一种显示器件驱动技术试验箱的制作方法

本发明涉及驱动电路实验装置领域，具体是指一种显示器件驱动技术试验箱。

背景技术：

《显示器件驱动技术》是电子科技大学“信息显示与光电技术”专业的核心课程，该专业在985高校中属于首创。课程实验设计为lcd和led的静态和动态驱动，lcd与oled显示模块的显示程序设计，共6项综合实验，演示实验1项：设置了笔段型、点阵型led驱动实验和多种显示器件演示实验，但各个实验电路板是分离的无集成，随着实验人数的增加，实验物品不便操作和管理，造成资源浪费。

为了解决上述问题，我们迫切需要一种显示器件驱动技术试验箱。

技术实现要素：

基于以上问题，本发明提供了一种显示器件驱动技术试验箱。本发明可实现便于操控和管理显示器件驱动技术试验目的，对涉及课程试验的各个试验电路板进行集成，避免了操作者在进行课程试验时难以对试验项进行控制，可更为有利进行《显示器件驱动技术》的试验设计。

为解决以上技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种显示器件驱动技术试验箱，包括试验箱，包括多个用于显示器件驱动技术试验的试验模块和用于集成多个试验模块在同一试验箱的集成电路，集成电路上设有电源接口。

在本发明中，通过电源接口和外部电源连接，是集成电路上有电流流通，操作集成电路上用于显示器件驱动技术试验的试验模块，使老师在操作时有利于展示其操作步骤和有助于学生理解显示器件驱动技术，而学生有利于复制老师的试验步骤，实现便于操控和管理显示器件驱动技术试验的目的。本发明可实现便于操控和管理显示器件驱动技术试验目的，对涉及课程试验的各个试验电路板进行集成，避免了操作者在进行课程试验时难以对试验项进行控制，可更为有利进行《显示器件驱动技术》的试验设计。

作为一种优选的方式，多个用于显示器件驱动技术试验的试验模块包括用于计算led发光效率的第一模块、用于展示显示器件逐行寻址驱动技术的第二模块、用于lcd静态驱动技术的第三模块、用于lcd动态驱动技术的第四模块、用于应用字符型液晶显示屏的第五模块和用于显示全彩pmoled的第六模块。

作为一种优选的方式，第一模块包括4位七段笔段型led、用于控制4位七段笔段型led的第一控制芯片和用于测试4位七段笔段型led驱动波形的第一波形测试端，集成电路上连接有用于控制第一控制芯片的第一拨动开关和定时器。

作为一种优选的方式，第二模块包括双色8×8点阵led、用于控制双色8×8点阵led的第二控制芯片和用于测试双色8×8点阵led的行、列的驱动波形的第二波形测试端，所述集成电路上连接有用于控制第二控制芯片的第一单片机。

作为一种优选的方式，第三模块包括3¹/2位笔段型lcd、用于控制3¹/2位笔段型lcd的第二单片机和用于测试3¹/2位笔段型lcd驱动波形的第三波形测试端。

作为一种优选的方式，第四模块包括4路寻址lcd屏、用于控制4路寻址lcd屏的第四控制芯片和用于测试4路寻址lcd屏的寻址控制端驱动波形行、列的第四波形测试端，集成电路上连接有用于控制第四控制芯片的第三单片机。

作为一种优选的方式，第五模块包括lcd显示屏、第一驱动芯片、第五控制芯片和用于接收外部提取简单汉字字模指令并向第五控制芯片传输字符信号的第四单片机，第五控制芯片控制第一驱动芯片驱动lcd显示屏显示中、英文字符。

作为一种优选的方式，第五模块上设有用于烧录接收外部提取简单汉字字模指令并传输字符信号程序的编程口p1。

作为一种优选的方式，第六模块包括全彩pmoled显示屏、ssd1338驱动芯片、第六控制芯片和用于接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号传输给第六控制芯片的arm7芯片，第六控制芯片控制ssd1338驱动芯片驱动pmoled显示屏显示。

作为一种优选的方式，第六模块上设有用于烧录接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号程序的jtag接口。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

(1)本发明可实现便于操控和管理显示器件驱动技术试验目的，对涉及课程试验的各个试验电路板进行集成，避免了操作者在进行课程试验时难以对试验项进行控制，可更为有利进行《显示器件驱动技术》的试验设计；

(2)本发明通过将lcd和led的静态和动态驱动、lcd与oled显示模块的显示程序集成在一个实验箱中，便于老师在操作时有利于展示其操作步骤和有助于学生理解显示器件驱动技术，而学生有利于复制老师的试验步骤；

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

其中，1-试验箱，2-第一模块，210-4位七段笔段型led，220-第一控制芯片，230-第一波形测试端，240-第一拨动开关，250-定时器，3-第二模块,310-双色8×8点阵led，320-第二控制芯片，330-第二波形测试端，340-第一单片机，4-第三模块，410-3¹/2位笔段型lcd，420-第三控制芯片，430-第三波形测试端，440-第二单片机，5-第四模块，510-4路寻址lcd屏，520-第四控制芯片，530-第四波形测试端，540-第三单片机，6-第五模块，610-lcd显示屏，620-第一驱动芯片，630-第五控制芯片，640-第四单片机，7-第六模块,710-全彩pmoled显示屏，720-ssd1338驱动芯片，730-第六控制芯片，740-arm7芯片，8-集成电路，810-电源接口，820-编程口p1，830-jtag接口。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步的说明。本发明的实施方式包括但不限于下列实施例。

实施例1：

参见图1，一种显示器件驱动技术试验箱1，包括试验箱1，包括多个用于显示器件驱动技术试验的试验模块和用于集成多个试验模块在同一试验箱1的集成电路8，集成电路8上设有电源接口810。

在本实例中，通过电源接口810和外部电源连接，是集成电路8上有电流流通，操作集成电路8上用于显示器件驱动技术试验的试验模块，使老师在操作时有利于展示其操作步骤和有助于学生理解显示器件驱动技术，而学生有利于复制老师的试验步骤，实现便于操控和管理显示器件驱动技术试验的目的。本发明可实现便于操控和管理显示器件驱动技术试验目的，对涉及课程试验的各个试验电路板进行集成，避免了操作者在进行课程试验时难以对试验项进行控制，可更为有利进行《显示器件驱动技术》的试验设计。

参见图1，作为一种优选的方式，多个用于显示器件驱动技术试验的试验模块包括用于计算led发光效率的第一模块2、用于展示显示器件逐行寻址驱动技术的第二模块3、用于lcd静态驱动技术的第三模块4、用于lcd动态驱动技术的第四模块5、用于应用字符型液晶显示屏的第五模块6和用于显示全彩pmoled的第六模块7。

第一模块2、第二模块3、第三模块4、第四模块5、第五模块6和第六模块7分别为课程实验设计的lcd和led的静态和动态驱动，lcd与oled显示模块的显示程序设计的6项综合实验。

参见图1，作为一种优选的方式，第一模块2包括4位七段笔段型led210、用于控制4位七段笔段型led210的第一控制芯片220和用于测试4位七段笔段型led210驱动波形的第一波形测试端230，集成电路8上连接有用于控制第一控制芯片220的第一拨动开关240和定时器250。

用第一拨动开关240和定时器250控制与4位七段笔段型led210对应的第一控制芯片220，第一控制芯片220，4位七段led为8级灰度显示，通过在第一波形测试端230外接示波器对4位七段笔段型led210进行波形测试，学生可通过测试的相应波形计算led的发光效率，并能引导学生认识led是电流型驱动器件。

第一拨动开关240为八位拨动开关sw2、定时器250555，第一控制芯片220为cd4511。

参见图1，作为一种优选的方式，第二模块3包括双色8×8点阵led310、用于控制双色8×8点阵led310的第二控制芯片320和用于测试双色8×8点阵led310的行或列的驱动波形的第二波形测试端330，集成电路8上连接有用于控制第二控制芯片320的第一单片机340。

对第一单片机340编写程序，使第一单片机340控制第二控制芯片320，第二控制芯片320控制双色8×8点阵led310，第二波形测试端330包括测试双色8×8点阵led310的行的驱动波形的第二波形测试端330和测试双色8×8点阵led310的列的驱动波形的第二波形测试端330，通过分别在测试双色8×8点阵led310的行的驱动波形的第二波形测试端330和测试双色8×8点阵led310的列的驱动波形的第二波形测试端330外接示波器，使学生通过示波器观察双色8×8点阵led310行、列的驱动波形，有利于引导学生了解行、列电极功能的区别，并认识和掌握显示器件逐行寻址驱动技术。

第一单片机340为at89s52、第二控制芯片320为max7219。

参见图1，作为一种优选的方式，第三模块4包括3¹/2位笔段型lcd、用于控制3¹/2位笔段型lcd的第二单片机440和用于测试31/2位笔段型lcd驱动波形的第三波形测试端430。

对第二单片机440编写程序，第二单片机440为at89s52芯片，第二单片机440控制3¹/2位笔段型lcd410，通过第三波形测试端430外接示波器对3¹/2位笔段型lcd410进行波形测试，通过测量3¹/2位笔段型lcd410的驱动波形，掌握lcd的静态驱动技术(异或门)。

参见图1，作为一种优选的方式，第四模块5包括4路寻址lcd屏510、用于控制4路寻址lcd屏510的第四控制芯片520和用于测试4路寻址lcd屏510的寻址控制端驱动波形行、列的第四波形测试端530，集成电路8上连接有用于控制第四控制芯片520的第三单片机540。

第三单片机540为at89s52，并对第三单片机540进行编程控制后控制第四控制芯片520，第四控制芯片520为pcf8566芯片，第四控制芯片520对4路寻址lcd屏510进行控制，实现逐行扫描，最终达到显示的目的。对第四波形测试端530外接示波器从而对4路寻址lcd屏510进行波形测试，通过点阵lcd偏压法公式及极性反转方式的思考，激发学生将测试电压值与驱动波形反复思考和计算，主动理解与掌握点阵lcd与点阵led动态驱动技术的异同。

参见图1，作为一种优选的方式，第五模块6包括lcd显示屏610、第一驱动芯片620、第五控制芯片630和用于接收外部提取简单汉字字模指令并向第五控制芯片630传输字符信号的第四单片机640，第五控制芯片630控制第一驱动芯片620驱动lcd显示屏610显示中、英文字符。

对第四单片机640进行编程后，接收外部提取简单汉字字模指令并向第五控制芯片630传输字符信号，第五控制芯片630控制第一驱动芯片620驱动lcd显示屏610显示中、英文字符，英文字符可以直接显示，中文字符需要上述步骤。

第四单片机640采用at89s52芯片、第五控制芯片630采用hd44780芯片，从而实现控制lcd显示屏610。

参见图1，作为一种优选的方式，第五模块6上设有用于烧录接收外部提取简单汉字字模指令并传输字符信号程序的编程口p1820。

利用usbasp程序下载器和avrfighter软件通过编程口p1820对第四单片机640烧录程序，第四单机片基于keil软件平台编写和编译程序，leddot软件提取汉字字模，从而实现对简单汉字字模的提取。

参见图1，作为一种优选的方式，第六模块7包括全彩pmoled显示屏710、ssd1338驱动芯片720、第六控制芯片730和用于接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号传输给第六控制芯片730的arm7芯片740，第六控制芯片730控制ssd1338驱动芯片驱动pmoled显示屏显示。

对arm7芯片740进行编程后，arm7芯片740能够接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号传输给第六控制芯片730，第六控制芯片730为lpc2138芯片，第六控制芯片730控制ssd1338驱动芯片720驱动pmoled显示屏710显示。arm7芯片740和lpc2138芯片作为第六模块7的微处理器，基于基于keil软件平台和jlink仿真器调试和编译程序。

参见图1，作为一种优选的方式，第六模块7上设有用于烧录接收外部提取全彩图片数据指令并转换为数据信号程序的jtag接口830。

pc机上的程序通过jlink仿真器和jtag接口830烧录到lpc2138芯片上，即可实现红绿蓝等单色和全彩图片的目的。

本实施例的其他部分与实施例1相同，这里就不再赘述。

如上即为本发明的实施例。上述实施例以及实施例中的具体参数仅是为了清楚表述发明的验证过程，并非用以限制本发明的专利保护范围，本发明的专利保护范围仍然以其权利要求书为准，凡是运用本发明的说明书及附图内容所作的等同结构变化，同理均应包含在本发明的保护范围内。