光学采集装置、显示屏的伽马校正系统及显示校正方法与流程

本申请涉及图像显示技术领域，更具体的说，涉及一种光学采集装置、显示屏的伽马校正系统及显示校正方法。

背景技术：

为了适应人们图像采集功能的使用需求，电子设备中需要集成摄像头。对于电子设备的前置摄像头，为了降低边框区，实现全面屏设计，目前主流发展趋势是将其设置在显示面板的背面，设置为屏下摄像头。为了保证屏下摄像头能够通过显示面板感应环境光成像，与屏下摄像头相对的部分显示区与其他部分显示区存在差异性，从而导致该两部分显示区的显示亮度以及色彩也会产生差异性。

为了使得屏下摄像头相对的部分显示区与其他部分显示区的显示亮度以及色彩具有较好的一致性，需要光学采集装置对这两部分显示区进行光强信息测试，以便于基于测试结果分别获得该两部分显示区的伽马参数，以分别对该两部分显示区进行显示调整。

现有技术中，光学采集装置一般是通过一个光学探头，分别两部分显示区进行光强信息测试。由于屏下摄像头相对的部分显示区面积较小，为了避免其他区域的干扰，对其进行光强信息测量时，光学探头需要安装孔径较小的特制的小孔径皮套，导致操作复杂，调试时间长，且影响测量精度，重复性较差。

技术实现要素：

有鉴于此，本申请提供了一种光学采集装置、显示屏的伽马校正系统及显示校正方法，方案如下：

一种显示屏的光学采集装置，所述显示屏包括显示面板，所述显示面板具有第一显示区以及至少部分包围所述第一显示区的第二显示区，所述第一显示区的透光率大于所述第二显示区的透光率，所述第一显示区背离所述显示屏的显示表面的一侧具有摄像头，所述光学采集装置包括：

遮光板，所述遮光板包括：靠近所述显示屏的第一表面和背离所述显示屏的第二表面；沿所述遮光板厚度方向贯穿所述遮光板的第一光采集孔和第二光采集孔；

固定在所述第二表面上的支撑件；

安装在所述支撑件相对两侧表面上的第一光学探头和第二光学探头；

其中，采集所述显示屏的亮度信息时，所述第一光学探头朝向所述第一显示区，其光轴通过所述第一光采集孔的中心，且垂直于所述显示表面，其采光端面与所述第二表面平行；所述第二光学探头朝向所述第二显示区，其光轴通过所述第二光采集孔的中心，且垂直于所述显示表面，其采光端面与所述第一表面平行；所述第一光学采集孔在所述显示表面的垂直投影位于所述第一显示区内，所述第二光采集孔在所述显示表面的垂直投影位于所述第二显示区内。

可见，所述光学采集装置中，同时集成有用于采集第一显示区光强信息的第一光学探头和用于采集第二显示区光强信息的第二光学探头，两光学探头通过遮光板和支撑件能够同时对所述显示屏进行光强信息采集，通过第一光采集孔和第二光采集孔，可以采用相同的两光学探头，无需采用特制小孔径的皮套，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。

本申请还提供了一种显示屏的伽马校正系统，所述伽马校正系统包括：

上述光学采集装置；

主机，所述主机与所述光学采集装置中的第一光学探头以及第二光学探头分别连接，用于获取所述第一光学探头采集的所述第一显示区的第一测试光强信息和所述第二光学探头采集的所述第二显示区的第二测试光强信息，基于所述第一测试光强信息生成所述第一显示区的伽马参数，基于所述第二测试光强信息生成所述第二显示区的伽马参数，将所述第一显示区的伽马参数和所述第二显示区的伽马参数存储在显示屏的显示驱动芯片中。

可见，所述伽马校正系统采用上述光学采集装置对显示面板中第一显示区和第二显示区进行光强信息测试，所述光学采集装置中，同时集成有用于采集第一显示区光强信息的第一光学探头和用于采集第二显示区光强信息的第二光学探头，两光学探头通过遮光板和支撑件能够同时对所述显示屏进行光强信息采集，通过第一光采集孔和第二光采集孔，可以采用相同的两光学探头，无需采用特制小孔径的皮套，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。而且由于所述光学采集装置的测量精度高，故所述第一显示区和所述第二显示区各自伽马参数具有较高的精度，从而能够使得第一显示区和第二显示区中子像素在相同灰阶下，亮度和色度一致性好，提高了图像显示质量。

本申请还提供了一种基于上述伽马校正系统的显示校正方法，所述显示校正方法包括：

调整光学采集装置与显示屏的相对位置，使得遮光板的第一表面朝向所述显示屏；其中，所述光学采集装置中，第一光学探头的光轴通过所述第一光采集孔的中心，且垂直于所述遮光板，其采光端面与所述第二表面平行；第二光学探头的光轴通过第二光采集孔的中心，且垂直于所述遮光板，其采光端面与所述第一表面平行；所述第一光学采集孔在所述显示表面的垂直投影位于所述第一显示区内，所述第二光采集孔在所述显示表面的垂直投影位于所述显示屏中的第二显示区内；

固定所述显示屏，基于所述相对位置，使得所述光学采集装置垂直向所述显示屏移动，使得所述第一表面与所述显示屏的显示表面距离小于设定阈值；

通过所述第一光学探头获取所述第一显示区的第一测试光强信息，通过所述第二光学探头获取所述第二显示区的第二测试光强信息；

基于所述第一测试光强信息生成所述第一显示区的伽马参数，基于所述第二测试光强信息生成所述第二显示区的伽马参数；

将所述第一显示区的伽马参数和所述第二显示区的伽马参数存储在显示屏的显示驱动芯片中。

可见，所述显示校正方法中，通过上述伽马校正系统对显示面板中第一显示区和第二显示区进行光强信息测量，并基于测量结果，获得第一显示区和第二显示区各自的伽马参数，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。而且所述第一显示区和所述第二显示区各自伽马参数具有较高的精度，从而能够使得第一显示区和第二显示区中子像素在相同灰阶下，亮度和色度一致性好，提高了图像显示质量。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为常规光学采集装置中皮套结构示意图；

图2为一种显示屏的结构示意图；

图3为一种遮光板的结构示意图；

图4为图2所示显示屏的切面图；

图5为本申请实施例提供的一种光学采集装置的结构示意图；

图6为图5所示光学采集装置中遮光的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的一种显示屏的伽马校正系统的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的一种显示校正方法的方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请中的实施例进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为了保证屏下摄像头能够通过显示面板感应环境光成像，与屏下摄像头相对的第一显示区和第一显示区之外的第二显示区存在差异性，以使得第一显示区的透光率大于第二显示区的透光率。

但是，由于第一显示区和第二显示区中子像素排布方式不同，第一显示区中子像素排布较第二显示区稀疏，在相同的数据信号下，会使得两显示区具有明显的光学差异。故第一显示区和第二显示区需要不同的伽马参数进行显示调整，以消除显示过程中两显示区由于子像素排布方式不同带来的光学差异。

为了获得两显示区的伽马参数，需要对两显示区进行光强信息测试。但是，由于第一显示区的面积较小，常规光学探头不能用于测量其光学强度。为了解决该问题，需要为光学探头安装特制的小孔径皮套。

如图1和图2所示，图1为常规光学采集装置中皮套结构示意图，图2为一种显示屏的结构示意图。图2所示显示屏包括显示面板10。常规技术中，光学采集装置一般只采用一个光学探头对图2所示显示面板10进行光强信息测试。所述显示面板10包括第一显示区1和第二显示区2，第一显示区1下方可以设置屏下摄像头。设定第一显示区的为相临边分别为a和b的矩形。光学探头一般需要安装常规孔径的皮套(如图1右图所示)，孔径φ0，由于第一显示区1的面积较小，为了避免第二显示区2出射光线的干扰，采集第一显示区1的光强信息时，需要特制的小孔径皮套(如图1左图所示)，孔径φ1。φ1＜φ0，且φ1＜a，φ1＜b。

如果设定φ0＝10mm，φ1＝xmm，则x小于a和b，且小于10mm。则亮度转换公式：

l＝lm*φ0²/φ1²＝lm*10²/x²(1)

其中，lm为测量亮度。为了避免更换皮套，第一显示区1和第二显示区2可以均采用小孔径的皮套。进行显示校正时，光学探头可以先对第二显示区2进行亮度采集，获得第二显示区2的测量亮度，基于上述亮度转换公式，获得第二显示区2的实际亮度，基于该实际亮度，获得第二显示区2显示所需的伽马参数，写入到显示驱动芯片中。然后，将光学探头移动到第一显示区1，对位调试后，获得第一显示区1的测量亮度，基于亮度转换公式(1)，获得第一显示区1实际亮度，基于该实际亮度，获得第一显示区1显示所需的伽马参数，写入到显示驱动芯片中。显示面板实际显示时，第一显示区1和第二显示区2中子像素分别调用各自对应的伽马参数进行显示。

由于特制皮套孔径较小，其与第一显示区1的对位调试需要的对位精度高，操作复杂，影响产能，导致调试时间长。而且需要分两次采集，进一步增加了调试时间。而且小孔径的皮套影响光学探头的采光量，影响测量精度，重复性较差，第二显示区2的测量效果也会受到影响。

如图3所示，图3为一种遮光板的结构示意图，所示遮光板3中具有边长为c的矩形通孔4，且c＜a，c＜b。采用图3所示遮光板3，可以使得同一光学探头，采用图1中右图所示常规孔径配套对第一显示区1和第二显示区2进行光强测试。此时，则亮度转换公式：

l＝lm*φ0²/c²＝lm*10²/x²＝lm*10²/c²(2)

进行显示校正时，将显示面板固定放置后，将遮光板3放置于显示面板表面上，使得通孔3和第一显示区1的中心对齐，且遮光板3完全遮挡第一显示区1的边缘。利用具有常规皮套的光学探头，先对第二显示区2进行亮度采集，获得第二显示区2的测量亮度，此时第二显示区2的实际亮度的等于光学探头的测量亮度，基于该实际亮度，获得第二显示区2显示所需的伽马参数，写入到显示驱动芯片中。然后，将光学探头移动到第一显示区1，与通孔4对位调试后，获得第一显示区1的测量亮度，基于亮度转换公式(2)，获得第一显示区1实际亮度，基于该实际亮度，获得第一显示区1显示所需的伽马参数，写入到显示驱动芯片中。显示面板实际显示时，第一显示区1和第二显示区2中子像素分别调用各自对应的伽马参数进行显示。

采用图3所示遮光板，虽然避免了采用特制小孔径的皮套，但是由于需要将遮光板固定在显示面板上，每次更换显示面板，需要重新对显示面板和遮光板3进行对位调试，并需要光学探头与遮光板的重新对位调试，增加了调试操作流程，影响调试效率，同时通过一个光学探头分别对两个显示区进行光强测试，测试时间长，影响工作效率。

为了解决上述问题，本申请实施例提供了一种光学采集装置以及所述基于光学采集装置的伽马校正系统及显示校正方法，所述光学采集装置同时集成有用于采集第一显示区光强信息的第一光学探头和用于采集第二显示区光强信息的第二光学探头，两光学探头通过遮光板和支撑件能够同时对所述显示屏进行光强信息采集，通过第一光采集孔和第二光采集孔，可以采用相同的两光学探头，无需采用特制小孔径的皮套，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。

本申请实施例提供了一种显示屏的光学采集装置，所述显示面板的结构可以如图2所示。所述显示屏包括显示面板10，所述显示面板具有第一显示区1以及至少部分包围所述第一显示区1的第二显示区。图2所示方式中，以第二显示区2部分包围所述第一显示区1为例进行说明，其他方式中，也可以设置第二显示区2完全包围所述第一显示区1。

如图4所示，图4为图2所示显示屏的切面图，结合图2和图4所示，为了便于摄像3通过第一显示区1采集环境光线进行成像，设置所述第一显示区1的透光率大于所述第二显示区2的透光率，所述第一显示区1背离所述显示屏的显示表面的一侧具有摄像头3。

设置所述第一显示区1的透光率大于所述第二显示区2的透光率的方式包括下属方式中的至少一种：设置第一显示区1的分辨率小于第二显示区2的分辨率，也就是说单位面积中，第一显示区中子像素数量小于第二显示区中子像素数量，子像素排布较第二显示区稀疏；第一显示区1中薄膜晶体管(tft)外置，如设置在第二显示区2的子像素间隙或是设置在第一显示区1和第二显示区之间预留的间隔区域；将第一显示区1中子像素的像素电路进行特殊设计，以便于增加透光率，如由于第一显示区1中分辨率较低，可以采用相对于第二显示区2更为简单的像素电路。

如图5和图6所示，图5为本申请实施例提供的一种光学采集装置的结构示意图，图6为图5所示光学采集装置中遮光的结构示意图，结合图2和图4，所述光学采集装置包括：遮光板21，所述遮光板21包括：靠近所述显示屏10的第一表面211和背离所述显示屏10的第二表面212；沿所述遮光板21厚度方向贯穿所述遮光板21的第一光采集孔k1和第二光采集孔k2；固定在所述第二表面212上的支撑件22；安装在所述支撑件22相对两侧表面上的第一光学探头t1和第二光学探头t2。所述遮光板21的厚度方向为垂直于第一表面211和第二表面212的方向。图5中，两虚线圆形为两光学探头的朝向所述显示表面的端面。

其中，采集所述显示屏10的亮度信息时，所述第一光学探头t1朝向所述第一显示区1，其光轴通过所述第一光采集孔k1的中心，且垂直于所述显示表面，其采光端面与所述第二表面212平行；所述第二光学探头t2朝向所述第二显示区2，其光轴通过所述第二光采集孔k2的中心，且垂直于所述显示表面，其采光端面与所述第一表面211平行；所述第一光学采集孔k1在所述显示表面的垂直投影位于所述第一显示区1内，所述第二光采集孔k2在所述显示表面的垂直投影位于所述第二显示区2内。光采集孔的中心为其几何中心，如光采集孔为圆形，则光采集孔的中心为圆心，如光采集孔为方孔，则光采集孔的中心为矩形对角线的交点，该几何中心并非绝对的几何中心，可以存着一定的工艺和/或对位误差。

通过上述描述可知，本申请实施例所述光学采集装置中，同时集成有用于采集第一显示区1光强信息的第一光学探头t1和用于采集第二显示区2光强信息的第二光学探头t2，两光学探头通过遮光板21和支撑件22能够同时对所述显示屏10进行光强信息采集，通过第一光采集孔k1和第二光采集孔k2，可以采用相同的两光学探头，无需采用特制小孔径的皮套，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。

所述第一光学探头t1与所述第二光学探头t2可移动的安装在所述支撑件22上。所述第一光学探头t1可以单独的调节在所述支撑件22上的位置，其相对于支撑件22能够在第一方向上移动，也能够相对于支撑件22在第二方向上移动，第一方向平行于支撑件22的延伸方向，第二方向垂直于支撑件22的延伸方向。所述第二光学探头t2可以单独的调节在所述支撑件22上的位置，其相对于支撑件22能够在第一方向上移动，也能够相对于支撑件22在第二方向上移动。这样，当遮光板21和显示面板10对位固定后，通过调节两个光学探头相对于支撑件22移动，能够使得两光学探头完成与各自对应的光采集孔的对位。

如图5所示，所述第一光学探头t1通过第一连接栓231与所述支撑件22相对固定，通过调节第一连接栓231，能够使得第一光学探头t1相对于支撑件22在第一方向上和/或第二方向上移动；所述第二光学探头t2通过第二连接栓232与所述支撑件22相对固定，通经过调节第二连接栓232，能够使得第二光学探头t2相对于支撑件22在第一方向上和/或第二方向上移动。通过调节两连接栓，能够分别调节两光学探头相对于各自对应光采集孔的相对位置，完成光学探头和遮光板21的对位。

所述第一光采集孔k1与所述第一显示区1的几何图形相似，且所述第一光采集孔k1的尺寸小于所述第一显示区1的尺寸。其中，两几何图形相似为表示一个几何图形为另一个几何图形的等比例缩小或是放大。由于所述第一光采集孔k1与所述第一显示区1的几何图形相似，且所述第一光采集孔k1的尺寸小于所述第一显示区1的尺寸，在通过第一光学探头t1采集第一显示区1的光强信息时，能够避免第二显示区2的光线的干扰。

以第一显示区1为矩形为例，对应的第一光采集孔t1为相似的矩形，当对显示面板10进行显示校正时，第一光采集孔k1与第一显示区正对设置，二者几何中心在垂直于遮光板21的方向上正对重合，第一光采集孔t1的各边与第一显示区1的各边分别一一对应平行。第一光采集孔t1在显示表面的垂直投影完全位于第一显示区1内。

需要说明的是，第一光采集孔k1的形状基于第一显示区1的形状设置。第一显示区1的形状可以为矩形，则第一光采集孔k1为与之相似的矩形，第一显示区1的形状可以为圆形，则第一光采集孔k1为与之相似的圆形，第一显示区1的形状也可以为其他几何图形，如梯形或是三角形等，设置第一光采集孔k1为与之相似的几何图形即可。

所述第一显示区1为第一矩形，所述第一矩形的相邻两边长度分别为a和b；所述第一光采集孔t1为第二矩形，所述第二矩形的相邻两边长度分别为a和b；a/b＝a/b，且a＜a。这样，能够避免第二显示区2的光线的干扰。

当所述第一矩形与所述第二矩形的中心正对重合，且所述第一矩形与所述第二矩形的四边分别对应并相互平行时，所述第一矩形与所述第二矩形的相对两边的距离不大于0.5mm。也就是说，所述第二矩形在所述显示面板10的垂直投影完全位于所述第一矩形内，且该垂直投影的边缘与所述第一矩形的边缘距离不超过0.5mm。这样，这避免第二显示区2对第一显示区1光强测试干扰的同时，尽量保证第一显示区1具有较大的测试采光面积，提高其测试准确性。

所述第二光学探头t2朝向所述显示表面的一端面为第一圆形，所述第二光采集孔k2为第二圆形，所述第二圆形的直径大于所述第一圆形的直径。这样，在进行显示校正时，当将遮光板21贴合在显示表面时，能够使得第二光学探头t2伸入第二光采集孔k2，使得其端面与第一表面211齐平，以最近距离对第二显示区2进行光强测试，提高对第二显示区2光强测试的准确性。

其中，所述第二圆形的直径与所述第一圆形的直径的差值不小于2mm，以避免直接过小，导致第二光学探头t2不便于伸入第二光采集孔k2。

两个光学探头相同，故二者朝向显示面板10的端面为相同直径的圆形。进行显示校对时，遮光板21贴合在显示表面，第一光学探头t1的端面直径大于第一光采集孔k1的任意一边边长，故第一光学探头t1的端面贴合在第二表面212。设置第一光学探头t1的端面贴合在第二表面212，能够利用遮光板21的厚度以及第一光采集孔k1，避免第二显示区2出射光线入射第一光学探头t1，避免其对第一显示区1光强测试结果造成干扰。

基于上述实施例，本申请另一实施例还提供了一种显示屏的伽马校正系统，如图7所示，图7为本申请实施例提供的一种显示屏的伽马校正系统的结构示意图，结合图2和图6所示，所述伽马校正系统包括：上述实施例所述的光学采集装置；主机31，所述主机31与所述光学采集装置中的第一光学探头t1以及第二光学探头t2分别连接，用于获取所述第一光学探头t1采集的所述第一显示区1的第一测试光强信息和所述第二光学探头t2采集的所述第二显示区2的第二测试光强信息，基于所述第一测试光强信息生成所述第一显示区1的伽马参数，基于所述第二测试光强信息生成所述第二显示区2的伽马参数，将所述第一显示区1的伽马参数和所述第二显示区2的伽马参数存储在显示屏的显示驱动芯片中。

可以基于常规伽马参数计算方法分别计算两显示区的伽马参数，并将其存储在显示屏的显示驱动芯片中。目前，主流显示驱动芯片已经开发出能够基于不同显示区的数据信号，调用不同伽马参数进行显示驱动，以消除不同显示区在相同灰阶下的显示差异性。

其中，图7中虚线表示主机31和两光学探头之间通信连接，可以为有线连接或是无线连接。该伽马校正系统还包括测试平台32，用于放置待测试显示屏。进行显示校正时，显示屏水平放置于测试平台32表面，其显示面板10的显示表面朝上设置。

该测试平台32还包括可以移动支架33，支撑件22固定在可移动支架33。可以用于固定光学采集装置。可移动支架33能够在垂直方向上调节高度以及水平方向上转动。当完成一个显示屏的光强测试后，只需要通过该可以移动直接33竖直移动，将测试完的显示屏移除，更换新的待测试显示屏，即可直接对下一显示屏进行光强测试，无需重复对位。

所述主机31基于所述第一测试光强信息，获得所述第一显示区1的实际亮度信息，基于所述第二测试光强信息，获得所述第二显示区2的实际亮度信息，基于所述第一显示区的实际亮度信息生成所述第一显示区1的伽马参数，基于所述第二显示区2的实际亮度信息生成所述第二显示区的伽马参数；所述第一显示区1的实际亮度信息为l1，lm1为所述第一测试光强信息。

所述第一光采集孔k1为矩形，其相邻两个边的长度分别为a和b；所述第二光学探头朝向所述显示表面的一端为圆柱，d为所述圆柱的直径；所述第二显示区2的实际亮度信息为l2，l2＝lm2，lm2为所述第二测试光强信息。

如上述，第一显示区1的形状不局限为矩形，对于任意形状的第一显示区1，可以基于第一显示区1实际几何图形对应设置第一光采集孔k1的形状，基于第一光采集孔k1形状对应修正第一显示区1的实际亮度计算公式即可。

所述伽马校正系统采用上述光学采集装置对显示面板10中第一显示区1和第二显示区2进行光强信息测试，所述光学采集装置中，同时集成有用于采集第一显示区1光强信息的第一光学探头t1和用于采集第二显示区2光强信息的第二光学探头t2，两光学探头通过遮光板21和支撑件22能够同时对所述显示屏进行光强信息采集，通过第一光采集孔k1和第二光采集孔k2，可以采用相同的两光学探头，无需采用特制小孔径的皮套，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。而且由于所述光学采集装置的测量精度高，故所述第一显示区1和所述第二显示区2各自伽马参数具有较高的精度，从而能够使得第一显示区1和第二显示区2中子像素在相同灰阶下，亮度和色度一致性好，提高了图像显示质量。

基于上述实施例，本申请另一实施例还提供了一种伽马校正系统的显示校正方法，可以通过上述伽马校正系统执行该显示校正方法，所述显示校正方法如图8所示，图8为本申请实施例提供的一种显示校正方法的方法流程图，结合图2、图5-图7，该方法包括：

步骤s11：调整光学采集装置与显示屏的相对位置，使得遮光,21的第一表面211朝向所述显示屏。

其中，所述光学采集装置中，第一光学探头t1的光轴通过所述第一光采集孔k1的中心，且垂直于所述遮光板21，其采光端面与所述第二表面212平行，具体的，设置第一光学探头t1的采光端面和第二表面212接触；第二光学探头t2的光轴通过第二光采集孔k2的中心，且垂直于所述遮光板21，其采光端面与所述第一表面211平行，具体的第二光学探头t2的采光端面和第一表面211齐平，位于同一表面；所述第一光学采集孔k1在所述显示表面的垂直投影位于所述第一显示区1内，所述第二光采集孔k2在所述显示表面的垂直投影位于所述显示屏中的第二显示区2内。

采用上述实施例光学采集装置对显示屏的两个显示区进行光强信息测试，首次使用该光学采集装置时，只需要一次两光学探头与对应光采集孔的对位调试，当完成一个显示屏的测试后，更换其他显示屏进行测试时，更好待测试显示屏时，无需遮光板21和光学探头的重复对位调试，提高了工作效率。

步骤s12：固定所述显示屏，基于所述相对位置，使得所述光学采集装置垂直向所述显示屏移动，使得所述第一表面211与所述显示屏的显示表面距离小于设定阈值。

如上述，可以将显示屏32放置于一测试平台32上，通过测试平台上的夹具对显示屏进行定。可以通过可以移动支架33移动光学采集装置移动。其中，所述设定阈值可以为不超过一个极小值，该极小值优选为0，即第一表面211直接和显示屏的显示表面抵接。

步骤s13：通过所述第一光学探头t1获取所述第一显示区1的第一测试光强信息，通过所述第二光学探头t2获取所述第二显示区2的第二测试光强信息。

步骤s14：基于所述第一测试光强信息生成所述第一显示区1的伽马参数，基于所述第二测试光强信息生成所述第二显示区2的伽马参数。

步骤s15：将所述第一显示区1的伽马参数和所述第二显示区2的伽马参数存储在显示屏的显示驱动芯片中。

其中，基于所述第一测试光强信息，获得所述第一显示区1的实际亮度信息，基于所述第二测试光强信息，获得所述第二显示区2的实际亮度信息，基于所述第一显示区1的实际亮度信息生成所述第一显示区1的伽马参数，基于所述第二显示区2的实际亮度信息生成所述第二显示区的伽马参数；所述第一显示区1的实际亮度信息为l1，lm1为所述第一测试光强信息；所述第一光采集孔t1为矩形，其相邻两个边的长度分别为a和b；所述第二光学探头t2朝向所述显示表面的一端为圆柱，d为所述圆柱的直径；所述第二显示区2的实际亮度信息为l2，l2＝lm2，lm2为所述第二测试光强信息。

所述显示校正方法中，通过上述伽马校正系统对显示面板10中第一显示区1和第二显示区2进行光强信息测量，并基于测量结果，获得第一显示区1和第二显示区2各自的伽马参数，操作简单，调试时间短，测量精度高，重复性好。而且所述第一显示区1和所述第二显示区2各自伽马参数具有较高的精度，从而能够使得第一显示区1和第二显示区2中子像素在相同灰阶下，亮度和色度一致性好，提高了图像显示质量。

本说明书中各个实施例采用递进、或并列、或递进和并列结合的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的伽马校正系统以及显示校正方法而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见光学采集装置对应部分说明即可。

需要说明的是，在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括上述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。