一种盖印位置检查治具的制作方法

文档序号:15917545发布日期:2018-11-13 22:30阅读:235来源:国知局
一种盖印位置检查治具的制作方法

本实用新型属于IC生产技术领域,尤其涉及一种盖印位置检查治具。



背景技术:

现有技术中,客户会要求在IC产品封装过程中,对IC大板产品进行盖印,以方便大板切单后,对单颗IC产品异常的追溯,如图1所示,其中的阴影区域A即为盖印区域。同时,客户会要求切单后,单颗IC产品上的盖印内容必须在要求的尺寸规格内。

目前,对IC产品上盖印位置的检查是在IC大板切单后进行的,其过程是:首先新建盖印位置,之后在IC大板上进行盖印,之后对IC大板进行切单,之后判断单颗IC上盖印内容的尺寸规格是否满足客户要求,并以此来调整下一次IC大板盖印的位置,盖印新位置的建立耗时约需2天左右。

由于在IC大板盖印后,无法即时检查出盖印位置是否符合尺寸规格,而必须切单后才能进行检查,因此,在跑料过程中若出现盖印位置的偏移,则无法即时检查出来,会造成大批量的坏品,生产效率低。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种盖印位置检查治具,旨在解决现有技术中,对IC产品上盖印位置的检查是在IC大板切单后进行,生产效率低的问题。

本实用新型是这样实现的,一种盖印位置检查治具,所述盖印位置检查治具包括:

盖印对位板,所述盖印对位板上镂空有若干对位孔,所述对位孔的数量与IC大板上的应盖印数量相同,且所述对位孔的镂空位置与所述IC大板上的应盖印区域一一对应。

进一步地,所述盖印位置检查治具还可包括:

电木,所述电木上设有定位柱;

所述盖印对位板和所述IC大板上,分别开有与所述定位柱配合的定位孔。

更进一步地,所述电木上可设有第一定位柱、第二定位柱和第三定位柱,所述第一定位柱、第二定位柱和第三定位柱在所述电木上呈三角形分布。

上述盖印位置检查治具中,所述盖印对位板可以是铁板、硅胶板、硬塑板、玻璃板、或木板。

本实用新型提供的盖印位置检查治具成本低,使用寿命长,在IC大板整板盖印后,将盖印对位板覆在IC大板上,若盖印内容在对应的对位孔内,则说明盖印内容符合客户要求的规格,否则需调整盖印位置。由于是在IC大板切单前对盖印位置进行检查并调整,从而缩短了盖印新位置的建立时间,可从现有的2天左右缩短到2个小时左右,提高了生产效率。同时,可在IC大板切单前即时检查出盖印位置是否符合规格,因而不会造成大批量的异常,进一步提高了生产效率。

附图说明

图1是现有技术中,盖印的IC大板的示意图;

图2是本实用新型实施例一提供的盖印位置检查治具的结构及其应用图;

图3是本实用新型实施例二提供的盖印位置检查治具的结构及其应用图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

针对现有技术存在的问题,本实用新型提出了一种盖印位置检查治具,应用该盖印位置检查治具,可在IC大板切单前即时检查出盖印位置是否符合规格。以下将结合实施例详细描述:

实施例一

本实用新型实施例一提出了一种盖印位置检查治具,如图2所示。包括盖印对位板1,盖印对位板1上镂空有若干对位孔11,对位孔11的数量与IC大板上的应盖印数量相同,且对位孔11的镂空位置与IC大板上的应盖印区域一一对应。

本实用新型实施例一中,盖印对位板1可以是铁板、硅胶板、硬塑板、玻璃板、木板等。

本实用新型实施例一提供的盖印位置检查治具成本低,使用寿命长,在IC大板整板盖印后,将盖印对位板1覆在IC大板上,若盖印内容在对应的对位孔11内,则说明盖印内容符合客户要求的规格,否则需调整盖印位置。由于是在IC大板切单前对盖印位置进行检查并调整,从而缩短了盖印新位置的建立时间,可从现有的2天左右缩短到2个小时左右,提高了生产效率。同时,可在IC大板切单前即时检查出盖印位置是否符合规格,因而不会造成大批量的异常,进一步提高了生产效率。

实施例二

本实用新型实施例二提出了一种盖印位置检查治具,如图3所示。与实施例一所述不同,为了实现良好的定位功能,实施例二中,盖印位置检查治具还可在实施例一的基础上,进一步包括:电木2,电木2上设有定位柱。同时,在盖印对位板1和IC大板上,分别开有与定位柱配合的定位孔。

本实用新型实施例二中,电木2上定位柱的数量可根据用户需要设置,优选地,电木2上设有第一定位柱21、第二定位柱22和第三定位柱23,第一定位柱21设置在电木2的左下角,第二定位柱22设置在电木2的中上角,第三定位柱23设置在电木2的右下角,第一定位柱21、第二定位柱22和第三定位柱23在电木2上呈三角形分布。相应地,盖印对位板1包括与第一定位柱21配合的第一定位孔12、与第二定位柱22配合的第二定位孔13、以及与第三定位柱23配合的第三定位孔14。相应地,IC大板上也开有分别与第一定位柱21、第二定位柱22和第三定位柱23配合的三个定位孔。

本实用新型实施例二提供的盖印位置检查治具成本低,使用寿命长,在IC大板整板盖印后,将IC大板通过定位孔安装在电木2上,再将盖印对位板1通过定位孔覆在IC大板上,以方便操作员定位。同样地,若盖印内容在对应的对位孔11内,则说明盖印内容符合客户要求的规格,否则需调整盖印位置。由于是在IC大板切单前对盖印位置进行检查并调整,从而缩短了盖印新位置的建立时间,可从现有的2天左右缩短到2个小时左右,提高了生产效率。同时,可在IC大板切单前即时检查出盖印位置是否符合规格,因而不会造成大批量的异常,进一步提高了生产效率。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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