专利名称：一种液晶显示模块测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶显示模块的测试，尤其涉及一种液晶显示模块的测试 系统。 背景技术：
液晶显示;f莫块(LCD Module,简称LCM)是一种将液晶显示器件、连接件、 集成件、集成电路、FPC、背光源和结构件装配在一起的组件，TFT屏的驱动芯 片一般有系统接口工作模式、RGB Interface模式即三原色工作模式和VSYNC Interface模式即高速工作模式；CSTN屏的驱动芯片没有RGB Interface模式。 一般液晶显示模块的测试系统在每次对程序进行调试的时候，改写后的程序还 必须将保存单片机目标程序代码的服X文件烧写入单片机芯片，操作步骤多， 效率低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种釆用JTAG接口以实现全速、非侵入式的在 系统调试的液晶显示模块的测试系统。
本实用新型是这样实现的， 一种液晶显示模块测试系统，所述测试系统包
括
PC机、驱动被测试LCM工作的测试控制电路、JTAG接口 、电源模块和串行 适配器，所述PC^L通过所述串行适配器与所述JTAG"J妄口相连，所述JTAG"J妻口 与所述测试控制电路相连，所述电源模块与所述测试控制电路和串行适配器相 连，为所述测试控制电路和所述串行适配器提供工作电源。本实用新型提供的液晶显示模块测试系统利用串行适配器和HAG接口支 持系统非侵入式(不占用片内资源)、全速、在系统调试。该测试系统支持观察 和修改存储器和寄存器，支持断点、单步、运行和停机命令。在使用JTAG调 试时，所有的模拟和数字外设都可全功能运行。
图1是本实用新型第一实施例提供的液晶显示模块测试系统的结构图2是本实用新型第一实施例提供的测试控制电路结构图3是本实用新型第二实施例提供的测试控制电路结构图4是本实用新型第三实施例提供的测试控制电路结构图5是图3和图4中FLASH存储器的电路图6是本实用新型实施例提供的电源转换电路的电路图7是图2、图3和图4中的复位电路图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图 及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体 实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1和图2示出了本实用新型提供的液晶显示模块测试系统的结构图和测试 控制电路结构图，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。
该液晶显示模块测试系统包括PC机1、与PC机连接的串行适配器2、电源 模块3、 JTAG接口 12和与串行适配器连接的测试控制电路4，该PC机1设有 能识别测试控制电路2的驱动程序，并提供应用程序编程接口 API函数给应用 软件调用，电源模块3与测试控制电路4连接，由电源模块3为测试控制电路 4提供电源，JTAG接口 12与串行适配器2的输出端相连，PC机1输出的信号 通过串口线与串行适配器相连，串行适配器2将RS-232标准转化为JTAG标准，
4以便与测试控制电路通信。
测试控制电路4包括微控制器MCU6，以及分别与微控制器MCU6相连的连 接器、时钟电3各以及复位电路，其中微控制器MCU6 MCU6采用Silicon Laboratories公司的C8051F1系列单片机，
其采用Silicon Lab的是CIP—51微控制器内核,CIP—51与MCS—51TM指 令完全兼容，可以使用标准803x/805x的汇编器和编译器进行软件开发，CIP 一51采用流水线结果，其指令执行速度有很大的提高。CIP—51工作在最大系 统时钟频率100MHz时，MCU的峰值性能达到IOOMIPS。通过对MCU内部PLL (锁 相回路)的不同配置，达到LCD驱动芯片的设计要求能够正常工作速度。
如图3所示，测试控制电路4还包括FLASH存储器10，所述FLASH存储器 IO与所述连接器相连，所述连接器与测试LCM接口相连，FLASH存储器和电源 模块相连，由电源模块3为FLASH存储器提供电源。对PC机1通过串行适配器 传送至孩i控制器MCU6的数据进行解码，对应不同的LCM5以及LCM5的不同工作 模式分别形成相应的数据格式驱动LCM5，在LCD屏上显示相应格式的图片，利 用FLASH存储器来事先存储大量的图片数据，可以在LCD屏上进行不同图片的 显示，提高了整个系统的内存。
如图4所示，测试控制电路还包括检测模块11，检测模块11与微控制器 MCU6相连，实时检测整个系统的工作情况，检测模块ll，控制VDD监视器，当 电源■小于VRST时强制系统复位。
图5示出了 FLASH存储器的电路图，F^ASH存储器采用了 SUMSAUG公司出品 的型号为K9F1208UOC芯片，它是一款64M*8 Bit NAND FLASH存储器Memory, 其64M的存储空间可以存储多幅图片的显示，其可以存储大量的数据，图片数 据就可以事先存储到FLASH存储器中，通过Silicon Laboratories IDE集成开 发环境，实现对FLASH存储器的控制，这样就可以显示整屏的图象和显示多幅 图象。
由用户通过PC机1上的应用软件将被测试LCM6的初始化值输送至LCM5的LCD驱动芯片的相应寄存器中，使其初始化。
微控制器MCU6通过JTAG接口识别PC机1为默认设备后，自动从IDE集成 开发环境中下载程序，其通过初始化函数完成微控制器MCU6的初始化，还通过
输出函数建立传输方式。
将微控制器MCU6片内包括P0TR 1/0口，将P0TR 1/0口连接到连接器上， 并对I/O脚配置上拉电阻，把POTR I/O 口设置为开漏方式，实现对LCD驱动 I/O 口不同电压情况的测试，同时，所有的POTR I/O 口都连接到连接器，提供 了足够的I/O对LCD驱动进行控制。
其中电源模块3包括电源接口和电源转换电路，电源接口外接电源，电 源转换电路与电源接口相连，将外接电源转换成工作电压，图6示出了电源转 换电路的电路图。
其中电源转换电路采用NIKO-SEM公司出品的型号是AZ1117的降压稳压， 它将外接的5V电压降压为所需要的工作电压3. 3V。
图7示出了复位电路的电路图，微控制器MCU6的复位电路进行低电平复位， 并采用了按键复位方式，然后通过向PC机1枚举，识别PC机1为Silicon Laboratories公司的默认设备，并且从IDE集成开发环境中下载软件，微控制 器MCU6开始运行软件，测试控制电路4重新枚举，是PC机1操作装置重新识 别为用户定义的设备，重新加载用户自定义的驱动程序。
在无数据传输时，微控制器MCU6进入挂起状态，以减少测试控制电路4 的损耗，有数据传输时，微控制器MCU6通过时钟电路经过一段振荡时间，恢复 到正常的工作状态，在应用时我们可以选择使用外部振荡器，也可以使用内部 振荡器，外部振荡器通过使用晶振和电容连接的电路产生时钟。
微控制器MCU6有64个通用I/O 口，每个I/O 口被配置为推挽或漏极开漏 输出，通过这些I/O 口直接与FPC端的数据口和控制信号口相连接，实现对LCM5 的控制，实现可测试多种LCM的工作;漠式。微控制器MCU6包括JTAG边界扫描电路和调试电3各，通过JTAG接口进行 非侵入式、全速的在线系统调试，Silicon Lab的调试系统支持观察和修改存 储器和寄存器，支持断点、观察点、堆栈指示器和单步执行，不需要额外的目 标RAM、程序存储器、定时器和通信通道。
本具体实施方式
的工作过程如下
首先将本系统的测试系统中测试控制电路4的数据接口 、控制接口分别与 被测试的LCM5的数据接口、控制接口相连接，再将测试控制电路4通过JTAG 接口接至串行适配器，串行适配器与PC机相连，电源模块向串行适配器和测试 控制电^各供电，由JTAG接口向测试控制电路传送数据，测试控制电路4在上电 的瞬间完成设备的枚举。PC机1上的操作装置自动识别、加载驱动，完成软件 与测试控制电路通信的物理连接及通信协议的连接。
接着运行PC机的应用软件，应用软件先查找相应的设备，在局部完成对设 备的再识别并获得设备的句柄，接着由用户通过PC机上的应用软件将被测试 LCM5的初始化值输送至LCM5的LCD驱动芯片的相应寄存器中，使其初始化， 并选择LCD驱动芯片的工作模式以及待测试的技术参数。
应用软件将文件转换成LCM5要求的文件，在PC机上显示，由用户决定选 择是否将数据传送至LCM5，如果选择是，数据通过PC机的JTAG接口传送至测 试控制电路4，再经测试控制电路处理传送至与LCD驱动器芯片连接的接口， 控制LCM5的LCD驱动芯片，在LCD屏上同步显示文件，用户可以与PC机上的 文件进行对比。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型， 凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应 包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1、一种液晶显示模块测试系统，其特征在于，包括PC机、驱动被测试LCM工作的测试控制电路、JTAG接口、电源模块和串行适配器，所述PC机通过所述串行适配器与所述JTAG接口相连，所述JTAG接口与所述测试控制电路相连，所述电源模块与所述测试控制电路和串行适配器相连，为所述测试控制电路和所述串行适配器提供工作电源。
2、 如权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于，所述测试控制电路包括微控制器以及分别与所述微控制器相连的连接器、时钟电路以及复位电路，所述连接器与测试LCM相连，所述JTAG接口与所述^f敖控制器相连。
3、 如权利要求2所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于，所述测试控制电路还包括FLASH存储器，所述FLASH存储器与所述连接器相连。
4、 如权利要求3所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于，所述测试控制电路还包括检测模块，所述检测模块与所述微控制器相连，实时检测整个系统的工作状态。
5、如权利要求1所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于所述电源模块包括电源接口和电源转换电路，所述电源接口外接电源，所述电源转换电路与所述电源接口相连，将外接电源转换成工作电压。
6、 如权利要求1至5任一项所述的液晶显示模块测试系统，其特征在于所述微控制器带有与被测试LCM接口对应相连的I/O 口 ，所述I/O 口为推挽方式或者漏极开漏输出方式。
7、 如权利要求7所ii的液晶显示模块测试系统，其特征在于所迷微控制器包括JTAG边界扫描电路和调试电路。
专利摘要本实用新型提供了一种液晶显示模块测试系统，PC机、驱动被测试LCM工作的测试控制电路、JTAG接口、电源模块和串行适配器，所述PC机通过所述串行适配器与所述JTAG接口相连，所述JTAG接口与所述测试控制电路相连，所述电源模块与所述测试控制电路和串行适配器相连，为所述测试控制电路和所述串行适配器提供工作电源，该液晶显示模块测试系统利用串行适配器和JTAG接口支持系统非侵入式(不占用片内资源)、全速、在系统调试。该测试系统支持观察和修改存储器和寄存器，支持断点、单步、运行和停机命令。在使用JTAG调试时，所有的模拟和数字外设都可全功能运行。
文档编号G02F1/13GK201266286SQ200820146930
公开日2009年7月1日 申请日期2008年8月23日 优先权日2008年8月23日
发明者于海涛, 何志强, 卫 冯, 云 杨, 夺 龚 申请人:比亚迪股份有限公司