专利名称：Xfpc连接状态的检测方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及PDP (Plasma Display Panel，等离子显示板)模组领域，具体而言，涉及一种XFPC (XSUS Flexible Printed Circuit board，维持驱动电路板的柔性连接器)连接状态的检测方法和装置。
背景技术：
随着PDP模组向更薄更窄的趋势发展，显示区域外的边缘宽度越来越窄，X电极侧全电极区域变窄，因此，使得导通电阻变大，在同样的X电流的情况下，导致屏温升高。为了避免屏温升高，则必须通过屏结构设计来优化全电极区域，以增大导电路径，从而避免屏温升高，但是，在优化全电极区域以增大导电路径时，必须要保证两边的XFPC有效连接，否则必然导致屏温超标。然而，在目前的PDP模组中，大多数是通过生产制造的方式来保证XFPC的良好连接的，如图1所示，PDP模组的XSUS(X Sustain，维持驱动电路)板通过一个网络与XFPC进行连接，在采用生产制造的方式来保证XFPC的良好连接时，即使有个别的XFPC未进行连接，PDP模组也能正常地进行工作，但是在这种场景下，X电极的电流就会都集中通过连接的FPC，导致处于连接状态的FPC的导通电阻变大，进而导致关键路径上的温度升高以致超标，从而会容易烧伤面框。
发明内容
本发明提供了一种XFPC连接状态的检测方法和装置，以至少解决相关技术中的由于个别XFPC未进行连接而导致的关键路径上的温度升高超标以及面框烧伤的问题。根据本发明的一个方面，提供了一种XFPC连接状态的检测方法，其包括检测PDP 模组中的XFPC是否连接正常；在检测出PDP模组中的XFPC连接不正常时，将PDP模组设置在不工作状态。优选地，检测PDP模组中的XFPC是否连接正常的步骤包括通过XSUS板将逻辑电路与XFPC连接；判断逻辑电路输出的逻辑状态，若逻辑电路输出的逻辑状态为低，则判断 PDP模组中的XFPC连接正常；若逻辑状态为高，则判断PDP模组中的XFPC连接不正常。优选地，通过XSUS板将逻辑电路与XFPC连接的步骤包括将光耦中作为输入端的二极管的正极与XSUS板的第一输出端连接，并将二极管的负极与XSUS板的第二输出端连接；将光耦中作为输出端的晶体管与逻辑电路连接。优选地，判断逻辑电路输出的逻辑状态的步骤包括在光耦处于关闭状态时，判断出逻辑状态为低；在光耦处于开通状态时，判断出逻辑状态为高。优选地，将PDP模组设置在不工作状态的步骤包括获取逻辑状态；若逻辑状态为高，则禁止发送控制信号给PDP模组，以将PDP模组置于不工作的状态；若逻辑状态为低，则发送控制信号给PDP模组，使得PDP模组置于工作的状态。根据本发明的另一方面，提供了一种XFPC连接状态的检测装置，其包括检测部件，用于检测PDP模组中的XFPC是否连接正常；控制部件，用于在检测出PDP模组中的XFPC 连接不正常时，将PDP模组设置在不工作状态。优选地，检测部件包括第一获取单元，用于获取通过XSUS板与XFPC连接的逻辑电路输出的逻辑状态；其中，若逻辑状态为低，则PDP模组中的XFPC连接正常；若逻辑状态为高，则PDP模组中的XFPC连接不正常。优选地，第一获取单元包括光耦，光耦中作为输入端的二极管的正极与XSUS板的第一输出端连接，二极管的负极与XSUS板的第二输出端连接；逻辑电路，与光耦中作为输出端的晶体管连接。优选地，逻辑电路包括逻辑状态输出端口，其中，在光耦处于关闭状态时，逻辑状态输出端口输出的逻辑状态为低；在光耦处于开通状态时，逻辑状态输出端口输出的逻辑状态为高。优选地，控制部件包括第二获取单元，用于获取逻辑状态；控制模块，用于在逻辑状态为高时，禁止发送控制信号给PDP模组，以将PDP模组置于不工作的状态；在逻辑状态为低时，发送控制信号给PDP模组，使得PDP模组置于工作的状态。在本发明中，对PDP模组中的XFPC的连接状态进行检测，在检测到PDP模组中的 XFPC未进行有效连接时，将PDP模组设置在不工作状态，以避免由于PDP模组中的XFPC未连接时，X电极电流集中地通过连接的FPC，以导致PDP模组的关键路径上的温度超标，对面框容易造成烧伤，从而保证了 PDP模组的可靠性，进而提高了系统的可靠性。
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中图1是根据相关技术的XSUS与XFPC的连接方式的示意图；图2是根据本发明实施例的XFPC连接状态的检测装置的一种优选的结构图；图3是根据本发明实施例的XFPC连接状态的检测装置的另一种优选的结构图；图4是根据本发明实施例的光耦在电路中连接的一种优选的电路图；图5是根据本发明实施例的XSUS与XFPC的连接方式的一种优选的示意图；图6是根据本发明实施例的XFPC连接状态的检测方法的一种优选的流程图。
具体实施例方式下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。实施例1图2是根据本发明实施例的XFPC连接状态的检测装置的一种优选的结构图，如图 2所示，该XFPC连接状态的检测装置包括检测部件202，用于检测PDP模组中的XFPC是否连接正常；控制部件204，与检测部件202连接，用于在检测出PDP模组中的XFPC连接不正常时，将PDP模组设置在不工作状态。在上述优选实施例中，对PDP模组中的XFPC的连接状态进行检测，在检测到PDP 模组中的XFPC未进行有效连接时，将PDP模组设置在不工作状态，以避免由于PDP模组中的XFPC未连接吋，X电极电流集中地通过连接的FPC，以导致PDP模组的关键路径上的温度超标，对面框容易造成烧伤，从而保证了 PDP模组的可靠性，进而提高了系统的可靠性。在上述优选实施例的基础上，本发明提供了一种优选的控制部件204，如图3所示，该控制部件204包括第二获取单元2041，用于获取逻辑状态；控制模块2042，与第二获取单元2041连接，用于在逻辑状态为高吋，禁止发送控制信号给PDP模组，以将PDP模组置于不工作的状态；在逻辑状态为低吋，发送控制信号给PDP模组，使得PDP模组置于工作的状态。在本实施例中，根据逻辑状态来判断是否将PDP模组置于工作状态，避免在PDP模组中的个别XFPC未有效连接时将PDP模组置于工作状态，X电极的电流集中地通过连接的 FPC,造成PDP模组的关键路径的温度升高超标，甚至导致面框烧伤，从而改善了 PDP模组的性能。在上述实施例的基础上，本发明提供了一种优选的检测部件202，如图3所示，该检测部件202包括第一获取单元2021，用于获取通过XSUS板与XFPC连接的逻辑电路400 输出的逻辑状态；其中，若逻辑状态为低，则PDP模组中的XFPC连接正常；若逻辑状态为高，则PDP模组中的XFPC连接不正常。在本实施例中，根据逻辑电路400输出的逻辑状态来判断PDP模组中的XFPC连接状态，即通过电路来检测PDP模组中的XFPC连接状态，提高了判断PDP模组中的XFPC的连接状态的准确性。在上述各优选实施例的基础上，本发明提供了一种优选的第一获取单元2021，如图4所示，该第一获取单元2021包括光耦0P4001，光耦0P4001中作为输入端的ニ极管的正极与XSUS板的第一输出端(例如，如图5所示的XSUS板上的引脚1-10)连接，ニ极管的负极与XSUS板的第二输出端(例如，如图5所示的XSUS板上的引脚11-12)连接；逻辑电路400，与光耦中作为输出端的晶体管连接。在本实施例中，XSUS板通过光耦与逻辑电路 400连接，光耦的连接状态通过逻辑电路400后，逻辑电路400的输出端输出逻辑状态，实现可以根据逻辑电路400的输出状态来判断PDP模组中的XFPC的连接状态。进ー步地，如图4所示，上述实施例中的光耦0P4001的具体的连接方式为光耦 0P4001的输入端的ニ极管的正极与XSUS板的第一输出端连接，如图5所示，XSUS板的第 ー输出端为XSUS板的1-10管脚相连在一起得到的输出端，ニ极管的负极与XSUS板的第二输出端连接，如图5所示，XSUS板的第二输出端为XSUS板的11、12管脚相连在一起得到的输出端，因此，实现将XSUS板的所有管脚以两个网络的形式与0P4001的输入端的ニ极管连接，如XSUS板的1-10管脚相连在一起得到的输出端为网络1，XSUS板的11、12管脚相连在一起得到的输出端为网络2，可以实现通过判断网络1和网络2是否连接来判断光耦 0P4001的输入端的ニ极管的导通状态。在XFPC与XSUS板未连接吋，网络1和网络2相互之间未连接，在XFPC正常连接到XSUS板吋，网络1与网络2通过XFPC连接到一起，对XFPC 连接状态的逻辑判断如下表1所示表 权利要求
1.一种XFPC连接状态的检测方法，其特征在于，包括检测等离子显示板PDP模组中的维持驱动电路板的柔性连接器XFPC是否连接正常；在检测出所述PDP模组中的XFPC连接不正常时，将所述PDP模组设置在不工作状态。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，检测PDP模组中的XFPC是否连接正常的步骤包括通过维持驱动电路XSUS板将逻辑电路与所述XFPC连接；判断所述逻辑电路输出的逻辑状态，若所述逻辑电路输出的逻辑状态为低，则判断所述PDP模组中的XFPC连接正常；若所述逻辑状态为高，则判断所述PDP模组中的XFPC连接不正常。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过XSUS板将逻辑电路与所述XFPC连接的步骤包括将光耦中作为输入端的二极管的正极与所述XSUS板的第一输出端连接，并将所述二极管的负极与所述XSUS板的第二输出端连接；将所述光耦中作为输出端的晶体管与所述逻辑电路连接。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，判断所述逻辑电路输出的逻辑状态的步骤包括在所述光耦处于关闭状态时，判断出所述逻辑状态为低；在所述光耦处于开通状态时，判断出所述逻辑状态为高。
5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法，其特征在于，将所述PDP模组设置在不工作状态的步骤包括获取所述逻辑状态；若所述逻辑状态为高，则禁止发送控制信号给所述PDP模组，以将所述PDP模组置于不工作的状态；若所述逻辑状态为低，则发送控制信号给所述PDP模组，使得所述PDP模组置于工作的状态。
6.一种XFPC连接状态的检测装置，其特征在于，包括检测部件，用于检测PDP模组中的维持驱动电路板的柔性连接器XFPC是否连接正常；控制部件，用于在检测出所述PDP模组中的XFPC连接不正常时，将所述PDP模组设置在不工作状态。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测部件包括第一获取单元，用于获取通过维持驱动电路XSUS板与所述XFPC连接的逻辑电路输出的逻辑状态；其中，若所述逻辑状态为低，则所述PDP模组中的XFPC连接正常；若所述逻辑状态为高，则所述PDP模组中的XFPC连接不正常。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一获取单元包括光耦，所述光耦中作为输入端的二极管的正极与所述XSUS板的第一输出端连接，所述二极管的负极与所述XSUS板的第二输出端连接；所述逻辑电路，与所述光耦中作为输出端的晶体管连接。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述逻辑电路包括逻辑状态输出端口， 其中，在所述光耦处于关闭状态时，所述逻辑状态输出端口输出的逻辑状态为低；在所述光耦处于开通状态时，所述逻辑状态输出端口输出的所述逻辑状态为高。
10.根据权利要求7-9中任一项所述的装置，其特征在于，所述控制部件包括 第二获取单元，用于获取所述逻辑状态；控制模块，用于在所述逻辑状态为高时，禁止发送控制信号给所述PDP模组，以将所述 PDP模组置于不工作的状态；在所述逻辑状态为低时，发送控制信号给所述PDP模组，使得所述PDP模组置于工作的状态。
全文摘要
本发明提供了一种XFPC连接状态的检测方法和装置，其中，该方法包括检测等离子显示板PDP模组中的维持驱动电路板的柔性连接器XFPC是否连接正常；在检测出PDP模组中的XFPC连接不正常时，将PDP模组设置在不工作状态。本发明解决了相关技术中的由于个别XFPC未进行连接而导致的关键路径上的温度升高超标以及面框烧伤的问题，从而保证了PDP模组的可靠性，进而提高了系统的可靠性。
文档编号G09G3/00GK102568361SQ20111045562
公开日2012年7月11日 申请日期2011年12月30日 优先权日2011年12月30日
发明者党春杨, 符赞宣 申请人:四川虹欧显示器件有限公司