1.一种显示器件驱动技术试验箱(1)，包括试验箱(1)，其特征在于，包括多个用于显示器件驱动技术试验的试验模块和用于集成多个试验模块在同一试验箱(1)的集成电路(8)，所述集成电路(8)上设有电源接口(810)。
2.根据权利要求1所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述多个用于显示器件驱动技术试验的试验模块包括用于计算led发光效率的第一模块(2)、用于展示显示器件逐行寻址驱动技术的第二模块(3)、用于lcd静态驱动技术的第三模块(4)、用于lcd动态驱动技术的第四模块(5)、用于应用字符型液晶显示屏的第五模块(6)和用于显示全彩pmoled的第六模块(7)。
3.根据权利要求2所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第一模块(2)包括4位七段笔段型led(210)、用于控制4位七段笔段型led(210)的第一控制芯片(220)和用于测试4位七段笔段型led(210)驱动波形的第一波形测试端(230)，所述集成电路(8)上连接有用于控制第一控制芯片(220)的第一拨动开关(240)和定时器(250)。
4.根据权利要求2所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第二模块(3)包括双色8×8点阵led(310)、用于控制双色8×8点阵led(310)的第二控制芯片(320)和用于测试双色8×8点阵led(310)的行、列的驱动波形的第二波形测试端(330)，所述集成电路(8)上连接有用于控制第二控制芯片(320)的第一单片机(340)。
5.根据权利要求2所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第三模块(4)包括31/2位笔段型lcd(410)、用于控制31/2位笔段型lcd(410)的第二单片机(440)和用于测试31/2位笔段型lcd(410)驱动波形的第三波形测试端(430)。
6.根据权利要求2所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第四模块(5)包括4路寻址lcd屏(510)、用于控制4路寻址lcd屏(510)的第四控制芯片(520)和用于测试4路寻址lcd屏(510)的寻址控制端驱动波形行、列的第四波形测试端(530)，所述集成电路(8)上连接有用于控制第四控制芯片(520)的第三单片机(540)。
7.根据权利要求2所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第五模块(6)包括lcd显示屏(610)、第一驱动芯片(620)、第五控制芯片(630)和用于接收外部提取简单汉字字模指令并向第五控制芯片(630)传输字符信号的第四单片机(640)，所述第五控制芯片(630)控制第一驱动芯片(620)驱动lcd显示屏(610)显示中、英文字符。
8.根据权利要求7所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第五模块(6)上设有用于烧录接收外部提取简单汉字字模指令并传输字符信号程序的编程口p1(820)。
9.根据权利要求2所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第六模块(7)包括全彩pmoled显示屏(710)、ssd1338驱动芯片(720)、第六控制芯片(730)和用于接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号传输给第六控制芯片(730)的arm7芯片(740)，所述第六控制芯片(730)控制ssd1338驱动芯片驱动pmoled显示屏(710)显示。
10.根据权利要求9所述的一种显示器件驱动技术试验箱(1)，其特征在于：所述第六模块(7)上设有用于烧录接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号程序的jtag接口(830)。