本发明实施例属于终端领域，尤其涉及一种显示屏缺陷评价方法及其系统。
背景技术：
：平板显示器以其高分辨率、高亮度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。但由于显示器的面积不断增大，制作过程复杂，因此，在制作过程中难免会出现一些缺陷，其中最常见的缺陷就是Mura缺陷。“Mura”一词来源于日语，直译为斑点、脏污。在平板显示行业中，已将Mura作为一个专业术语来代表显示器的一种典型的不均匀显示缺陷。目前对于Mura的检测多采用的是彩色CCD的数位影像处理技术，但数位影像处理技术存在设备成本高、图像处理复杂等问题、目前集中在少数面板上游厂家。因此，针对目前整机厂家暗场mura检测评价方法的不足，提出一种Mura检测评价方法。技术实现要素：本发明实施例提供了一种显示屏缺陷评价方法，旨在解决现有的方法中，显示屏Mura缺陷评价方法使用的设备成本高，图像处理复杂，难以广泛推广的问题。本发明实施例第一方面，提供了一种显示屏缺陷评价方法，所述方法包括：向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；将所述亮度信号转换为亮度值并显示；根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。本发明实施例的第二方面，提供一种显示屏缺陷评价终端，所述终端包括：光信号发射单元，用于向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；检测单元，用于检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；转换单元，用于将所述亮度信号转换为亮度值并显示；筛选评价单元，用于根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，并根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。在本发明实施例中，通过向处于全黑场状态下的待评价显示屏发射检测光信号，并接收所述显示屏反馈的亮度信号，将多数亮度信号转换为亮值后，对所述亮度值进行筛选，根据筛选结果评价所述显示屏的缺陷。采用上述方法对显示屏缺陷进行评价时，避免使用高成本的设备，同时检测方法简单，避免了复杂的图像、数据处理过程，可广泛的应用于各种显示屏缺陷的检测。附图说明图1是本发明第一实施例提供的一种显示屏缺陷评价方法的流程图；图2是色彩管理软件CA-S20w对所反馈的亮度值的显示图；图3是本发明第一实施例提供的缺陷亮度值筛选条件设置方式的示意图；图4是色彩管理软件CA-S20w对所反馈的亮度值筛选标记图；图5是本发明第二实施例提供的一种显示屏缺陷评价终端的结构图。具体实施方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。本发明实施例中，通过接收处于全黑场状态的待显示屏反馈的亮度信号，进一步将上述亮度信号转化为亮度值，然后对亮度值进行筛选、标记，通过被标记区域的亮度值，计算出待评价显示屏的缺陷等级。为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。实施例一：图1示出了本发明第一实施例提供的一种显示屏缺陷评价方法的流程图，详述如下：步骤S11，向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；目前，显示屏的应用越来越广泛，但显示屏的生产过程难免会出现一些缺陷，其中最常见的缺陷就是Mura缺陷。在对显示屏Mura缺陷进行检测，并评出其缺陷等级时，首先将待检测待评价显示屏调整至标准工作状态，输入全黑场信号；所述全黑场信号指显示屏的亮度、对比度均为0的状态。然后，在距离显示屏3倍高度处，调节镜头与屏幕中心正对，点亮状态下一段时间后，向处于全黑场状态的待评价显示屏发射测试光信号。优选地，采用CA-2000二维色彩分析仪对待评价显示屏进行测量；CA-2000二维色彩分析中包含具有XYZ滤波器的传感器，能够最大限度的滤除杂波的干扰，并且所述CA-2000二维色彩分析仪提供与CIE1931等色函数近似的分光敏感度，能够实现与目视评价结果有很大关联度的辉度/色度的测量。具体测试过程包括：设置CA-2000二维色彩分析仪与待评价显示屏的位置关系；在距离待评价显示屏3倍高度处，使CA-2000二维色彩分析仪中的CCD镜头对准待评价显示屏的屏幕中心；在使CA-2000二维色彩分析仪处于开机状态半小时后向待评价显示屏发射测试光信号。将CA-2000二维色彩分析开机预热一段时间后再进行测试，可以使测试设备处于稳定状态，保证了灯条的亮度稳性，从而使后续所得显示屏反馈的亮度值更准确，提高了显示屏缺陷等级评价的精度。步骤S12，检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；步骤S13，将所述亮度信号转换为亮度值并显示；优选地，将所述亮度信号转换为亮度值并显示，具体为：将所述待评价显示屏的面积平均分成指定份数；其中，所述指定份数的数量由图像数据处理系统决定。将每份待评价显示屏反馈的亮度信号转化为亮度值存储并显示。具体地，处于暗场状态的待评价显示屏在接收到测试光信号后，以亮度信号的形式向测试装置反馈信息，测试装置接收所述显示屏返回的亮度信号，将所述亮度信号转化为具体的亮度数值，存储并显示。优选地，处于暗场状态的待评价显示屏接收到CA-2000二维色彩分析仪中的CCD镜头发出的测试光信号后，反馈给CA-2000二维色彩分析仪亮度信号，CA-2000二维色彩分析仪将所述亮度信号转化为亮度值，由作为标准配件随附的色彩管理软件CA-S20w存储并显示所述亮度值。所述色彩管理软件CA-S20w，可将测量所得的亮度值数据显示在直观易懂的可视化窗体中，并通过简单操作进行各种评价和分析。在色彩管理软件CA-S20w显示所述亮度值数据时，将所述亮度值分为32*18个数值进行显示，相当于将待评价的显示屏平均分成32*18份，显示出每一份的亮度值信息。优选地，可以将所述32*18亮度值存储在Excel中，并显示。色彩管理软件CA-S20w对所反馈的亮度值的显示如图2所示。将所测得的32*18个亮度值存储在Excel中方便后续对存在缺陷的亮度值的筛选。步骤S14，根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。优选地，所述根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级，具体包括：确定每列亮度值中用于筛选具有缺陷的亮度值的阈值；优选地，确定每列亮度值的平均值；将所述每列亮度值的平均值作为同一列亮度值中用于筛选具有缺陷的亮度值的阈值。将每列亮度值与确定的同一列亮度值的亮度值的阈值比较，标记大于或等于所述阀值的亮度值，得到被标记的亮度值区域；确定所述被标记的亮度值区域的亮度均值；根据所述亮度均值，确定所述被标记的亮度值区域的缺陷等级。具体地，对于待评价显示屏被平均分成32*18份后所反馈的每一个亮度值进行筛选，筛选的过程中以列为单位进行筛选；首先，计算每列亮度值的平均值，将所述平均值设定为对应列亮度值筛选时的阀值，同时计算所有亮度值的平均值；由于显示屏Mura缺陷的主观表现是亮度高于平均值，即表现出白团。因此，当所述阀值小于所有亮度值的平均值时，判断本列亮度值均为正常亮度值，结束对本列亮度值的筛选。对于阀值大于或等于所有亮度值的列，将每列中的亮度值与所设置的阀值比较，对每列中大于或等于所述阀值的亮度值进行标记，所标记的亮度值即为具有Mura缺陷的亮度值。图3为Mura缺陷亮度值筛选条件设置方式的示意图，如图中所示，设置阀值对图2中提供的亮度值数据表中第一列数据进行筛选。计算得图2中第一列亮度值的平均值为0.132，将其设置为本列筛选的阀值，设置条件格式为标记大于或等于0.132的亮度值。如图4所示，对图2中每列数据进行筛选后得到四个被标记的区域，即为显示屏存在Mura缺陷的四个区域。统计每个被标记区域的亮度值，计算被标记区域亮度值的平均值，根据SEMI标准(国际半导体设备材料产业协会标准)，计算显示屏每个区域的Mura缺陷等级。具体计算公式如下：其中：式中，Cx为待评价显示屏Mura缺陷区域的平均对比度。Sx为Mura缺陷的面积，单位为mm2。式中C1为轮廓内亮度值的平均值、C2为轮廓外亮度值的平均值。优选地，所述根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级之后，还包括：根据所述筛选结果确定所述显示屏的缺陷面积。由于所述亮度值是由待评价显示屏的面积被平均分成32*18份后，每份面积所反馈的信息所得；因此，每一个亮度值代表了每一份的待评价显示屏面积，统计每个被标记的Mura缺陷区域的亮度值数量占总亮度值数量的百分比，再结合待评价显示屏的面积即可得出每个Mura缺陷区域的面积大小。下面以32寸显示器为例来说明所述显示屏Mura缺陷等级及缺陷面积的计算过程：对待评价显示屏的Mura缺陷亮度值进行筛选标记的结果如图4所示，以图4中左上角被标记区域为例：1)统计并计算出图4左上角被标记区域的亮度值的平均值为0.2195nits；2)计算左上角被标记区域内亮度值大于该区域亮度平均值均值的区域总亮度值，即式(2)中C1的值，计算结果为：0.2608nits；3)计算左上角被标记区域内亮度值小于该区域亮度平均值均值的区域总亮度值，即式(2)中C2的值，计算结果为：0.1800nits；4)调用式(2)，计算得所述左上角被标记区域平均对比度为Cx＝0.4490nits；5)Mura面积计算：以32寸显示器为例，显示区长边为708.4mm，短边长度为398.5mm；将长边分为32等份，短边分为18等份，每份边长为22.14mm，面积为409.12mm2。该显示屏左上角被标记区域Mura缺陷占据的像素为47。因此，该显示屏左上角Mura缺陷面积对应为23035.7mm2；6)调用公式(1)，计算该显示屏左上角Mura缺陷等级为0.567。表1为根据上述算法计算所得到显示屏不同区域Mura面积及Mura等级。表1显示屏Mura面积及Mura等级左上角右上角左下角右下角亮度均值/nits0.21950.17900.20070.2070Mura面积/mm223035.716174.06371.620585.1Mura等级0.5670.3250.3140.469本发明第一实施例中，根据处于全黑场状态下待评价显示屏对测量光信号的反馈，计算出亮度值，通过对所述亮度值的筛选，标记处待评价显示屏的Mura区域，根据所述被标记区域平均亮度值得到所述区域平均对比度值，进而得到所述待评价显示屏各个区域的Mura缺陷等级。采用本发明第一实施例提供的方法评价显示屏的Mura缺陷时，不仅可以检测出显示屏Mura等级，还可以检查显示屏的Mura亮度和面积，从而跟全面的评价显示屏的质量，该测试方法快捷，图像处理简单，所使用设备简单，可以广泛的应用于显示屏产品的质量检测。应理解，在本发明实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。实施例二：图2示出了本发明第二实施例提供的一种显示屏缺陷评价终端的结构图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。该显示屏缺陷评价终端包括：光信号发射单元51，检测单元52，转换单元53，筛选评价单元54；其中：光信号发射单元51，用于向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；在对显示屏Mura缺陷进行检测，并评出其缺陷等级时，首先将待检测待评价显示屏调整至标准工作状态，输入全黑场信号；所述全黑场信号指显示屏的亮度、对比度均为0的状态。然后，在距离显示屏3倍高度处，调节镜头与屏幕中心正对，点亮状态下一段时间后，由光信号发射单元51，向处于全黑场状态的待评价显示屏发射测试光信号。检测单元52，用于检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；转换单元53，用于将所述亮度信号转换为亮度值并显示；优选地，所述转换单元53具体包括：面积处理模块531，用于将所述待评价显示屏的面积平均分成指定份数；转换显示模块532，用于将每份待评价显示屏反馈的亮度信号转化为亮度值存储并显示。具体地，处于暗场状态的待评价显示屏，在接收到光信号发射单元51发出的测试光信号后，以亮度信号的形式向检测单元52反馈信息，检测单元52接收所述显示屏返回的亮度信号，由转换单元53将所述亮度信号转化为具体的亮度数值，存储并显示。优选地，由转换单元53中的面积处理模块531，将待评价显示屏的面积平均分成32*18份，由转换显示模块532将显示屏每份的亮度信号转换为亮度值，即得到32*18个亮度值；优选地，可以将所述32*18亮度值存储在Excel中，并显示。筛选评价单元54，用于根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，并根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。优选地，所述筛选单54元具体包括：阈值确定模块541，用于确定每列亮度值中用于筛选具有缺陷的亮度值的阈值；缺陷亮度值标记模块542，用于将每列亮度值与确定的同一列亮度值的亮度值的阈值比较，标记大于或等于所述阀值的亮度值，得到被标记的亮度值区域；亮度均值确定模块543，用于确定所述被标记的亮度值区域的亮度均值；缺陷等级确定模块544，用于根据所述亮度均值，确定所述被标记的亮度值区域的缺陷等级。优选地，所述阈值确定模块541具体包括：均值确定模块5411，用于确定每列亮度值的平均值；阈值确定模块5412，用于将所述每列亮度值的平均值作为同一列亮度值中用于筛选具有缺陷的亮度值的阈值。具体地，对于待评价显示屏被平均分成32*18份后所反馈的每一个亮度值进行筛选，筛选的过程中以列为单位进行筛选；首先，计算每列亮度值的平均值，将所述平均值设定为对应列亮度值筛选时的阀值，同时计算所有亮度值的平均值；由于显示屏Mura缺陷的主观表现是亮度高于平均值，即表现出白团。因此，当所述阀值小于所有亮度值的平均值时，判断本列亮度值均为正常亮度值，结束对本列亮度值的筛选。对于阀值大于或等于所有亮度值的列，将每列中的亮度值与所设置的阀值比较，对每列中大于或等于所述阀值的亮度值进行标记，所标记的亮度值即为具有Mura缺陷的亮度值。优选地，所述终端还包括：缺陷面积确定单元55，用于根据所述筛选结果确定所述显示屏的缺陷面积。由于所述亮度值是由待评价显示屏的面积被平均分成32*18份后，每份面积所反馈的信息所得；因此，每一个亮度值代表了每一份的待评价显示屏面积，统计每个被标记的Mura缺陷区域的亮度值数量占总亮度值数量的百分比，再结合待评价显示屏的面积即可得出每个Mura缺陷区域的面积大小。本发明第二实施例中，在对显示屏进行Mura等级评价时，由光信号发射单元发出测试光信号，检测单元接收显示屏的反馈亮度信号，由转换单元将此亮度信号转换为亮度值，经筛选评价单元对上述亮度值筛选后，标记出显示屏有缺陷的区域，根据所标记区域亮度值计算出该显示屏的Mura缺陷等级。上述检测装置简单，且已操作，避免了复杂的图像处理过程，易于推广应用。本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的终端和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的终端和方法，可以通过其它的方式实现。以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
技术领域：
的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。当前第1页1 2 3