X射线图像诊断装置制造方法

文档序号:1312122阅读:140来源:国知局
X射线图像诊断装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种X射线图像诊断装置。该X射线图像诊断装置具备格栅摆动机构,为了从没有莫尔条纹成分(格栅条纹)的增益校正图像得到高精度的灵敏度信息,提高最终得到的X射线图像的画质,判别在进行增益校正时取得的图像中有无格栅引起的条纹(格栅条纹),在增益校正图像中仅使用没有格栅条纹的图像。根据针对所取得的图像的图像处理,或者图像取得时的X射线平面检测器与格栅的相对位置来进行有无格栅条纹的判别。
【专利说明】X射线图像诊断装置

【技术领域】
[0001]本发明涉及使用了 X射线平面检测器的X射线图像诊断置,尤其涉及修正X射线平面检测器的灵敏度分布的增益校正技术。

【背景技术】
[0002]在X射线图像诊断装置中,为了去除在透过被检查者的放射线(X射线)中包含的散射线,在X射线平面检测器的入射侧配置散射线去除格栅(以下简称为格栅)。格栅由以预定配置间隔(间距)配置的板状的X射线遮挡部件构成,通过该遮挡部件遮挡散射线,抑制由散射线引起的画质变差。但是,通过配置格栅,根据X射线遮挡部件的配置间距和X射线平面检测器中的像素间距(CCD的配置间距、光电二极管的配置间距)的相关,在取得图像中发生莫尔条纹。
[0003]提出了摆动格栅来防止该莫尔条纹的发生的方法(例如参照专利文献I)。
[0004]一般,在X射线图像诊断装置中,在被检体摄影(正式摄影)之前,得到X射线平面检测器的灵敏度信息,在正式摄影时,使用该灵敏度信息来修正检测信号。这是因为构成X射线平面检测器的检测元件的闪烁器或光电二极管等的灵敏度特性的波动导致每个X射线平面检测器的灵敏度分布不同。将用于得到该灵敏度信息的处理称为增益校正。在增益校正中,在不存在被检查者或对象的状态下,向X射线平面检测器照射预定强度的X射线,得到多张图像(增益校正图像),从这些图像中得到该X射线平面检测器的灵敏度信息。
[0005]但是,上述专利文献I记载的方法中,如果摆动格栅,则格栅在折返时停止。因此,有时在所取得的多张增益校正图像中,包含在该格栅停止的时刻取得并具有莫尔条纹成分的图像。如果包含这样的图像,则无法得到适当的灵敏度信息,根据使用它修正后信号得到的图像的质量也没有提高。
[0006]【专利文献I】日本特开平11-285486号公报


【发明内容】

[0007]鉴于上述情况而提出本发明,目的在于提供一种在具备格栅摆动机构的X射线图像诊断装置中,根据没有莫尔条纹成分(格栅条纹)的增益校正图像得到高精度的灵敏度信息,提高最终得到的X射线图像的画质的技术。
[0008]本发明判别在增益校正时取得的图像中有无格栅引起的条纹(格栅条纹),仅将没有格栅条纹的图像用于增益校正图像中。有无格栅条纹的判别可以根据针对所取得的图像的图像处理,或者图像取得时的X射线平面检测器与格栅的相对位置来进行。
[0009]根据本发明,在具备格栅摆动机构的X射线图像诊断装置中,根据没有莫尔条纹成分(格栅条纹)的增益校正图像得到高精度的灵敏度信息,最终得到的X射线图像的画质提闻。

【专利附图】

【附图说明】
[0010]图1是第一实施方式的X射线图像诊断装置的框图。
[0011]图2是用于说明第一实施方式的格栅的结构的说明图。
[0012]图3的(a)、(b)、(C)是用于说明第一实施方式的格栅条纹判别处理的说明图。
[0013]图4是第一实施方式的灵敏度信息取得处理的流程图。
[0014]图5是第一实施方式的格栅条纹判别处理的流程图。
[0015]图6是用于说明第二实施方式的格栅的摆动和格栅条纹发生的关系的说明图。
[0016]图7是第二实施方式的灵敏度信息取得处理的流程图。
[0017]符号说明
[0018]100X射线图像诊断装置;101被检体;IllX射线源;112格栅;113摆动机构;114X射线平面检测器;115控制部;116存储装置;117显示装置;118操作装置;121照射控制部;122摆动控制部;123灵敏度信息取得部;124图像生成部;131格栅条纹判别部;201X射线遮蔽部件;202X射线透过部件;211间距;311行;321频率响应;331X射线输出图像

【具体实施方式】
[0019]〈第一实施方式〉
[0020]以下,参照附图详细说明本发明的第一实施方式。另外,在用于说明发明的实施方式的全部附图中,没有特别的限制的情况下,对具有相同功能的部件赋予相同的符号,省略其重复的说明。
[0021]在本实施方式中,通过图像处理判别增益校正时取得的图像中是否包含莫尔条纹成分,即是否有格栅条纹。然后,仅将被判别为没有格栅条纹的图像用于增益校正。
[0022]<装置结构>
[0023]首先,说明本实施方式的X射线图像诊断装置的结构。图1是表示本实施方式的X射线图像诊断装置100的整体结构的框图。本实施方式的X射线图像诊断装置100具备:照射X射线的X射线源111 ;与X射线源相对配置,检测被照射的X射线作为X射线输出图像来输出的X射线平面检测器114;去除输入到X射线平面检测器114的散射线成分的格栅112 ;使格栅112摆动的摆动机构113 ;进行X射线图像诊断装置100的整体的控制,并且对于X射线平面检测器114检测出的X射线输出图像进行图像处理,生成X射线摄影图像或者X射线透视图像(在没有必要区别两者的情况下,称为X射线图像)的控制部115;存储X射线平面检测器114输出的X射线输出图像等在处理中生成的各种数据、X射线图像取得时所需要的各种数据的存储装置116 ;显示所生成的X射线图像等的显示装置117 ;以及接受来自用户的指示、各种数据的输入的操作装置118。
[0024]另外,本实施方式的控制部115具备:控制来自X射线源111的照射的照射控制部121 ;控制摆动机构113的动作的摆动控制部122 ;使用不配置被检体而取得X射线输出图像,取得X射线平面检测器114的灵敏度信息的灵敏度信息取得部123 ;以及根据X射线输出图像和灵敏度信息生成X射线图像的图像生成部124。
[0025]X射线源111具备X射线管以及X射线高电压装置,按照照射控制部121的指示,连续或断续地照射X射线。来自照射控制部121的指示被输入到X射线高电压装置,X射线高电压装置按照该指示,向X射线管施加预定的X射线管电压。
[0026]X射线平面检测器114隔着被检体101,与X射线源111的X射线管相对地配置。X射线平面检测器114检测从X射线源111放射后透过被检体101的X射线的减弱量,将检测出的X射线减弱量作为X射线数据输出到控制部115以及存储装置116。
[0027]X射线平面检测器114具备将透过被检体101的X射线变换为光的闪烁器;将闪烁器的发光变换为电信号的检测元件。检测元件在预定数量的行上分别被配置多个,整体形成2维矩阵状。本实施方式的X射线平面检测器114,作为一例,假定在一行具有256个检测元件。此外,将X射线平面检测器114的行方向设为X方向,将与行正交的方向设为Y方向。
[0028]一个检测元件构成一个像素。各检测元件具备:将从闪烁器输出的光变换为电荷的光电二极管;蓄积电荷的电容器;读出所蓄积的电荷的开关元件(例如TFT)。此外,代替闪烁器和光电二极管的组合,可以使用将X射线直接变换为电荷的直接变换方式的检测元件。
[0029]通过各检测元件检测出的检测信号,通过未图示的数据收集装置收集,作为X射线数据(X射线输出图像)输出。在照射X射线而得到X射线透过图像的情况下,例如每隔33msec作为静止图像而输出X射线输出图像。
[0030]格栅112用于去除照射X射线的散射线,如图2所示,具有将板状的X射线遮蔽部件201和板状的X射线透过部件202交替贴合而成的构造。作为X射线遮蔽部件201 —般使用铅,作为X射线透过部件202 —般使用铝或木材。根据临床的目的以及X射线诊断装置的种类可以设定各种表示X射线遮蔽部件201的间隔(间距)211的格栅频率。例如,作为格栅频率使用4-61p/mm(行对/mm)。板状的X射线遮蔽部件201随着从格栅112的中心离开而向中心倾斜地构成,以使来自X射线源111的直射线透过。
[0031]在本实施方式中,格栅112被安装在X射线平面检测器114的X射线照射空间侧的面上。此时,不关心格栅112的朝向和X射线平面检测器114的X方向、Y方向的朝向。但是,优选格栅112被配置成使得X射线透过部件202以及X射线遮蔽部件201的长度方向与X射线平面检测器114的像素(检测元件)的X方向、Y方向以及对角线方向(斜向)
的某一方向一致。
[0032]摆动机构113使格栅112以间距211的整数倍的振幅在间距方向(图2的箭头A方向)摆动。按照来自摆动控制部122的指示进行摆动。将摆动时的摆动周期、摆动振幅预先作为系统信息存储在存储装置116中。此外,也一起保存格栅112的尺寸、初始位置以及停止位置。
[0033]按照X射线平面检测器114的像素间隔(像素间距)和格栅112的间距(格栅频率)211的关系,如果X射线遮蔽部件201不存在的像素和存在的像素发生,则基于X射线遮蔽部件201的入射X射线强度的降低周期地发生,并且在X射线平面检测器114的输出图像中,发生莫尔条纹(格栅条纹)。
[0034]摆动机构113使格栅112如上述那样以间距211的整数倍的振幅振动,由此,对于X射线遮蔽部件201没有位于格栅112的停止位置(初始位置)的像素,X射线遮蔽部件201的影响大致均等地分散。由此,与特定像素对应的X射线强度不会受到X射线遮蔽部件201的影响而降低,能够使与各像素对应的入射X射线强度均等化,防止格栅条纹的发生。
[0035]基于摆动机构113的格栅112的振动与X射线源111的X射线照射同步进行。优选在X射线照射期间的结束时刻,位于初始位置和从该初始位置离开间距211的整数倍的最大移动位置的某一方,在初始位置和最大移动位置之间的移动在X射线照射期间中至少进行一次即可。但是,如果是在初始位置和最大移动位置之间的移动至少进行一次之后,则在X射线照射期间结束的时刻,格栅112也可以位于所述初始位置和最大移动位置之间的中间位置。
[0036]显示装置117由液晶面板、CRT监视器等显示装置、用于与显示装置协作来执行显示处理的逻辑电路构成,与控制部115连接。显示装置117显示从图像生成部124输出的X射线图像、以及控制部115处理的各种信息。
[0037]操作装置118例如由键盘、鼠标、数字键盘等输入装置以及各种开关按钮等构成,将由操作员输入的各种指示和信息输出到控制部115。操作员使用显示装置117和操作装置118以对话的方式操作X射线图像诊断装置100。
[0038]存储装置116由硬盘等构成,与控制部115连接。在存储装置116中例如存储通过X射线平面检测器114取得的X射线输出图像、通过灵敏度信息取得部123生成的X射线平面检测器114的灵敏度信息、通过图像生成部124生成的X射线图像等。灵敏度信息在图像生成部124生成X射线图像时被参照,并用于灵敏度修正。此外,存储装置116除了这些各种数据外,还存储用于实现X射线图像诊断装置100的功能的程序等。
[0039]控制部115 由 CPU (Central Processing Unit)、ROM (Read Only Memory) >RAM (Random Access Memory)等构成,控制X射线图像诊断装置100的各部的动作。照射控制部121,如上述那样,向X射线高电压装置发出指示,使从X射线源111照射X射线。摆动控制部122向摆动机构113发出指示,使格栅112摆动。图像生成部124在正式摄影时,根据X射线平面检测器114检测出的X射线输出图像生成X射线图像。此时,通过从X射线输出图像中减去灵敏度信息取得部123取得的X射线平面检测器114的灵敏度信息来进行灵敏度修正。后面说明灵敏度信息取得部123的处理的细节。
[0040]控制部115的各功能通过由CPU将存储在存储装置116中的程序加载到存储器中执行来实现。后面说明控制部115实现的各功能的细节。
[0041]另外,显示装置117、操作装置118、控制部115可以作为操作控制台一体构成。操作控制台与X射线源111以及X射线平面检测器114连接。
[0042]接着,说明基于本实施方式的灵敏度信息取得部123的X射线平面检测器114的灵敏度信息取得处理的细节。灵敏度信息通过在正式摄影之前进行的增益校正来得到。在增益校正时,执行不配置被检体101地进行的空气(air)摄影,在不同的时刻得到多个X射线输出图像。本实施方式的灵敏度信息取得部123仅采用所得到的多个X射线输出图像中没有格栅条纹的图像作为增益校正图像。
[0043]此外,灵敏度信息通过对所得到的多个增益校正图像进行相加平均来得到。为了降低噪声,例如取10?30张左右要相加的增益校正图像。
[0044]本实施方式的灵敏度信息取得部123通过图像处理来判别所取得的X射线输出图像上有无格栅条纹。因此,本实施方式的灵敏度信息取得部123具备判别X射线输出图像上有无格栅引起的条纹(格栅条纹)的格栅条纹判别部131。使用通过格栅条纹判别部131判别为没有格栅条纹的X射线输出图像,取得上述灵敏度信息。此外,以后,在本说明书中,将通过格栅条纹判别部131判别为没有格栅条纹的X射线输出图像称为增益校正图像。
[0045]本实施方式的格栅条纹判别部131通过对所取得的各X射线输出图像进行频率解析来判别有无格栅条纹。通过对X射线输出图像的各方向的一行进行高速傅里叶变换(FFT),使用表示置换为频率空间的结果的频率响应来进行判别。判别结果用标志(flag)表不。
[0046]例如,读出与X射线输出图像中的图3(a)所示的X射线平面检测器114的一行311相当的X射线输出数据,进行FFT。图3(b)示出了表示对一行331进行FFT,置换为频率空间而得的结果的频率响应321。在图3(b)中,纵轴是频率响应值(强度),横轴是频带(lp/mm)ο
[0047]在图3(c)所示的发生了格栅条纹的X射线输出图像331中,如果将与格栅112的X射线遮蔽部件201的配置方向正交的一行311的特性(profile)置换为频率空间,则在预定的频带(fg)中出现峰值。根据格栅112的X射线遮蔽部件201的条数和X射线平面检测器114的像素大小来决定出现峰值的频带(格栅峰值)fg。
[0048]因此,本实施方式的格栅条纹判别部131根据在格栅峰值fg的频率响应值Rg中是否存在峰值来判别有无格栅条纹。即,格栅条纹判别部131在频率响应上的预先决定的频带中有峰值的情况下,判别为在该X射线输出图像上有格栅条纹。计算格栅峰值fg的频率响应值Rg和相邻的频带fa的频率响应值Ra的比(Rg/Ra)来判别峰值的有无。在本实施方式中,比的值在预先决定的阈值以上的情况下,判别为有峰值,即有格栅条纹。
[0049]在本实施方式中,如上述,格栅112相对于X射线平面检测器114的配置方向不明。因此,在本实施方式中,关于X射线平面检测器114的X方向、Y方向以及斜向,判别是否在格栅峰值中出现了峰值。因此,分别将X射线平面检测器114的X方向的格栅峰值fgx、Y方向的格栅峰值fgy以及斜向的格栅峰值fgd、以及要比较的频带fax、fay、fad以及判别所使用的阈值预先存储在存储装置116中。在本实施方式中,作为阈值,例如使用2.0。
[0050]然后,说明包含基于本实施方式的灵敏度信息取得部123的灵敏度信息取得处理的增益校正处理的流程。图4是本实施方式的增益校正处理的处理流程。在此,假设从M张增益校正图像中取得灵敏度信息。此外,M为2以上的整数。以下的增益校正处理以来自用户的处理开始指示为契机而开始。
[0051]首先,照射控制部121向X射线源111发出开始X射线照射的指示,灵敏度信息取得部123开始增益校正图像的收集(步骤S1001)。此时,进行不配置被检体101的空气摄影。此外,摆动控制部122使摆动机构113开始格栅112的摆动。然后,灵敏度信息取得部123将对要收集的增益校正图像的张数进行计数的图像计数器m设为O (步骤S1002)。
[0052]灵敏度信息取得部123判别所收集的增益校正图像的张数是否达到预先决定的收集张数(步骤S1003)。具体来说,判别是否图像计数器m = M。在未达到的情况下,灵敏度信息取得部123在每次从X射线平面检测器114输出时取得X射线输出图像(步骤S1004)。
[0053]灵敏度信息取得部123使格栅条纹判别部131执行判别所取得的X射线输出图像中是否有格栅条纹的格栅条纹判别处理(步骤S1005)。
[0054]在格栅条纹判别处理中,在判别为没有格栅条纹的情况下(步骤S1006),灵敏度信息取得部123将该X射线输出图像作为增益校正图像存储在存储装置116中(步骤S1007)。然后,使图像计数器m加I (步骤S1009),返回步骤S1003,重复处理。
[0055]另一方面,在步骤S1005的格栅条纹判别处理中判别为有格栅条纹的情况下,灵敏度信息取得部123废弃该X射线输出图像(步骤S1008),返回步骤S1003,重复处理。
[0056]此外,在步骤S1003中,当判别为所收集的图像张数m达到了预先决定的收集图像数M时,灵敏度信息取得部123对存储装置116中存储的增益校正图像进行相加平均,计算灵敏度信息(步骤S1009),结束增益校正处理。此时,照射控制部121使透过X射线的照射停止,摆动控制部122使格栅112的摆动停止。
[0057]然后,说明上述灵敏度信息取得处理中的基于格栅条纹判别部131的格栅条纹判别处理的流程。图5是本实施方式的基于格栅条纹判别部131的格栅条纹判别处理的处理流程。
[0058]首先,从X射线输出图像中提取X方向的一行(步骤S1101),进行FFT(步骤S1102)。
[0059]从存储装置116读出Y方向的格栅峰值fgy、比较用的频带fay以及Y方向的阈值(步骤SI 103)。从FFT结果读取各个频带的响应值Rgy、Ray,计算比(Rgy/Ray),与Y方向的阈值比较(步骤S1104)。如果计算出的比在阈值以上,则设定有格栅条纹的标志(步骤
51111)。
[0060]另一方面,如果不足阈值,则从存储装置116读出斜向的格栅峰值fgd、比较用的频带fad以及斜向的阈值(步骤S1105),读取步骤S1102中的FFT的结果的各个频率响应值Rgd、Rad,计算比(Rgd/Rad),与斜向的阈值比较(步骤S1106)。如果计算出的比在阈值以上,则转移到步骤S1111,设定有格栅条纹的标志。
[0061]如果斜向也不足阈值,则从X射线输出图像提取Y方向的一行(步骤S1107),进行FFT(步骤SI 108)。从存储装置116读出X方向的格栅峰值fgx、比较用的fax以及X方向的阈值(步骤S1109),计算步骤S1108中的FFT结果的其频率响应值Rgx、Rax的比(Rgx/Rax),与X方向的阈值比较(步骤S1110)。如果计算出的比在阈值以上,则转移到步骤SI 111,设定有格栅条纹的标志。
[0062]另一方面,在步骤S1110,在比不足阈值的情况下,设定无格栅条纹的标志(步骤
51112),结束处理。
[0063]另外,在上述格栅条纹判别处理中,为了去除噪声成分,可以在FFT处理后实施滤波处理等。
[0064]此外,上述格栅条纹判别处理中,对X射线输出图像的一行实施FFT,根据其结果判别是否发生了格栅条纹,但是图像上的格栅条纹(格栅图案)的提取不限于该方法。格栅条纹判别部131通过检测X射线输出图像上有无所述格栅的图案,判别有无格栅引起的条纹即可,能够使用各种图像处理方法。例如,也可以通过图案匹配来判别。
[0065]如上所述,本实施方式的X射线诊断装置100具备:照射X射线的X射线源111 ;与所述X射线源111相对配置,检测所述被照射的X射线,作为X射线输出图像输出的X射线平面检测器114 ;去除输入到所述X射线平面检测器114的散射线成分的格栅112 ;使所述格栅112摆动的摆动机构113 ;使用未配置被检体101而取得的所述X射线输出图像,取得所述X射线平面检测器114的灵敏度信息的灵敏度信息取得部123 ;通过从所述X射线输出图像中减去通过灵敏度信息取得部123取得的灵敏度信息来进行灵敏度修正的图像生成部124,所述灵敏度信息取得部123具备判别所述X射线输出图像上有无所述格栅112引起的条纹的格栅条纹判别部131,使用通过该格栅条纹判别部131判别为没有格栅引起的条纹的X射线输出图像来取得上述灵敏度信息。此时,格栅条纹判别部131,通过检测所述X射线输出图像上有无所述格栅112的图案,来判别有无所述格栅112引起的条纹。
[0066]因此,根据本实施方式,在增益校正时,判别在为了增益校正而取得的X射线输出图像中是否发生了格栅条纹,仅将未发生格栅条纹的X射线输出图像设为增益校正图像。因此,由于使用了没有格栅条纹的增益校正图像来计算灵敏度信息,所以所得到的灵敏度信息的精度提高。
[0067]由此,在配置被检体后,进行实际摄影时,能够使用高精度的灵敏度信息,来修正通过正式摄影所取得的X射线输出图像,因此,能够取得高画质的X射线透过图像或者X射线摄影图像。
[0068]此外,根据本实施方式,通过图像处理来判别X射线输出图像上有无格栅条纹。因此,不用追加特别的硬件就能够判别有无格栅条纹。
[0069]<第二实施方式>
[0070]说明本发明的第二实施方式。在第一实施方式中,通过图像处理进行了增益校正时的X射线输出图像上有无格栅条纹的判别,但是,在本实施方式中,通过该图像取得时的X射线平面检测器114和格栅112的相对位置来进行判别。
[0071]本实施方式的X射线诊断装置100的结构基本上与第一实施方式相同。但是,如上述,因为对所取得的X射线输出图像上有无格栅条纹的判别方法不同,所以灵敏度信息取得部123以及格栅条纹判别部131的处理不同。以下,着眼于与第一实施方式不同的结构来说明本实施方式。
[0072]本实施方式的格栅条纹判别部131通过X射线输出图像取得时的X射线平面检测器114与格栅112的相对位置来判别该X射线输出图像上有无格栅条纹。在本实施方式中,根据在增益校正时收集X射线输出图像的定时来判别相对位置。在本实施方式中,灵敏度信息取得部123也仅将被判别为没有格栅条纹的X射线图像作为增益校正图像,用于灵敏度信息计算。
[0073]取得X射线输出图像时,如图6所示,通过摆动机构113使格栅112在水平方向摆动。将格栅112的水平摆动范围设为从B到C时,在水平摆动折返时,即格栅112的图中左侧的端部位于B时以及图中右侧的端部位于C时(格栅112的右侧的端部位于B’时),格栅暂时停止,在该定时取得的X射线输出图像中包含格栅条纹。
[0074]本实施方式的格栅条纹判别部131对于在从摆动的折返位置起预定范围内有格栅112时所取得的X射线输出图像判别为有格栅引起的条纹。
[0075]格栅条纹判别部131使用X射线平面检测器114的尺寸(格栅112的摆动方向的长度)、格栅112的尺寸(摆动方向的长度)、摆动周期、摆动振幅这样的系统信息以及格栅112的初始位置,从增益校正处理开始起,计算格栅112到达折返位置的定时。然后,将在该定时得到的X射线输出图像判别为有格栅条纹。此外,X射线平面检测器114的尺寸、格栅112的尺寸(横宽)、摆动周期、摆动振幅这样的系统信息以及格栅112的初始位置被预先保存在存储装置116中。
[0076]在此,图6表示格栅位置判定的具体例子。将X射线平面检测器114的尺寸设为430mmX430mm,将格栅112的尺寸设为480mmX480mm。此外,将格栅112的摆动振幅(摆动范围)设为520mm。将格栅112的初始位置设为图6的最上段的位置,即格栅112的左端部为B的位置。格栅112的左端部从位置B移动到位置B’,再返回位置B。
[0077]如果将格栅112位于初始位置时的左端部的位置设为0mm,则摆动过程中,格栅112的左端部在X方向上在Omm?40mm的范围内移动。格栅112停止时的左端部的位置(折返位置)是Omm和40mm。格栅条纹判别部131将折返位置附近,例如减速的O?5mm、35?40_的位置取得的X射线输出图像判别为有格栅条纹。预先决定判别为有格栅条纹的格栅112的范围。
[0078]在本实施方式中,如上述,格栅条纹判别部131在X射线输出图像的取得定时判别有无格栅条纹。因此,本实施方式中,灵敏度信息取得部123确定各X射线输出图像的取得定时,通知给格栅条纹判别部131。取得定时为从格栅112摆动开始定时起的经过时间。
[0079]格栅条纹判别部131预先计算格栅112位于折返位置附近的格栅条纹发生期间Td,并存储在存储装置116中。根据格栅112的初始位置、摆动期间、摆动振幅等系统信息和上述判别为有条纹的格栅112的折返位置范围的信息来计算格栅条纹发生期间Td。此夕卜,关于格栅条纹发生期间Td,根据摆动次数,预先计算多个期间。
[0080]以下,说明本实施方式的增益校正处理的流程。图7是本实施方式的增益校正处理的处理流程。
[0081]首先,照射控制部121向X射线源111发出开始X射线照射的指示,摆动控制部122使摆动机构113开始格栅112的摆动,灵敏度信息取得部123开始增益校正图像的收集(步骤S1201)。此时,进行不配置被检体101的空气摄影。此外,灵敏度信息取得部123在格栅112的摆动开始的同时,启动测量X射线输出图像的收集定时的计时器。然后,灵敏度信息取得部123将对要收集的增益校正图像的张数进行计数的图像计数器m设为O (步骤S1202)。
[0082]灵敏度信息取得部123判别所收集的增益校正图像的张数是否达到预先决定的收集张数(步骤S1203)。具体来说,判别是否图像计数器m = M。在没有达到的情况下,灵敏度信息取得部123在每次从X射线平面检测器114输出时取得X射线输出图像(步骤S1204)。此时,本实施方式的灵敏度信息取得部123检测其取得定时Ti,并通知给格栅条纹判别部131。
[0083]格栅条纹判别部131判别取得定时是否在预先决定的某个格栅发生期间Td内(步骤S1205)。在被判别为某个格栅发生期间Td内的情况下,灵敏度信息取得部123废弃该X射线输出图像(步骤S1207)。然后返回步骤S1203,重复处理。
[0084]另一方面,在判别为格栅条纹发生期间Td外的情况下,灵敏度信息取得部123将该X射线输出图像作为增益校正图像存储在存储装置116中(步骤S1206)。然后,对图像计数器m加I (步骤S1208),返回步骤S1203,重复处理。
[0085]另外,在步骤S1203中,判别为所收集的图像张数m达到了预先决定的收集图像数M的情况下,灵敏度信息取得部123对在存储装置116中存储的增益校正图像进行相加平均,计算灵敏度信息(步骤S1209),结束增益校正处理。此时,照射控制部121使透过X射线的照射停止,摆动控制部122使格栅112的摆动停止。
[0086]此外,在上述实施方式中,格栅条纹判别部131根据X射线输出图像的取得定时,判别格栅112的位置,但是格栅112的位置的判别方法并不限于此。
[0087]如上所述,本实施方式的X射线图像诊断装置100具备:照射X射线的X射线源ill;与所述X射线源111相对配置,检测所述被照射的X射线,作为X射线输出图像输出的X射线平面检测器114 ;去除输入到所述X射线平面检测器114的散射线成分的格栅112 ;使所述格栅112摆动的摆动机构113 ;使用未配置被检体101而取得的所述X射线输出图像,取得上述X射线平面检测器114的灵敏度信息的灵敏度信息取得部123,所述灵敏度信息取得部123具备判别所述X射线输出图像上有无所述格栅112引起的条纹的格栅条纹判别部131,使用通过该格栅条纹判别部131判别为没有格栅条纹的X射线输出图像来取得上述灵敏度信息。此时,根据所述X射线输出图像取得时的所述X射线平面检测器114和所述格栅112的相对位置来判别该X射线输出图像上有无所述格栅112引起的条纹。
[0088]因此,根据本实施方式,与第一实施方式一样,在增益校正时,判别所取得的图像中是否发生了格栅条纹,仅使用未发生格栅条纹的图像来进行增益校正。因此,获得了与第一实施方式相同的效果。
[0089]并且,根据本实施方式,根据X射线平面检测器114和格栅112的相对位置来判另IJ。因此,处理简单,并且没有伴随图像处理,因此,即使在噪声多的情况下,也能够可靠地仅挑选没有格栅条纹的图像。
[0090]另外,上述两个实施方式的方法也可以组合使用。即,格栅条纹判别部131在根据相对位置判别为无格栅条纹的X射线输出图像中检测该X射线输出图像上有无格栅112引起的图案,由此来判别有无格栅条纹。具体来说,对于校正时取得的X射线输出图像,首先,判别格栅112的位置是否在折返位置范围,对于判别为不是折返位置的图像,通过图像处理判别是否发生了格栅条纹。然后,在增益校正中仅采用被判别为没有格栅条纹的图像。
【权利要求】
1.一种X射线图像诊断装置,其特征在于, 具备: 照射X射线的X射线源; 与所述X射线源相对配置,检测照射的所述X射线作为X射线输出图像来输出的X射线平面检测器; 去除输入到所述X射线平面检测器的散射射线成分的格栅; 使所述格栅摆动的摆动机构; 使用没有配置被检体而取得的所述X射线输出图像,取得所述X射线平面检测器的灵敏度信息的灵敏度信息取得部;以及 从所述X射线输出图像减去通过所述灵敏度信息取得部取得的灵敏度信息,由此进行灵敏度修正的图像生成部, 所述灵敏度信息取得部具备判别所述X射线输出图像上有无所述格栅引起的条纹的格栅条纹判别部,使用通过该格栅条纹判别部判别为没有格栅引起的条纹的X射线输出图像,取得所述灵敏度信息。
2.根据权利要求1所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述格栅条纹判别部通过检测所述X射线输出图像上有无因所述格栅而产生的图案来判别有无所述格栅引起的条纹。
3.根据权利要求2所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 根据通过对所述X射线输出图像进行频率解析而得到的频率响应来判别所述X射线输出图像上有无因格栅而产生的图案。
4.根据权利要求3所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述格栅条纹判别部在所述频率响应的预先决定的频带中存在峰值的情况下,判别为该X射线输出图像上有所述格栅引起的条纹。
5.根据权利要求2所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 通过针对所述X射线输出图像进行图案匹配来判别该X射线输出图像上有无因格栅而产生的图案。
6.根据权利要求1所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述格栅条纹判别部根据所述X射线输出图像取得时的所述X射线平面检测器与所述格栅的相对位置来判别该X射线输出图像上有无所述格栅引起的条纹。
7.根据权利要求1所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述格栅条纹判别部,针对在距离所述摆动的折返位置预定范围内存在所述格栅时而取得的所述X射线输出图像,判别为有所述格栅引起的条纹。
8.根据权利要求6所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述格栅条纹判别部,在根据所述相对位置判别为没有所述格栅引起的条纹的X射线输出图像中,检测该图像上有无所述格栅引起的图案,由此判别有无所述格栅引起的条纹。
9.根据权利要求7所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述格栅条纹判别部,在根据所述相对位置判别为没有所述格栅引起的条纹的X射线输出图像中,检测该图像上有无所述格栅引起的图案,由此判别有无所述格栅引起的条纹。
10.根据权利要求1-9中任一项所述的X射线图像诊断装置,其特征在于, 所述图像生成部,通过从配置被检体来取得的所述X射线输出图像中减去通过所述灵敏度信息取得部取得的灵敏度信息来进行灵敏度修正。
【文档编号】A61B6/00GK104248445SQ201410305956
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年6月30日 优先权日:2013年6月28日
【发明者】竹之内忍, 铃木克己 申请人:株式会社日立医疗器械
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1