专利名称：：评估光学记录介质表面抗污染水平的方法、装置以及光学记录介质的制作方法
技术领域：
：本发明涉及诸如光盘的光学记录介质，更具体地，涉及到评估光盘表面抗污染水平的方法。虽然本发明具有广泛的应用范围，但是它特别适用于在量化光盘表面形成以增强其稳定性的保护镀膜的特性。
背景技术：
：通常，光盘是用于使用激光光束将信息记录在光盘的表面上。更具体地，光盘是使得音频、视频和文本信息转换成数字信号的髙容量数据存储装置，随后，低强度激光光束投向其上，以通过确认反射光的不同强度来执行光盘读取。光盘介质包括密集型盘(CD)、数字视频盘(DVD)、激光盘(LD)等。并且，最近蓝射线盘(BD)和高级光盘(AOD)作为下一代存储装置的标准，取得了积极而有竞争力的发展。研发中的蓝射线盘目标在于高清晰视频盘记录器(HDVDR)。蓝色线盘被认为是使用蓝紫半导体激光(BPSL)的新一代光盘存储装置。相应地，蓝射线盘具有27千兆字节(GB)的存储容量，这样的容量是对应于13小时的常规电影播放时间以及2小时具有高清晰电视(HDTV)画面质量的视听材料的播放时间。如上所述，越来越多的兴趣和焦点都落在能够弥补常规DVD缺点的、作为新一代存储装置的蓝射线盘上。但是，由于蓝射线盘的精细信号特征，由于制造过程中划痕、变形或成形缺陷、指印、不纯物的黏附而导致的质量缺陷等可能会出现。因此，在蓝射线盘的制造完成之后，要执行质量观测处理，经过观测的产品才可以投放到市场上。通常，通过四(4)测量驱动来执行相关技术的光盘质量观测处理。只要从同一制造设备中生产出的多个光盘都具有相同的特征，则制造商可以随机选取光盘并且将选中的光盘放置在测量系统上。第一测量驱动测量来自光盘的高频信号和抖动。第二测量驱动基于从光盘上重现的信号来测量伺服信号(即，聚焦误差信号和跟踪误差信号)。第三测量驱动检测当前处于质量观测之下的光盘的机械特征。最后，最后的(或第四)测量驱动检测光盘的光学特征。如上所述，相关技术光盘质量观测处理包括对信息记录精确性、光盘机械和光学特征的观测等。在高密度光盘的使用期间，诸如指印的化学和物理污染将会出现在用于记录/重现信息的激光光束的入射表面上，可能导致光盘信号变差，数据损坏以及盘上的记录和/或重现信息能力丧失。因此，为了防止出现这些问题，在盘表面形成有一层保护镀膜，以增强抗污染水平或表面稳定性，并且该光盘插入到光盘盒中以保护该光盘免受污染。但是，最近市场上出现了一种为了最小化光盘体积而只有在其上形成的保护镀膜但无光盘盒的光盘。因此，量化在盘表面形成的保护镀膜的抗污染性对于光盘有效生产和使用来说都是一个重要的因素。但是，相关技术中还没有一种用于评估高密度光盘表面的抗污染性的量化方法。在相关技术中，仅仅还是通过有广泛经验的制造商的个人判断来评估抗污染的水平，这些制造商的判断是基于实际观察到的指印、或者是附在光盘表面的污染物或油污的量或级别而做出的。因此，当通过上述相关技术抗污染水平评估方法来进行观测时，会出现一些误判，同时经过这些误判的不合格光盘将会进入消费者市场。
发明内容相应地，本发明旨在一种在光盘表面评估抗污染水平的方法，该方法基本消除由于相关技术的限制和缺点所致的一个或多个问题。本发明的目的之一是提供一种在光盘表面评估抗污染水平的方法，该方法可以量化在光盘表面形成以增强其稳定性的保护镀膜的各种特性。本发明的其它优点、目的和特征将在下面的描述中得到部分陈述，并且对于本领域一般技术人员来说，在审阅了下面的说明之后，将会部分了解本发明，或者是从本发明的实践中得到启示。由说明书及其权利要求以及附图所特别指出的结构可以实现并获得本发明的目的和其它优点。为了获得这些目的和其它优点，并且依照本发明的目的，如在此实体化并广泛描述的那样，用于在光盘记录介质上评估抗污染水平的方法包括通过将具有人工材料附着其上的印模(stamp)接触到光学记录介质上，而在光学记录介质表面形成一人工指印；并且在形成有人工指印的区域中测量符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度。人工指印材料可以至少是由水、甲醇、氯化钠(NaCl)、尿素、乳酸以及紫色染料中的任意一种构成。印模可以是由Si(硅)橡胶制成，并且具有大约10毫米(mm)的直径，印模可以500克(g)的压力接触盘。6在本发明的另一方面，用于在光学记录介质表面上评估抗污染水平的方法包括(a)用预定的压力将印模接触到其上形成有人工指印材料的印台上，并且使得人工指印材料粘合到印模上；(b)将具有人工指印材料的印模接触光学记录介质表面以在该表面上形成人工指印；以及(c)依照形成有人工指印的位置上的符号出错率(SER)来确定指印的敏感度。在本发明的另一方面，用于在光学记录介质表面上评估抗污染水平的方法还包括控制在步骤(a)中将人工印模材料粘合其上的印模与样张(dummy)的接触次数，而具体的次数则取决于是严格条件还是标准条件。在此，当印模与样张的接触次数在0到1之间时，印模可以处于严格条件下，同时当印模与样张的接触次数在2到4之间时，印模可以处于标准条件下。当印模处于严格条件下时，步骤(c)包括当8￡11小于4.2乂10'3时，可以确定光学记录介质的质量是好的，同时当SER大于或等于4.2X10-s时，可以确定光学记录介质的质量是坏的。另一方面，当印模处于标准条件下时，步骤(c)包括当SER小于1.5X10's时，可以确定光学记录介质的质量是好的，同时当SER大于或等于1.5X10^时，可以确定光学记录介质的质量是坏的。在本发明的另一方面，通过上述的方法来评估与光学记录介质相同类的光学记录介质。在本发明的另一方面，用于在光学记录介质上评估抗污染水平的装置包括通过将具有人工材料黏附其上的印模与光学记录介质相接触来使得人工指印形成在光学记录介质表面上的印模；以及在形成有人工指印的区域中测量符号出错率(SER)以确定指印敏感度的测量单元。此处，其中步骤(b)将印模与光学记录介质表面相接触，直到在表面上形成的人工指印覆盖了光学记录介质的一长距离代码(LDC)块的至少50%为止，步骤(c)包括当SER小于4.2X10,寸，可以确定光学记录介质的质量是好的，同时当SER大于或等于4.2Xl(T3时，可以确定光学记录介质的质量是坏的。可以理解，无论是本发明前述的一般性描述还是下面的详细描述都是示例性和解释性的，并且旨在对如权利要求所要求的本发明提供进一步解释。附图，被包括以提供对本发明的进一步理解，并且结合和组成该申请的一部分，示出了本发明的实施例，并且与说明书一同用作解释本发明的原理。在附图中图1A到1D示出了评估盘表面抗污染水平的方法的处理步骤；图2示出根据本发明与印模接触到样张的次数相关的符号出错率(SER)的图表；图3示出根据本发明第一实施例用于评估盘表面抗污染水平的方法；以及图4示出了根据本发明第二实施例用于评估盘表面抗污染水平的方法。具体实施例方式下面将对本发明的较佳实施例做出详细引用，附图示出了其示例。可能的话，在整个附图中的相同标号表示相同或类似的部分。图1A到1D示出评估盘表面抗污染水平的方法的处理步骤。参照图1A，用于形成人工指印的印模10至少与印台30接触一次，印模具有在其上形成的人工指印材料，从而将人工指印材料黏附到与印台30相接触的印模10上。随后，人工指印材料20a黏附其上的印模10至少与样张接触一次，如图1B所示，藉此防止过量的人工指印材料20a黏附到印模10上。依照印模10接触样张40的次数，可以将印模10分类成严格条件和标准条件。印模10与样张40接触了预定的次数，如图1C所示，然后接触其上形成有保护镀膜的盘50，藉此使得人工指印20b黏附在盘50的表面上。在这一点上，样张最好是由聚碳酸酯平板制成。因此，参照图1D，对盘50表面上所形成的人工指印(20b)的符号出错率(SER)进行测量，藉此确定指印的敏感度或将制造出的盘分类为良好质量和不合格(或坏质量)。用相关数据块中的出错字节数量除以那些数据块中的字节总数来确定SER。在蓝射线系统中，用相关长距离代码(LDC)块中的出错字节数量除以那些长距离代码块中的字节总数来确定SER。参照图2，依照印模10在盘50表面形成的人工指印20b的数量以及人工指印20b与符号出错率(SER)的关系来确定和分类所制造的盘50的质量。更具体地，图2示出表现依照在半径为40毫米(mm)的任意蓝射线盘表面上形成的直径为10毫米(mm)人工指印的数量而变化的符号出错率(SER)的数据。当盘表面仅仅形成有一个人工指印100时，则大约覆盖了所有盘轨的4%。同时，当盘表面形成有15个人工指印200时，则大约覆盖了所有盘轨的60%。此外，当盘表面形成有6个或者更多人工指印时，则SER变为饱和(或者处于饱和状态)。更具体地，6个或者更多人工指印足以覆盖整个长距离代码(LDC)块。在本发明中，基于所示出的SER结果，在一组条件下，在如图2所示的观测期间，当SER小于4.2X10's时，可以确定所制造的盘的质量是好的，同时当SER大于或等于4.2X10-s时，可以确定所制造的盘的质量是坏的。下面将结合附图详细描述评估盘表面抗污染水平的方法。第一实施例图3示出根据本发明第一实施例的评估盘表面抗污染水平的方法。参照图3，用于形成人工指印的印模与其上形成有人工指印材料的印台接触至少一次，以使得人工指印材料黏附在印模上(SIO)。此处，人工指印材料是由水、甲醇、氯化钠(NaCl)、尿素、乳酸以及微量紫色染料中的至少任意一种构成。此外，印模可以是由Si(硅)橡胶制成，并且有人工指印材料黏附其上的印模最好是具有大约10毫米(mm)的直径，印模可以500克(g)的压力接触印台。随后，其上形成有人工指印材料的印模与样张(即，聚碳酸酯平板)接触至少一次，以防止过量的人工指印材料黏附在印模上(S20到S30)。在这一点上，印模也以500克(g)的压力接触样张，并且依照印模与样张的接触次数来将印模的条件分成严格条件和标准条件。更具体地，当接触次数在0到1之间时，如下表格1所示，可以确定印模处于严格条件，同时当接触次数在2到4之间时，可以确定印模处于标准条件。这些条件不限于由表格1所描述的接触次数，并且可以随着观测员评估盘表面抗污染水平的具体情形而变化。表格1<table>tableseeoriginaldocumentpage9</column></row><table>因此，在评估了盘表面的抗污染水平之后，当印模的条件被设为标准条件时，印模与样张的接触次数增加到2到4次之间，藉此将印模设置为标准条件(S120)。因此，与样张接触了预定次数的印模以500克(g)的压力仅仅与其上具有保护镀膜的盘接触一次，藉此在盘表面形成人工指印(S60)。在这一点上，样张最好是由聚碳酸酯平板制成的。因此，对盘上形成的人工指印的SER进行测量，以通过评估抗污染水平来确定盘的质量(即，好或坏)(步骤S70)。其中，盘的质量，即盘是好质量还是坏质量是随着印模处于严格条件还是标准条件而变化的(S80)。依照上述处理的结果(S80)，并且当当前使用的印模处于严格条件时，如果盘表面上形成的人工指印的SER值少于4.2X1(T3，则确定盘是好质量的(SIOO)。另一方面，如果盘的SER值大于或等于4.2X10'3，则确定盘是坏质量的(S110)。此外，依照上述处理的结果(S80)，并且当当前使用的印模处于标准条件时，如果盘表面上形成的人工指印的SER值少于1.5X10—s，则确定盘是好质量的(S140)。另一方面，如果盘的SER值大于或等于1.5X1(T3，则确定盘是坏质量的(S150)。当印模处于标准条件时，基准评估值被设为1.5X10—3，这是因为如果当印模处于严格条件时在盘表面上形成的人工指印的基准评估值和当印模处于标准条件时在盘表面上形成的人工指印的基准评估值被设为相同，则在确定所制造的盘的质量的过程中可能会出现差错。相应地，通过将标准条件下的基准评估值设定为严格条件下的基准评估值的1/3，可以获得类似的抗污染评估水平。第二实施例图4示出根据本发明第二实施例的评估盘表面抗污染水平的方法。参照图4，用于形成人工指印的印模与其上形成有人工指印材料的印台接触至少一次，以使得人工指印材料黏附在印模上(S200)。此处，人工指印材料是由水、甲醇、氯化钠(NaCl)、尿素、乳酸以及微量紫色染料中的至少任意一种构成。此外，印模可以是由Si(硅)橡胶制成，并且有人工指印材料黏附其上的印模最好是具有大约10毫米(mm)的直径。然后，印模可以500克(g)的压力接触印台。随后，其上形成有人工指印材料的印模与样张(即，聚碳酸酯平板)接触至少2次，但不多于4次，以防止过量的人工指印材料黏附在印模上，藉此形成标准条件下的印模(S210)。在这一点上，印模也以500克(g)的压力接触样张。然后，与样张接触了预定次数的印模以500克(g)的压力与其上具有保护镀膜的盘接触，藉此在盘表面形成人工指印(S230)。之后，印模与盘表面的接触次数增多，从而在盘表面形成的人工指印覆盖了盘的一长距离代码(LDC)的至少50%。其中，随着一LDC块内的人工指印数量增加，SER也在增加(或上升)。相应地，为了评估出精确的抗污染水平，所形成的人工指印的数量应该足以覆盖一LDC块的至少50。/。。例如，当盘的半径为40毫米(mm)时，为了覆盖一LDC块的至少50%，在盘上的一LDC块中形成的人工指印至少要与1/4盘圆周接触3次。随后，在测量了盘表面上形成的人工指印的SER值之后，通过评估抗污染水平来确定出盘的质量(即，好或坏)(S250)。然后，当SER值少于4.2X10—3，则确定盘是好质量的(S270)。同时，如果SER值大于或等于4.2X10'3，则确定盘是坏质量的(S280)。取代了仅仅是依靠制造商观测盘的污染水平之后而得出的感觉(或个人判断)，本发明通过将污染物黏附在盘表面、测量盘的SER值并随后确定盘的质量来确定所生产出的盘的质量(即，好质量或坏质量)。如上所述，根据本发明用于在盘表面评估抗污染水平的方法具有如下优势-首先，可以基于客观的基准值来量化极大影响了产出盘质量的表面污染水平，并对其进行评估。此外，为了增强盘表面的稳定特性，也可以量化保护镀膜的特征，藉此改进评估结果的可靠性。最后，可以基于客观基准值来精确确定盘的质量，即盘是好质量还是坏质量的，藉此确保用户能够获得一致的产品特性和高的可靠性。工业应用对于本领域一般技术人员来说，可以在本发明中做出各种修改和变化而不脱离本发明的精神和范围。因此，本发明旨在涵盖本发明的各种修改和变化，只要它们都在所附权利要求及其等效体的范围内。权利要求1.一种用于评估光学记录介质上的抗污染水平的方法，包括通过其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，而在所述光学记录介质表面形成人工指印；以及在形成人工指印的区域测量符号出错率(SER)，以确定对指印的敏感度。2.如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述测量步骤包括将所测SER与基准值相比。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，如果所测SER小于基准值，则所述光学记录介质具有好质量。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基准值为4.2乂10'3。5.如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述人工指印材料至少由水、甲醇、氯化钠(NaCl)、尿素、乳酸以及紫色染料中的任一种构成。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述印模由Si(硅)橡胶制成。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述印模的直径大约为10毫米8.如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述印模以500克(g)的压力接触所述盘。9.一种用于评估光学记录介质表面上的抗污染水平的方法，包括(a)印模以预定的压力接触其上形成有人工指印材料的印台，并将所述人工指印材料黏附在所述印模上；(b)使所述具有人工指印材料的印模与光学记录介质的表面相接触，以在所述表面上形成人工指印；以及(c)取决于形成人工指印的位置上的符号出错率(SER)来确定指印的敏感度。10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述步骤(c)通过比较SER与基准来确定所述光学记录介质是否具有敏感度。11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，如果SER小于所述基准，则所述步骤(c)确定光学记录介质具有好质量。12.如权利要求ll所述的方法，其特征在于，所述基准为4.2乂10—3。13.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述步骤(b)以预定压力使所述印模与所述表面相接触。14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，在所述步骤(b)中所述预定压力是500克(g)。15.如权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括根据严格条件或标准条件来控制在步骤(a)形成的其上黏附有人工印模材料的印模接触样张的次数。16.如权利要求15所述的方法，其特征在于，当所述印模处于严格条件时，所述印模接触样张的次数是0或1，并且当所述印模处于标准条件时，所述印模接触样张的次数在2到4之间。17.如权利要求15所述的方法，其特征在于，当所述印模处于严格条件时，所述步骤(c)包括当5￡11小于4.2乂10'3时，则确定所述光学记录介质具有好质量。18.如权利要求15所述的方法，其特征在于，当所述印模处于标准条件时，所述步骤(c)包括当SER小于1.5X1(^时，则确定所述光学记录介质具有好质19.如权利要求15所述的方法，其特征在于，所述样张由聚碳酸酯制成。20.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述人工指印材料至少由水、甲醇、氯化钠(NaCl)、尿素、乳酸以及紫色染料中的任一种构成。21.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述印模由Si(硅)橡胶制成。22.如权利要求9所述的方法，其特征在于，步骤(a)中所述印模以500克(g)的压力接触所述印台。23.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述步骤(b)使得在标准条件下形成的所述印模与光学记录介质接触固定次数，并在所述光学记录介质表面上形成人工指印。24.如权利要求23所述的方法，其特征在于，所述步骤(b)使得所述印模与所述光学记录介质表面相接触，直到在所述光学记录介质表面上形成的人工指印覆盖了所述光学记录介质的一个长距离代码(LDC)块的至少50%为止。25.如权利要求24所述的方法，其特征在于，所述步骤(c)包括当SER小于4.2X10—3时，则确定所述光学记录介质具有好质量。26.—种光学记录介质，其特征在于，所述光学记录介质的种类与具有由前述至少一项权利要求评估的抗污染水平的光学记录介质相同。27.—种用于评估光学记录介质上的抗污染水平的装置，包括印模，用于通过使其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，在所述光学记录介质表面形成人工指印；以及测量单元，用于在形成人工指印的区域内测量符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度。28.如权利要求27所述的装置，其特征在于，所述测量单元将SER与基准值相比。29.如权利要求28所述的装置，其特征在于，如果所测SER小于所述基准值，则所述测量单元确定所述光学记录介质具有好质量。30.如权利要求29所述的装置，其特征在于，所述基准值为4.2乂10—3。31.如权利要求27所述的装置，其特征在于，所述人工指印材料至少由水、甲醇、氯化钠(NaCl)、尿素、乳酸以及紫色染料中的任一种构成。32.如权利要求27所述的装置，其特征在于，所述印模由Si(硅)橡胶制成。33.如权利要求27所述的装置，其特征在于，所述印模以500克(g)的压力接触所述盘。全文摘要揭示一种评估光学记录介质表面上的抗污染水平的方法。所述方法包括通过其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，而在所述光学记录介质表面形成人工指印；并且测量形成有人工指印符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度，同时取决于受测SER来确定所述光学记录介质是好质量还是坏质量的。文档编号B32B3/02GK101297364SQ200480033549公开日2008年10月29日申请日期2004年11月12日优先权日2003年11月14日发明者勋徐,李承允,金真弘,金进镛申请人:Lg电子株式会社