栅极驱动电路的检测装置和方法与流程

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种栅极驱动电路的检测装置以及一种栅极驱动电路的检测方法。

背景技术：

相关技术中的液晶面板越来越多采用GOA(Gate Driver on Array，阵列基板栅极驱动)技术，从而节省Gate IC、降低成本，以及实现窄边框。GOA整体为单行的GOA上下级联而成，每一行GOA输出到相应栅极驱动行，以控制栅极驱动行的打开或关闭。然而，随着液晶面板的分辨率越来越高，所需的GOA数目也越来越多，当发生故障时，难以确定GOA发生故障的具体位置，从而给修复带来极大困难，严重影响产品良率。

技术实现要素：

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种栅极驱动电路的检测装置，能够准确确定栅极驱动电路发生故障的具体位置。

本发明的另一个目的在于提出一种栅极驱动电路的检测方法。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出的一种栅极驱动电路的检测装置，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述检测装置包括：多个发光二极管，所述多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；检测单元，所述检测单元用于检测所述每个发光二极管的状态，以根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

根据本发明实施例提出的栅极驱动电路的检测装置，多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化，检测单元检测每个发光二极管的状态，以根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，本发明实施例的检测装置能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。

根据本发明的一个实施例，所述每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。

根据本发明的一个实施例，当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，所述检测单元在检测到对应的发光二极管持续熄灭时判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。

根据本发明的一个实施例，当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，所述检测单元在检测到对应的发光二极管发光时判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。

根据本发明的一个实施例，所述检测单元包括多个光电探测器，所述多个光电探测器对应感应所述多个发光二极管的状态，每个光电探测器用于根据对应的发光二极管的状态生成感应信号，以使所述检测单元根据所述每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

为达到上述目的，本发明另一方面实施例提出的一种栅极驱动电路的检测方法，所述栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，所述多行栅极驱动单元的输出端与多个发光二极管的阳极对应相连，所述多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，所述检测方法包括以下步骤：检测每个发光二极管的状态，其中，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化；根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

根据本发明实施例提出的栅极驱动电路的检测方法，多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化，进而检测每个发光二极管的状态，并根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，本发明实施例的检测方法能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。

根据本发明的一个实施例，所述每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。

根据本发明的一个实施例，所述根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障，包括：当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，如果检测到对应的发光二极管持续熄灭，则判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。

根据本发明的一个实施例，所述根据所述每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障，包括：当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，如果检测到对应的发光二极管发光，则判断所述任一行栅极驱动单元发生故障。

根据本发明的一个实施例，通过所述多个光电探测器对应感应所述多个发光二极管的状态，所述方法进一步包括：每个光电探测器根据对应的发光二极管的状态生成感应信号；根据所述每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

附图说明

图1是根据本发明实施例的栅极驱动电路的检测装置的示意图；以及

图2是根据本发明实施例的栅极驱动电路的检测方法的流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图来描述本发明实施例的栅极驱动电路的检测装置和方法，其中，该检测装置和方法可用于对面板例如液晶面板上的栅极驱动电路进行故障测试。

图1是根据本发明实施例的栅极驱动电路的检测装置的示意图。如图1所示，栅极驱动电路100具有多行栅极驱动单元，例如第一行栅极驱动单元GOA1、第二行栅极驱动单元GOA2、第三行栅极驱动单元GOA3，……，第n行栅极驱动单元GOAn。

多行栅极驱动单元对应具有多个输出端，例如，第一行栅极驱动单元GOA1的输出端Out1、第二行栅极驱动单元GOA2的输出端Out2、第三行栅极驱动单元GOA3的输出端Out3，……，第n行栅极驱动单元GOAn的输出端Outn。多行栅极驱动单元可按照预设控制时序依次进行信号输出，每行栅极驱动单元可在自身的信号输出时序进行信号输出，并在自身的无信号输出时序不进行信号输出，例如，可将预设周期分为n个时间段，按照预设控制时序，第一行栅极驱动单元GOA1可在第一时间段通过输出端Out1进行信号输出，即第一时间段为第一行栅极驱动单元GOA1的信号输出时序，而其他时间段为第一行栅极驱动单元GOA1的无信号输出时序；依次类推，第n行栅极驱动单元GOAn可在第n时间段通过输出端Outn进行信号输出，即第n时间段为第n行栅极驱动单元GOAn的信号输出时序，而其他时间段为第n行栅极驱动单元GOAn的无信号输出时序。

如图1所示，检测装置200包括多个发光二极管(例如第一发光二极管D1、第二发光二极管D2、第三发光二极管D3、…、第n发光二极管Dn)，以及检测单元201。

多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元10的输出端相连，多个发光二极管D1的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端V相连。也就是说，多个发光二极管采用共阴极接法，即多个发光二极管D1的阴极连接在一起后连接至预设控制信号提供端V，每个发光二极管的阳极对应连接至每一行栅极驱动单元的输出端。具体来说，每个发光二极管可以转印放置在对应的栅极驱动单元的输出端，换言之，在每行栅极驱动单元的输出端采用转印方式放置发光二极管。

在一些实施例中，发光二极管可为微型发光二极管，例如微型发光二极管的尺寸可优选3*7um量级，从而防止引起边框增大。另外，发光二极管可预先制作好电极，以与面板上的栅极驱动电路直接进行电连接，从而不会增加面板的工艺复杂度。

每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化。检测单元201用于检测每个发光二极管的状态，以根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。也就是说，在每行栅极驱动单元进入自身的信号输出时序时对应的发光二极管的状态在正常情况下将会发生变化，从而通过检测单元201检测每个发光二极管的状态，即可确定每行栅极驱动单元是否发生故障。

如上所述，在任一行栅极驱动单元进行信号输出，对应的发光二极管可处于第二状态，检测单元201如果检测到对应的发光二极管处于第二状态，则可判断栅极驱动单元进行了信号输出；在任一行栅极驱动单元无信号输出，对应的发光二极管可处于第一状态，检测单元201如果检测到对应的发光二极管处于第一状态，则可判断栅极驱动单元无信号输出。由此，在预设控制时序下检测单元201可依据每个发光二极管的状态确定每行栅极驱动单元是否发生故障。

根据本发明的一些实施例，预设控制信号提供端V用于提供预设控制信号，例如预设控制信号可为低电平信号。每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。

具体来说，在每行栅极驱动单元进行信号输出时每行栅极驱动单元通过自身的输出端输出脉冲信号，由于每个发光二极管的阴极连接至低电平，所以每个发光二极管导通发光。在每行栅极驱动单元无信号输出时每行栅极驱动单元不会输出脉冲信号，每个发光二极管截止发光。

根据本发明的一些实施例，在对任一行栅极驱动单元进行故障检测，检测单元201可在检测到任一个栅极驱动单元对应的发光二极管熄灭或闪烁时，判断任一行栅极驱动单元发生故障，并在检测到任一个栅极驱动单元对应的发光二极管点亮时，判断任一行栅极驱动单元正常。

进一步地，当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，检测单元201在检测到对应的发光二极管持续熄灭时判断任一行栅极驱动单元发生故障。并且，当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，检测单元201在检测到对应的发光二极管发光时判断任一行栅极驱动单元发生故障。

具体来说，当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，该行栅极驱动单元例如第一行栅极驱动单元GOA1在正常情况下应该存在信号输出，与该行栅极驱动单元相连的发光二极管例如第一发光二极管D1应该发光(或点亮)，此时检测单元201如果未检测相应的发光二极管发光，例如对应的发光二极管持续熄灭，则判断该行栅极驱动单元发生故障。

当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，该行栅极驱动单元例如第一行栅极驱动单元GOA1在正常情况下应该无信号输出，与该行栅极驱动单元相连的发光二极管例如第一发光二极管D1应该熄灭，此时检测单元201如果检测相应的发光二极管发光，例如对应的发光二极管闪烁，则判断该行栅极驱动单元发生故障。

当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时检测单元201检测到对应的发光二极管点亮，且在任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时检测单元201检测到对应的发光二极管持续熄灭，可判断该行栅极驱动单元正常，未发生故障。

如上所述，正常情况下多行栅极驱动单元应依次输出多个脉冲信号，每行栅极驱动单元正常输出时，对应的发光二极管点亮；每行栅极驱动单元无输出时，对应的发光二极管不亮；每行栅极驱动单元多输出时，对应的发光二极管闪烁。

在当前行栅极驱动单元的信号输出时序下，检测单元201如果未检测与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，则判断当前行栅极驱动单元发生无信号输出的故障。换言之，如果发光二极管在应该点亮时未点亮，则判断栅极驱动单元发生无信号输出的故障。

在当前行栅极驱动单元的信号输出时序下，检测单元201检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，但是，在当前行栅极驱动单元处于无信号输出时序例如在下一行栅极驱动单元的信号输出时序下，检测单元201再次检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光(正常应熄灭)，此时与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发生闪烁，判断当前行栅极驱动单元发生多输出的故障。换言之，如果栅极驱动单元输出了多个信号，则判断栅极驱动单元发生多输出的故障。

在当前行栅极驱动单元的信号输出时序下检测单元201检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，并且在当前行栅极驱动单元无信号输出时序时检测单元201未检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，检测单元201即判断当前行栅极驱动单元正常。

根据本发明的一些实施例，检测单元201可包括多个光电探测器，多个光电探测器对应感应多个发光二极管的状态，每个光电探测器用于根据对应的发光二极管的状态生成感应信号，以使检测单元201根据每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

具体来说，光电探测器可将光信号(即发光二极管的状态)转换为电信号(即感应信号)，例如光电探测器可将发光二极管的亮度转换为电流信号。检测单元201可根据电流信号判断发光二极管的状态，进而根据发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

举例来说，当发光二极管发光时，光电探测器输出的电流信号的电流值大于预设电流值，而当发光二极管熄灭时，光电探测器输出的电流信号的电流值小于或等于预设电流值。

以第一行栅极驱动单元GOA1为例，当第一行栅极驱动单元GOA1处于信号输出时序时，第一行栅极驱动单元GOA1在正常情况下应该存在信号输出，与第一行栅极驱动单元GOA1相连的第一发光二极管D1应该发光，此时检测单元201如果未检测到与第一发光二极管D1对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续小于或等于预设电流值，则说明对应的发光二极管持续熄灭，判断第一行栅极驱动单元GOA1发生故障。

当第一行栅极驱动单元GOA1处于无信号输出时序时，第一行栅极驱动单元GOA1在正常情况下应该无信号输出，与第一行栅极驱动单元GOA1相连的发光二极管D1应该熄灭，此时检测单元201如果检测到与第一发光二极管D1对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续大于预设电流值，则说明第一发光二极管D1再次点亮，即第一发光二极管D1闪烁，判断第一行栅极驱动单元GOA1发生故障。

当第一行栅极驱动单元GOA1处于信号输出时序时检测单元201检测到与第一发光二极管D1对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续大于预设电流值，且在第一行栅极驱动单元GOA1处于无信号输出时序时检测单元201与第一发光二极管D1对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续小于或等于预设电流值，则可判断第一行栅极驱动单元GOA1正常，未发生故障。

由此，检测单元201可依据光电探测器输出的电流信号的大小确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。并且，光电探测器的响应时间在ns量级，可实现快速检测。

此外，需要说明的是，本发明实施例的栅极驱动电路的检测装置主要用于Array Test(阵列测试)阶段栅极驱动电路的不良检测分析，在分析完成后可保留发光二极管，也可切断发光二极管与面板的连接。

综上，根据本发明实施例提出的栅极驱动电路的检测装置，多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化，检测单元检测每个发光二极管的状态，以根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，本发明实施例的检测装置能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。

本发明还提出了一种栅极驱动电路的检测方法。

图2是根据本发明实施例的栅极驱动电路的检测方法的流程图。栅极驱动电路具有多行栅极驱动单元，多行栅极驱动单元的输出端与多个发光二极管的阳极对应相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连。如图2所示，检测方法包括以下步骤：

S1：检测每个发光二极管的状态，其中，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化。

S2：根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

也就是说，在每行栅极驱动单元进入自身的信号输出时序时对应的发光二极管的状态在正常情况下将会发生变化，从而通过检测每个发光二极管的状态，即可确定每行栅极驱动单元是否发生故障。

如上所述，在任一行栅极驱动单元进行信号输出，对应的发光二极管可处于第二状态，如果检测到对应的发光二极管处于第二状态，则可判断栅极驱动单元进行了信号输出；在任一行栅极驱动单元无信号输出，对应的发光二极管可处于第一状态，如果检测到对应的发光二极管处于第一状态，则可判断栅极驱动单元无信号输出。由此，在预设控制时序下可依据每个发光二极管的状态确定每行栅极驱动单元是否发生故障。

根据本发明的一些实施例，预设控制信号提供端V用于提供预设控制信号，例如预设控制信号可为低电平信号。每个发光二极管在对应的栅极驱动单元无信号输出时熄灭，并在对应的栅极驱动单元存在信号输出时发光。

具体来说，在每行栅极驱动单元进行信号输出时每行栅极驱动单元通过自身的输出端输出脉冲信号，由于每个发光二极管的阴极连接至低电平，所以每个发光二极管导通发光。在每行栅极驱动单元无信号输出时每行栅极驱动单元不会输出脉冲信号，每个发光二极管截止发光。

根据本发明的一些实施例，在对任一行栅极驱动单元进行故障检测，可在检测到任一个栅极驱动单元对应的发光二极管熄灭或闪烁时，判断任一行栅极驱动单元发生故障，并在检测到任一个栅极驱动单元对应的发光二极管点亮时，判断任一行栅极驱动单元正常。

进一步地，根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障，包括：当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，如果检测到对应的发光二极管持续熄灭，则判断任一行栅极驱动单元发生故障。

并且，根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障，包括：当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，如果检测到对应的发光二极管发光，则判断任一行栅极驱动单元发生故障。

具体来说，当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，该行栅极驱动单元在正常情况下应该存在信号输出，与该行栅极驱动单元相连的发光二极管应该发光(或点亮)，此时如果未检测相应的发光二极管发光，例如对应的发光二极管持续熄灭，则判断该行栅极驱动单元发生故障。

当任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，该行栅极驱动单元在正常情况下应该无信号输出，与该行栅极驱动单元相连的发光二极管应该熄灭，此时如果检测相应的发光二极管发光，例如对应的发光二极管闪烁，则判断该行栅极驱动单元发生故障。

当任一行栅极驱动单元处于信号输出时序时检测到对应的发光二极管点亮，且在任一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时检测到对应的发光二极管持续熄灭，可判断该行栅极驱动单元正常，未发生故障。

如上所述，正常情况下多行栅极驱动单元应依次输出多个脉冲信号，每行栅极驱动单元正常输出时，对应的发光二极管点亮；每行栅极驱动单元无输出时，对应的发光二极管不亮；每行栅极驱动单元多输出时，对应的发光二极管闪烁。

在当前行栅极驱动单元的信号输出时序下，如果未检测与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，则判断当前行栅极驱动单元发生无信号输出的故障。换言之，如果发光二极管在应该点亮时未点亮，则判断栅极驱动单元发生无信号输出的故障。

在当前行栅极驱动单元的信号输出时序下，检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，但是，在当前行栅极驱动单元处于无信号输出时序例如在下一行栅极驱动单元的信号输出时序下，再次检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光(正常应熄灭)，此时与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发生闪烁，判断当前行栅极驱动单元发生多输出的故障。换言之，如果栅极驱动单元输出了多个信号，则判断栅极驱动单元发生多输出的故障。

在当前行栅极驱动单元的信号输出时序下检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，并且在当前行栅极驱动单元无信号输出时序时未检测到与当前行栅极驱动单元相连的发光二极管发光，即判断当前行栅极驱动单元正常。

根据本发明的一些实施例，通过多个光电探测器对应感应多个发光二极管的状态，方法进一步包括：每个光电探测器根据对应的发光二极管的状态生成感应信号；根据每个光电探测器生成的感应信号判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

具体来说，光电探测器可将光信号(即发光二极管的状态)转换为电信号(即感应信号)，例如光电探测器可将发光二极管的亮度转换为电流信号。可根据电流信号判断发光二极管的状态，进而根据发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。

举例来说，当发光二极管发光时，光电探测器输出的电流信号的电流值大于预设电流值，而当发光二极管熄灭时，光电探测器输出的电流信号的电流值小于或等于预设电流值。

以第一行栅极驱动单元为例，当第一行栅极驱动单元处于信号输出时序时，第一行栅极驱动单元在正常情况下应该存在信号输出，与第一行栅极驱动单元相连的第一发光二极管应该发光，此时如果未检测到与第一发光二极管对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续小于或等于预设电流值，则说明对应的发光二极管持续熄灭，判断第一行栅极驱动单元发生故障。

当第一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时，第一行栅极驱动单元在正常情况下应该无信号输出，与第一行栅极驱动单元相连的发光二极管应该熄灭，此时如果检测到与第一发光二极管对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续大于预设电流值，则说明第一发光二极管再次点亮，即第一发光二极管闪烁，判断第一行栅极驱动单元发生故障。

当第一行栅极驱动单元处于信号输出时序时检测到与第一发光二极管对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续大于预设电流值，且在第一行栅极驱动单元处于无信号输出时序时与第一发光二极管对应的光电探测器输出的电流信号的电流值持续小于或等于预设电流值，则可判断第一行栅极驱动单元正常，未发生故障。

由此，可依据光电探测器输出的电流信号的大小确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。并且，光电探测器的响应时间在ns量级，可实现快速检测。

此外，需要说明的是，本发明实施例的栅极驱动电路的检测方法主要用于Array Test(阵列测试)阶段栅极驱动电路的不良检测分析，在分析完成后可保留发光二极管，也可切断发光二极管与面板的连接。

综上，根据本发明实施例提出的栅极驱动电路的检测方法，多个发光二极管中每个发光二极管的阳极与对应的栅极驱动单元的输出端相连，多个发光二极管的阴极连接在一起后与预设控制信号提供端相连，每个发光二极管的状态根据对应的栅极驱动单元的输出发生变化，进而检测每个发光二极管的状态，并根据每个发光二极管的状态判断对应的栅极驱动单元是否发生故障。由此，本发明实施例的检测方法能够通过发光二极管的状态确定发生故障的栅极驱动单元，从而有效故障发生的具体位置，为修复带来便利，并确保产品良率。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。