本实用新型涉及组件级产品调试技术领域，具体地讲，是涉及一种通道类产品的调试工作桌。
背景技术：
随着微波行业的发展，微波产品的多样化，涉及微波技术和器件的公司越来越多，而当前市场上，为解决调试工作所需要的工作桌却是空缺，多数公司使用普通的桌子来进行调试。然而，普通的工作桌的布局简单，可承载的功能仅仅为物品放置，既无功能分区，也不能对调试的产品状态进行分类，更没有专用放置区，该设计影响着产品的可追溯性问题，对产品的可靠性具有隐患。
技术实现要素：
针对上述现有技术的不足，本实用新型提供一种调试方便、分类便捷且产品可追溯性高的通道类产品的调试工作桌。
为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
一种通道类产品的调试工作桌，包括由调试桌面和四个支脚构成的桌体，两个分别设置于桌体后部两侧的竖支杆，设置于竖支杆底部与调试桌面连接的走线槽，与一侧的竖支杆连接并与调试桌面连接的置物架，设置于置物架上的产品搁盘，与置物架连接的调试架，设置于调试架上的活动式调试物料盘，与活动式调试物料盘下部连接的焊锡丝挂钩，连接于两个竖支杆上部的照明架，安置于照明架上的日光灯管，连接于两个竖支杆顶部的滑道，安置于滑道内的活动挂钩，以及设置于调试桌面底面的活动拓展台。
具体地，为了便于存放不同状态的产品，所述产品搁盘为竖向层叠间隔排列的3层。
为了方便取放产品，所述产品搁盘呈倾斜状安置，且其倾斜角度不超过15°。
更具体地，所述活动式调试物料盘包括与调试架连接的滑轨，以及侧面带有与滑轨匹配的滑轮的物料盘体，其中焊锡丝挂钩安置于物料盘体下部。
为了方便调试操作，所述物料盘体与调试桌面的垂直距离为24.5cm，所述焊锡丝挂钩的宽度为6.5cm。
为了便于调整桌面高度和找平，每个所述支脚下端均设有可调脚杯。
为了方便清理废料，所述调试桌面上设有废物孔，且调试桌面底部安装有位置与废物孔对应的废物盒。
与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：
本实用新型针对现有微波通道类产品的调试工作的状况进行巧妙设计，对现有的普通工作桌进行功能性区分设置和改进，利用增设的各种架体来满足不同状态的调试产品的存放，十分便于调试工作的进行和清理，其结构简单，成本低廉，便于实际操作，具有广泛的应用前景，适合推广应用。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明，本实用新型的实施方式包括但不限于下列实施例。
实施例
如图1所示，该通道类产品的调试工作桌，包括由调试桌面1和四个支脚2构成的桌体，两个分别设置于桌体后部两侧的竖支杆3，设置于竖支杆底部与调试桌面连接的走线槽4，与一侧的竖支杆连接并与调试桌面连接的置物架5，设置于置物架上的产品搁盘6，与置物架连接的调试架7，设置于调试架上的活动式调试物料盘8，与活动式调试物料盘下部连接的焊锡丝挂钩9，连接于两个竖支杆上部的照明架10，安置于照明架上的日光灯管，连接于两个竖支杆顶部的滑道11，安置于滑道内的活动挂钩12，以及设置于调试桌面底面的活动拓展台13。为了便于调整桌面高度和找平，每个所述支脚下端均设有可调脚杯14。为了方便清理废料，所述调试桌面上设有废物孔，且调试桌面底部安装有位置与废物孔对应的废物盒15。
具体地，所述活动式调试物料盘包括与调试架连接的滑轨，以及侧面带有与滑轨匹配的滑轮的物料盘体，其中焊锡丝挂钩安置于物料盘体下部。相应地，所述活动拓展台与该活动式调试物料盘的结构相近。
更具体地，为了便于存放不同状态的产品，所述产品搁盘为竖向层叠间隔排列的3层。为了方便取放产品，所述产品搁盘呈倾斜状安置，且其倾斜角度不超过15°。为了方便调试操作，所述物料盘体与调试桌面的垂直距离为24.5cm，所述焊锡丝挂钩的宽度为6.5cm。
本实用新型使用时在调试物料架上放置待调试的微波通道类产品进行调试或其他处理，调试完成后的器件分类放置于产品搁架内，废料则通过桌面上的废物孔扫入废物盒内。有效地提高了通道类微波产品的调试效率。
上述实施例仅为本实用新型的优选实施例，并非对本实用新型保护范围的限制，但凡采用本实用新型的设计原理，以及在此基础上进行非创造性劳动而作出的变化，均应属于本实用新型的保护范围之内。