显示装置及其驱动方法与流程

本发明涉及显示装置，特别涉及具有包含有机el元件等的电性光学元件的像素电路的显示装置及其驱动方法。

背景技术：

近年，作为薄型，轻量，可以高速响应的显示装置，有机el(electroluminescence：电致发光)显示装置被关注。有机el显示装置包括被配置为二维状的多个像素电路。有机el显示装置的像素电路包括有机el元件，以及被串联连接于有机el元件的驱动晶体管。驱动晶体管控制流经有机el元件的电流的量，有机el元件以与流经的电流的量对应的亮度发光。

像素电路内的元件的特性在制造时会产生偏差。此外，像素电路内的元件的特性会随着时间的流逝而变化。例如，驱动晶体管的特性根据发光亮度和发光时间会个别地劣化。有机el元件的特性也与此相同。因此，即使将相同的电压施加于驱动晶体管的栅极端子上，有机el元件的发光亮度也会产生偏差。

因此，为了在有机el显示装置中进行高画质显示，已知校正图像信号的方法，用以补偿有机el元件或驱动晶体管的特性的偏差和变化。例如，在专利文献1中，记载了测定测试电流流经有机el元件时有机el元件的端子间的电压，通过基于所测电压校正图像信号，来补偿有机el元件的特性变化的有机el显示装置。

此外，与本发明相关联地，在专利文献2中，记载了为了获取驱动晶体管的阈值电压和有机el元件的劣化信息，包括图15所示的感测部的有机el显示装置。在图15中，放大部91将像素电路内的某一节点的电压放大。误差补偿部92包括：2个运算放大器，4个电容c1～c4，以及12个开关。误差补偿部92控制开关来交替地存储电压至电容c3，c4等，来补偿放大部91和误差补偿部92所包含的元件的误差成分。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本国特开2009-244654号公报

专利文献2:日本国特开2014-109775号公报

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题

以下，为了补偿像素电路内的元件的特性的偏差和变化，考虑包括测定流经像素电路的电流的电流测定电路的有机el显示装置。在这样的有机el显示装置中，由于显示部产生的噪声、或被提供给电流测定电路的电源电压或参考电压包含的噪声，会有电流测定结果存在噪声，电流测定结果的s/n比降低的情况。

在电流测定结果的s/n比降低的情况下，不能正确地测定流经像素电路的电流，不能正确地校正图像信号以补偿像素电路内的元件的特性的偏差和变化。因此，在有机el显示装置中，存在即使基于电流测定结果来校正图像信号，由于电流测定时的噪声影响，不能进行高画质显示的情况。

在专利文献2公开的感测部中，测定电压的误差成分的时刻和测定信号电压的时刻是不同的。因此，在这两个时刻之间噪声等级不同的情况下，不能充分地补偿放大部91和误差补偿部92中包含的元件的误差成分。

为了补偿像素电路内的元件的特性的偏差和变化，即使是包括测定像素电路内的节点的电压的电压测定电路的有机el显示装置，也会产生和上述一样的问题。

因此，本发明的目的是提供可以在对像素电路测定电流或者电压时，去除测定时的噪声的显示装置。

用于解决技术问题的手段

本发明的第1方面是有源矩阵型的显示装置，其特征在于，包括：

包括多条的扫描线和多条的数据线以及被配置为二维状的多个像素电路的显示部；

驱动所述扫描线的扫描线驱动电路；

驱动所述数据线的数据线驱动电路；

包含多个测定部，且对所述像素电路测定电流或者电压的测定电路；

所述测定电路，在同时刻进行提供测定用信号至一部分的测定部来对所述像素电路测定电流或者电压的真测定，和提供虚拟信号至剩余的测定部的至少一部分来测定电流或者电压的虚拟测定；针对所述真测定的结果和所述虚拟测定的结果进行运算。

本发明的第2方面的特征在于，在本发明的第1方面中，

所述测定电路在进行所述虚拟测定时，将应被测定的值大致为为零的信号作为所述虚拟信号提供，求出所述真测定的结果和所述虚拟测定的结果的差。

本发明的第3方面的特征在于，在本发明的第2方面中，

所述测定部被与所述数据线对应地设置；所述测定电路，将所述虚拟信号提供至所述剩余的测定部的至少一部分来对所述像素电路测定电流或者电压。

本发明的第4方面的特征在于，在本发明的第3方面中，

所述测定部被分类成第一组以及第二组；

所述测定电路，在第一期间中，同时刻进行使用了所述第一组内的测定部的真测定和使用了所述第二组内的测定部的虚拟测定，在第二期间中，同时刻进行使用了所述第二组内的测定部的真测定和使用了所述第一组内的测定部的虚拟测定。

本发明的第5方面的特征在于，在本发明的第4方面中，

所述测定部按照对应的数据线的配置顺序，每多个交替地被分类成所述第一组以及第二组。

本发明的第6方面的特征在于，在本发明的第4方面中，

所述测定部按照对应的数据线的配置顺序，逐个交替地被分类成所述第一组以及第二组。

本发明的第7方面的特征在于，在本发明的第4方面中，

所述测定电路还包含：对所述第一组内的测定部的输出进行选择的选择器；对所述第二组内的测定部的输出进行选择的选择器。

本发明的第8方面的特征在于，在本发明的第5方面中，

所述像素电路就每条对应的数据线，具有多个显示颜色的任一个；

所述测定部根据对应的数据线的配置顺序，以与所述显示颜色相同数量交替地被分类成所述第一以及第二组。

本发明的第9方面的特征在于，在本发明的第2方面中，

还具备一个以上的虚拟测定对象电路；

所述一部分的测定部被与所述数据线对应地设置，所述剩余的测定部被与所述虚拟测定对象电路对应地设置；

所述测定电路提供所述虚拟信号至所述剩余的测定部的至少一部分来对所述虚拟测定对象电路测定电流或者电压。

本发明的第10方面的特征在于，在本发明的第9方面中，

所述虚拟测定对象电路，具有与所述数据线相同的负载。

本发明的第11方面的特征在于，在本发明的第9方面中，

所述测定电路还包括对所述一部分的测定部的输出进行选择的选择器。

本发明的第12方面，在本发明的第2方面中，

还包括基于用所述测定电路测定到的电流或者电压，校正被提供至所述数据线驱动电路的图像信号的校正部。

本发明的第13方面的特征在于，在本发明的第2方面中，

所述像素电路包括电性光学元件和被串联连接于所述电性光学元件的驱动晶体管。

本发明的第14方面的特征在于，在本发明的第13方面中，包括：

基于用所述测定电路测定到的电流或者电压，校正被提供给所述数据线驱动电路的图像信号的校正部；

存储每个所述像素电路中电性光学元件和驱动晶体管的阈值电压和增益的存储部；

所述校正部，基于用所述测定电路测定到的电流或者电压，求出被存储于所述存储部的阈值电压和增益，基于被存储于所述存储部的阈值电压和增益校正所述图像信号。

本发明的第15方面的特征在于，在本发明的第13方面中，所述像素电路还包括：

具有被连接于所述数据线的第一导通端子、被连接于所述驱动晶体管的控制端子的第二导通端子、以及被连接于所述扫描线中的第一扫描线的控制端子的写入控制晶体管；

具有被连接于所述数据线的第一导通端子、被连接于所述驱动晶体管和所述电性光学元件的连接点的第二导通端子、以及被连接于所述扫描线中的第二扫描线的控制端子的读取控制晶体管。

本发明的第16方面的特征在于，在本发明的第2方面中，

所述测定电路还包括a/d转换器，a/d转换器将表示对所述像素电路测定电流或者电压后的结果的模拟信号转换成数字值，在相同的时刻进行针对所述真测定的结果的a/d转换和针对所述虚拟测定的结果的a/d转换。

本发明的第17方面的特征在于，在本发明的第2方面中，

所述测定电路是测定流经所述像素电路的电流的电流测定电路。

本发明的第18方面的特征在于，在本发明的第17方面中，

所述数据线驱动电路和所述电流测定电路共享放大电路。

本发明的第19方面的特征在于，在本发明的第2方面中，

所述测定电路是测定所述像素电路内的节点的电压的电压测定电路。

本发明的第20方面，是一种具有显示部的有源矩阵型的显示装置的驱动方法，显示部包括多条的扫描线和多条的数据线，以及被配置为二维状的多个像素电路，其特征在于，包括：

驱动所述扫描线的步骤；

驱动所述数据线的步骤；

使用多个测定部，对所述像素电路测定电流或者电压的步骤；

所述测定的步骤包括：

在同时刻进行提供测定用信号至一部分的测定部来对所述像素电路，测定电流或者电压的真测定，和提供虚拟信号至剩余的测定部的至少一部分，测定电流或者电压的虚拟测定的步骤；

对所述真测定的结果和所述虚拟测定的结果进行运算的步骤。

发明效果

根据本发明的第1或者第20方面，通过在同时刻进行真测定和虚拟测定，对真测定的结果和虚拟测定的结果进行运算，可以去除对像素电路测定电流或者电压时的噪声。此外，使用电流或者电压的测定结果，可以进行高画质显示。

根据本发明的第2方面，通过使用应被测定的值为大致为零的虚拟信号，求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差，可以在对像素电路测定电流或者电压时，容易地去除测定时的噪声。

根据本发明的第3方面，通过对像素电路进行测定电流或者电压的虚拟测定，不用设置虚拟测定用的电路，就可以在对像素电路测定电流或者电压时，去除测定时的噪声。

根据本发明的第4方面，通过将测定部分为两个组，交替进行真测定和虚拟测定，可以通过两次的真测定来对与数据线相同数量的像素电路测定电流或者电压。

根据本发明的第5方面，对像素电路测定电流或者电压时，通过参照针对附近的像素电路的虚拟测定的结果，可以有效地去除测定电流或者电压时的噪声。

根据本发明的第6方面，在对像素电路测定电流或者电压时，通过参照针对相邻的像素电路的虚拟测定的结果，可以有效地去除测定电流或者电压时的噪声。

根据本发明的第7方面，使用选择器选择真测定的结果和虚拟测定的结果，可以针对被选择的两个结果进行运算。

根据本发明的第8方面，通过对具有相同显示颜色的像素电路进行真测定和虚拟测定，可以有效地去除测定电流或者电压时的噪声。

根据本发明的第9方面，通过设定虚拟测定对象电路，对虚拟测定对象电路进行测定电流或者电压的虚拟测定，可以通过一次真测定来测定流经与数据线同数量的像素电路的电流。

根据本发明的第10方面，通过使用具有与数据线相同负载的虚拟测定对象电路，可以在与真测定相同的条件下进行虚拟测定。

根据本发明的第11方面，使用选择器选择真测定的结果，可以针对被选择的真测定的结果和虚拟测定的结果进行运算。

根据本发明的第12方面，通过基于被测定到的电流或者电压来校正影像信号，可以进行高画质显示。

根据本发明的第13方面，针对包括有包含电性光学元件和驱动晶体管的像素电路的显示装置，在对像素电路测定电流或者电压时，可以去除测定时的噪声

根据本发明的第14方面，通过基于电流或者电压测定结果求出电性光学元件和驱动晶体管的阈值电压和增益，使用该阈值电压和增益来校正影像信号，可以补偿电性光学元件和驱动晶体管的特性的偏差或变化而进行高画质显示。

根据本发明的第15方面，针对包括包含性光学元件、驱动晶体管、写入控制晶体管和读取控制晶体管的像素电路的显示装置，可以去除测定电流或者电压时的噪声而进行高画质显示。

根据本发明的第16方面，通过在相同的时刻进行针对真测定的结果的a/d转换和针对虚拟测定的结果的a/d转换，可以有效地去除测定电流或者电压时的噪声。

根据本发明的第17方面，可以有效地在测定流经像素电路的电流时，去除测定时的噪声。

根据本发明的第18方面，通过使数据线驱动电路和所述电流测定电路共享放大器，可以削减显示装置的电路量。

根据本发明的第19方面，可以在测定像素电路内的节点的电压时，去除测定时的噪声。

附图说明

[图1]是表示本发明的第一实施方式涉及的显示装置的构成的框图。

[图2]是图1所示的显示装置的像素电路和输出/测定电路的电路图。

[图3]是详细地表示图1所示的显示装置的数据线驱动/电流测定电路的一部分的图。

[图4]是图1所示的显示装置的驱动晶体管的特性检测时的真测定的时序图。

[图5]是图1所示的显示装置的有机el元件的特性检测时的真测定的时序图。

[图6]是在图1所示的显示装置中的校正处理的流程图。

[图7]是表示图1所示的显示装置中的输出/测定电路和选择器的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法的图。

[图8]是表示本发明的第二实施方式涉及的显示装置中的输出/测定电路和选择器的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法的图。

[图9]是表示本发明的第三实施方式涉及的显示装置中的输出/测定电路和选择器的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法的图。

[图10]是详细地表示本发明的第四实施方式涉及的显示装置的数据线驱动/电流测定电路的一部分的图。

[图11]是表示本发明的第四实施方式涉及的显示装置中的真测定和虚拟测定的时序的图。

[图12]是详细地表示本发明的第四实施方式的变更实施例涉及的显示装置的数据线驱动/电流测定电路的一部分的图。

[图13]是表示本发明的第五实施方式涉及的显示装置的构成的框图。

[图14]是表示图13所示的显示装置的像素电路和输出/测定电路的构成的图。

[图15]是表示现有的显示装置所包含的感测部的构成的图。

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明的实施方式涉及的显示装置。本发明的实施方式涉及的显示装置是包括包含有机el元件和驱动晶体管的像素电路的有源矩阵型的有机el显示装置。在以下的说明中，薄膜晶体管也称为tft(thinfilmtransistor)，有机el元件也称为oled(organiclightemittingdiode)。此外，m、n以及p作为2以上的整数，i作为1以上n以下的整数，j作为1以上m以下的整数。

(第一实施方式)

图1是表示本发明的第一实施方式涉及的显示装置的构成的框图。图1所示的显示装置10包括显示部11、显示控制电路12、扫描线驱动电路13、数据线驱动/电流测定电路(数据线驱动电路和电流测定电路的兼用电路)14、以及校正数据存储部15。显示控制电路12包含校正部16。

显示部11包含2n条的扫描线ga1～gan、gb1～gbn，m条的数据线s1～sm，以及(m×n)个的像素电路20。扫描线ga1～gan、gb1～gbn被配置为相互平行。数据线s1～sm被配置为相互平行，并且与扫描线ga1～gan、gb1～gbn正交。扫描线ga1～gan和数据线s1～sm在(m×n)处交叉。(m×n)个的像素电路20与扫描线ga1～gan和数据线s1～sm的交叉点对应地被配置为二维状。在像素电路20中，使用未图示的电源线或者电源电极提供高电平电源电压elvdd和低电平电源电压elvss。

在显示装置10中，从外部输入影像信号vs1。显示控制电路12基于影像信号vs1，针对扫描线驱动电路13输出控制信号cs1，针对数据线驱动/电流测定电路14输出控制信号cs2和影像信号vs2。在控制信号cs1中，包含例如栅极起始脉冲或栅极时钟。在控制信号cs2中，包含例如源极起始脉冲或源极时钟。影像信号vs2通过在校正部16中针对影像信号vs1进行后述的校正而得到。

扫描线驱动电路13和数据线驱动/电流测定电路14被设置于显示部11的外部。扫描线驱动电路13和数据线驱动/电流测定电路14选择性的进行针对像素电路20写入与影像信号vs2对应的数据电压的处理；和在像素电路20中写入测定用电压时，测定流经像素电路20的电流的处理。以下，前者称为“写入”，后者称为“电流测定”。

扫描线驱动电路13基于控制信号cs1，驱动扫描线ga1～gan、gb1～gbn。扫描线驱动电路13在写入时，从扫描线ga1～gan之中依次地选择一条扫描线，施加选择电压(这里是高电平电压)给已选择的扫描线。由此，连接于被选择的扫描线上的m个的像素电路20被统一地选择。

数据线驱动/电流测定电路14包含驱动/测定信号生成电路(驱动信号和测定信号的生成电路)17、信号转换电路40以及m个的输出/测定电路(输出电路和测定电路的兼用电路)30，基于控制信号cs2驱动数据线s1～sm。数据线驱动/电流测定电路14在写入时，将与影像信号vs2对应的m个的数据电压分别施加给数据线s1～sm上。由此，m个的数据电压被分别写入被选择的m个的像素电路20中。

扫描线驱动电路13在电流测定时，在后述的时间驱动扫描线ga1～gan、gb1～gbn。数据线驱动/电流测定电路14将m个的输出/测定电路30分类成两个组。输出/测定电路30在电流测定时，作为被包含于测定电路的测定部发挥功能。数据线驱动/电流测定电路14在电流测定时，进行：将作为测定用信号的测定用电压提供给一个组内的输出/测定电路30，在将测定用电压写入至被连接于该输出/测定电路的像素电路20时，测定流经该像素电路的电流的处理(以下，称为真测定)；将作为虚拟信号的零电压提供给另一组内的输出/测定电路30，在将零电压写入至被连接于该输出/测定电路的像素电路20时，测定流经该像素电路的电流的处理(以下，称为虚拟测定)。此处，所谓零电压，是指应该由输出/测定电路30测定的值(电压测定结果的期待值)为零的电压。在虚拟信号中，使用应被测定的值为大致为零(包括零)的信号。数据线驱动/电流测定电路14，通过在同时刻进行真测定和虚拟测定，针对真测定的结果和虚拟测定的结果进行求出两者的差的运算，测定流经像素电路20的电流。数据线驱动/电流测定电路14，将包含测定了流经像素电路20的电流的结果的监控信号ms输出至显示控制电路12。

校正部16基于监控信号ms求出像素电路20内的驱动晶体管和有机el元件的特性，通过使用求出的特性校正影像信号vs1来求出影像信号vs2。校正数据存储部15是校正部16的工作用存储器。校正数据存储部15包含：tft偏移存储部15a、tft增益存储部15b、oled偏移存储部15c、以及oled增益存储部15d。tft偏移存储部15a针对各像素电路20存储驱动晶体管的阈值电压。tft增益存储部15b针对各像素电路20存储驱动晶体管的增益。oled偏移存储部15c针对各像素电路20存储有机el元件的阈值电压。oled增益存储部15d针对各像素电路20存储有机el元件的增益。

图2是像素电路20和输出/测定电路30的电路图。在图2中，记载有第i行j列的像素电路20和与数据线sj对应的输出/测定电路30。如图2所示，第i行j列的像素电路20，包含晶体管21～23、有机el元件24以及电容25，被连接于扫描线gai、gbi和数据线sj。晶体管21～23是n沟道型tft。

在晶体管21的漏极端子上，施加高电平电源电压elvdd。晶体管21的源极端子被连接于有机el元件24的阳极端子。在有机el元件24的阴极端子上，施加低电平电源电压elvss。晶体管22、23的一个的导通端子(在图2中是左侧的端子)被连接于数据线sj。晶体管22的另一个的导通端子被连接于晶体管21的栅极端子，晶体管22的栅极端子被连接于扫描线gai。晶体管23的另一个的导通端子被连接于晶体管21的源极端子和有机el元件24的阳极端子，晶体管23的栅极端子被连接于扫描线gbi。电容25被设置于晶体管21的栅极端子和漏极端子之间。晶体管21～23分别作为驱动晶体管、写入控制晶体管以及读取控制晶体管发挥功能。

与数据线sj对应的输出/测定电路30，包含运算放大器31、电容32以及开关33～35，被连接于数据线sj。开关34的一端(在图2中为上端)和开关35的一端(在图2中为左端)被连接于数据线sj。在开关35的另一端上，施加有规定的电压v0。在运算放大器31的非反相输入端子上，施加有与数据线sj对应的d/a转换器(未图示)的输出信号dvj。运算放大器31的反相输入端子被连接于开关34的另一端。电容32被设置于运算放大器31的反相输入端子和输出端子之间。开关33，与电容32并联，被设置于运算放大器31的反相输入端子和输出端子之间。开关33～35分别在开关控制信号clk1、clk2、clk2b为高电平时打开。开关控制信号clk2b是开关控制信号clk2的负信号。

图3是详细地表示数据线驱动/电流测定电路14的一部分的图。如图3所示，m个的输出/测定电路30与m条的数据线s1～sm被对应地设置。数据线s1～sm被分类为每p条(m/p)一个组。信号转换电路40包含各为(m/p)个的选择器41、偏移电路42以及a/d转换器43。选择器41、偏移电路42以及a/d转换器43与数据线的一个组相对应。在各个选择器41的前段上设置有p个的输出/测定电路30。在(m/p)个的a/d转换器43的后段上设置有驱动/测定信号生成电路17。

选择器41被连接于p个输出/测定电路30的输出端子(运算放大器31的输出端子)。选择器41从p个输出/测定电路30的输出信号之中选择一个模拟信号。偏移电路42将规定的偏移加到被选择器41选择的模拟信号。a/d转换器43将从偏移电路42输出的模拟信号转换为数字值。驱动/测定信号生成电路17基于用(m/p)个a/d转换器43求出的数字值，求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差并暂时存储。各选择器41依次地选择p个运算放大器31的输出信号。当选择器41完成p次的选择时，在驱动/测定信号生成电路17中，存储有表示真测定的结果和虚拟测定的结果的差的(m/2)个数字值。驱动/测定信号生成电路17针对显示控制电路12，输出包含(m/2)个数字值的监控信号ms。

为了校正影像信号vs1来求出影像信号vs2，数据线驱动/电流测定电路14对各像素电路20测定四个种类的电流。更详细地，为了求出各像素电路20内的晶体管21的特性，数据线驱动/电流测定电路14测定：将第一测定用电压vm1写入像素电路20时从像素电路20流出的电流im1；将第二测定用电压vm2(>vm1)写入像素电路20时从像素电路20流出的电流im2。此外，为了求出各像素电路20内的有机el元件24的特性，数据线驱动/电流测定电路14测定：将第三测定用电压vm3写入像素电路20时流入像素电路20的电流im3；将第四测定用电压vm4(>vm3)写入像素电路20时流入像素电路20的电流im4。以下，将测定电流im1、im2时称为“驱动晶体管的特性检测时”，将测定电流im3、im4时称为“有机el元件的特性检测时”。

扫描线驱动电路13和数据线驱动/电流测定电路14进行：针对一行的量的像素电路20的写入处理；针对半行的量的像素电路测定四种类的电流im1～im4中的任一个的处理。例如，扫描线驱动电路13和数据线驱动/电流测定电路14也可以在连续的8帧期间内，在第1、第3、第5以及第7帧期间内的第i个帧期间中，针对第i行的像素电路20中的一半分别测定流im1～im4，在第2、第4、第6以及第8帧期间内的第i个帧期间中，针对第i行的像素电路20中的余下一半分别测定电流im1～im4，在这以外的帧期间中，进行针对1行的量的像素电路20的写入处理。

图4是驱动晶体管的特性检测时的真测定的时序图。图5是有机el元件的特性检测时的真测定的时序图。在图4以及图5中，期间t0是第(i-1)行的像素电路20的写入时的选择期间，期间t1～t6是第i行的像素电路20的电流测定时的选择期间。电流测定时的选择期间包含复位期间t1、基准电压写入期间t2、测定用电压写入期间t3、电流测定期间t4、a/d转换期间t5以及数据电压写入期间t6。以下，将扫描线gai、gbi上的信号称为扫描信号gai、gbi；将与数据线sj对应的d/a转换器的输出信号的电压称为dvj。另外，在图4以及图5中，虚拟测定的时序，通过将期间t3～t5中的电压dvj设为零电压而得到。

在比期间t1更早之前，扫描信号gai、gbi和开关控制信号clk2b是低电平，开关控制信号clk1、clk2是高电平。在期间t0内，扫描信号gai-1(未图示)变为高电平，扫描信号gbi-1(未图示)变为低电平，电压dvj变为应写入第(i-1)行j列的像素电路20的数据电压vdata(i-1，j)。

在期间t1中，扫描信号gai、gbi变为高电平，电压dvj变为预充电电压vpc。预充电电压vpc为使晶体管21关闭而被确定。特别是，优选地，预充电电压vpc在驱动晶体管(晶体管21)和有机el元件24同时关闭的范围内，尽可能确定得高(理由后述)。在期间t1内，在第i行的像素电路20中，晶体管22、23导通，晶体管21的栅极端子以及源极端子，以及有机el元件24的阳极端子上施加有预充电电压vpc。由此，第i行的像素电路20内的晶体管21和有机el元件24被初始化。

在使用例如ingazno(indiumgalliumzincoxide：铟-镓-氧化锌)等的氧化物半导体来形成晶体管21的情况下，晶体管21有时具有滞后特性。当在这样的情况下不初始化就使用晶体管21时，电流测定结果有时会因为之前的显示状态而不同。通过在电流测定时的选择期间的开始设置复位期间t1，在复位期间t1初始化晶体管21，可以防止起因于滞后特性的电流测定结果的偏差。另外，由于有机el元件24不具有滞后特性，因此在有机el元件的特性检测时没有必要设置复位期间t1。此外，不是在显示过程中，而是在电源接通后或显示关闭中于非显示状态下测定电流的情况下，可以省略复位期间。

在期间t2中，扫描信号gai变为高电平，扫描信号gbi变为低电平，电压dvj变为基准电压(驱动晶体管的特性检测时为vref_tft，有机el元件的特性检测时为vref_oled)。在期间t2中，在第i行j列的像素电路20中，晶体管22导通，晶体管23关闭，在晶体管21的栅极端子上施加有基准电压vref_tft或者vref_oled。基准电压vref_tft被确定为在期间t3、t4中晶体管21导通的高电压。基准电压vref_oled被确定为在期间t3、t4中晶体管21关闭的低电压。

在期间t3中，扫描信号gai变为低天平，扫描信号gbi变为高电平，电压dvj变为第一～第四测定用电压vm1～vm4的任一个。图4所示的vm_tft表示第一以及第二测定用电压vm1、vm2的任一个，图5所示的vm_oled表示第三以及第四测定用电压vm3、vm4的任一个。在期间t3中，在第i行j列的像素电路20中，晶体管22关闭，晶体管23导通，在有机el元件24的阳极端子上施加有第一～第四测定用电压vm1～vm4的任一个。在驱动晶体管的特性检测时，晶体管21导通，电流从具有高电平电源电压elvdd的电源线或者电源电极，通过晶体管21、23，流至数据线sj。在有机el元件的特性检测时，晶体管21关闭，电流从数据线sj，通过晶体管23和有机el元件24，流至具有低电平电源电压elvss的电源线或者电源电极。从期间t3开始不久，数据线sj被充电至规定的电压电平，从像素电路20流出至数据线sj的电流(或者是，从数据线流入像素电路20的电流)变为固定。

另外，在驱动晶体管的特性检测时，期间t2中晶体管21的源极电位低的情况下，期间t3开始时，晶体管21的栅极-源极间电压变大，大电流流经晶体管21，有机el元件24发光。为了防止这个时候的发光，如上所述，在驱动晶体管和有机el元件24同时关闭的范围内，预先将在期间t1内施加的预充电电压vpc确定为高就可以。

在期间t4中，扫描信号gai、gbi和电压dvj保持与期间t3同样的电平，开关控制信号clk1变为低电平。在期间t4中，开关33关闭，运算放大器31的输出端子和反相输入端子通过电容32相连接。这时，运算放大器31和电容32作为积分放大器发挥功能。在期间t4结束时的运算放大器31的输出电压，根据流经第i行j列的像素电路20和数据线sj的电流的量、电容32的容量以及期间t4的长度等确定。

在期间t5中，扫描信号gai、gbi和开关控制信号clk1、clk2变为低电平，开关控制信号clk2b变为高电平，电压dvj保持与期间t3、t4同样的电平。在期间t5中，在第i行j列的像素电路20中，晶体管22、23关闭。此外，由于开关34关闭，开关35打开，数据线sj被从运算放大器31的非反相输入端子电切断，数据线sj上施加有电压v0。由于运算放大器31的非反相输入端子被从数据线sj电切断，运算放大器31的输出电压保持固定。期间t5中，与包含数据线sj的组对应的偏移电路42将偏移加至运算放大器31的输出电压，与该组对应的a/d转换器43将偏移相加后的模拟信号转换为数字值(参照图3)。

在期间t6中，扫描信号gai变为高天平，扫描信号gbi变为低电平，电压dvj变为应写入第i行j列的像素电路20的数据电压vdata(i，j)。在期间t6中，在第i行j列的像素电路20中，晶体管22导通，晶体管21的栅极端子上施加有数据电压vdata(i，j)。当在期间t6的结束时扫描信号gai变化为低电平时，第i行j列的像素电路20内的晶体管22关闭。在这之后，在第i行j列的像素电路20中，晶体管21的栅极电压通过电容25的作用被保持为vdata(i，j)。

校正部16基于被测定的四种类的电流im1～im4，进行求出晶体管21和有机el元件24的特性的处理，基于求出的两种类的特性来校正影像信号vs1。更详细地，校正部16基于两种类的电流im1、im2，求出作为晶体管21的特性的阈值电压和增益。晶体管21的阈值电压被写入tft偏移存储部15a，晶体管21的增益被写入tft增益存储部15b。此外，校正部16基于两种类的电流im3、im4，求出作为有机el元件24的特性的阈值电压和增益。有机el元件24的阈值电压被写入oled偏移存储部15c，有机el元件24的增益被写入oled增益存储部15d。校正部16从校正数据存储部15读取阈值电压和增益，使用它们来校正影像信号vs1。

以下，将第一以及第二测定用电压vm1、vm2写入像素电路20时的晶体管21的栅极-源极间电压分别作为vgsm1、vgsm2；将第三以及第四测定用电压vm3、vm4写入像素电路20时的有机el元件24的阳极-阴极间电压分别作为vom3、vom4。

在校正部16接收到包含电流im1、im2的监控信号ms时，通过针对电压vgsm1、vgsm2，以及电流im1、im2，进行下面的公式(1a)、(1b)所示的运算，求出晶体管21的阈值电压vthtft和增益βtft。

[数学式1]

阈值电压vthtft被写入tft偏移存储部15a，增益βtft被写入tft增益存储部15b。

在校正部16接收到包含电流im3、im4的监控信号ms时，通过针对电压vom3、vom4，以及电流im3、im4，进行下面的公式(2a)、(2b)所示的运算，求出有机el元件24的阈值电压vtholed和增益βoled。

[数学式2]

另外，在公式(2a)、(2b)中，k是2以上3以下的常数。阈值电压vtholed被写入oled偏移存储部15c，增益βoled被写入oled增益存储部15d。

图6是针对影像信号vs1的校正处理的流程图。校正部16针对包含于影像信号vs1的代码值cv0，使用晶体管21的阈值电压vthtft、晶体管21的增益βtft、有机el元件24的阈值电压vtholed以及有机el元件24的增益βoled进行校正。在以下处理中被使用的阈值电压vthtft、vtholed以及增益βtft、βoled是被从校正数据存储部15被读取的。

校正部16，首先进行校正有机el元件24的发光效率的处理(步骤s101)。具体地说，校正部16通过进行下面的公式(3)的计算，求出校正后的代码值cv1。

cv1＝cv0×γ…(3)

其中，在公式(3)中，γ表示对每个像素电路20求出的发光效率校正系数。有机el元件24的发光效率越是大大降低的像素，有发光效率校正系数γ越具有大的值。另外，也可以通过计算求出γ。

接着，校正部16将校正后的代码值cv1转换为表示晶体管21的栅极-源极间电压的电压值vdata1tft，和表示有机el元件24的阳极-阴极间电压的电压值vdata1oled(步骤s102)。步骤s102中的转换以例如参照预先准备的表的方法或使用计算器来计算的方法进行。

接着，校正部16通过针对电压值vdata1tft进行下面的公式(4)所示的计算，求出校正后的电压值vdata2tft(步骤s103)。

vdata2tft＝vdata1tft×btft+tthtft…(4)

其中，当将晶体管21的增益的初始值的平均值作为β0tft时，公式(4)包含的btft由下面的公式(5)给出。

btft＝√(β0tft/βtft)…(5)

接着，校正部16通过针对电压值vdata1oled进行下面的公式(6)所示的计算，求出校正后的电压值vdata2oled(步骤s104)。

vdata2oled＝vdata1oled×boled+ttholed…(6)

其中，当将有机el元件24的增益的初始值的平均值作为β0oled时，公式(6)包含的boled由下面的公式(7)给出。

boled＝(β0oled/βoled)^1/k…(7)

接着，校正部16根据下面的公式(8)，将在步骤s103求出的校正后的电压值vdata2tft和在步骤s104求出的校正后的电压值vdata2oled相加。由此，得到表示被施加于晶体管21的栅极端子的电压的电压值vdata(步骤s105)。

vdata＝vdata2tft+vdata2oled…(8)

最后，校正部16将电压值vdata转换为输出代码值cv(步骤s106)。步骤s106中的转换以与步骤s102中的转换相同的方法进行。

图7是表示显示装置10中的输出/测定电路30和选择器41的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法的图。以下，将与数据线sj对应的输出/测定电路30称为第j个输出/测定电路。如图3以及图7所示，在选择器41中，输出/测定电路30按每p个的顺序对应。例如，第一个选择器41，对应于第1～p个输出/测定电路30；第二个选择器41对应于第(p+1)～2p个输出/测定电路30。m个的输出/测定电路30按照对应的数据线的配置顺序，被每p个地交替地分类成2个组。第1～p个、第(2p+1)～3p个、…的输出/测定电路30被分为第一组；第(p+1)～2p个、第(3p+1)～4p个、…的输出/测定电路30被分为第二组。同样地，(m×n)个的像素电路20被每p列交替地分类成2个组。第1～p列、第(2p+1)～3p列、…的像素电路20被分为第一组；第(p+1)～2p列、第(3p+1)～4p列、…的像素电路20被分为第二组。

数据线驱动/电流测定电路14在对第一组内的像素电路20进行电流测定时，在同时刻进行使用第一组内的输出/测定电路30的真测定和使用第二组内的输出/测定电路30的虚拟测定，针对真测量的结果和虚拟测量的结果进行求出两者的差的运算。此外，数据线驱动/电流测定电路14在对第二组内的像素电路20进行电流测定时，在同时刻进行使用第二组内的输出/测定电路30的真测定和使用第一组内的输出/测定电路30的虚拟测定，针对真测量的结果和虚拟测量的结果进行求出两者的差的运算。

具体地说，数据线驱动/电流测定电路14，在于某帧期间内被设定的第i行的像素电路20的电流测定时的选择期间内，将测定用电压提供至第1～p个、第(2p+1)～3p个、…的输出/测定电路30来对第1～p列、第(2p+1)～3p列、…的像素电路20进行真测定的同时，将零电压提供至第(p+1)～2p个、第(3p+1)～4p个、…的输出/测定电路30来对第(p+1)～2p列、第(3p+1)～4p列、…的像素电路20进行虚拟测定(参照图7的上部分)。此外，数据线驱动/电流测定电路14，在于其他帧期间内被设定的第i行的像素电路20的电流测定时的选择期间内，将测定用电压提供至第(p+1)～2p个、第(3p+1)～4p个、…的输出/测定电路30来对第(p+1)～2p列、第(3p+1)～4p列、…的像素电路20进行真测定的同时，将零电压提供至第1～p个、第(2p+1)～3p个、…的输出/测定电路30来对第1～p列、第(2p+1)～3p列、…的像素电路20进行虚拟测定(参照图7的下部分)。在任一种情况下，真测定和虚拟测定在相同的时刻被执行。

各个选择器41将p个输出/测定电路30的输出信号按例如升序进行选择。驱动/测定信号生成电路17求出基于第k个(其中，k是1以上，(m/p)以下的奇数)选择器41的输出信号的数字值和基于第(k+1)个选择器41的输出信号的数字值的差，将该差暂时存储。由此，可以求出使用第一组内的输出/测定电路30的真测定的结果和使用第二组内的输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差，或者，使用第二组内的输出/测定电路30的真测定的结果和使用第一组内的输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差。

例如，在第1～p个的输出/测定电路30进行真测定，第(p+1)～2p个的输出/测定电路30进行虚拟测定的情况下，第一个选择器41按照第一个输出/测定电路30的输出信号、第二个输出/测定电路30的输出信号、…、第p个输出/测定电路30的输出信号的顺序进行选择。与其相应地，第二个选择器41按照第(p+1)个输出/测定电路30的输出信号、第(p+2)个输出/测定电路30的输出信号、…、第2p个输出/测定电路30的输出信号的顺序进行选择。驱动/测定信号生成电路17按顺序求出第一个输出/测定电路30的输出信号和第(p+1)个输出/测定电路30的输出信号的差、第二个输出/测定电路30的输出信号和第(p+2)个输出/测定电路30的输出信号的差、…、第p个输出/测定电路30的输出信号和第2p个输出/测定电路30的输出信号的差。由此，可以求出使用第一个输出/测定电路30的真测定的结果和使用第(p+1)个输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差、使用第二个输出/测定电路30的真测定的结果和使用第(p+2)个输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差、…、使用第p个输出/测定电路30的真测定的结果和第2p个输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差。

虚拟测定的结果，可以视为在测定流经像素电路20的电流的电路系中产生噪声。由于在真测定的结果中包含所述噪声，通过求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差，可以不包含噪声地测定流经像素电路20的电流。对第i行j列像素电路20的真测定的结果和对第i行(j+p)列像素电路20的虚拟测定的结果的差，表示不包含噪声地测定流经第i行j列像素电路20的电流的结果。对第i行(j+p)列像素电路20的真测定的结果和对第i行j列像素电路20的虚拟测定的结果的差，表示不包含噪声地测定流经第i行(j+p)列像素电路20的电流的结果。数据线驱动/电流测定电路14用以上所述的方法测定流经像素电路20的电流。

以下，说明本实施方式涉及的显示装置10的效果。在测定流经像素电路的电流，基于电流测定结果来校正影像信号的有机el显示装置中，电流测定结果中载有噪声，受其影响，有时不能进行高画质显示。例如，被提供至电流测定电路的d/a转换器的输出的波动，或被提供至电流测定电路的运算放大器的电源电压所包含的噪声，成为大的噪声的产生原因。电源纹波、或负载调节、商用电源的低频噪声、来自内部电路的回绕噪声等，也称为噪声的产生原因。此外，在使用图2所示的输出/测定电路30的情况下，在开关控制信号clk1为低电平时，输出/测定电路30的增益变为极大(变为等于开环增益)。因此，在开关控制信号clk1为低电平时，输出/测定电路30将小的噪声大为放大。

本实施方式涉及的显示装置10通过在相同的时刻进行真测定和虚拟测定，针对真测定的结果和虚拟测定的结果进行求出两者的差的运算，测定流经像素电路20的电流。在显示装置10产生各种噪声时，真测定的结果和虚拟测定的结果中载有相同程度的噪声。因此，通过求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差，可以去除电流测定时的噪声，正确地测定流经像素电路20的电流。因此，通过基于电流测定结果来校正影像信号vs1，可以去除电流测定时的噪声来进行高画质显示。

另外，在以上说明中，选择器41设为按升序选择p个输出/测定电路30的输出信号。取而代之地，选择器41也可以按第一个、第p个、第二个、第(p-1)个、第三个、第(p-2)个、…的顺序选择p个输出/测定电路30的输出信号。或者，也可以是第奇数个的选择器41按降序选择p个输出/测定电路30的输出信号，第偶数个的选择器41按升序选择p个输出/测定电路30的输出信号。由此，在相邻的输出/测定电路30的输出信号之间，减少进行a/d转换的时间的差，可以有效地去除电流测定时的噪声。

如上所述，本实施方式涉及的显示装置10包含：包含多条扫描线ga1～gan、gb1～gbn和多条数据线s1～sm和被配置为二维状的多个像素电路20的显示部11；驱动扫描线ga1～gan、gb1～gbn的扫描线驱动电路13；驱动数据线s1～sm的数据线驱动电路(数据线驱动/电流测定电路14的一部分)；包含多个测定部(输出/测定电路30)，测定流经像素电路20的电流的电流测定电路(数据线驱动/电流测定电路14的另一部分)。电流测定电路，在同时刻进行提供测定用信号(测定用电压)至一部分的测定部来对像素电路20，测定电流的真测定，和提供虚拟信号(零电压)至剩余的测定部，测定电流的虚拟测定，针对真测定的结果和虚拟测定的结果进行运算。此外，剩余的测定部的至少一部分，进行虚拟测定就可以。通过如此地在同时刻进行真测定和虚拟测定，针对真测定和虚拟测定的结果进行运算可以在对像素电路20测定电流时，去除测定时的噪声。此外，可以使用电流测定结果，进行高画质显示。

此外，电流测定电路将进行虚拟测定时应被测定的值为大致为零的信号(零电压)作为虚拟信号提供，求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差。由此，可以在对像素电路20测定电流时，容易地去除测定时的噪声。

此外，测定部被与数据线sj对应地设置，电流测定电路将虚拟信号提供至剩余的测定部来对像素电路20测定电流。由此，可以不对虚拟测定用设置新的电路，在对像素电路20测定电流时，去除测定时的噪声。此外，测定部被分类为第一组以及第二组，电流测定电路，在第一期间中同时刻进行使用第一组内的测定部的真测定和使用第二组内的测定部的虚拟测定，在第二期间中同时刻进行使用第二组内的测定部的真测定和使用第一组内的测定部的虚拟测定。通过如此地将测定部分成为两个组，交替地进行真测定和虚拟测定，可以通过两次的真测定来测定流经与数据线s1～sm相同数量(m个)的像素电路20的电流。

此外，测定部按照对应的数据线的配置顺序，多个(p个)多个交替地被分类成第一组以及第二组。因此，在对像素电路20测定电流时，通过参照对附近的像素电路20的虚拟测定的结果，可以有效地去除电流测定时的噪声。此外，电流测定电路包含：对第一组内的测定部的输出进行选择的选择器(第奇数个的选择器41)，和对第二组内的测定部的输出进行选择的选择器(第偶数个的选择器41)。因此，可以使用选择器41选择真测定的结果和虚拟测定的结果，针对被选择的两个结果进行运算。

此外，显示装置10包括基于用电流测定电路测定到的电流，校正被提供至数据线驱动电路的影像信号vs1的校正部16。因此，通过基于被测定到的电流校正影像信号v1，可以进行高画质显示。

此外，像素电路20包括：电性光学元件(有机el元件24)；被串联连接于电性光学元件的驱动晶体管(晶体管21)；具有被连接于数据线sj的第一导通端子、被连接于驱动晶体管的控制端子(栅极端子)的第二导通端子、以及被连接于扫描线中的第一扫描线gai的控制端子的写入控制晶体管(晶体管22)；具有被连接于数据线sj的第一导通端子、被连接于驱动晶体管和电性光学元件的连接点的第二导通端子、以及被连接于扫描线中的第二扫描线gbi的控制端子的读取控制晶体管(晶体管23)。因此，对包含电性光学元件、驱动晶体管、写入控制晶体管和读取控制晶体管的像素电路的显示装置，可以在对像素电路测定电流时，去除测定时的噪声。

此外，显示装置10包括对每个像素电路存储电性光学元件和驱动晶体管的阈值电压和增益的存储部(校正用数据存储部15)。校正部16基于用电流测定电路测定到的电流，求出被存储于存储部的阈值电压和增益，基于被存储于存储部的阈值电压和增益，校正影像信号vs1。因此，通过基于电流测定结果求出电性光学元件和驱动晶体管的阈值电压和增益，使用该阈值电压和增益来校正影像信号vs1，可以补偿电性光学元件和驱动晶体管的特性的偏差和变化来进行高画质显示。此外，数据线驱动电路和所述电流测定电路共享放大器(运算放大器31)。由此，可以削减显示装置10的电路数量。

(第二实施方式)

本发明的第二实施方式涉及的显示装置具有与第一实施方式涉及的显示装置同样的构成(参照图1以及图2)、使用红、绿以及蓝三原色来显示图像。(m×n)个像素电路20对每个对应的数据线(即，每列)，具有红、绿以及蓝的任一种的显示颜色。第1列、第4列、第7列、…的像素电路20的显示颜色为红色；第2行、第5行、第8行、…的像素电路20的显示颜色为绿色；第3行、第6行、第9行、…的像素电路20的显示颜色为蓝色。

图8是表示本实施方式涉及的显示装置中的输出/测定电路30和选择器41的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法的图。图8是在图7中作为p＝3的图。输出/测定电路30根据对应的数据线的配置顺序，每三个交替地被分类成第一组以及第二组。数据线驱动/电流测定电路14在同时刻对具有相同显示颜色的像素电路20进行真测量和虚拟测量。

如上所示，在本实施方式涉及的显示装置中，像素电路20对每个对应的数据线具有多个显示色的任一种。测定部(输出/测定电路30)根据对应的数据线的配置顺序，被每与显示色相同数量(3个)交替地分类为第一组以及第二组。通过这样地对具有相同显示颜色的像素电路20进行真测定的结果和虚拟测定，可以有效地去除电流测定时的噪声。

(第三实施方式)

本发明的第三实施方式涉及的显示装置具有与第一实施方式涉及的显示装置同样的构成(参照图1以及图2)。在本实施方式和第一实施方式中，输出/测定电路30和选择器41的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法是不同的。以下，说明与第一实施方式的不同点。

图9是表示本实施方式涉及的显示装置中的输出/测定电路30和选择器41的对应关联以及真测定和虚拟测定的切换方法的图。在本实施方式中，按顺序第奇数个的输出/测定电路30每p个地按顺序地被对应于第奇数个的选择器41，第偶数个的输出/测定电路30每p个地按顺序地被第偶数个的选择器41。例如，第一个选择器41与第一个、第三个、…、第(2p-1)个的输出/测定电路30对应，第二个选择器41与第二个、第四个、…、第2p个的输出/测定电路30对应。m个输出/测定电路30根据对应的数据线的配置顺序，被一个一个交替地分类为两个组。第奇数个的输出/测定电路30被分为第一组，第偶数个的输出/测定电路30被分为第二组。同样地，(m×n)个像素电路20被一列一列交替地分类为两个组。第奇数列的像素电路20被分为第一组，第偶数列的像素电路被分为第二组。

数据线驱动/电流测定电路14在对第一组内的像素电路20(第奇数列的像素电路20)进行电流测定时，在同时刻进行使用第一组内的输出/测定电路30(第奇数个的输出/测定电路30)的真测定和使用第二组内的输出/测定电路30(第偶数个的输出/测定电路30)的虚拟测定，求出真测量的结果和虚拟测量的结果的差。此外，数据线驱动/电流测定电路14在对第二组内的像素电路20(第偶数列的像素电路20)进行电流测定时，在同时刻进行使用第二组内的输出/测定电路30的真测定和使用第一组内的输出/测定电路30的虚拟测定，求出真测量的结果和虚拟测量的结果的差。

具体地说，数据线驱动/电流测定电路14，在于某帧期间内所设定的第i行的像素电路20的电流测定时的选择期间内，将测定用电压提供至第1个、第3个、…的输出/测定电路30来对第1列、第3列、…的像素电路20进行真测定的同时，将零电压提供至第2个、第4个、…的输出/测定电路30来对第2列、第4列、…的像素电路20进行虚拟测定(参照图8的上部分)。此外，数据线驱动/电流测定电路14，在于其他的帧期间内所设定的第i行的像素电路20的电流测定时的选择期间内，将测定用电压提供至第2个、第4个、…的输出/测定电路30来对第2列、第4列、…的像素电路20进行真测定的同时，将零电压提供至第1个、第3个、…的输出/测定电路30来对第1列、第3列、…的像素电路20进行虚拟测定(参照图8的下部分)。在任一种情况下，真测定和虚拟测定在相同的时刻进行。

各个选择器41按例如升序选择p个输出/测定电路30的输出信号。驱动/测定信号生成电路17，求出基于第k个(其中，k是1以上(m/p)以下的奇数)选择器41的输出信号的数字值和基于第(k+1)个选择器41的输出信号的数字值的差，将该差暂时存储。由此，可以求出使用第奇数个的输出/测定电路30的真测定的结果和使用第偶数个的输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差，或者，使用第偶数个的输出/测定电路30的真测定的结果和使用第奇数个的输出/测定电路30的虚拟测定的结果的差。对第i行j列像素电路20的真测定的结果和对第i行(j+1)列像素电路20的虚拟测定的结果的差，表示测定了流经第i行j列像素电路20的电流的结果。对第i行(j+1)列像素电路20的真测定的结果和对第i行j列像素电路20的虚拟测定的结果的差，表示测定了流经第i行(j+p)列像素电路20的电流的结果。数据线驱动/电流测定电路14用以上所述的方法测定流经像素电路20的电流。

如上所示，在本实施方式涉及的显示装置中，测定部(输出/测定电路30)根据对应的数据线的配置顺序，被一个一个交替地分类为第一组以及第二组。因此，测定流经像素电路20的电流时，通过参照对邻近的像素电路20的虚拟测定的结果，可以有效地去除电流测定时的噪声。

(第四实施方式)

本发明的第四实施方式涉及的显示装置具有与第一实施方式涉及的显示装置同样的构成(参照图1以及图2)。其中，本实施方式涉及的显示装置包括图10所示的数据线驱动/电流测定电路50，来代替图3所示的数据线驱动/电流测定电路14。

图10所示的数据线驱动/电流测定电路50包含：(m+m/p)个输出/测定电路30、信号转换电路51以及驱动/测定信号生成电路52。信号转换电路51包含：(m/p)个选择器53、(2m/p)个偏移电路54以及(2m/p)个a/d转换器55。

(m+m/p)个输出/测定电路30被分类为m个的真测定用电路(以下，称为输出/测定电路30a)和(m/p)个的虚拟测定用电路(以下，称为输出/测定电路30b)。m个的输出/测定电路30a分别被连接于m条的数据线s1～sm。在被连接于数据线sj的输出/测定电路30a内的运算放大器31的非反相输入端子上，施加有与数据线sj对应的d/a转换器(未图示)的输出信号dvj。m个的输出/测定电路30a与(m/p)个的选择器53与第一实施方式相同地连接。

(m/p)个的输出/测定电路30b分别被连接于形成于显示部11的(m/p)条的虚拟布线d1～dm/p。虚拟配线d1～dm/p具有与数据线s1～sm相同的负载，作为虚拟测定对象电路发挥功能。在输出/测定电路30b的非反相输入端子上，固定地施加有零电压dvzero。

选择器53从p个输出/测定电路30a的输出信号之中选择一个模拟信号。偏移电路54将规定的偏移相加至被选择器53选择的模拟信号，或者是输出/测定电路30b的输出信号。a/d转换器55将从偏移电路54输出的模拟信号转换为数字值。

驱动/测定信号生成电路52基于用各a/d转换器55求出的数字值，求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差并暂时存储。选择器53依次选择p个输出/测定电路30a的输出信号。当选择器53完成p次的选择时，在驱动/测定信号生成电路52中，存储有表示真测定的结果和虚拟测定的结果的差的m个数字值。驱动/测定信号生成电路52针对显示控制电路12，输出包含m个数字值的监控信号ms。

图11是表示本实施方式涉及的显示装置中的真测定和虚拟测定的时刻的图。图11记载有根据被连接于数据线s1～sp的输出/测定电路30a的真测定和根据被连接于虚拟配线d1的输出/测定电路30b的虚拟测定的时刻。这里，将真测定和虚拟测定分为测定和a/d转换来考虑。

如图11所示，在时刻t0中，同时刻进行根据被连接于虚拟配线d1的输出/测定电路30b的测定和根据被连接于数据线s1～sp的输出/测定电路30a的测定。在时刻t1中，同时刻进行针对被连接于虚拟配线d1的输出/测定电路30b的输出信号的a/d转换和被连接于数据线s1的输出/测定电路30a的输出信号的a/d转换。在时刻t2中，同时刻进行针对被连接于虚拟配线d2的输出/测定电路30b的输出信号的a/d转换和被连接于数据线s2的输出/测定电路30a的输出信号的a/d转换。同样地，在时刻t3～tp中，同时刻进行针对被连接于虚拟配线d2的输出/测定电路30b的输出信号的a/d转换和被连接于数据线s3～sp的输出/测定电路30a的输出信号的a/d转换。通过这样的在同时刻进行针对真测定的结果的a/d转换和针对虚拟测定的结果的a/d转换，可以有效地去除电流测定时的噪声。

另外，在以上的说明中，虽将虚拟配线的条数设为(m/p)条，但虚拟配线的数量是一条以上的话，任意的都可以。例如，在虚拟配线为一条的情况下，数据线驱动/电流测定电路具有图12所示的构成。此外，作为虚拟测定对象电路，也可以使用虚拟配线以外的电路。

如上所示，本实施方式涉及的显示装置包括一个以上的虚拟测定对象电路(虚拟配线d1～dm/p)。一部分的测定部(输出/测定电路30a)被与数据线s1～sm对应地设定，剩余的测定部(输出/测定电路30b)被与虚拟测定对象电路对应地设置。电流测定电路(数据线驱动/电流测定电路50的一部分)将虚拟信号(零电压)提供至剩余的测定部来测定流经虚拟测定对象电路的电流。通过如这样地设置虚拟测定对象电路，进行测定流经虚拟测定对象电路的电流的虚拟测定，可以用一次真测定来测定流经与数据线同数量的像素电路20的电流。此外，通过使用具有与数据线s1～sm相同负荷的虚拟测定对象电路，可以在与真测定相同的条件下进行虚拟测定。此外，电流测定电路包含对一部分的测定部的输出进行选择的选择器53。因此，可以使用选择器53选择真测定的结果，在被选择的真测定的结果和虚拟测定的结果之间进行运算。

此外，电路测定电路包含将表示对像素电路20测定电流后的结果的模拟信号转换为数字值的a/d转换器55，在同时刻进行针对真测定的结果的a/d转换和针对虚拟测定的结果的a/d转换。由此，可以有效地去除电流测定时的噪声。

(第五实施方式)

在第一～第四实施方式中，关于包括对像素电路测定电流的电流测定电路的显示装置进行了说明。在第五实施方式中，关于包括对像素电路测定电压的电压测定电路的显示装置进行说明。

图13是表示本发明的第五实施方式涉及的显示装置的构成的框图。图13所示的显示装置60，是在第一实施方式涉及的显示装置10(图1)中，将数据线驱动/电流测定电路14取代为数据线驱动/电压测定电路(数据线驱动电路和电压测定电路的兼用电路)61的显示装置。数据线驱动/电压测定电路61包含：驱动/测定信号生成电路17、信号转换电路40以及m个的输出/测定电路62。

图14是表示像素电路20和输出/测定电路62的构成的图。图14记载有第i行j列的像素电路20和与数据线sj对应的输出/测定电路62。像素电路20的构成与第一实施方式相同。以下，将晶体管21的源极端子和有机el元件24的阳极端子被连接的节点称为n1。

输出/测定电路62包含电压生成电路63、电流源64、电压测定电路65以及开关66。开关66的一端被连接于数据线sj。开关66根据开关控制信号sc，进行切换：将数据线sj连接到电压生成电路63，或连接到电流源64和电压测定电路65。

电压生成电路63基于由信号转换电路40输出的数字数据，输出数据电压或者输出基准电压。数据线sj被连接于电压生成电路63时，由电压生成电路63输出的数据电压或者基准电压被施加到数据线sj。数据线sj被连接于电流源64和电压测定电路65时，电流源64针对数据线sj提供规定量的电流，电压测定电路65测定此时的数据线sj的电压。

为了校正影像信号vs1来求出影像信号vs2，数据线驱动/电压测定电路61对各像素电路20测定四种类的电压。详细地说，为了求出各像素电路20内的晶体管21的特性，数据线驱动/电压测定电路61测定：将导通晶体管21的基准电压写入像素电路20，由电流源64流出第一测定用电流in1时的节点n1的电压vn1；将导通晶体管21的电压写入像素电路20，由电流源64流出第二测定用电流in2(>in1)时的节点n2的电压vn2；将关闭晶体管21的电压写入像素电路20，由电流源64流出第三测定用电流in3时的节点n1的电压vn3；将关闭晶体管21的电压写入像素电路20，由电流源64流出第四测定用电流in4(>in3)时的节点n2的电压vn4。

扫描线驱动电路13和数据线驱动/电压测定电路61进行针对一行的量的像素电路20的写入处理；和针对一行的量的像素电路20测定四种类的电压vn1～vn4中的任一个的处理。例如，扫描线驱动电路13和数据线驱动/电压测定电路61在连续的四个帧期间中，在第一～第四帧期间内的第i个的帧期间中，针对第i个的像素电路20，分别测定电压vn1～vn4，在这以外的帧期间中，也可以进行针对一行的量的像素电路20的写入处理。

校正部16基于被测定到的四种类的电压vn1～vn4，进行求出晶体管21和有机el元件24的特性的处理，基于求出的两种类的特性校正影像信号vs1。更详细地，校正部16基于两种类的电压vn1、vn2，作为晶体管21的特性求出阈值电压和增益，基于两种类的电压vn3、vn4，作为有机el元件24的特性求出阈值电压和增益。求出晶体管21的阈值电压和增益以及有机el元件24的阈值电压和增益的方法，与第一实施方式相同。校正部16将求出的阈值电压和增益写入校正数据存储部15，使用从校正数据存储部15读取的阈值电压和增益来校正影像信号vs1。

如上所示，本实施方式涉及的显示装置60包括：测定像素电路20内的节点n1的电压vn1～vn4的电压测定电路65，来取代作为测定电路的电流测定电路；基于用电压测定电路65测定到的电压vn1～vn4，针对被提供至数据线驱动电路(数据线驱动/电压测定电路61的一部分)的影像信号vs1进行校正的校正部16。

根据本实施方式涉及的显示装置60，与第一实施方式涉及的显示装置10相同地，在同时刻进行真测定和虚拟测定，通过针对真测定的结果和虚拟测定的结果进行运算，在测定像素电路20内的节点n1的电压时，可以去除测定时的噪声。此外，使用电压测定结果，可以进行高画质显示。

另外，以上所述的各实施方式涉及的显示装置虽设为包括显示电路20和输出/测定电路30，但显示装置也可以包括其他的像素电路，也可以包括其他的输出/测定电路。

如上所示，根据本发明的显示装置，在同时刻进行真测定和虚拟测定，通过求出真测定的结果和虚拟测定的结果的差，可以在对像素电路测定电流或者电压时，去除测定时的噪声。此外，使用电流或者电压的测定结果，可以进行高画质显示。

产业上的实用性

本发明的显示装置，由于具有可以在对像素电路测定电流或者电压时，去除测定时的噪声的特征，可以用在包括包含有机el显示装置等、电性光学元件的像素电路的各种显示装置。

符号说明

10、60…显示装置

11…显示部

12…显示控制电路

13…扫描线驱动电路

14、50…数据线驱动/电流测定电路

15…校正数据存储部

16…校正部

17、52…驱动/测定信号生成电路

20…像素电路

21…晶体管(驱动晶体管)

22…晶体管(写入控制晶体管)

23…晶体管(读取控制晶体管)

24…有机el元件(电性光学元件)

25、32…电容

30、62…输出/测定电路

31…运算放大器

33～35、66…开关

40、51…信号转换电路

41、53…选择器

42、54…偏移电路

43、55…a/d转换器

61…数据线驱动/电压测定电路

63…电压生成电路

64…电流源

65…电压测定电路

ga1～gan、gb1～gbn…扫描线

s1～sm…数据线