一种显示面板、电子设备以及测试方法与流程

本发明涉及显示技术领域，更具体的说，涉及一种显示面板、电子设备以及测试方法。

背景技术：

随着科学技术的不断发展，越来越多的具有显示功能的电子设备被广泛的应用于人们的日常生活以及工作当中，为人们的日常生活以及工作带了了巨大的便利，成为当今人们不可或缺的重要工具。显示面板为电子设备实现显示功能的主要部件，其中，液晶显示面板以及OLED显示面板为当今显示领域的两种主流显示面板，此外微型LED显示，量子点发光二极管显示等显示技术也异军突起。

显示面板具有边框区以及显示区，显示区具有显示阵列，显示阵列具有多个阵列排布的像素单元，边框区设置有用于驱动像素单元进行图像显示的驱动芯片。边框区还设置有驱动引脚、测试引脚以及测试开关电路。在绑定驱动芯片前需要通过驱动引脚、测试引脚以及测试开关电路检测显示面板是否能够正常显示，避免将驱动芯片绑定在不符合质量标准的显示面板上，造成高成本的驱动芯片的损坏浪费。

驱动引脚用于驱动测试开关电路的开关状态，测试引脚用于通过测试开关电路为数据线提供测试信号，以测试显示区中像素单元的显示性能。现有的显示面板中，需要在边框区单独设置连接测试引脚与测试开关电路的信号线，以便于通过测试引脚为所述测试开关电路提供测试信号，不便于显示面板的窄边框的设计。

技术实现要素：

为了解决上述问题，本发明提供了一种显示面板、电子设备以及测试方法，复用数据线作为测试引脚的信号线，降低了边框区的宽度，便于显示面板的窄边框设计。

为了实现上述目的，本方面提供如下技术方案：

一种显示面板，所述显示面板包括：

多条平行排布的数据线，所述数据线沿第一方向延伸；

显示阵列，所述显示阵列包括多个阵列排布的像素单元；所述像素单元的列数与所述数据线的条数相同，一列所述像素单元对应电连接一条所述数据线；

在所述第一方向上，设置在所述显示阵列一侧的测试开关电路，设置在所述显示阵列另一侧的驱动引脚以及测试引脚；

其中，所述测试开关电路具有控制端、输入端以及输出端；所述驱动引脚与所述控制端电连接，所述驱动引脚用于输入开关控制信号；所述测试引脚用于输入测试信号，所述测试引脚通过部分所述数据线与所述输入端电连接，其余所述数据线与所述输出端电连接。

本发明实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括上述显示面板。

本发明实施例还提供了一种测试方法，用于上述显示面板，所述显示面板包括显示阵列、数据线、测试开关电路、驱动引脚以及测试引脚；显示阵列具有多个阵列排布的像素单元；

所述测试方法包括：

驱动引脚通过设置在所述显示面板的边框区的信号线为测试开关电路的控制端提供开关控制信号，控制所述测试开关电路的导通状态；

测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号。

通过上述描述可知，本发明技术方案提供的显示面板、电子设备以及测试方法中，所述测试引脚通过部分数据线与所述输入端电连接，通过该部分数据线提供测试信号，其余数据线与所述输出端电连接，复用数据线作为测试引脚的信号线，无需在边框区设置测试引脚的信号线，降低了边框区的宽度，便于显示面板的窄边框设计。复用部分数据线作为测试引脚的信号线对显示面板中像素单元进行显示测试，该部分数据线一方面可以为其自身连接的像素单元提供数据线，另一方面为其他数据线连接的像素单元提供测试信号，而像素单元的亮度取决于所有数据线上电压稳定后的电压，故不会该部分数据线连接的像素单元与其他数据线连接的像素单元的亮度差异，故不会影响测试的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1A为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图1B为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图1C为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图2A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图2B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图3A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图3B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图4A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图4B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图5A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图5B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了使本发明实施例提供的技术方案更加清楚，下面结合附图对上述方案进行详细描述。

参考图1A，图1A为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，该显示面板包括：多条平行排布的数据线D，所述数据线D沿第一方向Y延伸；显示阵列11，所述显示阵列11包括多个阵列排布的像素单元P；所述像素单元P的列数与所述数据线D的条数相同，一列所述像素单元P对应电连接一条所述数据线D；在所述第一方向Y上，设置在所述显示阵列11一侧的测试开关电路12，设置在所述显示阵列11另一侧的驱动引脚13以及测试引脚14。

其中，所述测试开关电路12具有控制端121、输入端122以及输出端123；所述驱动引脚13与所述控制端121电连接，所述驱动引脚13用于输入开关控制信号，以控制测试开关电路12的开关状态；所述测试引脚14用于输入测试信号，所述测试引脚14通过部分所述数据线D与所述输入端122电连接，其余所述数据线D与所述输出端123电连接。

显示面板包括显示区以及包括显示区的边框区15。显示阵列11位于所述显示区内。

本发明实施例所述显示面板中，通过部分数据线D为开关测试开关电路12的输入端122提供测试信号，复用该部分数据线D作为测试引脚14的信号线，无需单独在显示面板的边框区15内再设置测试引脚14的信号线，降低了显示面板的边框宽度，便于显示面板窄边框的设计。

设定所述测试引脚14的个数为m，m为正整数；所述数据线D的条数为n，n为正整数。所述测试开关电路12具有一个所述控制端121、a个所述输入端122以及b个所述输出端123，a和b均为正整数。其中，a+b≤n，a≤m，m+b＝n。每一个所述测试引脚14单独通过一条所述数据线D与一个所述输入端122电连接。每一个所述输出端123单独电连接一条所述数据线D。

所述测试开关电路12具有b个在第二方向X上依次排布的第一薄膜晶体管T1，所述第二方向X垂直于所述第一方向Y，且平行于所述像素单元P的行方向；所述第一薄膜晶体管T1与所述输出端123一一对应。图1A中，每个虚线圆圈区域表示一个第一薄膜晶体管T1，所示虚线圆圈仅是为了示出第一薄膜晶体管T1的位置，并不实际存在。

所述第一薄膜晶体管T1具有控制电极、第一电极以及第二电极；每个所述第一薄膜晶体管T1的第一电极单独与一个对应的所述输出端123电连接；所有所述第一薄膜晶体管T1的控制电极与所述控制端121电连接；每个所述第一薄膜晶体管T1的第二电极与一个所述输入端123电连接。也就是说，测试开关电路12具有与所述输出端123一一对应的第一薄膜晶体管T1，每个薄膜晶体管T1的第二电极即为一个输出端123。

图1A实施方式中，a＝2，具有两个输入端122，两个输入端122一个为奇数输入端122A，另一个偶数输入端122B。图1A中仅示出了八列像素单元P，即n＝8。数据线的条数n为常数，具体的取决于显示面板中像素单元P的列数，不局限于图1A所示实施方式。

图1A所示显示面板中，显示阵列11中像素单元P采用像素渲染方式排布，所有奇数列的像素单元P的个数相同，所有偶数列的像素单元P的个数相同，奇数列的像素单元P的个数与偶数列的像素单元P的个数相同或相差一个。任意一奇数列的像素单元P与另一奇数列的像素单元P在第二方向X上一一正对设置。任意一偶数列的像素单元P与另一偶数列的像素单元P在第二方向X上一一正对设置。任意两个第一方向Y上相邻的像素单元P的间距相同，任意两个第二方向X上相邻的像素单元P的间距相同，两个第一方向Y上相邻的像素单元P的间距与两个第二方向X上相邻的像素单元P的间距相同或不同。奇数列的像素单元P与偶数列的像素单元P错位设置，奇数行的像素单元P与偶数行的像素单元P错位设置，使得任意相邻的两奇数列与任意相邻两奇数行相交确定的四个像素单元P的中心区域具有一个位于偶数行偶数列的像素单元P，使得任意相邻的两偶数列与任意相邻的两偶数行相交确定的四个像素单元P的中心区域具有一个位于奇数列奇数行的像素单元P。

当像素单元P采用像素渲染方式排布时，如果n为偶数，设定n＝2N，N为正整数。在所述第二方向X上，2N条数据线D平均分为N组，每一组具有两条相邻的数据线D，第i组包括第2i-1条数据线D以及第2i条数据线D，i为不大于N的正整数。当n＝8时，N＝4，在第二方向X上，4组依次为第1组-第4组，8条数据线D依次为第1条数据线D-第8条数据线D，其中，第1组包括第1条数据线D以及2条数据线D，第2组包括第3条数据线D以及第4条数据线D，第3组包括第5条数据线D以及第6条数据线D，第4组包括第7条数据线D以及第8条数据线D。

此时，可以设定m＝2，具有两个测试引脚14。两个所述测试引脚中的一个奇数引脚141，另一个为偶数引脚142。所述奇数引脚141通过一奇数组中的一条数据线D与所述奇数输入端122A电连接；所有奇数组中的其他N-1条数据线D均单独通过一个所述输入端123与所述奇数输入端122A电连接。所述偶数引脚142通过一偶数组中的一条数据线与所述偶数输入端122B电连接。所有偶数组中的其他N-1条数据线D均单独通过一个所述输入端123与所述偶数输入端122B连接。

如图1A中，奇数引脚141通过位于第1组的第1条数据线D与奇数输入端122A电连接，位于第1组的第2条数据线D、位于第3组的第5条数据线D以及第6条数据线D均单独通过一个所述输入端123与所述奇数输入端122A电连接。偶数引脚142通过位于第4组的第8条数据线D与所述偶数输入端122B电连接，位于第4组的第7条数据线D、位于第2组的第3条数据线D以及第4条数据线D均单独通过一个所述输入端123与所述偶数输入端122B连接。

当像素单元P采用像素渲染方式排布时，相邻两个列像素单元P以及相邻两行像素单元P均为错位排布，任意相邻的两列像素单元P中，其中一列为第一颜色的像素单元P，另一列为交替排布的第二颜色的像素单元P第一第三颜色的像素单元P。第一颜色、第二颜色以及第三颜色均不相同，可以设定第一颜色、第二颜色以及第三颜色中的一个为红色，一个为绿色，一个为蓝色。当像素单元P采用像素渲染方式排布时，最近邻的两个像素单元间距较大即可满足较大的分辨率。本发明是实例所述显示面板可以同时为所有奇数组的相邻的栅极线D提供测试信号，以判断所有奇数组电连接的像素单元D中是否具有短路等问题，同时为所有偶数组的相邻的栅极线D提供测试信号，以判断所有偶数组的电连接的像素单元D中是否具有短路等问题。奇数组的数据线D与偶数组的数据线D不同时提供测试信号。

驱动引脚13通过位于边框区15的信号线为控制端121提供开关控制信号，以控制各个第一薄膜晶体管T1的开关状态。第一薄膜晶体管T1可以为PMOS，在开关控制信号为低电位时导通，在开关控制信号为高电位时关闭。第一薄膜晶体管T1也可以为NMOS，在开关控制信号为低电位时关闭，在开关控制信号为高电位时导通。

当所有第一薄膜晶体管T1均导通时，可以通过奇数测试引脚141或是偶数测试引脚142分时的为与第一输入端122A导通的数据线D以及与第二输入端122B导通的数据线D提供测试信号，以测试显示面板师傅具有像素短路以及断路问题。

所述显示阵列11设置有所述测试引脚14的一侧设置有绑定区16，所述绑定区16用于绑定驱动芯片。当测试完成后，确定像素单元P之间无短路或是短路等问题后，在绑定区16内绑定驱动芯片。驱动芯片用于驱动像素单元P进行图像显示。绑定区16位于显示阵列11背离所述测试开关电路12的一侧，与测试引脚14以及驱动引脚13位于同一侧，便于测试引脚14、驱动引脚13以及测试开关电路12在边框区15的布线。

图1A所示实施例中，奇数引脚141通过第1条数据线D与奇数输入端122A电连接，偶数引脚142通过第n条数据线D与所述偶数输入端122B电连接，奇数引脚141与偶数引脚142位于绑定区16两侧，便于奇数引脚141以及偶数引脚142在边框区15布线设置，以便于与对应的数据线D连接。

参考图1B，图1B为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，基于图1A所示实施方式，图1B中所述显示面板中，所述测试开关电路12还具有m个第二薄膜晶体管T2，所述第二薄膜晶体管具有控制电极、第一电极以及第二电极；所有所述第二薄膜晶体管T2的控制电极与所述控制端121电连接；所述第二薄膜晶体管T2的第一电极单独通过一条所述数据线D与一个对应的所述测试引脚14电连接；所述薄膜晶体管T2的第二电极与所述输入端122电连接。需要说明的是，虚线三角形仅是为了示出第二薄膜晶体管T2的位置，不表示实际的结构图形。所述测试开关电路12具有与测试引脚一一对应的第二薄膜晶体管。

具体的，图1B中，m＝a＝2，测试引脚14与输入端12一一对应连接，每个测试引脚14单独对应一个第二薄膜晶体管T2。奇数引脚141通过一个第二薄膜晶体管T2与奇数输入端122A电连接，偶数引脚142通过另一个第二薄膜晶体管T2与偶数输入端122B电连接。这样，每条数据线D均是通过一个薄膜晶体管与测试开关电路12电连接，提高测试开关电路12的稳定性以及可靠性。

一般的，显示面板具有较多的数据线D，而与输入端12连接的数据线相对于与输出端123连接的数据线D较少，因此，测试开关电路12中所有薄膜晶体管均导通时，第二薄膜晶体管T2中的电流会大于第一薄膜晶体管T1中的电流，会使得数据线D中电压达到稳定状态所需时间较长，影响测试过程中画面切换的响应速度，为了解决该问题，本发明实施例中设置所述第二薄膜晶体管T2的沟道宽长比大于所述第一薄膜晶体管T1的沟道宽长比，以降低数据线D中电压达到稳定状态所需时间，提高测试过程中画面切换的响应速度。

一般的，本发明实施例所述显示面板中，至少具有两个测试引脚14。且所述显示阵列11设置有所述测试引脚14的一侧设置有绑定区16，所述绑定区用于绑定驱动芯片。当具有多个所述测试引脚14时，为了便于测试引脚14与对应数据线D的布线连接，设置所述测试引脚14在所述第二方向X上依次排布，所述绑定区16位于两个所述测试引脚14之间。

基于上述各个实施方式，为了避免第一薄膜晶体管上漏电流或是残留电荷影响显示面板的显示性能，本发明实施例所述显示面板中，设置电连接同一输入端的所有所述第一薄膜晶体管的第二电极通过同一电阻元件与电压输入端电连接或是接地；电连接不同输入端的所述第一薄膜晶体管的第二电极通过不同的电阻元件分别与电压输入端电连接或是接地。此时，显示面板的机构可以如图1C所示。

参考图1C，图1C为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，在图1B所示显示面板的基础上，图1C所示显示面板所有连接奇数输入端122A的第一薄膜晶体管T1的第二电极均通过第一电阻元件R1接地，所有连接奇数输入端122A的第二薄膜晶体管T1的第二电极均通过第二电阻元件R2接地。

为了避免显示面板测试时，电阻元件上消耗较多电能，薄膜晶体管连接的电阻元件的电阻值需要足够大，以保证测试信号主要供显示单元进行测试。所述电阻元件可以为显示面板中半导体层制备或是金属层制备，复用显示面板中已有的半导体层或是金属层制作所述电阻元件，在通过半导体层形成薄膜晶体管的有源区的同时形成所述电阻元件或是在通过金属层形成显示面板内部导电结构的同时形成所述电阻元件，不增加制作流程以及面板厚度，制作成本低，工艺简单。

如图1C所示的，当显示面板具有第二薄膜晶体管T2时，电连接同一输入端122的所述第一薄膜晶体管T1与所述第二薄膜晶体管T2通过同一电阻元件与电压输入端电连接或是接地。如图1C所示，与奇数输入端122A连接的第二薄膜晶体干T2以及第一薄膜晶体管T1通过第一电阻元件R1接地，与偶数输入端122B连接的第二薄膜晶体干T2以及第一薄膜晶体管T1通过第二电阻元件R2接地。

在图1C中电阻元件直接接地，在其他实施方式中，电阻元件还可以连接显示面板中的电压输入端，且不接地。当电阻元件连接电压输入端时，电压输入端为显示面板中已有的电压信号端，该电压信号端可以为交流信号端或是直流信号端。为了避免电压信号端中电压信号波动对测试引脚输入的测试信号的影响，优选的采用直流信号端。

当所述显示面板为LCD显示面板时，所述电压输入端可以是用于输入公共电压信号，输入扫描电路的直流电压信号，或输入扫描电路的数据信号中的一种。当所述显示面板为OLED显示面板时，所述电压输入端可以是用于输入阴极电压信号、输入扫描电路的直流电压信号，或输入扫描电路的数据信号中的一种。需要说明的是，上述列举的信号端口仅为举例说明，本申请的电压输入端不限于此，也可以是显示面板中存在的其他可用信号端口，具体视情况而定。

基于上述各实施方式，当具有上述两个输入端122，且显示阵列11中像素单元P采用像素渲染方式排布时，显示面板的结构还可以如图2A所示。

参考图2A，图2A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，图2A与图1A不同的是，m＝4，具有四个测试引脚14。四个所述测试引脚14中的两个为奇数引脚141，另外两个为偶数引脚142。两个所述奇数引脚141分别通过同一奇数组的两条数据线D与所述奇数输入端122A连接；所有奇数组中的其他N-2条数据线D均单独通过一个所述输入端123与所述奇数输入端122A电连接。两个所述偶数引脚142分别通过同一偶数组中的两条数据线D与所述偶数输入端122B连接；所有偶数组中的其他N-2条数据线D均单独通过一个所述输入端123与所述偶数输入端122B电连接。

图2A所示实施方式采用两个测试引脚14同时为奇数输入端122A提供测试信号，采用两个测试引脚14同时为偶数输入端122B提供测试信号，相对于图1A所示实施方式，提高了驱动能力。

为了提供驱动能力，可以一个输入端122同时连接多个测试引脚14，每个测试引脚14单独通过一条数据线与相应输入端122电连接，以提高驱动能力。需要说明的是，不局限于一个输入端122采用两个测试引脚14同时输入测试信号的方式，还可以采大于两个的测试引脚14同时为同一个输入端122输入测试信号。

参考图2B，图2B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，该显示面板中，在图2B实施方式中，每个测试引脚14连接的数据线D均分别通过一个第二薄膜晶体管T2与对应输入端122连接，以使得数据线均是通过一个薄膜晶体管与对应输入端122连接，保证测试开关电路12的可靠性以及稳定性。同样，为了避免测试开关电路12中薄膜晶体管的漏电流以及残留电荷对显示性功能的干扰，设置连接奇数输入端122A的薄膜晶体管的第二电极均通过第一电阻元件R1接地，连接偶数输入端122B的薄膜晶体管的第二电极均通过第二电阻元件接地。其他方式中，电阻元件也可以连接预设的电压输入端。

当具有上述两个输入端122，且所有像素单元P矩阵排布时，即任意相邻两列的像素单元P中，一列中的像素单元P与另一列中的像素单元P在第二方向X上一一相对设置，对于像素单元P矩阵排布的显示阵列11，面板尺寸一定时，为了达到较高的分辨率，同一行相邻两个像素单元P的间距较小，需要隔行输入测试信号，以检测相邻两像素单元P是否短路。此时，基于上述各实施方式，显示面板的结构可以如图3A所示。

参考图3A，图3A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。该实施方式与图1A所示实施方式不同在于：所有像素单元P矩阵排布，所述奇数引脚141通过一奇数列像素单元P电连接的所述数据线D与所述奇数输入端122A电连接；其他奇数列像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述奇数输入端122A电连接；所述偶数引脚142通过一偶数列像素单元P电连接的所述数据线D与所述偶数输入端122B电连接；其他偶数列像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述偶数输入端122B电连接。

参考图3B，图3B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，该显示面板中，在图3B实施方式中，每个测试引脚14连接的数据线D均分别通过一个第二薄膜晶体管T2与对应输入端122连接，以使得数据线均是通过一个薄膜晶体管与对应输入端122连接，保证测试开关电路12的可靠性以及稳定性。同样，为了避免测试开关电路12中薄膜晶体管的漏电流以及残留电荷对显示性功能的干扰，设置连接奇数输入端122A的薄膜晶体管的第二电极均通过第一电阻元件R1接地，连接偶数输入端122B的薄膜晶体管的第二电极均通过第二电阻元件接地。其他方式中，电阻元件也可以连接预设的电压输入端。

像素单元P矩阵排布时，为了提高驱动能力，同样可以通过设置四个测试引脚14，采用两个测试引脚14同时为奇数输入端122A提供测试信号，采用另外两个测试引脚14同时为偶数输入端122B提供测试信号。同样，分时为奇数输入端122A以及偶数输入端122B提供测试信号。此时，基于上述各实施方式，显示面板的结构可以如图4A所示。

参考图4A，图4A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。该实施方式与图3A所示实施方式不同在于：m＝4，四个所述测试引脚14中的两个均是奇数引脚141，另外两个均是偶数引脚142；一个奇数引脚141个通过一奇数列像素单元P电连接的所述数据线D与所述奇数输入端122A电连接，另一个奇数引脚141通过另一奇数列像素单元P电连接的所述数据线D与所述奇数输入端122A电连接，其他奇数列像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述奇数输入端122A电连接；

一个偶数引脚142通过一偶数列像素单元P电连接的所述数据线D与所述偶数输入端122B电连接，另一个偶数引脚142通过另一偶数列像素单元P电连接的所述数据线D与所述偶数输入端122B电连接，其他偶数列像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述偶数输入端122B电连接。

参考图4B，图4B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，该显示面板中，在图4B实施方式中，每个测试引脚14连接的数据线D均分别通过一个第二薄膜晶体管T2与对应输入端122连接，以使得数据线均是通过一个薄膜晶体管与对应输入端122连接，保证测试开关电路12的可靠性以及稳定性。同样，为了避免测试开关电路12中薄膜晶体管的漏电流以及残留电荷对显示性功能的干扰，设置连接奇数输入端122A的薄膜晶体管的第二电极均通过第一电阻元件R1接地，连接偶数输入端122B的薄膜晶体管的第二电极均通过第二电阻元件接地。其他方式中，电阻元件也可以连接预设的电压输入端。

当所述显示面板具有三种不同颜色的像素单元P，所述三种不同颜色分别为第一颜色、第二颜色以及第三颜色；同一列像素单元P的颜色相同；同一行像素单元P中任意连续的三个像素单元P的颜色不同时，可以设置3个输入端，即a＝3。此时，基于上述各实施方式，显示面板的结构可以如图5A所示。

参考图5A，图5A为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，该显示面板中，具有三个输入端122，三个所述输入端分别为第一输入端122r、第二输入端122g以及第三输入端122B。

图5A所示方式中，第一颜色为红色R，第二颜色为绿色G，第三颜色为蓝色B。m＝3，显示面板具有三个测试引脚14，三个测试引脚14分别为第一引脚141r、第二引脚141g以及第三引脚141b。

所述第一引脚141r通过一列第一颜色R的像素单元P电连接的所述数据线D与所述第一输入端122r电连接；其他列的第一颜色R的像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述第一输入端122r电连接。所述第二引脚141g通过一列第二颜色G的像素单元P电连接的所述数据线D与所述第二输入端122g电连接；其他列的第二颜色G的像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述第二输入端122g电连接。所述第三引脚141b通过一列第三颜色B的像素单元P电连接的所述数据线D与所述第三输入端122B电连接；其他列的第三颜色B的像素单元P电连接的所述数据线D均单独通过一个所述输出端123与所述第三输入端122B电连接。

参考图5B，图5B为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，该显示面板中，在图5B实施方式中，每个测试引脚14连接的数据线D均分别通过一个第二薄膜晶体管T2与对应输入端122连接，以使得数据线均是通过一个薄膜晶体管与对应输入端122连接，保证测试开关电路12的可靠性以及稳定性。同样，为了避免测试开关电路12中薄膜晶体管的漏电流以及残留电荷对显示性功能的干扰，设置连接第一输入端122r的薄膜晶体管的第二电极均通过电阻元件R11接地，连接第二输入端122g的薄膜晶体管的第二电极均通过电阻元件R12接地，连接第三输入端122B的薄膜晶体管的第二电极均通过电阻元件R13接地。其他方式中，电阻元件也可以连接预设的电压输入端。

本发明实施例所述显示面板中，还包括设置在绑定区的驱动芯片。当测试合格后，在绑定区绑定驱动芯片。驱动芯片设置在显示阵列11朝向测试引脚14的一侧，便于驱动芯片与各个数据线D电连接，驱动芯片以较短的走线即可分别与各个数据线D电连接。驱动芯片可以通过具有多个薄膜晶体管的数据选择电路与各个数据线D连接，以便于使得驱动芯片通过较少的端口与所有数据线D提供显示驱动信号。

驱动芯片与所述驱动引脚13连接，在显示时，所述驱动芯片用于为所述驱动引脚提供用于控制所述测试开关电路12中所有薄膜晶体管关闭的开关控制信号，以保证各个数据线D的显示驱动信号的相互隔离。

通过上述描述可知，本发明实施例提供的显示面板中，所述测试引脚通过部分数据线与所述输入端电连接，通过该部分数据线提供测试信号，其余数据线与所述输出端电连接，复用数据线作为测试引脚的信号线，无需在边框区设置测试引脚的信号线，降低了边框区的宽度，便于显示面板的窄边框设计。

基于上述显示面板实施例，本发明另一实施例还提供了一种电子设备，如图6所示，图6为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图，所述电子设备包括显示面板61，所述显示面板61为上述实施例所述显示面板。需要说明的是，本申请上述各实施例的显示面板可以为LC D显示面板，也可以为OLED显示面板，还可以是微LED显示面板(micro LED，μLED)、QLED显示面板(Quantum Dot Light Emitting Display，量子点显示器件面板)、电泳显示器，电润湿显示器等模式的显示面板，本申请对此不做限定。

本发明实施例所述电子设备可以为手机、电脑以及电视等具有显示功能的电子装置。所述电子设备采用上述实施例所述显示面板，可以复用数据线对像素单元进行显示测试，无需在边框区额外设置测试引脚的信号线，具有更窄的边框宽度。

基于上述显示面板实施例，本发明另一实施例还提供了一种测试方法，所述测试方法用于对上述显示面板的像素单元进行显示测试，所述测试方法如图7所示，图7为本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图，所述测试方法包括：

步骤S11：驱动引脚通过设置在所述显示面板的边框区的信号线为测试开关电路的控制端提供开关控制信号，控制所述测试开关电路的导通状态。

步骤S12：测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号。

一种方式中，显示面板中，所述测试开关电路具有两个输入端，一个输入端为奇数输入端，另一个输入端为偶数输入端；所述显示面板具有两个测试引脚，一个为奇数引脚，另一个偶数引脚。

此时，所述测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号包括：所述奇数引脚通过一奇数列像素单元电连接的所述数据线与所述奇数输入端电连接，为所述奇数输入端提供第一测试信号；其他奇数列像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述奇数输入端电连接，获取所述输出端输出的第一测试信号；所述偶数引脚通过一偶数列像素单元电连接的所述数据线与所述偶数输入端电连接，为所述偶数输入端提供第二测试信号；其他偶数列像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述偶数输入端电连接，获取所述输出端输出的第二测试信号。

该测试方法中，通过一个测试引脚提供第一测试信号，通过另一个测试引脚提供第二测试信号，且分时提供所述第一测试信号或是第二测试信号，以测试像素单元是否可以正常显示。该方法中，奇数列像素单元的数据线与偶数列像素单元的数据线分时输入第一测试信号或是第二测试信号。

另一种方式中，所述测试开关电路具有两个输入端，一个输入端为奇数输入端，另一个输入端为偶数输入端；所述显示面板具有四个测试引脚，两个均为奇数引脚，另两个均为偶数引脚。

此时，所述测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号包括：一个奇数引脚通过一奇数列像素单元电连接的所述数据线与所述奇数输入端电连接，另一个奇数引脚通过另一奇数列像素单元电连接的所述数据线与所述奇数输入端电连接，通过两个奇数引脚同时为所述奇数输入端提供第一测试信号；其他奇数列像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述奇数输入端电连接，获取所述输出端输出的第一测试信号；一个偶数引脚通过一偶数列像素单元电连接的所述数据线与所述偶数输入端电连接，另一个偶数引脚通过另一偶数列像素单元电连接的所述数据线与所述偶数输入端电连接，通过两个偶数引脚同时为所述偶数输入端提供第一测试信号；其他偶数列像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述偶数输入端电连接，获取所述输出端输出的第二测试信号。

该测试方法中，奇数列像素单元的数据线与偶数列像素单元的数据线分时输入第一测试信号或是第二测试信号时，通过两个测试引脚同时提供第一测试信号，通过另外两个测试引脚同时提供第二测试信号，提高了驱动能力。

再一种方式中，所述测试开关电路具有两个输入端，一个输入端为奇数输入端，另一个输入端为偶数输入端；所述显示面板具有两个测试引脚，一个为奇数引脚，另一个偶数引脚；所述显示面板具有2N条数据线，在所述第二方向上，2N条数据线平均分为N组，每一组具有两条相邻的数据线，第i组包括第2i-1条数据线以及第2i条数据线，i为不大于N的正整数。

此时，所述测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号包括：所述奇数引脚通过一奇数组中的一条数据线与所述奇数输入端连接，为所述奇数输入端提供第一测试信号；所有奇数组中的其他N-1条数据线均单独通过一个所述输入端与所述奇数输入端电连接，获取所述输出端输出的第一测试信号；所述偶数引脚通过一偶数组中的一条数据线与所述偶数输入端连接，为所述偶数输入端提供第二测试信号；所有偶数组中的其他N-1条数据线均单独通过一个所述输入端与所述偶数输入端连接，获取所述输出端输出的第二测试信号。

该测试方法中，通过一个测试引脚提供第一测试信号，通过另一个测试引脚提供第二测试信号，且分时提供所述第一测试信号或是第二测试信号，以测试像素单元是否可以正常显示。该方法中，数据线两两为一组，奇数组与偶数组的分时输入第一测试信号或是第二测试信号。

再一种方式中，所述测试开关电路具有两个输入端，一个输入端为奇数输入端，另一个输入端为偶数输入端；所述显示面板具有四个测试引脚，两个为奇数引脚，另为两个为偶数引脚；所述显示面板具有2N条数据线，在所述第二方向上，2N条数据线平均分为N组，每一组具有两条相邻的数据线，第i组包括第2i-1条数据线以及第2i条数据线，i为不大于N的正整数。

此时，所述测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号包括：两个所述奇数引脚分别通过同一奇数组的两条数据线与所述奇数输入端连接，为所述奇数输入端提供第一测试信号；所有奇数组中的其他N-2条数据线均单独通过一个所述输入端与所述奇数输入端电连接，获取所述输出端输出的第一测试信号；两个所述偶数引脚分别通过同一偶数组中的两条数据线与所述偶数输入端连接，为所述偶数输入端提供第二测试信号；所有偶数组中的其他N-2条数据线均单独通过一个所述输入端与所述偶数输入端连接，获取所述输出端输出的第二测试信号。

该测试方法中，数据线两两为一组，奇数组与偶数组的分时输入第一测试信号或是第二测试信号时，通过两个测试引脚同时提供第一测试信号，通过另两个测试引脚同时提供第二测试信号，以提高驱动能力。

再一种方式中，所述显示面板具有三种不同颜色的像素单元，所述三种不同颜色分别为第一颜色、第二颜色以及第三颜色；同一列像素单元的颜色相同；同一行像素单元中任意连续的三个像素单元的颜色不同；所述显示面板具有三个输入端，分别为第一输入端、第二输入端以及第三输入端；所述测试开关电路具有三个测试引脚分别为第一引脚、第二引脚以及第三引脚。

此时，所述测试引脚通过一部分数据线为测试开关电路的输入端提供测试信号，所述测试开关电路通过另一部分数据线输出所述测试信号包括：所述第一引脚通过一列第一颜色的像素单元电连接的所述数据线与所述第一输入端电连接，为所述第一输入端提供第一颜色像素单元的测试信号；其他列的第一颜色的像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述第一输入端电连接，获取所述第一颜色像素单元的测试信号；所述第二引脚通过一列第二颜色的像素单元电连接的所述数据线与所述第二输入端电连接，为所述第二输入端提供给第二颜色像素单元的测试信号；其他列的第二颜色的像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述第二输入端电连接，获取所述第二颜色像素单元的测试信号；所述第三引脚通过一列第三颜色的像素单元电连接的所述数据线与所述第三输入端电连接，为所述第三输入端提供第三颜色像素单元的测试信号；其他列的第三颜色的像素单元电连接的所述数据线均单独通过一个所述输出端与所述第三输入端电连接，获取所述第三颜色像素单元的测试信号。

该测试方法中，通过一个测试引脚提供第一颜色像素单元的测试信号，通过一个测试引脚提供第二颜色像素单元的测试信号，通过一个测试引脚提供第三颜色像素单元的测试信号，分别通过三个不同的测试引脚分别提供第一颜色像素单元的测试信号、第二颜色像素单元的测试信号以及第三颜色像素单元的测试信号，且分时提供第一颜色像素单元的测试信号、第二颜色像素单元的测试信号以及第三颜色像素单元的测试信号，以测试像素单元是否可以正常显示。

本发明实施例所述测试方法中，通过测试引脚通过一部分数据线提供测试信号，测试信号通过测试开关电路输入到其余数据线，无需单独设置测试引脚的信号线，测试方法简单，成本低，便于显示面板的窄边框设计。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的测试方法以及电子设备而言，由于其与实施例公开的显示面板相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见显示面板对应部分说明即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。