0030]为了更好的理解本实用新型，基于图1中所示的OBU的微波性能测试装置，本实施方式中还提供了一种OBU的微波性能测试方法，该方法包括对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、对待测试OBU的调制系数的测试、以及对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。
[0031]在测试之前，首先采用插损校验设备完成功分器4和第一合路器的每一路的插损校准，以保持测试数据的准确性。
[0032]图3中示出了对待测试OBU的发射频率和发射功率进行测试的流程图，该测试可以包括以下步骤:
[0033]步骤Sll:将信号控制单元3与待测试OBU连接，将每个第一合路器5通过第一辐射天线6与两个待测试OBU对应连接；
[0034]步骤S12:信号控制单元3控制与同一个第一合路器5连接的两个待测试OBU发射不同频率的载波信号；
[0035]步骤S13:每个第一合路器5接收与其对应的两个待测试OBU的载波信号，并将接收到的两个载波信号发送到第一频谱仪2 ;
[0036]步骤S14:第一频谱仪接收第一合路器发送的载波信号，第一频谱仪2在同一时刻完成一个第一合路器5所发送的载波信号的发射频率和发射功率的测试。
[0037]图4中示出了对待测试OBU的调制系数进行测试的流程图，该测试可以包括以下步骤:
[0038]步骤S21:将信号控制单元3与待测试OBU连接，将第一合路器5通过第一辐射天线6与待测试OBU连接；
[0039]步骤S22:信号控制单元3控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号；
[0040]步骤S23:第一合路器5接收待测试OBU的调制信号，并将接收到的调制信号发送到第一频谱仪2 ;
[0041]步骤S24:第一频谱仪2接收第一合路器5发送的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试。
[0042]图5中示出了对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度进行测试的流程图，该测试可以包括以下步骤:
[0043]步骤S31:将信号控制单元3与待测试OBU连接，将功分器4通过第一辐射天线6与待测试OBU连接；
[0044]步骤S32:信号控制单元3控制信号源I发射OBU唤醒信号；
[0045]步骤S33:功分器4接收信号源I发射的OBU唤醒信号，并将所述OBU唤醒信号通过第一辐射天线6辐射给待测试0BU，完成待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。
[0046]信号源I发射的OBU唤醒信号，经功分器4后分别辐射给多个待测试0BU，可以同时完成多个待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试，大大提高了测试效率。
[0047]采用本实施方式中图1所示的装置进行4个OBU的微波性能测试时，一个OBU的平均测试时间约为9秒(发射频率3/2S+发射功率3/2S+调制系数3S+唤醒6/4S+接收3/4S)，与现有的测试装置相比，效率提升了一倍，采用该装置，在达到相同的日产能需求时，测试装置可以减少一半，大幅度降低了成本。
[0048]本实施方式中还提供了一种基于图2中所示的OBU的微波性能测试装置的一种OBU的微波性能测试方法，该方法同样包括对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、对待测试OBU的调制系数的测试、以及对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。
[0049]由于图2中所示的测试装置是在图1中所示的装置的基础上，增加第二频谱仪7，因此，采用该装置进行测试时，可以同时进行发射频率和发射功率、调制系数、以及唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。采用图2中的装置对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、以及对唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试与采用图1中的装置进行测试的方式是相同的，区别仅在于采用第二频谱仪7进行调制系数的测试。具体的，对待测试OBU的调制系数的测试包括以下步骤:
[0050](I)将信号控制单元3与待测试OBU连接，将第二频谱仪7与待测试OBU连接；
[0051](2)信号控制单元3控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号；
[0052](3)第二频谱仪7接收待测试OBU的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试。
[0053]在步骤(I)中，第二频谱仪7通过第二辐射天线8与待测试OBU连接，或者，第二频谱仪7通过第二合路器与第一辐射天线6连接。第一种连接方式中，第二辐射天线8可以与多个待测试OBU通过微波辐射连接，接收待测试OBU发送的调制信号，并发送给第二频谱仪7 ;第二中连接方式中，第一辐射天线6接收待测试OBU发送的调制信号，并通过第二合路器发送给第二频谱仪。
[0054]采用增加了第二频谱仪7的测试装置，虽然会由于第二频谱仪7的增加导致成本的提升，但是采用该装置完成一个OBU的平均测试时间测试仅约为6秒，进一步提高了测试效率。
[0055]显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其同等技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种OBU的微波性能测试装置，包括信号源⑴、第一频谱仪⑵、以及分别与信号源(I)和第一频谱仪⑵连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，其特征在于:还包括功分器⑷和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源⑴的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪⑵的信号输入端连接，功分器⑷的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一福射天线(6)相连接，第一福射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。2.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述第一合路器(5)的个数为η个，与一个第一合路器(5)连接的第一辐射天线(6)与两个待测试OBU连接；其中，η彡103.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述信号控制单元(3)上的与待测试OBU连接的端口为串口。4.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述信号控制单元(3)包括信号控制器和用于显示测试结果的显示器。5.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:还包括用于对功分器(4)和第一合路器(5)进行插损校准的插损校准设备。6.根据权利要求1至5之一所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:该测试装置还包括第二频谱仪(7)，第二频谱仪(7)与待测试OBU连接，信号控制单元(3)与第二频谱仪(7)连接。7.根据权利要求6所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述第二频谱仪(7)与第二辐射天线(8)连接，第二辐射天线(8)与待测试OBU通过微波辐射连接，或者，所述第二频谱仪(7)通过第二合路器与第一辐射天线(6)连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种OBU的微波性能测试装置，属于OBU生产测试设备领域。该装置包括信号源(1)、第一频谱仪(2)、以及分别与信号源(1)和第一频谱仪(2)连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，还包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源(1)的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪(2)的信号输入端连接，功分器(4)的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一辐射天线(6)相连接,第一辐射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。采用该装置，能够大大提升OBU的微波性能的测试效率，降低测试成本。
【IPC分类】H04B17/29, H04B17/15
【公开号】CN204928843
【申请号】CN201520669425
【发明人】李振华
【申请人】北京握奇智能科技有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年8月31日