显示面板及其检测方法

专利名称：显示面板及其检测方法
技术领域：
本发明关于一种显示面板及其检测方法。
背景技术：
液晶显示装置(LiquidCrystal Display, LCD)及有机发光二极管(Organiclight emitting diode, OLED)显示装置因具有外型轻薄、省电以及无福射等优点，目前已被普遍地应用于多媒体播放器、行动电话、个人数位助理(PDA)、电脑显示器(monitor)、或平面电视等电子产品上。为了降低制造成本及提升面板合格率，通常厂商在显示器出货前会先实施检测步骤，例如检测面板像素中是否存在亮点及暗点的缺陷。然而，就现有的面板检测方法而言，若面板中电性连接于像素的相邻数据线之间有短路的情形，本来无法正常根据信号工作的故障像素亦有可能透过短路的方式而发亮，而无法完全检测出全部的故障像素，导致产品的合格率难以改善。

发明内容
本发明的目的之一是提供一种显示面板及其检测方法，可以完全检测出全部故障像素，提闻广品的合格率。为达上述目的，本发明的一实施例关于一种显示面板，包括第一基板、多个像素单元、多条第一信号线、第一测试线及第二测试线。该第一基板具有显示区与周边区，该些像素单元阵列排列设于该显示区上，该些第一信号线设置于该周边区上且分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第一信号线包括多个第一组子信号线及多个第二组子信号线，该些第一组子信号线及该些第二组子信号线交替排列，每一该些第一组子信号线及每一该些第二组子信号线分别具有第一子信号线与第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层，该第一测试线电性连接于该第一组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线，该第二测试线电性连接于该第二组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线。上述的显示面板，其中该些第一子信号线与该些第二子信号线交替排列。上述的显示面板，其中该些第一子信号线由一第一导电层构成，该些第二子信号线由一第二导电层构成。上述的显示面板，其中该些第一子信号线分别经由一第一穿孔对应地电性连接至该些像素单元，且该些第二子信号线直接对应地电性连接至该些像素单元。上述的显示面板，其中还包括一第一介电层，形成于该第一基板上，该第一介电层形成于该些第一子信号线与该些第二子信号线之间。上述的显不面板,其中还包括一第二介电层，形成于该第一基板上，该第二介电层覆盖该些第二子信号线与该第一介电层。上述的显示面板，其中还包括一第二基板与一显示介质层，该显示介质层形成于该第一基板与该第二基板之间。
上述的显示面板，其中还包括一第一测试垫与一第二测试垫，分别电性连接该第一测试线与该第二测试线。上述的显示面板，其中各该第一组子信号线及该些第二组子信号线更包括一第三子信号线，且该第一子信号线、该第二子信号线与该第三子信号线为相异层。上述的显示面板，其中该些第三子信号线由一第三导电层构成。上述的显示面板，其中还包括:多条第二信号线，设置于该周边区上，分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第二信号线至少包括一第四组子信号线及一第五组子信号线，该第四组子信号线及该第五组子信号线交替排列，且各该第四组子信号线及该些第五组子信号线分别具有一第四子信号线与一第五子信号线，且该第四子信号线与该第五子信号线于该周边区形成于相异层；一第四测试线，电性连接于该第四组子信号线的该第四子信号线与该第五子信号线；以及一第五测试线，电性连接于该第五组子信号线的该第四子信号线与该第五子信号线。上述的显示面板，其中该些第一信号线为多条数据线，对应地电性连接该些像素单元，且该些第二信号线为多条扫描线，对应地电性连接该些像素单元。上述的显示面板，其中该些第四子信号线与该些第五子信号线交替排列。上述的显示面板，其中该些第四子信号线由一第一导电层构成，该些第五子信号线由一第二导电层构成。上述的显示面板，其中各该第四组子信号线及该些第五组子信号线更包括一第六子信号线。为达上述目的，本发明的另一实施例关于一种显示面板的检测方法，该显示面板包括第一基板、多个像素单元、多条第一信号线、第一测试线及第二测试线，该第一基板具有显示区与周边区，该些像素单元阵列排列设于该显示区上，该些第一信号线设置于该周边区上且分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第一信号线包括多个第一组子信号线及多个第二组子信号线，该些第一组子信号线及该些第二组子信号线交替排列，每一该些第一组子信号线及每一该些第二组子信号线分别具有第一子信号线与第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层，该第一测试线电性连接于该第一组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线，该第二测试线电性连接于该第二组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线，该方法包括点亮该第一组子信号线电性连接的该些像素单元以检测第一组子信号线电性连接的该些像素单元是否有缺陷，以及点亮该第二组子信号线电性连接的该些像素单元以检测第二组子信号线电性连接的该些像素单元是否有缺陷。上述的检测方法，其中点亮该第一组子信号线电性连接的该些像素单元，包括输入一第一组测试信号至该第一测试线与该第二测试线。上述的检测方法，其中点亮该第二组子信号线电性连接的该些像素单元，包括输入一第二组测试信号至该第一测试线与该第二测试线。为达上述目的，本发明的另一实施例关于一种显示面板，包括第一基板、多个像素单元、多条第一信号线、驱动元件、第一测试线、第二测试线及切割沟槽。该第一基板具有显示区与周边区，该些像素单元阵列排列设于该显示区上。该多条第一信号线设置于该周边区上，分别对应地电性连接于该些像素单元。该些第一信号线包括多个第一组子信号线及多个第二组子信号线，该第一组子信号线及该第二组子信号线交替排列，各该第一组子信号线及该些第二组子信号线分别具有第一子信号线与第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层。该驱动元件设置于该些第一信号线上且电性连接于该些第一信号线。该第一测试线相对于该第一组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线设置，且该第二测试线相对于该第二组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线。该切割沟槽设置于该第一测试线与该第一组子信号线之间，以及该第二测试线与该第二组子信号线之间，使该第一测试线与该第一组子信号线电性隔离，且该第二测试线与该第二组子信号线电性隔离。上述的显示面板，其中该驱动元件包括一集成电路芯片。上述的显示面板，其中该些第一信号线更包括多个连接垫，用于电性连接该驱动元件。透过本发明实施例中，将相邻的第一子信号线与第二子信号线为相异层，可使相邻的子信号线之间不会短路，因此在检测显示面板是否存在故障像素时，故障像素可被完全地检测出，因而提升显示面板的合格率。


图1A为本发明第一实施例显示面板的示意图；图1B为沿图1A中剖面线的剖面示意图；图2为图1A显示面板的架构示意图；图3为对图1A或图2显示面板进行检测的流程图；图4为对图1A的显示面板设置切割沟槽的示意图；图5为对图1A的显示面板设置驱动元件的示意图；图6为本发明第二实施例显示面板的示意图；图7为本发明第三实施例显示面板的示意图；图8为本发明第四实施例显示面板的示意图。其中，附图标记:20 基板22 下基板24 上基板26 液晶层30 像素单元40 第一信号线50 第二信号线90 显示单元100、600、700、800 显示面板110 显示区120 周边区152、154 步骤300 驱动元件320 连接垫330 集成电路芯片350 切割沟槽R红色子像素G绿色子像素B蓝色子像素SI第一组子信号线S2 第二组子信号线S4第四组子信号线S5 第五组子信号线S11、S21第一子信号线S12、S22 第二子信号线 S13、S23第三子信号线S4US51 第四子信号线S42、S52第五子信号线
S43、S53 第六子信号线F1、F2 测试信号Ml 第一导电层M2第二导电层LI 第一介电层L2第二介电层CA 像素控制线DA数据线GA 栅极线D1、D2、D4、D5 测试垫T1、T2、T4、T5 测试线 V1、V2穿孔A-A’ 剖面线
具体实施例方式在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。本领域技术人员应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同样的元件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区别元件的方式，而是以元件在功能上的差异来作为区别的基准。在通篇说明书及权利要求书当中所提及的“包括”为开放式的用语，故应解释成“包括但不限定于”。此外，“电性连接”在此包括任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置电性连接于第二装置，则代表该第一装置可直接连接于该第二装置，或透过其他装置或连接手段间接地连接至该第二装置。下文依本发明特举实施例配合所附附图作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围，而方法流程步骤编号更非用以限制其执行先后次序，任何由方法步骤重新组合的执行流程，所产生具有均等功效的方法，皆为本发明所涵盖的范围。请参考图1A，图1A为本发明第一实施例显示面板100的示意图。如图1A所示，显示面板100包括第一基板20、多个显示单元90、多条第一信号线40、测试线Tl及T2。每一显示单元90包含多个像素单元30。第一基板20具有显示区110与周边区120，周边区120可环绕显示区100,显示区110可为显示面板100用以显示影像的部分,而周边区120可为显示面板100中显示区110以外的部分，例如显示面板100的边框内的周边区120用以设置电路的部分，并分别对应地电性连接多个像素单元30。多个像素单元30阵列排列设于显示区110的第一基板20上，多条像素控制线CA例如是多条数据线DA及多条栅极线GA设置于显示区110内，并像素单元30电性连接于多条像素控制线CA。每一像素单元30可为一子像素，例如分别是红(R)、绿(G)、蓝(B)三色子像素，但是并不限于此，亦可以是其他颜色的子像素，例如靓蓝色子像素、黄色子像素、洋红色子像素、白色子像素等，同一列的子像素可为相同颜色的子像素并电性连接至同一条栅极线，且同一行的子像素电性连接至同一条信号线。例如，相邻的红(R)、绿(G)、蓝(B)三色子像素可构成一显示单元。请参考图1B,图1B为沿图1A中首I]面线A-A’的首I]面不意图。请同时参考图1A与图1B，多条第一信号线40电性连接于对应的多个像素单元30，且多条第一信号线40包括多个第一组子信号线SI及多个第二组子信号线S2，第一组子信号线SI及第二组子信号S2线交替排列。每一第一组子信号线SI皆具有第一子信号线Sll与第二子信号线S12，第一子信号线Sll与第二子信号线S12形成于周边区120内，且第一子信号线Sll与第二子信号线S12为相异层(different layer)，亦即第一子信号线Sll与第二子信号线S12由不同层的导电层所构成，例如第一子信号线Sll由第一导电层Ml所构成，第二子信号线S12由第二导电层M2所构成。此外，每一第二组子信号线S2亦分别具有第一子信号线S21与第二子信号线S22,且第一子信号线Sll与第二子信号线S12为相异层。第一介电层LI形成于第一基板20上,并形成于第一导电层Ml与第二导电层M2之间,例如第一介电层LI覆盖第一导电层Ml中的第一子信号线Sll、S21，且第二导电层M2中的第二子信号线S21、S22形成于第一介电层上LI。第二介电层L2覆盖第二导电层M2中的第二子信号线S21、S22。测试线Tl电性连接于第一组子信号线SI的第一子信号线Sll与第二子信号线S12，测试线T2电性连接于第二组子信号线S2的第一子信号线S21与第二子信号线S22，且测试线Tl、测试线T2分别电性连接于测试垫Dl与测试垫D2，用以对像素单元30提供测试垫Dl、D2传来的测试信号。在显示面板100中，第一子信号线S11、第二子信号线S12、第一子信号线S21、第二子信号线S22可依序排列。请参考图2,图2为图1A显示面板100的架构示意图。如图2所示,显示面板100可为液晶显示面板(IXD)、有机发光二极管显示面板(OLED)、发光二极管显示面板(LED)、电泳显示面板(Electrophoretic display)、电湿润(Electro-wetting)显示面板、场发射显示面板等，但并不限于此。显示面板100除了包括第一基板20外，更可包括第二基板22以及显不介质24。以液晶显不面板(IXD)为例，液晶显不面板的第一基板20内表面上可设置前述的像素单元30与第一信号线40等构成主动元件阵列基板，第二基板22内表面上可设置彩色滤光层与黑色矩阵构成彩色滤光基板，显示介质24可为各种液晶层，以组成所需的液晶显示面板。至于更详细的结构设计，为本领域技术人员所熟知，可轻易地作等效的变更。请参考图3，图3为对图1A或图2显示面板100进行检测的流程图，说明如下:步骤152:点亮第一组子信号线SI电性连接的像素单元30，以检测第一组子信号线SI连接的像素单元30是否有缺陷；步骤154:点亮第二组子信号线S2电性连接的像素单元30，以检测第二组子信号线S2连接的像素单元30是否有缺陷。在步骤152、154中，点亮第一组子信号线SI电性连接的像素单元30时，第二组子信号线S2电性连接的像素单元30可以不点亮，或者是低灰阶点亮，以利用灰阶亮度差异来检测第一组子信号线SI电性连接的像素单元30是否有缺陷，例如是否有暗点或是异常的亮点。举例来说，可在测试垫Dl与D2分别令输入的测试信号Fl且F2为无信号，可使第二组子信号线S2电性连接的像素单元30不点亮，或者令测试信号Fl与F2为不同的信号，可以使两组像素单元分别呈现不同的亮度。同样地，步骤154中可以输入不同的测试信号Fl与F2，点亮第二组子信号线S2电性连接的像素单元30，以检测第二组子信号线S2连接的像素单元30是否有缺陷，例如有暗点或是异常的亮点。此外，显示面板100进行完前述的检测步骤之后，检测品质优良没有缺陷的显示面板100可进行后续的驱动电路组装步骤。请参考图4与图5,图4为对图1A的显不面板100设置切割沟槽350的示意图，图5为对图1A的显示面板100设置驱动元件300的示意图。如图4所示，切割沟槽350设置于第一测试线Tl与第一组子信号线SI之间，以及第二测试线T2与第二组子信号线S2之间，使第一测试线Tl与第一组子信号线SI电性隔离，且第二测试线T2与第二组子信号线S2电性隔离。切割沟槽350 —般可利用雷射切割技术，将第一组子信号线SI与第二组子信号线S2切断，切断处邻近于第一测试线Tl与第二测试线T2，如图4中所示。
请参考图5，将第一测试线Tl与第二测试线T2电性隔离之后，将驱动元件300电性连接于多个第一信号线40，用于驱动像素单元30。驱动元件300例如是集成电路芯片330设置于该些第一信号线40上且电性连接于该些第一信号线40。驱动元件300亦可以是玻璃覆晶 C0G(Chip on Glass)、薄膜覆晶 COF(Chip on Film)、电路板覆晶 COB (Chip onBoard)、带状软件自动封装体TAB (Tape Automatic Carrier Bonding)、软性印刷电路板FPC (Flexible printed circuit)等。此外，可在第一信号线40设置多个连接垫320,每一条第一信号线40可设置至少一个连接垫320，如图4所示，使驱动元件300更容易设置在第一信号线40上，借此增进连接效果。透过第一实施例中的设计，当同一层导电层(例如是第一导电层Ml)相邻的两条第一子信号线Sll与S21等，因为显影缺陷或者是导电微粒(conductive particle)而电性连接在一起，由于第一子信号线Sll与S21分别连接不同的测试线Tl与T2，在检测时于测试线Tl与T2分别输入一亮一暗的测试信号，此时第一子信号线Sll与S21电性连接的像素单元30均会因为短路而点亮，因此本发明可以轻易地检测出同层短路缺陷。同样地，亦可以用于第二导电层M2相邻的两条第二子信号线S21与S22等的同层短路缺陷。相较于传统同一层导电层的信号线均连接到同一条测试线，无法检测出同层短路缺陷。此外，由于第一组子信号线SI内相邻的第一子信号线S11、第二子信号线S12为相异层，因此第一子信号线S11、第二子信号线S12并不容易有短路的情况发生，同样地第二组子信号线S2内亦不容易有短路的情况发生。本发明的第一实施例设计，对于高解析度使用高密度信号线的产品，可以更轻易地检测出同层短路缺陷，大幅地提高产品的合格率，避免不必要的产品浪费，降低制造的成本。请参考图6，图6为本发明第二实施例显示面板600的示意图。显示面板600与100的差别在于，在显示面板600中，每一第一组子信号线S1、第二组子信号线S2更包括第三子信号线S13、S23，第一子信号线S11、第二子信号线S12与第三子信号线S13于周边区120为相异层，且第一子信号线S21、第二子信号线S22与第三子信号线S23于周边区120亦形成于相异层。如图5所示，第三子信号线S13、S23可由一第三导电层构成，或者是相邻的第一子信号线S21、第二子信号线S22与第三子信号线S23为相异层。第一子信号线S21、第二子信号线S22与第三子信号线S23可经由数据线DA电性连接到像素单元30。在一实施例中，数据线DA可以跟第一信号线40的第一子信号线S21、第二子信号线S22与第三子信号线S23等相同采用不同层的设计。此外，在另一实施例中，若数据线DA采用同层设计，例如均采用第二导电层M2形成，可经由穿孔Vl、V2分别电性连接到第一信号线40不同层的子信号线。例如第一子信号线S21使用第一导电层Ml形成，第二子信号线S22使用第二导电层M2形成，第三子信号线S23使用第三导电层M3形成，若数据线DA采用第二导电层M2形成，可以经由第一穿孔Vl电性连接到第一子信号线S21，同层直接电性连接到第二子信号线S22，经由第二穿孔V2电性连接到第三子信号线S23。透过第二实施例中，将相邻的第一子信号线S11、S21与第二子信号线S12、S22以及第三子信号线S13、S23于周边区120形成于相异层，可使相邻的第一子信号线S11、第二子信号线S12与第三子信号线S13之间不会短路，因为每一相邻行子信号线皆电性连接于不同导电层。因此，在检测显示面板600时，由于电性连接于像素单元30的第一子信号线S11、第二子信号线S12与第三子信号线S13位于不同导电层，不易发生短路。此外，同层导电层若发生短路缺陷，如前面所述，因为连接不同的测试线Tl与T2，所以信号线的同层短路缺陷可以轻易地检测出，因而提升显示面板600的合格率。请参考图7，图7为本发明第三实施例显示面板700的示意图。第三实施例与第一实施例的差别在于，子像素的排列并不限于前述的红(R)、绿(G)、蓝(B)三色子像素的顺序排列，亦可依照设计者的需求调整，例如可设计成红(R)、红(R)、绿(G)、绿(G)、蓝(B)、蓝(B)的方式排列，如图7所示。在另一实施例中，红(R)、绿(G)、蓝(B)三色子像素可以转九十度，沿着数据线DA的方向排列(未图示)，此为本领域技术人员所熟知，因此不在赘述。此外，除了测试垫Dl、D2，显示面板600更包括多条第二信号线50、测试线Τ4、测试线Τ5以及测试垫D4、D5，测试线Τ4、Τ5分别电性连接于测试垫D4、D5，以对像素单元30提供测试垫D4、D5传来的测试信号。此外，显示面板700的多个第二信号线50包括第四组子信号线S4及第五组子信号线S5。第四组子信号线S4及第五组子信号线S5交替排列，且每一第四组子信号线S4及分别具有一第四子信号线S41与一第五子信号S42线，每一第五组子信号线S5及分别具有一第四子信号线S51与一第五子信号S52线，第四子信号线S41、S51与第五子信号线S42、S52于周边区120为相异层。测试线T4电性连接于第四子信号线S41与第五子信号线S42，且测试线T5电性连接于第四子信号线S51与第五子信号线S52。第四子信号线S41、S51与第五子信号线S42、S52交替排列，且相似于第一子信号线S11、第二子信号线S12分别由导电层Ml、M2构成，第四子信号线S41与第五子信号线S42由二不同的导电层Ml、M2构成，第四子信号线S51与第五子信号线S52亦然。对列子像素进行测试的方法可例如第一实施例中对行子像素提供测试信号F1、F2，故不再赘述。相较于第一实施例对行像素进行测试，第三实施例可额外地对列像素进行测试，因此在第三实施例中，将相邻的第一子信号线S11、S21与第二子信号线S12、S22于周边区120形成于相异层，可使相邻的第一子信号线S11、第二子信号线S12之间不会短路，因为每一相邻行子信号线皆电性连接于不同导电层。同理，由于相邻的第四子信号线S41、S51与第五子信号线S42、S52于周边区120形成于相异层，可使相邻的第四子信号线S11、第五子信号线S12之间不会短路。因此，在检测显示面板700时，由于电性连接于像素单元30的第一子信号线S11、第二子信号线S12位于不同导电层，且第四子信号线S41、第五子信号线S52位于不同导电层，不易发生短路。此外，同层导电层若发生短路缺陷，如前面所述，因为连接不同的测试线Tl与T2，所以信号线的同层短路缺陷可以轻易地检测出，因而提升显示面板700的合格率。请参考图8，图8为本发明第四实施例显示面板800的示意图。第四实施例与第二实施例的差别在于，除了测试垫Dl、D2，显示面板700更包括测试垫D4、D5以及测试线T4、T5，测试线T4、T5分别电性连接于测试垫D4、D5，以对像素单元30提供测试垫D4、D5传来的测试信号。此外，显示面板700的多个第二信号线50包括第四组子信号线S4及第五组子信号线S5。第四组子信号线S4及第五组子信号线S5交替排列，且每一第四组子信号线S4及分别具有一第四子信号线S41、一第五子信号S42线与一第六子信号S43线，每一第五组子信号线S5及分别具有一第四子信号线S51、一第五子信号S52线与一第六子信号S53线，第四子信号线S41、S51、第五子信号线S42、S52与第六子信号线S43、S53设置于周边区120为相异层。测试线T4电性连接于第四子信号线S41、第五子信号线S42与第六子信号线S43，且测试线T5电性连接于第四子信号线S51、第五子信号线S52与第六子信号线S53。第四子信号线S41、S51、第五子信号线S42、S52与第六子信号线S43、S53较佳交替排列，且相似于第一子信号线S11、第二子信号线S12可分别由导电层M1、M2构成，第四子信号线S41与第五子信号线S42由二不同的导电层构成,第四子信号线S51与第五子信号线S52亦然。第六子信号线S43、S53可由一第三导电层构成,或者是相邻的第一子信号线S41、S51、第二子信号线S42、S52与第三子信号线S43、S53为相异层亦可。在另一实施例中，红(R)、绿(G)、蓝⑶三色子像素可以转九十度，沿着数据线DA的方向排列(未图示)，此为本领域技术人员所熟知，因此不在赘述。相较于第二实施例对行像素进行测试，第四实施例可额外地对列像素进行测试，因此在第四实施例中，将相邻的第一子信号线S11、S21与第二子信号线S12、S22于周边区120形成于相异层，可使相邻的第一子信号线S11、第二子信号线S12之间不会短路，因为每一相邻行子信号线皆电性连接于不同导电层。同理，由于相邻的第四子信号线S41及S51、第五子信号线S42、S52以及第六子信号线S43、S53于周边区120形成于相异层，可使相邻的第四子信号线S41、第五子信号线S42、第六子信号线S43之间不会短路。因此，在检测显示面板800时，由于电性连接于像素单元30的第一子信号线S11、第二子信号线S12位于不同导电层，且第四子信号线S41、第五子信号线S42、第六子信号线S43位于不同导电层，不易发生短路。此外，同层导电层若发生短路缺陷，如前面所述，因为连接不同的测试线Tl与T2，所以信号线的同层短路缺陷可以轻易地检测出，因而提升显示面板800的合格率。本发明使用上述第一信号线或第二信号线的设计，可以更精确地检测出缺陷，提升显示面板的合格率。以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种显示面板，其特征在于，包括: 一第一基板，具有一显不区与一周边区； 多个像素单元，阵列排列设于该显示区上； 多条第一信号线，设置于该周边区上，分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第一信号线包括多个第一组子信号线及多个第二组子信号线，该第一组子信号线及该第二组子信号线交替排列，且各该第一组子信号线及该些第二组子信号线分别具有一第一子信号线与一第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层； 一第一测试线，电性连接于该第一组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线；以及 一第二测试线，电性连接于该第二组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些第一子信号线与该些第二子信号线交替排列。
3.如权利要求1所述的显不面板，其特征在于，该些第一子信号线由一第一导电层构成，该些第二子信号线由一第二导电层构成。
4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，该些第一子信号线分别经由一第一穿孔对应地电性连接至该些像素单元，且该些第二子信号线直接对应地电性连接至该些像素单元。
5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括一第一介电层，形成于该第一基板上，该第一介电层形成于该些第一子信号线与该些第二子信号线之间。`
6.如权利要求1所述的显不面板，其特征在于，还包括一第二介电层，形成于该第一基板上，该第二介电层覆盖该些第二子信号线与该第一介电层。
7.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括一第二基板与一显示介质层，该显不介质层形成于该第一基板与该第二基板之间。
8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括一第一测试垫与一第二测试垫，分别电性连接该第一测试线与该第二测试线。
9.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，各该第一组子信号线及该些第二组子信号线更包括一第三子信号线，且该第一子信号线、该第二子信号线与该第三子信号线为相异层。
10.如权利要求9所述的显示面板，其特征在于，该些第三子信号线由一第三导电层构成。
11.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括: 多条第二信号线，设置于该周边区上，分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第二信号线至少包括一第四组子信号线及一第五组子信号线，该第四组子信号线及该第五组子信号线交替排列，且各该第四组子信号线及该些第五组子信号线分别具有一第四子信号线与一第五子信号线，且该第四子信号线与该第五子信号线于该周边区形成于相异层； 一第四测试线，电性连接于该第四组子信号线的该第四子信号线与该第五子信号线；以及 一第五测试线，电性连接于该第五组子信号线的该第四子信号线与该第五子信号线。
12.如权利要求11所述的显示面板，其特征在于，该些第一信号线为多条数据线，对应地电性连接该些像素单元，且该些第二信号线为多条扫描线，对应地电性连接该些像素单J Li ο
13.如权利要求12所述的显示面板，其特征在于，该些第四子信号线与该些第五子信号线交替排列。
14.如权利要求11所述的显示面板，其特征在于，该些第四子信号线由一第一导电层构成，该些第五子信号线由一第二导电层构成。
15.如权利要求11所述的显示面板，其特征在于，各该第四组子信号线及该些第五组子信号线更包括一第六子信号线。
16.一种显示面板的检测方法，其特征在于，该显示面板包括一第一基板、多个像素单兀、多条第一信号线、一第一测试线及一第二测试线，该一第一基板具有一显不区与一周边区，该些像素单元阵列排列设于该显示区上，该些第一信号线设置于该周边区上且分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第一信号线包括多个第一组子信号线及多个第二组子信号线，该些第一组子信号线及该些第二组子信号线交替排列，每一该些第一组子信号线及每一该些第二组子信号线分别具有一第一子信号线与一第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层，该第一测试线电性连接于该第一组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线，该第二测试线电性连接于该第二组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线，该方法包括: 点亮该第一组子信号线电性连接的该些像素单元，检测第一组子信号线电性连接的该些像素单元是否有缺陷；以及 点亮该第二组子信号线电性连接的该些像素单元，检测第二组子信号线电性连接的该些像素单元是否有缺陷。
17.如请权利要求16所述的检测方法，其特征在于，点亮该第一组子信号线电性连接的该些像素单元，包括输入一第一组测试信号至该第一测试线与该第二测试线。
18.如请权利要求16所述的检测方法，其特征在于，点亮该第二组子信号线电性连接的该些像素单元，包括输入一第二组测试信号至该第一测试线与该第二测试线。
19.一种显示面板，其特征在于，包括: 一第一基板，具有一显不区与一周边区； 多个像素单元，阵列排列设于该显示区上； 多条第一信号线，设置于该周边区上，分别对应地电性连接于该些像素单元，该些第一信号线包括多个第一组子信号线及多个第二组子信号线，该第一组子信号线及该第二组子信号线交替排列，且各该第一组子信号线及该些第二组子信号线分别具有一第一子信号线与一第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层； 一驱动元件，设置于该些第一信号线上且电性连接于该些第一信号线；一第一测试线，相对于该第一组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线设置；一第二测试线，相对于该第二组子信号线的该第一子信号线与该第二子信号线；以及一切割沟槽，设置于该第一测试线与该第一组子信号线之间，以及该第二测试线与该第二组子信号线之间，使该第一测试线与该第一组子信号线电性隔离，且该第二测试线与该第二组子信号线电性隔离。
20.如权利要求19所述的显示面板，其特征在于，该驱动元件包括一集成电路芯片。
21.如权利要求20所述的显示面板，其特征在于，该些第一信号线更包括多个连接垫，用于电性连接该驱动 元件。
全文摘要
显示面板包括第一基板、多个像素单元、多条第一信号线、第一测试线及第二测试线。第一信号线设置于周边区上且分别对应地电性连接于像素单元，第一信号线包括多条交替排列的第一组子信号线及多个第二组子信号线。各第一组子信号线及各第二组子信号线分别具有一第一子信号线与一第二子信号线，且该第一子信号线与该第二子信号线为相异层。该第一测试线电性连接于该第一组子信号线，该第二测试线电性连接于该第二组子信号线。
文档编号G09G3/00GK103106858SQ20121059279
公开日2013年5月15日 申请日期2012年12月31日 优先权日2012年11月16日
发明者陈铂雅, 蔡孟哲 申请人:友达光电股份有限公司