一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种核辐射探测技术，特别是一种快速可靠连续测量介质表面氡析出 率的方法及测量装置。
【背景技术】
[0002] 氡析出率是指单位面积、单位时间介质表面析出的氡的放射性活度。氡析出率测 量受采样条件以及环境的温度、湿度和气压条件的影响，使得测量结果的准确度难以控制， 测量结果往往难以再现和比较。但是，氡析出率测量是铀矿冶设施退役治理中评价废石场、 尾矿库防氡覆盖治理效果的关键环节，也是环境氡污染治理中寻找源项的手段。2011年6 月1日生效的国标《民用建筑工程室内环境污染控制规范（2013版）》-GB50325-2010把土 壤和建筑材料氡析出率测量作为控制室内氡污染的基本手段。氡析出率连续可靠测量是提 高我国环境氡污染监测与评价水平、建材氡析出率测量与控制水平、以氡为示踪核素的资 源勘测、地学研宄及地震预报水平的重要保证。
[0003] 发明专利《测量介质表面氡析出率的方法及装置》中提供了一种基于静电收集法 的测量介质表面氡析出率的方法，虽能消除泄漏、反扩散、环境氡和钍射气的干扰，该方法 是采用累积法测量氡析出率，受外界条件影响较少，虽然具有较高的测量精度，但是目前该 方法为了提高测量精度，多次测量，用最小二乘法来计算A和B，最后求出xe和J，并没有 进行连续测氡析出率，仅仅只是用于对介质表面氡析出率单次测量。发明专利《闭环式连续 测量氡析出率的方法》中不能快速响应氡析出率的变化（氡的半衰期是3. 825d)，存在严重 的延时效应，难以实现以氡为示踪核素的地震预报等的快速响应需求。
[0004] 因此，有必要设计一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装置。
【发明内容】
[0005] 本发明所要解决的技术问题是提供一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装 置，该连续测量介质表面氡析出率的方法和装置能实现连续测量，测量效率高。
[0006] 发明的技术解决方案如下：
[0007] -种连续测量介质表面氡析出率的方法，包括以下步骤：
[0008] 步骤1 :测量初始氡浓度CQ;
[0009] 开启取样泵用0.l_12L/min的流率取样被测环境（是介质表面的外部环境）中含 氡空气，取样时间为AT，此时测量室内的氡浓度即为初始时刻t= 0时集氡罩的氡浓度即 初始氡浓度
[0010] 步骤2 :计算介质表面氡析出率；
[0011] (b)先按以下方法确定A、B以及等效衰变常量入e:
[0012] 将具有开孔且带搅拌功能的集氡罩扣在待测介质表面；以时间间隔为T对集氡罩 内氡的浓度进行多次测量；
[0013] 第n和n-1次测量的集氡罩内氡的浓度之间的关系为：Cn=A+BCn_1;
[0014] 其中n为自然数；
[0015](；为t=n*T时刻的集氡罩内氡的浓度；
【主权项】
1. 一种连续测量介质表面氡析出率的方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1:测量初始氡浓度 开启取样泵用0.l-12L/min的流率取样被测环境中含氡空气，取样时间为AT，此时测 量室内的氡浓度即为初始时刻t= 0时集氡罩的氡浓度即初始氡浓度 步骤2 :计算介质表面氡析出率； (a)先按以下方法确定A、B以及等效衰变常量入e: 将具有开孔且带搅拌功能的集氡罩扣在待测介质表面；以时间间隔为T对集氡罩内氡 的浓度进行多次测量； 第n和n-1次测量的集氡罩内氡的浓度之间的关系为：Cn=A+BCn_1; 其中n为自然数； (；为t=n*T时刻的集氡罩内氡的浓度；
J为被测介质表面氡析出率； S为集氡罩的底面积； V表示集氡罩与测量室的总体积； 在氡累积过程中，经多次测量，采用最小二乘法确定公式Cn=A+BCn_i的A和B;并求得 丁， In 100 InlOO 再以作为氡累积过程和氡动态平衡过程的分界点；测量时间对应的过 'Le /be InlOO 程为氡累积过程对应的过程为氡动态平衡过程；
e (bl)在氡累积过程， TS ' ' . ? (b2)在氡动态平衡过程，
2. 根据权利要求1所述的连续测量介质表面氡析出率的方法，其特征在于，取样泵的 流率 2L/min。
3. 根据权利要求2所述的连续测量介质表面氡析出率的方法，其特征在于，AT不小于 1分钟。
4. 根据权利要求3所述的连续测量介质表面氡析出率的方法，其特征在于，T不小于10 分钟。
5. 根据权利要求4所述的连续测量介质表面氡析出率的方法，其特征在于，T为15分
6. -种连续测量介质表面氡析出率的装置，其特征在于，包括测氡仪（5)和扣装在待 测介质表面（6)上的集氡罩（1); 集氡罩上设有泄露孔（1-4)，集氡罩内具有搅拌器（1-1); 测氡仪中具有测量室（5-1); 集氡罩的集氡罩抽气连接孔（1-3)与测氡仪的测量仪抽气连接孔（5-2)通过进气连接 管⑶连接； 集氡罩的集氡罩回气连接孔（1-2)与测氡仪的测量仪回气连接孔（5-3)通过回气连接 管⑵连接； 采用权利要求1-5任一项所述的方法测量待测介质表面氡析出率。
7.根据权利要求5所述的连续测量介质表面氡析出率的装置，其特征在于，进气连接 管上设有氡子体过滤器（4)。
【专利摘要】本发明公开了一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装置，该方法包括以下步骤：步骤1：测量初始氡浓度C0；步骤2：计算介质表面氡析出率；先按以下方法确定A、B以及等效衰变常量λe：第n和n-1次测量的集氡罩内氡的浓度之间的关系为：Cn＝A+BCn-1；(b1)在氡累积过程，(b2)在氡动态平衡过程，该连续测量介质表面氡析出率的方法和装置能实现连续测量，测量效率高。
【IPC分类】G01T1-167
【公开号】CN104614753
【申请号】CN201510071759
【发明人】肖德涛, 李志强, 赵桂芝
【申请人】南华大学
【公开日】2015年5月13日
【申请日】2015年2月11日