤702中，运算单元50利用第一影像数据中的定位点的坐标以计算第一影像数据中的定位点之间的至少一距离与至少一夹角，并通过至少一距离与至少一夹角以计算出第一影像数据的一成像旋转角度、一成像倾斜度及成像位移量。

举例而言，运算单元50计算第一影像数据中的定位点81与定位点83之间的距离、定位点82与定位点84之间的距离、定位点81与定位点82之间的距离、 定位点83与定位点84之间的距离、定位点81与83的连线X1与定位点81及82的连线Y1所构成的夹角、定位点81及82的连线Y1与定位点81及84的连线(未绘示)所构成的夹角，并通过此些信息以计算出第一影像数据的一成像旋转角度及一成像倾斜度。

在一实施例中，运算单元50通过判断连线X1及连线X2是否平行，以用在坐标y轴的倾斜校正，通过判断连线Y1及连线Y2是否平行，以用在坐标x轴的倾斜校正。此外，在一实施例中，定位点85用在平移校正，通过定位点85的位置以判断是否须将整体影像进行平移。在一实施例中，可利用判断两斜对角定位点81及82连线的斜率，以进行旋转校正。因此，通过定位点81～85之间至少一距离与至少一夹角，可计算出第一影像数据的成像旋转角度及成像倾斜度。

在步骤703中，运算单元50通过成像旋转角度、成像倾斜度及成像位移量计算出一校正参数，并依据校正参数以校正第一影像数据中的定位点的显示位置。在一实施例中，运算单元50通过成像旋转角度、成像倾斜度及成像位移量计算出校正参数为往右平移5个像素，则将第一影像数据中的定位点的显示位置往右平移5个像素。

在步骤704中，运算单元50判断校正后定位点的显示位置与一预先决定的显示位置的差异是否小于一门坎值；若是，则表示在通过上述校正方法已让校正后定位点的显示位置可被接受，进入步骤705；若否，则回到步骤701，使运算单元50再次进行校正。

在一实施例中，若门坎值为校正后定位点的显示位置相对于预先决定的显示位置的差异不能超过5个像素，当运算单元50判断校正后定位点的显示位置相对于预先决定的显示位置为偏左10个像素时，则表示定位点的显示位置仍需再次校正，故回到步骤701，计算当前定位点的坐标。

在另一实施例中，若门坎值为校正后定位点的显示位置相对于预先决定的显示位置的旋转角度不能超过10度，当运算单元50判断校正后定位点的显示位置相对于预先决定的显示位置为旋转角度偏移15度时，则表示定位点的显示位置仍需再次校正，故回到步骤701，计算当前定位点的坐标。

又在另一实施例中，若门坎值为校正后定位点的显示位置相对于预先决定的显示位置的差异不能超过5个像素，当运算单元50判断校正后定位点的显示位置相对于预先决定的显示位置为偏左3个像素时，则表示校正后定位点的显示位置可被接受，进入步骤705。

在步骤705中，储存校正参数，并依据校正参数以校正第一影像数据中的解析图的显示位置。举例而言，若校正参数为往右平移5个像素，则将解析图的显 示位置往右平移5个像素。由此，运算单元50可依据成像旋转角度、成像倾斜度及成像位移量计算出一校正参数，并依据校正参数以调整解析图的水平位移或垂直位移等。在另一实施例中，校正时，除了依据校正参数以选择性地调整解析图的水平位移或垂直位移的外，可进一步选择性地调整解析图的旋转角度或倾斜角度，使得校正结果更为准确。

在步骤706中，输出校正后的解析图。

接着，回到图6的步骤606，显示面板10在第一显示区域11显示解析图。

在步骤607，第一待测影像模块拍摄解析图。在此步骤中，第一待测影像模块系拍摄已完成校正的解析图，因此可以使测试结果更为精准。

在步骤608，测试机台显示单元60显示拍摄的解析图及测试结果。

接着，请一并参照图2、图3A、图3B、图8及图9。图9为根据本发明一实施例所绘示的测试方法的流程图。在本实施例中，显示区域11所显示的测试影像可为一具有定位功能的解析图，例如包含有多个定位点的解析图，以下详述本实施例的测试方法步骤。

在步骤901中，将多个待测模块放置在旋转平台上。在一实施例中，此些待测模块中包含一第一待测模块。此外，此步骤已在前文中详述，故此处不赘述。

在步骤902中，在显示面板10的第一显示区域11显示具有定位功能的解析图。在一实施例中，具有定位功能的解析图可以为一包含多个定位点的解析图。

在步骤903中，控制单元40控制旋转平台20旋转至特定位置，使待测模块中的第一待测模块与第一显示区域对准。例如，在图3A～3B中，控制单元40控制旋转平台20由原先的位置(如图3A所示)向右旋转90度，以旋转至特定位置(如图3B所示)。

在步骤904中，拍摄具有定位功能的解析图以取得影像数据。举例而言，放置在旋转平台20上的多个待测模块中具有第一待测模块，此第一待测模块被旋转至对应此具有定位功能的解析图的位置后，可拍摄此具有定位功能的解析图。

在步骤905中，运算单元50依据所拍摄的具有定位功能的解析图中的定位点以判断具有定位功能的解析图是否需要校正。若需要校正则进入步骤906，若无需校正，则进入步骤911。

在一实施例中，运算单元50系计算具有定位功能的解析图中的定位点的显示位置与预先决定的显示位置的差异是否小于门坎值，以判断具有定位功能的解析图是否需要校正，例如，运算单元50计算具有定位功能的解析图中的定位点 的显示位置与预先决定的显示位置的差异为5个像素，此差异小于门坎值(例如为两者相差不得高于10像素)，则判断此具有定位功能的解析图无需校正，则进入步骤911；相反地，若运算单元50计算具有定位功能的解析图中的定位点的显示位置与预先决定的显示位置的差异为200个像素，此差异小于门坎值(例如为两者相差不得高于10像素)，则判断此具有定位功能的解析图需要校正，则进入步骤906。

在步骤906中，运算单元50计算定位点坐标。举例而言，如图8所示，运算单元50用以计算影像数据中的定位点81～84的坐标。

在步骤907中，运算单元50利用定位点坐标以计算所述影像数据的成像旋转角度、倾斜角度、位移量。此步骤所采用的技术手段与前述步骤702相似，故此处不赘述。

在步骤908中，通过成像旋转角度、倾斜角度、位移量计算出校正参数，并依据校正参数以校正定位点的显示位置。此步骤所采用的技术手段与前述步骤703相似，故此处不赘述。

在步骤909中，判断校正后定位点的显示位置与预先决定的显示位置的差异是否小于门坎值。若判断校正后定位点的显示位置与预先决定的显示位置的差异小于门坎值，则进入步骤910；若判断校正后定位点的显示位置与预先决定的显示位置的差异不小于门坎值，则进入步骤906。此外，此步骤所采用的技术手段与前述步骤702相似，故此处不赘述。

在步骤910中，储存校正参数后同时拍摄此具有定位功能的解析图。在此步骤中，第一待测影像模块系拍摄已完成校正的解析图，因此可以使测试结果更为精准。

在步骤911中，显示拍摄的具有定位功能的解析图及测试结果。

通过本发明上述的测试系统及测试方法，可以自动化地使多个待测模块针对不同的测试项目同时进行测试，并通过校正方法使测试系统有效地校正因待测试模块工艺公差与治具公差，或是因测试时摆放位置的位移所产生的最终成像偏移，以达到取得正确且精准的测试结果的效果。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。