[0102]此外，如图9的右部所示，在ADC 11-1至11-8的数量是八个的情况下，当ADC11-1至11-8设置在与设置有像素区域10的晶片31-1不同的晶片31-2上时，ADC 11-1至
11-8可以以集中的方式布置于晶片31-2的上部。注意，ADC 11_1至11_8当然可以以集中的方式布置于晶片31-2的下部。
[0103]注意，在上文中，尽管已经说明了两个ADC 11被认为是一组的情况的示例，但是除了两个以外的其它数量的ADC 11也可以被认为是一组。此外，在上文中，尽管已经说明了像素组的数量是两个或四个的情况，但是像素组的数量可以更多。
[0104]本发明的实施例不限于上述的实施例，且可以在不脱离本发明的范围的情况下做出各种变化和变型。
[0105]此外，能够由一个装置或通过分配多个装置来执行上述流程图所述的各个步骤。
[0106]此外，在一个步骤中包含有多个处理的情况下，能够由一个装置或通过共用多个装置来执行这一个步骤中包含的多个处理。
[0107]此外，本发明也可以构造如下。
[0108](I) 一种图像传感器，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的模拟数字转换器(ADC)，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述图像传感器包括:
[0109]多个钳位运算单元，所述钳位运算单元分别被构造用来基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；和
[0110]参考电压输出单元，所述参考电压输出单元被构造用来将通过所述钳位运算单元计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。
[0111](2)根据⑴所述的图像传感器，
[0112]其中，当所述多个ADC组的输出信号均是遮光像素的输出信号时，所述钳位运算单元计算所述基准电平，并且
[0113]其中，所述参考电压输出单元将通过所述钳位运算单元计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。
[0114](3)根据⑴或⑵所述的图像传感器，
[0115]其中，所述钳位运算单元计算多个所述ADC组的各输出信号与应当是所述基准电平的输出信号之间的差作为偏移，并且计算与所述偏移相对应的基准电平。
[0116](4)根据⑴至(3)中任一项所述的图像传感器，还包括:
[0117]特性差异测量存储单元，所述特性差异测量存储单元被构造用来测量并存储多个所述ADC组中各组的输出信号的差作为特性差异，
[0118]其中，所述参考电压输出单元以用于校正由所述特性差异测量存储单元存储的所述特性差异的增益将参考电压输出至所述ADC。
[0119](5)根据⑷所述的图像传感器，
[0120]其中，在以规定的增益将所述参考电压供给至所有所述ADC组的时候，所述特性差异测量存储单元测量多个所述ADC组之间的输出信号的差作为特性差异。
[0121](6) 一种图像传感器的操作方法，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的模拟数字转换器(ADC)，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述操作方法包括下述步骤:
[0122]基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；并且
[0123]将计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。
[0124](7) 一种摄像装置，所述摄像装置包括图像传感器，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的模拟数字转换器(ADC)，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述摄像装置包括:
[0125]多个钳位运算单元，所述钳位运算单元分别被构造用来基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；和
[0126]参考电压输出单元，所述参考电压输出单元被构造用来将通过所述钳位运算单元计算出的基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。
[0127](8) 一种摄像装置的摄像方法，所述摄像装置包括图像传感器，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的模拟数字转换器(ADC)，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述摄像方法包括下述步骤:
[0128]基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；并且
[0129]将计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。
[0130](9) 一种电子设备，所述电子设备包括图像传感器，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的模拟数字转换器(ADC)，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述电子设备包括:
[0131]多个钳位运算单元，所述钳位运算单元分别被构造用来基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；和
[0132]参考电压输出单元，所述参考电压输出单元被构造用来将通过所述钳位运算单元计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。
[0133]相关申请的交叉参考
[0134]本申请主张享有于2014年3月31日提交的日本优先权专利申请JP2014-073876的权益，并将该日本优先权申请的全部内容以引用的方式并入本文。
【主权项】
1.一种图像传感器，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的ADC，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述图像传感器包括: 多个钳位运算单元，所述钳位运算单元分别被构造用来基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；和 参考电压输出单元，所述参考电压输出单元被构造用来将通过所述钳位运算单元计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。2.根据权利要求1所述的图像传感器， 其中，当多个所述ADC组的输出信号均是遮光像素的输出信号时，所述钳位运算单元计算所述基准电平，并且 其中，所述参考电压输出单元将通过所述钳位运算单元计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述 ADC03.根据权利要求1所述的图像传感器， 其中，所述钳位运算单元计算多个所述ADC组的各输出信号与应当是所述基准电平的输出信号之间的差作为偏移，并且计算与所述偏移相对应的基准电平。4.根据权利要求1所述的图像传感器，还包括: 特性差异测量存储单元，所述特性差异测量存储单元被构造用来测量并存储多个所述ADC组中各组的输出信号的差作为特性差异， 其中，所述参考电压输出单元以用于校正由所述特性差异测量存储单元存储的所述特性差异的增益将参考电压输出至所述ADC。5.根据权利要求4所述的图像传感器， 其中，在以规定的增益将所述参考电压供给至所有所述ADC组的时候，所述特性差异测量存储单元测量多个所述ADC组之间的输出信号的差作为所述特性差异。6.一种图像传感器的操作方法，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的ADC，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述操作方法包括下述步骤: 基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；并且 将计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。7.一种摄像装置，所述摄像装置包括图像传感器，所述图像传感器是如权利要求1至5中任一项所述的图像传感器。8.—种摄像装置的摄像方法，所述摄像装置包括图像传感器，所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的ADC，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号，所述摄像方法包括下述步骤: 基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；并且 将计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。9.一种电子设备，所述电子设备包括图像传感器，所述图像传感器是如权利要求1至5中任一项所述的图像传感器。
【专利摘要】本发明公开了图像传感器及其操作方法、摄像装置、摄像方法和电子设备。所述图像传感器具有列ADC构造，所述列ADC构造包括针对每一个像素行的ADC，所述ADC将通过光电转换生成的包含模拟信号的像素信号转换成包含数字信号的输出信号。其包括：多个钳位运算单元，所述钳位运算单元分别被构造用来基于多个ADC组的各输出信号计算基准电平；和参考电压输出单元，所述参考电压输出单元被构造用来将通过所述钳位运算单元计算出的所述基准电平的数字信号转换成包含模拟信号的参考电压，并且将所述参考电压供给至构成所述ADC组的各所述ADC。所述摄像装置和电子设备包含所述图像传感器。根据本发明，能够校正由多个列ADC构成的图像传感器中的ADC组之间的特性差异。
【IPC分类】H04N5/378, H04N9/73
【公开号】CN104954707
【申请号】CN201510119434
【发明人】冈田千丈, 嶋村延幸, 铃木敦史
【申请人】索尼公司
【公开日】2015年9月30日
【申请日】2015年3月18日
【公告号】US20150281623