应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置的制作方法

本实用新型涉及图像传感器测试机设备领域，尤其涉及一种应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置。

背景技术：

CMOS图像传感器是一种典型的固体成像传感器，与CCD有着共同的历史渊源。CMOS图像传感器通常由像敏单元阵列、行驱动器、列驱动器、时序控制逻辑、AD转换器、数据总线输出接口、控制接口等几部分组成，这几部分通常都被集成在同一块硅片上。其工作过程一般可分为复位、光电转换、积分、读出几部分。

CMOS图像传感器具有随机窗口读取能力、抗辐射能力、系统复杂程度和可靠性、非破坏性数据读出方式、优化的曝光控制等优势，鉴于CMOS图像传感器相对优越的性能，使得CMOS图像传感器广泛应用于计算机摄像头、数码相机、PDA和手机、玩具及倒车系统、安全监控、可视电话和指纹识别器等领域中。

在CMOS图像传感器生产过程中，为了检测生产出的CMOS图像传感器是否合格，需要对CMOS图像传感器进行测试。CMOS图像传感器的测试机一般是CIS测试机。CMOS图像传感器测试机包括用于放置CMOS图像传感器的台面和盖合于台面上的盖合部；盖合部上固定有伸缩装置，通过伸缩装置的活动杆的伸缩运动控制盖合部打开和盖合动作。台面、盖合部的规格与所测试的CMOS图像传感器的类型相匹配。当测试不同类型的CMOS图像传感器时，需要匹配更换相应规格的台面和盖合部；但是，伸缩装置的活动杆的行程不变，更换台面和盖合部后，易导致伸缩装置的活动杆长度不能满足控制盖合部打开和盖合动作的要求。

技术实现要素：

针对上述存在的问题，本实用新型提供一种应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，以解决现有技术中更换台面和盖合部后，伸缩装置活动杆长度不能满足控制盖合部运动的问题，通过将活动杆设置为自身长度可调节结构，可配合使用多种不同规格的台面和盖合部，避免更换一种规格的台面和盖合部需配套更换一种行程的伸缩装置，提高了工作效率，节省了企业的成本。

为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案为：

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，包括可沿自身轴线方向运动的活动杆；所述活动杆自身的长度可调节。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，优选地，所述活动杆包括第一活动杆、第二活动杆和连接部；所述第一活动杆的一端固定有所述连接部；所述连接部远离所述第一活动杆的一侧固定有所述第二活动杆；所述第一活动杆与所述第二活动杆的设置方向相同；所述第二活动杆可沿自身轴线方向调整位置。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，优选地，所述第一活动杆和/或所述第二活动杆与所述连接部螺纹连接。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，优选地，所述连接部为螺母；所述第一活动杆上设置有与所述螺母的内螺纹相契合的外螺纹；所述第二活动杆上设置有所述外螺纹；所述第一活动杆、所述第二活动杆与所述螺母螺纹连接。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，优选地，所述第一活动杆的轴线与所述第二活动杆的轴线重合。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，优选地，所述连接部内部中空；所述第一活动杆和所述第二活动杆均内套于所述连接部内；所述连接部内设置有缓冲装置；所述缓冲装置位于所述第一活动杆与所述第二活动杆之间。

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，优选地，所述缓冲装置为弹簧。

上述技术方案具有如下优点或者有益效果：

本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，活动杆设置为自身长度可调节结构；因此可配合使用多种不同规格的台面和盖合部测试不同类型的CMOS图像传感器，避免更换一种规格的台面和盖合部需配套更换一种行程的伸缩装置，简化了工作流程，提高了工作效率；节省了企业的成本；另外，活动杆自身长度可调节，因此可及时调整盖合部盖合于台面上的盖合程度，延长台面和盖合部的使用寿命，节约企业的运营成本。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型及其特征、外形和优点将会变得更加明显。在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未刻意按照比例绘制附图，重点在于示出本实用新型的主旨。

图1是本实用新型实施例1提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置结构示意图；

图2是本实用新型实施例1提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置与测试装置整体结构示意图；

图3是本实用新型实施例1提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置连接部内部结构示意图。

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的说明，显然所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。因此，以下对附图中提供的本实用新型实施例中的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。

实施例1：

如图1所示，本实用新型实施例1提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置3，包括可沿轴线方向进行运动的活动杆32；活动杆32自身的长度可调节。

具体地，如图2所示，伸缩装置3包括伸缩筒31和活动杆32，活动杆32可沿轴线方向相对于伸缩筒31运动。需要说明的是，活动杆32沿轴线方向进行运动的技术属于现有技术，例如气缸中的伸缩杆沿轴线方向进行运动，对于本领域技术人员而言是明确的、清楚的，在此不予赘述。CMOS图像传感器测试机的测试装置包括用于放置CMOS图像传感器的台面1和盖合于台面1上的盖合部2；盖合部2可转动地连接于台面1上；盖合部2上设置有连接机构7；连接机构7上设置有转动连接件5；转动连接件5与连接机构7转动连接；活动杆32的一端位于伸缩筒31的内部，另一端伸出于伸缩筒31与转动连接件5可拆卸固定；盖合部2通过活动杆32运动可相对于台面1打开和盖合；还包括底座6，伸缩筒31的下部可转动连接于底座6上。

更具体地，台面1上设置有用于放置CMOS图像传感器的凹口部11，凹口部11形状与CMOS图像传感器形状相契合；盖合部2上设置有与凹口部11形状相契合的凸起部21；台面1与盖合部2铰链连接。盖合部2上垂直于与台面1铰链连接侧面的两个侧面上分别设置有横向第一连接杆221，第一连接杆221上靠近台面1与盖合部2连接处的一端设置有纵向第二连接杆222，第二连接杆222的上端设置有横向第三连接杆223；第一连接杆221、第二连接杆222和第三连接杆223构成连接杆22；连接杆22呈直角Z形；两个连接杆22构成连接机构7。第三连接杆223之间固定有横杆23；横杆23上固定有转动连接件5，转动连接件5设置有内螺纹；活动杆32上伸出于伸缩筒31的一端设置有与转动连接件5内的内螺纹相契合的外螺纹3211；活动杆32与转动连接件5螺纹连接。

通过将活动杆32设置为自身长度可调节结构；一方面，台面1、盖合部2的规格与所测试的CMOS图像传感器的类型相匹配；当测试不同类型的CMOS图像传感器时，需要匹配更换相应规格的台面1和盖合部2，盖合部2的高度会随之发生变化；活动杆32的自身长度可调节，因此可配合使用多种不同规格的台面1和盖合部2，避免更换一种规格的台面1和盖合部2需配套更换一种行程的伸缩装置3，简化了测试不同类型CMOS图像传感器的操作流程，提高了工作效率；节约了企业的成本；另一方面，台面1和盖合部2随着使用时间的增长会出现磨损的情况，因此不能满足CMOS图像传感器对盖合程度的要求，通过调节活动杆32的自身长度即可实现调整盖合部2盖合于台面1上的盖合程度，延长台面1和盖合部2的使用寿命，节约企业的运营成本。

优选地，如图1所示，活动杆32包括第一活动杆323、第二活动杆321和连接部322；第一活动杆323的一端固定有连接部322，连接部322远离第一活动杆323的一侧固定有第二活动杆321；第一活动杆323与第二活动杆321的设置方向相同；第二活动杆321可沿自身轴线方向调整位置。

具体地，如图2所示，第一活动杆323的一端位于伸缩筒31的内部，另一端伸出于伸缩筒31并固定有连接部322；连接部322远离伸缩筒31的一侧固定有第二活动杆321；第二活动杆321的另一端与转动连接件5可拆卸固定。

优选地，如图1或者图2所示，第一活动杆323的轴线与第二活动杆321的轴线重合。

第一活动杆323的轴线与第二活动杆321的轴线重合，因此整个活动杆32上的受力中心线重合，使得活动杆32的结构更加稳定，延长伸缩装置3的使用寿命，节约企业的运营成本。

优选地，如图1所示，第一活动杆323和/或第二活动杆321与连接部322螺纹连接。具体地，第一活动杆323和第二活动杆321与连接部322螺纹连接通过将第一活动杆323和/或第二活动杆321与连接部322设置为螺纹连接；螺纹连接方式结构简单，易于操作，提高工作效率。

优选地，如图1所示，连接部322为螺母322；螺母322内设置有内螺纹；第一活动杆323上设置有与内螺纹相契合的外螺纹3231；第二活动杆321上与连接部322固定端设置有外螺纹3212；第一活动杆323、第二活动杆321与螺母322螺纹连接。

通过设置螺母322将第一活动杆323与第二活动杆321连接，一方面，螺母322将第一活动杆323和第二活动杆321的轴线重合，使得活动杆32上的受力重合；因此活动杆32的结构更加稳定，延长活动杆32的使用寿命，节约企业的运营成本；另一方面，当螺母322或者第一活动杆323或者第二活动杆321出现损坏时，只需更换出现问题的装置即可，易于检修，节约企业的运营成本；另外，螺母322的设计结构简单，易于加工与操作，降低购置成本，提高工作效率。

优选地，如图3所示，螺母322内部中空；螺母322内设置有缓冲装置4；缓冲装置4位于第一活动杆323与第二活动杆321之间。

通过设置缓冲装置4，一方面，缓冲装置4与第一活动杆323、第二活动杆321之间的作用力可部分抵消第一活动杆323和第二活动杆321受到的外部作用力，增加活动杆32的稳定性，延长活动杆32的使用寿命，节约企业的运营成本；另一方面，当测试机出现卡顿时，伸缩装置3在正常运行时缓冲装置4可缓冲活动杆32与盖合部2之间的作用力，避免伸缩装置3的正常运行造成对测试机的损害。

优选地，缓冲装置4为弹簧4。

弹簧4的结构简单，购置成本较低，性价比高，可节约企业的投资成本和运营成本。

使用本实用新型实施例1提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，将伸缩装置3的第二活动杆321与盖合部2横杆23上的转动连接件5螺纹连接，启动伸缩装置3后，伸缩装置3活动杆32的伸缩运动控制盖合部2相对于台面1打开和盖合；同时伸缩筒31相对于底座6转动；当需要测试不同型号的CMOS图像传感器时，更换配套的台面1和盖合部2，根据更换后盖合部2的高度随之调整第二活动杆321与螺母322的固定位置，使第二活动杆321达到控制盖合部2打开和盖合活动的高度要求；当盖合部2与台面1的盖合程度不能满足CMOS图像传感器对盖合程度的要求时，调整第二活动杆321与螺母322的固定位置，实现盖合部2与台面1的盖合程度满足CMOS图像传感器对盖合程度的要求。

综上所述，本实用新型提供的应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置，通过将活动杆设置为自身长度可调节结构。因此应用于CMOS图像传感器测试机的伸缩装置可配合使用多种不同规格的台面和盖合部测试不同类型的CMOS图像传感器，避免更换一种规格的台面和盖合部需配套更换一种行程的伸缩装置，简化了操作流程，提高了工作效率；节省了企业的成本；另外，活动杆自身长度可调节，可及时调整盖合部盖合于台面上的盖合程度，延长台面和盖合部的使用寿命，节约企业的运营成本。

本领域技术人员应该理解，本领域技术人员结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例，在此不予赘述。这样的变化例并不影响本实用新型的实质内容，在此不予赘述。

以上对本实用新型的较佳实施例进行了描述。需要理解的是，本实用新型并不局限于上述特定实施方式，其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例，这并不影响本实用新型的实质内容。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本实用新型技术方案保护的范围内。