一种双频多天线的待测设备并行测试方法及系统与流程

本发明涉及一种待测设备测试方法，尤其涉及一种双频多天线的待测设备并行测试方法，并涉及采用了该双频多天线的待测设备并行测试方法的待测设备并行测试系统。

背景技术：

工业生产对Wi-Fi（Wireless Fidelity）类的待测设备（DUT，Device Under Test，例如家用无线路由器等）进行大批量生产测试时，需要进行功率校准、频偏校准、发射性能测试和接收性能测试等过程。而随着802.11ac技术的推广，双频多天线的无线路由器逐渐占据主流，双频多天线的待测设备指的是支持2.4G和5G频段的待测设备，这种双频多天线的待测设备的每个天线需要依次进行测试，那么，其测试时间比单独支持2.4G的待测设备长了很多，对于工业批量生产来说，会严重影响生产效率。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是需要提供一种能够缩短测试时间，进而提高生产效率的双频多天线的待测设备并行测试方法，并提供采用了该双频多天线的待测设备并行测试方法的待测设备并行测试系统。

对此，本发明提供一种双频多天线的待测设备并行测试方法，包括以下步骤：

步骤S1，创建第一线程和第二线程，在测试开始之后，通过第一线程和第二线程控制待测设备的2.4G芯片和5G芯片同时发送信号；

步骤S2，通过接收端的测试仪器采集2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号；

步骤S3，在完成第一线程或第二线程之后，开始分析完成第一线程或第二线程后所接收到的2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号，直到完成对2.4GHz频段的信号和5GHz频段的信号的分析后结束。

本发明的进一步改进在于，所述第一线程用于控制待测设备的2.4G芯片发送信号，所述第二线程用于控制待测设备的5G芯片发送信号；或，所述第一线程用于控制待测设备的5G芯片发送信号，所述第二线程用于控制待测设备的2.4G芯片发送信号。

本发明的进一步改进在于，所述步骤S2中，所述接收端的测试仪器依次采集所述2.4G芯片的2.4GHz频段的信号和5G芯片的5GHz频段的信号。

本发明的进一步改进在于，所述步骤S2包括以下子步骤：

步骤S201，所述接收端的测试仪器判断所述2.4G芯片的信号发送是否完成，若是则跳转至步骤S3对接收的2.4GHz频段的信号进行分析，若否则跳转至步骤S202；

步骤S202，所述接收端的测试仪器判断所述5G芯片的信号发送是否完成，若是则跳转至步骤S3对接收的5GHz频段的信号进行分析，若否则返回步骤S201。

本发明的进一步改进在于，在步骤S201跳转至步骤S3后，所述步骤S3包括以下子步骤：

步骤S301，通过测试仪器开始分析所述接收到的2.4GHz频段的信号，并同时等待和采集所述5GHz频段的信号；

步骤S302，等到直到所述5G芯片发送信号完毕，则对接收到的5GHz频段的信号进行分析。

本发明的进一步改进在于，在步骤S202跳转至步骤S3后，所述步骤S3包括以下子步骤：

步骤S301’，通过测试仪器开始分析所述接收到的5GHz频段的信号，并同时等待和采集所述2.4GHz频段的信号；

步骤S302’，等到直到所述2.4G芯片发送信号完毕，则对接收到的2.4GHz频段的信号进行分析。

本发明的进一步改进在于，所述步骤S3通过测试仪器分析完成第一线程或第二线程后所接收到的2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号。

本发明还提供一种双频多天线的待测设备并行测试系统，采用了如上所述的双频多天线的待测设备并行测试方法，并包括：测试电脑、功分器和测试仪器，所述测试电脑与待测设备相连接，所述待测设备的2.4G芯片和5G芯片分别与所述功分器相连接，所述功分器与所述测试仪器相连接。

本发明的进一步改进在于，所述测试电脑通过网线与待测设备相连接，并通过网线下发指令控制待测设备发送射频信号；待测设备的2.4G芯片和5G芯片分别通过其天线连接至所述功分器实现合路，然后再通过射频线连接至所述测试仪器的测试射频端口。

本发明的进一步改进在于，所述待测设备的2.4G芯片和5G芯片分别通过其天线连接至所述功分器实现合路，合成一路包括两个频段的合路信号。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：通过创建第一线程和第二线程实现同一个待测设备中2.4G芯片和5G芯片的并行测试，进而节省了双频多天线的待测设备所需要的测试时间，提高了其生产效率；值得一起的是，本例所述的并行测试指的是对同一个待测设备中不同频段的2.4GHz频段的信号和5GHz频段的信号进行合理以实现同时的并行测试，若与多个待测设备之间的并行测试结合在一起，其效果更加明显，这对于大批量的工业生产来说是非常可观的。

附图说明

图1是本发明一种实施例的工作流程示意图；

图2是本发明一种实施例的系统结构示意图；

图3是本发明一种实施例的并行测试时序原理示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的较优的实施例作进一步的详细说明。

如图1所示，本例提供一种双频多天线的待测设备并行测试方法，包括以下步骤：

步骤S1，创建第一线程和第二线程，在测试开始之后，通过第一线程和第二线程控制待测设备的2.4G芯片和5G芯片同时发送信号；

步骤S2，通过接收端的测试仪器采集2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号；

步骤S3，在完成第一线程或第二线程之后，开始分析完成第一线程或第二线程后所接收到的2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号，直到完成对2.4GHz频段的信号和5GHz频段的信号的分析后结束。

本例所述第一线程用于控制待测设备的2.4G芯片发送信号，所述第二线程用于控制待测设备的5G芯片发送信号；或，所述第一线程用于控制待测设备的5G芯片发送信号，所述第二线程用于控制待测设备的2.4G芯片发送信号。也就是说，所述第一线程和第二线程其实是所述测试电脑网线下发的指令线程，分别用于控制待测设备发送射2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号。本例所述步骤S3通过测试仪器分析完成第一线程或第二线程后所接收到的2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号。

本例所述步骤S2中，所述接收端的测试仪器依次采集所述2.4G芯片的2.4GHz频段的信号和5G芯片的5GHz频段的信号。如图1所示，本例所述步骤S2包括以下子步骤：

步骤S201，所述接收端的测试仪器判断所述2.4G芯片的信号发送是否完成，若是则跳转至步骤S3对接收的2.4GHz频段的信号进行分析，若否则跳转至步骤S202；

步骤S202，所述接收端的测试仪器判断所述5G芯片的信号发送是否完成，若是则跳转至步骤S3对接收的5GHz频段的信号进行分析，若否则返回步骤S201。

对应的，如图1所示，在步骤S201跳转至步骤S3后，本例所述步骤S3包括以下子步骤：

步骤S301，通过测试仪器开始分析所述接收到的2.4GHz频段的信号，并同时等待和采集所述5GHz频段的信号；

步骤S302，等到直到所述5G芯片发送信号完毕，则对接收到的5GHz频段的信号进行分析。

如图1所示，在步骤S202跳转至步骤S3后，本例所述步骤S3包括以下子步骤：

步骤S301’，通过测试仪器开始分析所述接收到的5GHz频段的信号，并同时等待和采集所述2.4GHz频段的信号；

步骤S302’，等到直到所述2.4G芯片发送信号完毕，则对接收到的2.4GHz频段的信号进行分析。

如图2所示，本例还提供一种双频多天线的待测设备并行测试系统，采用了如上所述的双频多天线的待测设备并行测试方法，并包括：测试电脑、功分器和测试仪器，所述测试电脑与待测设备相连接，所述待测设备的2.4G芯片和5G芯片分别与所述功分器相连接，所述功分器与所述测试仪器相连接。图2中，A1和A2为2.4G芯片的天线，B1和B2为5G芯片的天线。

本例所述测试电脑通过网线与待测设备相连接，并通过网线下发指令控制待测设备发送射频信号；待测设备的2.4G芯片和5G芯片分别通过其天线连接至所述功分器实现合路，然后再通过射频线连接至所述测试仪器的测试射频端口。本例所述待测设备的2.4G芯片和5G芯片分别通过其天线连接至所述功分器实现合路，合成一路包括两个频段的合路信号。

下面通过举例来说明现有技术与本例对于双频多天线的待测设备进行测试所需要的时间差别；以测试2.4G芯片的A1天线和5G芯片的B1天线为例。

现有技术中，对于双频多天线的待测设备测试而言，测试2.4G芯片的A1天线和5G芯片的B1天线所需要的测试时间T1 = t21 + t22 + t51 + t52，其中，t21为控制待测设备发送2.4GHz频段的信号的时间，t22为测试仪器采集和分析2.4GHz频段的信号的时间，t51为控制待测设备发送5GHz频段的信号的时间，t52为测试仪器采集和分析5GHz频段的信号的时间，所以测试1个2.4G频点和一个5G频点的时间为t21 + t22 + t51 + t52。

本例的并行测试原理基于以下2个条件：第一、路由器类的待测设备的2.4G芯片和5G芯片是分开的，可以同时工作；第二、2.4GHz频段的信号和5GHz频段的信号属于不同频段，通过功分器实现合成一路合路信号之后，这一个合路信号的两个不同频段的信号互不影响。因此，通过创建第一线程和第二线程实现同一个待测设备中的2.4G芯片和5G芯片同时发送信号，测试仪器能够依次采集并分析2.4GHz频段的信号和5GHz频段的信号，这样就可以省掉其中一个频段的待测设备的控制时间。

如图3所示，本例的控制待测设备发送2.4GHz频段的信号的时间t21和控制待测设备发送5GHz频段的信号的时间t51是通过并行的第一线程和第二线程并行执行的，所以它们在时间上是并行的。也就是说，对于双频多天线的待测设备测试而言，本例测试2.4G芯片的A1天线和5G芯片的B1天线所需要的测试时间测试总时间为T2 = Max（t21, t51）+ t22 + t52，其中，Max（t21, t51）表示t21和 t51这两个数字之间较大的一个。

所以，相对现有的测试方式，本例能够节省的时间为T1 – T2 = （t21 + t22 + t51 + t52）-（Max（t21, t51）+ t22 + t52）= Min(t21, t51)，其中，Min（t21, t51）表示t21和t51这两个数字之间较小的一个。综上，任意一对支持2.4G芯片和5G芯片的双频多天线的待测设备的测试项目，本例均可以比传统方案节省控制待测设备发送2.4GHz频段的信号的时间t21和控制待测设备发送5GHz频段的信号的时间t51之中较小的那个测试时间。对于天线数目较多以及测试项目较多的双频多天线的待测设备来说，这个节省下来的Min（t21, t51）的测试时间累计起来是非常可观。

本例通过创建第一线程和第二线程实现同一个待测设备中2.4G芯片和5G芯片的并行测试，进而节省了双频多天线的待测设备所需要的测试时间，提高了其生产效率；值得一起的是，本例所述的并行测试指的是对同一个待测设备中不同频段的2.4GHz频段的信号和5GHz频段的信号进行合理以实现同时的并行测试，若与多个待测设备之间的并行测试结合在一起，其效果更加明显，这对于大批量的工业生产来说是非常可观的。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。