一种显示面板的静电放电测试系统及测试方法与流程

文档序号:13558336阅读:246来源:国知局
一种显示面板的静电放电测试系统及测试方法与流程

本发明涉及液晶面板显示领域,尤其涉及一种显示面板的静电放电测试系统及测试方法。



背景技术:

tft-lcd(thinfilmtransistorliquidcrystaldisplay,薄膜晶体管液晶显示器)已经成为了现代视讯产品中重要的显示设备。tft-lcd主要驱动原理,系统主板将三原色缩信号、控制信号及动力通过线材与印刷电路板上的连接器相连接,数据经过印刷电路板上的时序控制器处理后,源极驱动电路(source-chiponfilm,s-cof)和栅极驱动电路(gate-chiponfilm,g-cof)与显示面板的显示区连接,从而使得tft-lcd获得所需的电源及信号。

随着用户对于产品可靠性要求的不断提高,以及系统客户对产品品质要求的不断严苛,esd(electronicstaticdischarge,静电放电)测试的标准变得越来越严格。过去只需要针对几个点进行静电放电测试,而现在则需要针对连接器的每一针均进行放电测试。目前的主要的测试方法是通过esd静电放电发生器对待检测的显示面板的每个待检测点进行检测,该方法需要相关工作人员亲自手动对每个待检测点进行放电测试操作,因而相关工作常常出现漏测试,或者忘记自己对某个测试点测试过造成的多测试的情况,进而出现了工作效率低,放电测试不精确的情况;同时,如果相关工作人员在工作过程中被外界突然中断,很容易出现工作人员无法找到最近一次的测试点是哪个(中断点),给相关工作人员带来了很多的麻烦。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。



技术实现要素:

本发明的主要目的在于提供一种显示面板的静电放电测试系统及测试方法,旨在解决目前对显示面板进行静电放电测试时测试效率低,易出错且难以中继的问题。

为实现上述目的,本发明提供一种显示面板的静电放电测试系统,所述系统包括:

静电放电发生器;

选通模块;以及

m条并联的输出通道;

其中,所述选通模块与所述静电放电发生器电连接;

各输出通道的第一端分别与所述静电放电发生器串联连接,各输出通道的第二端用于连接显示面板的一待检测点,并对连接的待检测点进行静电放电测试。

一实施例中,各输出通道上分别设有与所述选通模块电连接的选通开关,所述选通开关对连接的输出通道进行选通。

一实施例中,所述静电放电发生器与一个电子元件的正极电连接,所述电子元件的负极与各输出通道分别电连接。

一实施例中,所述静电放电发生器上设有显示模块,所述显示模块用于在静电放电测试中断时,接收所述选通模块反馈的当前被选通的输出通道编号,对当前被选通的输出通道编号进行显示。

此外,本发明还提供一种基于显示面板的静电放电测试系统的测试方法,所述基于显示面板的静电放电测试系统包括上文所述的测试系统,所述方法包括以下步骤:

静电放电发生器向选通模块发送放电信号;

所述选通模块根据所述静电放电发生器传输的放电信号依次对各待检测输出通道选通,所述待检测输出通道为与所述显示面板的各待检测点对应连接的输出通道;

所述静电放电发生器对与当前选通的待检测输出通道连接的待检测点进行静电放电测试。

可选地,所述静电放电发生器向选通模块发送放电信号之前,所述方法还包括:

所述静电放电发生器响应于用户输入的各待检测点的待测试次数n,以及各待检测点单次放电时的放电量e;

相应地,所述静电放电发生器对与当前选通的待检测输出通道连接的待检测点进行静电放电测试,具体包括:

所述静电放电发生器对与当前选通的待检测输出通道连接的待检测点进行n次放电量为e的静电放电测试。

可选地,所述选通模块根据所述静电放电发生器传输的放电信号依次对各待检测输出通道选通,所述静电放电发生器对与当前选通的待检测输出通道连接的待检测点进行n次放电量为e的静电放电测试,具体包括:

所述选通模块根据所述静电放电发生器传输的放电信号对第一条输出通道进行选通,所述静电放电发生器对第一条输出上的待检测点进行n次放电量为e的静电放电测试;

所述选通模块在所述第一输出通道上的待检测点静电放电测试n次之后,所述选通模块选通下一条输出通道作为当前输出通道,所述静电放电发生器对当前输出通道上的待检测点进行n次放电量为e的静电放电测试,直至与各待检测输出通道上连接的待检测点都完成n次静电放电时,结束所述显示面板的本次静电放电测试。

可选地,所述静电放电发生器上设有显示模块;

相应地,所述结束所述显示面板的本次静电放电测试之前,所述方法还包括:

所述选通模块在所述显示面板的静电放电测试中断时,将当前被选通的输出通道编号反馈至所述显示模块;

所述显示模块接收所述当前被选通的输出通道编号,并对所述当前被选通的输出通道编号进行显示。

本发明提供的一种显示面板的静电放电测试系统中包括静电放电发生器、选通模块、以及m条并联的输出通道;其中,所述选通模块与所述静电放电发生器电连接;各输出通道的第一端分别与所述静电放电发生器串联连接,各输出通道的第二端用于连接显示面板的一待检测点,并对连接的待检测点进行静电放电测试,通过该系统能够实现显示面板的多个待检测点的自动化静电放电测试,能够代替相关工作人员的手动操作,达到节省人力,缩短工作时间,测量结果更加可靠的效果。

附图说明

图1为本发明一种显示面板的静电放电测试系统的一实施例的结构示意图;

图2为本发明一种显示面板的静电放电测试系统的又一实施例的结构示意图;

图3为本发明一种基于显示面板的静电放电测试系统的测试方法的一实施例的流程示意图;

图4为本发明一种基于显示面板的静电放电测试系统的测试方法的又一实施例的流程示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

下面结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。作为制造技术和/或公差的结果,可以预期图示形状的变化。因此,本发明的实施例不应解释为限于在此所示区域的特定形状,而是包括例如制造所致的形状上的偏差。因此,如图所示的区域本质上是示意性的,并且它们的形状不旨在示出区域的精确形状,并且不旨在限制实施例的范围。

在本发明的描述中,需要理解的是,术语“竖向”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“水平”、“两侧”、“底”、“中”“内”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。

此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。本发明的描述中,除非另有说明,“多条”、“多个”的含义是两个(两条)或两个(两条)以上。

另外,术语“包括”及其任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。

本发明提出一种显示面板的静电放电测试系统。

需要说明的是,本实施例以m=4条(即4条并联输出通道),l=2条选通通道为例,见图1,所述选通模块02包括第一选通通道a,和第二选通通道b。在实际的应用中,静电放电发生器01放电次数n根据每个待测样品的测试点需要重复测试的次数决定;输出通道output的数量根据每个待测样品的测试点决定(大于或等于测试点)。对应的选通通道a、选通通道b也可以相应拓展。

图1为本发明一种显示面板的静电放电测试系统的一实施例结构示意图,所述系统包括:静电放电发生器01,选通模块02、m条并联的输出通道,其中,output-1代表第一输出通道,output-2代表第二输出通道,output-3代表第三输出通道,以此类推,output-4代表第四输出通道(即最后一条输出通道);其中,所述选通模块02与静电放电发生器01电连接;各输出通道的第一端分别与所述静电放电发生器01串联连接,各输出通道的第二端用于连接显示面板的一待检测点,并对连接的待检测点进行静电放电测试。

进一步地,各输出通道上分别设有与所述选通模块02电连接的选通开关,所述选通开关用于对各个连接的输出通道进行选通。所述选通模块包括l条的选通通道,各选通通道分别与对应的选通开关电连接,其中l的数量由m决定。

在具体实现中,第一(条)输出通道output-1的选通开关04为两个串联的p型薄膜晶体管,第一个p型薄膜晶体管的栅极电性连接第一选通通道a,源极电性连接第二个p型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,第二个p型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01;output-1对应a、b输出的电位信号为00,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“低、低”。

第二(条)输出通道output-2的选通开关04为串联的一p型薄膜晶体管和一n型薄膜晶体管,其中,p型薄膜晶体管的栅极电性连接选通通道a,源极电性连接n型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,n型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01;output-2对应a、b输出的电位信号为01,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“低、高”。

第三(条)输出通道output-3的选通开关04为串联的一n型薄膜晶体管和一p型薄膜晶体管,其中,n型薄膜晶体管的栅极电性连接第一选通通道a,源极电性连接p型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,p型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01;output-3对应a、b输出的电位信号为10,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“高、低”。

第四(条)输出通道output-4的选通开关04为两个串联的n型薄膜晶体管,第一个n型薄膜晶体管的栅极电性连接第一选通通道a,源极电性连接第二个n型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,第二个n型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01。output-4对应a、b输出的电位信号为11,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“高、高”。

通过增加n型薄膜晶体管和p型薄膜晶体管、以及选通通道可实现不同数目的选通开关及其对应的电位信号的组合。当然,上述选通开关及其对应的电位信号仅为实现按照预设顺序对显示面板的各待检测点进行选通的所有实施方式的其中之一。

在实际测试时,初始状态下,output-1与静电放电发生器01相连,静电放电发生器01放电n次后,output-1对应的待测显示面板的输入端已经进行了n次测试时,选通模块02的a、b输出的电位信号由00(低、低)变为01(低、高),即output-2被选通,output-2上对应的待检测点正在进行静电放电;output-2对应的待测显示面板的输入端已经进行了n次静电放电后,选通模块02的a、b输出的电位信号由01(低、高)变为10(高、低),即output-3被选通,output-3上对应的待检测点正在进行静电放电;

output-3对应的待测显示面板的输入端已经进行了n次静电放电后,选通模块02的a、b输出的电位信号由10(高、低)变为11(高、高),即output-4被选通,output-4上对应的待检测点正在进行静电放电。

在传统的esd静电放电发生器的基础上新增选通模块,使得整个过程中仅需要对放电量e、放电总次数、每个测试点需要重复测试的次数n和放电间隔时间进行设置,其余操作全部自动化进行。

参考图2,在另一实施例中,所述m条并联的输出通道可以封装于检测模块03中;所述静电放电发生器01与一个电子元件05的正极电连接,所述电子元件05的负极与所述检测模块03电连接,以起到静电防护,单向导通,保护电路的作用,可选地,所述电子元件05为二极管。

进一步地,所述m条并联的输出通道通过连接器06与所述显示面板的印刷电路板pcb(printedcircuitboard)的输入端连接。

进一步地,本实施例中,所述静电放电发生器01上设有显示模块,所述显示模块用于在测试中断时,所述显示模块对当前被选通的输出通道编号进行显示,这样该系统可以解决相关工作人员在测试显示面板过程中即使被外界突然中断,相关工作人员仍然可以找到相关显示面板上中断的测试点。

本实施例提供的一种显示面板的静电放电测试系统中包括静电放电发生器、选通模块、以及m条并联的输出通道;其中,所述选通模块与所述静电放电发生器电连接;各输出通道的第一端分别与所述静电放电发生器串联连接,各输出通道的第二端用于连接显示面板的一待检测点,并对连接的待检测点进行静电放电测试,通过该系统能够实现显示面板的多个待检测点的自动化静电放电测试,能够代替相关工作人员的手动操作,达到节省人力,缩短工作时间,使得测量结果可靠性高的效果。

基于上述显示面板的静电放电测试系统的结构,提出本发明一种基于显示面板的静电放电测试系统的测试方法的实施例。

参考图3,图3为本发明基于上述显示面板的静电放电测试系统的结构的测试方法的第一实施例的流程示意图。

本实施例中,所述测试方法包括:

s10:静电放电发生器向选通模块发送放电信号;

在具体实现中,在初始状态下,由于显示面板每个待检测点的待测试次数n(即该测试点需要重复测试的次数)、单次放电测试时的放电量e是统一的;所述静电放电发生器01响应于用户(相关工作人员)输入的各待检测点的待测试次数n,以及各待检测点单次放电时的放电量e,向所述选通模块02发送放电信号c;

s20:所述选通模块根据所述静电放电发生器传输的放电信号依次对各待检测输出通道选通,所述待检测输出通道为与所述显示面板的各待检测点对应连接的输出通道;

s30:所述静电放电发生器对与当前选通的待检测输出通道连接的待检测点进行静电放电测试。

可理解的是,所述选通模块02根据所述静电放电发生器01传输的放电信号c对第一条输出通道output-1进行选通,并对第一条输出output-1上的待检测点进行n次放电量为e的放电测试;

在所述第一输出通道output-1上的待检测点放电n次之后,选通下一条输出通道(即output-2)作为当前输出通道,并对当前输出通道(即output-2)上的待检测点进行n次放电量为e的放电测试;

依次类推,当连接待检测点的最后一条输出通道完成n此放电时,结束所述显示面板的本次静电放电测试。

在具体实现中,第一(条)输出通道output-1的选通开关04为两个串联的p型薄膜晶体管,第一个p型薄膜晶体管的栅极电性连接第一选通通道a,源极电性连接第二个p型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,第二个p型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01;output-1对应a、b输出的电位信号为00,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“低、低”。第二(条)输出通道output-2的选通开关04为串联的一p型薄膜晶体管和一n型薄膜晶体管,其中,p型薄膜晶体管的栅极电性连接选通通道a,源极电性连接n型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,n型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01;output-2对应a、b输出的电位信号为01,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“低、高”。第三(条)输出通道output-3的选通开关04为串联的一n型薄膜晶体管和一p型薄膜晶体管,其中,n型薄膜晶体管的栅极电性连接第一选通通道a,源极电性连接p型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,p型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01;output-3对应a、b输出的电位信号为10,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“高、低”。第四(条)输出通道output-4的选通开关04为两个串联的n型薄膜晶体管,第一个n型薄膜晶体管的栅极电性连接第一选通通道a,源极电性连接第二个n型薄膜晶体管的漏极,漏极电性连接对应的待检测点,第二个n型薄膜晶体管的栅极电性连接第二选通通道b,源极电性连接所述静电放电发生器01。output-4对应a、b输出的电位信号为11,即第一选通通道a与第二选通通道b输出的电位信号为“高、高”。通过增加n型薄膜晶体管和p型薄膜晶体管、以及选通通道可实现不同数目的选通开关及其对应的电位信号的组合。当然,上述选通开关及其对应的电位信号仅为实现按照预设顺序对显示面板的各待检测点进行选通的所有实施方式的其中之一。

本实施例通过将显示面板的各待检测点按照预设顺序电连接至不同的输出通道;然后所述选通模块根据静电放电发生器传输的放电信号按照预设顺序依次对各输出通道选通并进行静电放电,能够代替相关工作人员的手动操作,达到节省人力,缩短工作时间,测量结果更加可靠的效果。

参考图4,图4为本发明基于上述显示面板的静电放电测试系统的结构的测试方法的第二实施例的流程示意图,基于上述方法的第一实施例,图4以基于图3所示的实施例为例。

在本实施例中,所述静电放电发生器01上设有显示模块,相应地,所述步骤s20和s30具体包括:

s02:所述选通模块根据所述静电放电发生器传输的放电信号对第一条输出通道进行选通,所述静电放电发生器对第一条输出上的待检测点进行n次放电量为e的静电放电测试;

s03:所述选通模块在所述第一输出通道上的待检测点静电放电测试n次之后,所述选通模块选通下一条输出通道作为当前输出通道,所述静电放电发生器对当前输出通道上的待检测点进行n次放电量为e的静电放电测试;

s04:所述选通模块在所述显示面板的静电放电测试中断时,将当前被选通的输出通道编号反馈至所述显示模块;所述显示模块接收所述当前被选通的输出通道编号,并对所述当前被选通的输出通道编号进行显示;

s05:直至与各待检测输出通道上连接的待检测点都完成n此静电放电时,结束所述显示面板的本次静电放电测试。

本实施例能够实现相关工作人员在测试显示面板过程中即使被外界突然中断,相关工作人员仍然可以找到哪个是显示面板上中断的那个测试点,解决了之前在做显示面板静电放电测试时难以中继的问题。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本发明的保护范围。

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