专利名称：液晶显示装置的点缺陷修复方法
技术领域：
本发明涉及一种液晶显示装置的点缺陷修复方法，特别涉及能将将点缺陷 修复成正常显示点的修复方法。
背景技术：
液晶面板由众多的显示点组成，靠每个显示点上的液晶材料在电信号控制
下改变光的透过量成像的。例如，在一个分辨率为1024 x 768的液晶面板中就 有786432个显示点，在液晶显示面板阵列基板一侧，每个显示点都对应有三个 像素；在液晶显示面板彩色滤光膜基板一侧，分别对应着红R、绿G、蓝B三种 滤光单元。每个滤光单元对应的是一个像素。液晶面板中的点以及对应这些点 的驱动成分、背光成分等结构的任何一处发生问题，在这235万个液晶像素中 都会使这个像素成为一个点缺陷，点缺陷就是液晶显示板上不可修复的像素。
液晶面板上如此多的显示点，使得制造商很难完全保证没有坏点。就目前 的一般水平来看，每批生产出来的液晶板至少有20%以上的产品有点缺陷。点缺 陷分为坏点、亮点和暗点三种。坏点就是在白屏情况下为纯黑色的点或者在黑 屏下为纯白色的点。在切换至红、绿、蓝三色显示模式下此点始终在同一位置 上并且始终为纯黑色或纯白色的点。这种情况说明该像素的R、 G、 B三个子像 素点均已损坏，此类点称为坏点。在黑屏的情况下呈现的R、 G、 B(红、绿、蓝) 点叫做亮点。亮点的出现分为两种情况1、在黑屏的情况下单纯地呈现R或者 G或者B色彩的点。2、在切换至红、绿、蓝三色显示模式下，只有在R或者G 或者B中的一种显示模式下有白色点，同时在另外两种模式下均有其他色点的 情况，这种情况是在同一像素中存在两个亮点。在白屏的情况下出现非单纯R、 G、 B的色点叫做暗点。暗点的出现分为两种情况1、在切换至红、绿、蓝三色 显示模式下，在同一位置只有在R或者G或者B —种显示^t式下有黑点的情况， 这种情况表明此像素内只有一个暗点；2、在切换至红、绿、蓝三色显示模式下， 在同一位置上在R或者G或者B中的两种显示模式下都有黑点的情况，这种情 况表明此像素内有两个暗点。国际标准化组织(International Standards Organization, ISO)在2001 年制定关于液晶面板坏点的标准，其定义了4个等级的品质。第一等级(Class 1)不允许有坏点，是最高等级，最差等级是第四等级(Class 4),此第四等级 容许有10个坏点。而一般情况下，都使用的是第二等级(Class 2)这个级另" 它允许有3个坏点，但如果只有两个坏点却出现在5*5像素的范围内，同样是 不被允许的，完全可以要求经销商换货。
此外，虽然液晶显示器有3个以下的亮/坏点是在被允许的范围之内，但越 来越多的消费者不会愿意在购买液晶时去买一台有几个亮点/坏点的显示器，所 以一般有亮/坏点的液晶厂家目前很难卖掉，为了获取利益， 一些厂商不会废掉 这些液晶屏，多数情况下是将这些面板使用 一种专业设备对亮点/坏点进行处理 使之变成更容易让人接受的暗点。
现有技术的液晶面板点缺陷修复方法，主要有下面几点不足对亮点缺陷 只能修复成暗点缺陷；暗点缺陷基本不能再进行修复；难以修复连续的点缺陷， 比如把连续的亮点缺陷修复成连续的暗点缺陷还是不合规格的。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种液晶显示装置的点缺陷修复方法，通过该方 法将点缺陷修复成正常显示点。
为达到上述目的，本发明提供一种液晶显示装置的点缺陷修复方法，该液 晶显示装置若干条数据线，分别与数据线对应连接的晶体管，与晶体管连接的 像素电极，其中，该点缺陷修复方法包括以下步骤在位于点缺陷所在子像素 和该子像素相邻子像素之间涂敷一层导电条；隔断数据线与位于点缺陷所在子 像素的像素电极的连接。
本发明的另一技术方案是提供一种液晶显示装置的点缺陷修复方法，该液 晶显示装置若干条数据线，分别与数据线对应连接的晶体管，与晶体管连接的 像素电极，穿过像素电极的修复线，其中，该点缺陷修复方法包括以下步骤 利用激光束分别在修复线与点缺陷所在的子像素的像素电极交叉处打点进行电 位连接；隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接。
本发明由于采用了上述的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点
5和积极效果本发明的液晶显示装置的点缺陷修复方法将亮点、暗点缺陷修复 成正常显示点，且能同时完成多个点缺陷修复。
图1为本发明点缺陷修复方法第一实施例示意图； 图2为本发明点缺陷修复方法第二实施例示意图； 图3为本发明点缺陷修复方法第三实施例示意图。
具体实施例方式
以下将结合附图对本发明液晶显示装置的点缺陷修复方法作进一步的详细 描述。
图1为本发明点缺陷修复方法第一实施例示意图。在图1中，液晶面板的 显示区域有许多的显示单元组成，每个显示单元是由红、绿、蓝三个子像素al、 a2、 a3组成，每个子像素由像素电极Pl、 P2、 P3,存储电容C1、 C2、 C3,晶体 管Tl、 T2、 T3以及连接晶体管栅极的扫描线Sl和连接在晶体管源极的数据线 Dl、 D2、 D3构成。存储电容C1、 C2、 C3分别连接着公共电极线Bl和像素电极 Pl、 P2、 P3。
在液晶面板阵列工程的后期，也就是在完成透明导电层图形的处理后，可 以通过自动外观检查等操作，检查出阵列基板显示区域内存在点缺陷。如果具 有像素电极P2的子像素a2出现了点缺陷，这个子像素的像素电极与对向公共 电极之间形成的电压差要么是一个固定的黑态电压，要么是一个固定的白态电 压。总之，这个子像素的像素电压状态使这个子像素呈现为一个点缺陷。
采用本发明所提供的点缺陷修复方法，可以利用相邻两个正常的子像素来 修复点缺陷。具体方法如下在通过自动外观检查等方式检查出具有点缺陷的 子像素a2后，利用化学气相沉积方法(Chemical Vapor Deposition, CVD)在子 像素al和子像素a2的像素电极之间涂敷一层导电条El，通过导电条使得子像 素al和子像素a2的像素电极保持同等电位，都呈现子像素al的正常电位。然 后，继续阵列工程后面的工艺，在形成液晶面板并完成面板显示检查后，找到 有点缺陷的子像素a2。如图1中的箭头所示，把点缺陷所在的子像素a2的晶体管进行切断处理，通过激光束切断晶体管T2的漏极或者晶体管T2的源极，就 是切断相邻数据线上的信号对这个子像素的影响。这样，具有点缺陷的子像素 aZ就和子像素al—样正常显示，只是显示电压的极性不再是正负相间，而是呈 同一种;f及性电压。
图2为本发明点缺陷修复方法第二实施例示意图。如图2所示，作为CVD 生成导电条的代替设计，可以沿着穿过每一行像素电极设计一条修复线Rl。当 需要对具有点缺陷的子像素a2进行修复时，就用激光束分别在^^复线Rl与点 缺陷所在的子像素a2的像素电极P2交叉处H2打点进行电位连接，同时，在修 复线Rl与相邻正常子像素al的像素电极Pl交叉处Hl打点进行电位连接。所 用的修复线材料可以是各种导电材料。
除了上述用同一行的子像素来带动点缺陷子像素之外，还可以用同一列的 正常子像素来带动相邻的点缺陷子像素，基于这种由纵向正常子像素带动点缺 陷子像素的修复原理，可以推广到对连续2个以及2个以上的点缺陷的修复。
图3为本发明点缺陷修复方法第三实施例示意图。如图3所示，为本发明。 当显示区域中出现两个具有点缺陷的相邻子像素a2、 a3时，可以利用CVD方法 在子像素al和子像素a2的像素电极之间涂敷一层导电条E2,以及子像素a2和 子像素a3的像素电极之间涂敷一层导电条E3。通过导电条E2和导电条E3使得 子像素al、子像素a2和子像素a3的像素电极保持同等电位。然后，继续后面 的工艺。在形成面板并完成面板显示检查后，找到点缺陷的子像素a2、 a3,将 具有点缺陷的子像素a2、 a3的晶体管T2、 T3进行切断处理，通过激光束切断 晶体管T2、 T3的漏极或者晶体管T2的源极，切断相邻数据线D2、 D3上的信号 对这个子像素a2、 a3的影响。当然上述实施例中也可以采用修复线的方法进行 修复。
以上介绍的仅仅是基于本发明的较佳实施例，并不能以此来限定本发明的范 围。任何对本发明的测量装置作本技术领域内熟知的步骤的替换、组合、分立， 以及对本发明实施步骤作本技术领域内熟知的等同改变或替换均不超出本发明 的揭露以及保护范围。
权利要求
1. 一种液晶显示装置的点缺陷修复方法，该液晶显示装置若干条数据线，分别与数据线对应连接的晶体管，与晶体管连接的像素电极，其特征在于，该点缺陷修复方法包括以下步骤在位于点缺陷所在子像素和该子像素相邻子像素之间涂敷一层导电条；隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接。
2. 如权利要求1所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述涂敷的导电条分别与点缺陷所在子像素和所述子像素相邻子像素的像素电极 连接。
3. 如权利要求1所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述点缺陷所在子像素相邻的子像素为正常显示的子像素。
4. 如权利要求1所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述点缺陷所在子像素相邻的子像素为也具有点缺陷的子像素时，点缺陷所在子 像素的另一端和该子像素相邻子像素之间涂敷另一层导电条，并隔断数据线与 位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接。
5. 如权利要求1所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接步骤是通过激光束切 断点缺陷所在子像素中晶体管的漏极完成的。
6. 如权利要求1所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接步骤是通过激光束切 断点缺陷所在子像素中晶体管的源极完成的。
7. —种液晶显示装置的点缺陷修复方法，该液晶显示装置若干条数据线， 分别与数据线对应连接的晶体管，与晶体管连接的像素电极，穿过像素电极的 修复线，其特征在于，该点缺陷修复方法包括以下步骤利用激光束分别在修复线与点缺陷所在的子像素的像素电极交叉处打点进 行电位连接；隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接。
8. 如权利要求7所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述点缺陷所在子像素相邻的子像素为正常显示的子像素。
9. 如权利要求7所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于，所 述点缺陷所在子像素相邻的子像素为也具有点缺陷的子像素时，点缺陷所在子 像素的另一端和该子像素相邻子像素之间涂敷另一层导电条，并隔断数据线与 位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接。
10. 如权利要求7所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于， 所述隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接步骤是通过激光束 切断点缺陷所在子像素中晶体管的漏极完成的。
11. 如权利要求7所述的液晶显示装置的点缺陷修复方法，其特征在于， 所述隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接步骤是通过激光束 切断点缺陷所在子像素中晶体管的源极完成的。
全文摘要
本发明涉及一种液晶显示装置的点缺陷修复方法，该液晶显示装置若干条数据线，分别与数据线对应连接的晶体管，与晶体管连接的像素电极，其中，该点缺陷修复方法包括以下步骤在位于点缺陷所在子像素和该子像素相邻子像素之间涂敷一层导电条；隔断数据线与位于点缺陷所在子像素的像素电极的连接。本发明的点缺陷修复方法能将亮点、暗点缺陷修复成正常显示点，且能同时完成多个点缺陷修复。
文档编号G02F1/1362GK101424792SQ200710047728
公开日2009年5月6日 申请日期2007年11月2日 优先权日2007年11月2日
发明者马群刚 申请人:上海广电Nec液晶显示器有限公司