技术总结
本发明提供一种双频多天线的待测设备并行测试方法及系统，所述待测设备并行测试方法包括以下步骤：步骤S1，创建第一线程和第二线程，在测试开始之后，通过第一线程和第二线程控制待测设备的2.4G芯片和5G芯片同时发送信号；步骤S2，通过接收端的测试仪器采集2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号；步骤S3，在完成第一线程或第二线程之后，开始分析完成第一线程或第二线程后所接收到的2.4GHz频段的信号或5GHz频段的信号，直到完成信号分析后结束。本发明通过创建第一线程和第二线程实现同一个待测设备中2.4G芯片和5G芯片的并行测试，进而节省了双频多天线的待测设备所需要的测试时间，提高了其生产效率。
技术研发人员：吴帅;樊智超
受保护的技术使用者：深圳市极致汇仪科技有限公司
文档号码：201611095277
技术研发日：2016.12.02
技术公布日：2017.05.31