专利名称：一种用于测试的彩色滤光片的制作方法
技术领域：
本发明涉及液晶显示面板领域，尤其涉及液晶显示面板中的用于测试的彩色滤光 片。
背景技术：
近年来，液晶显示装置不仅在信息通信设备，而且在一般的电器设备上都得到了 广泛的应用，普及迅速。液晶显示面板一般由像素电极基板和彩色滤光片构成。在彩色滤光片上包含彩色滤光层和遮光图案层。彩色滤光层包括多个红色滤光单 元、多个绿色滤光单元和多个蓝色滤光单元，三种单元以阵列形式平均地分布。遮光图案层 用来间隔红色滤光单元、绿色滤光单元和蓝色滤光单元。像素电极基板上设置有像素电极 阵列，各个像素电极在位置上与彩色滤光片上的各个滤光单元相对应。在彩色滤光片与像 素电极基板之间注入液晶后，形成液晶显示面板。遮光图案层在间隔各滤光单元时，与滤光单元有重叠部分。该重叠部分与周围部 分相比有明显的突起，而这种突起是导致液晶配向状态混乱的原因之一。由于此突起量 (突起高度)成为影响液晶显示面板品质的重要因素，因此，在研发和生产时需要对其进行 严格的管控。遮光图案层与滤光单元重叠部分的突起量与遮光图案层的膜厚和重叠量有关。一 般，重叠量增大，突起量也随之增大；反之，重叠量减小，突起最也随时减小。但重叠量过小， 容易引起漏光现象。另外，突起量还与工艺条件、材料等有关。因此，为了能控制该突起量， 以提高显示器的品质，在研发和生产过程中，需要经常观测各色滤光单元与遮光图案层之 间重叠量与突起量之间的相互关系(相关系数)，这是彩色滤光片品质管理的重要内容。为了测得该相关系数，在目前的工艺中，一般在形成红色滤光单元、绿色滤光单元 和蓝色滤光单元的曝光工序中，特意偏移光罩的对位量，制作出重叠量连续变化的多块基 板，然后对重叠量不同的多块基板进行测量，获得各色滤光单元与遮光图案层之间重叠量 与突起量之间的相关系数。但是，传统的这种方法需要制作多块基板，其成本较高。另一方面，进行测量时，需 要替换好几块基板进行测试，完成测试所需要的时间较多。再一方面，由于曝光工序中，光 罩对痊时的控制存在一定的不稳定性，因此，有时得到不与设想一致重叠量的差值，造成测 试数据的不正确。
发明内容
基于上述背景技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种用于测试的彩色滤光 片，在本发明中，只需要一块基板，即可完成对各色滤光层与遮光图案层之间重叠量与突起 量之间的相关系数。根据上述目的，本发明提供的用于测试的彩色滤光片包括透明基板、设置在所述 透明基板上的多个彩色滤光层和设置在所述透明基板上的多个遮光图案层，多个所述彩色滤光层与多个所述遮光图案层相互重叠形成多个重叠部分，其特征在于，所述重叠部分的
重叠量不一致。在上述的彩色滤光片中，所述重叠量的范围为1-30μπι。在上述的彩色滤光片中，所述重叠量的范围为3_15μπι。在上述的彩色滤光片中，所述重叠量的差值以Iym为间隔。在上述的彩色滤光片中，所述彩色滤光层与所述遮光图案层呈格式状排列在上述的彩色滤光片中，所述遮光图案层与所述彩色滤光层设置在透明基板的空 白区。
图IA示出了本发明的用于测试的彩色滤光片的结构示意图。图IB示出了图IA所示的彩色滤光片的俯视图。图2示出了整张基板的示意图。
具体实施例方式图IA示出了本发明的用于测试的彩色滤光片的结构示意图，图IB示出了该彩色 滤光片的俯视图。请同时参见图IA和图1Β，彩色滤光片包括透明基板d，在透明基板d上 设置有遮光图案层al、a2、a3、a4...和彩色滤光层bl、b2、b3...。遮光图案层al、a2、a3、 a4...与彩色滤光层al、a2、a3、a4...相互之间有重叠部分cl、c2、c3...。即，彩色滤光层 bl与遮光图案层al与a2重叠，形成两个重叠部分cl ；彩色滤光层b2与遮光图案层a2与 a3重叠，形成两个重叠部分c2 ；彩色滤光层b3与遮光图案层a2与a3重叠，形成两个重叠 部分c3。虽然在图IA和图IB的实施例中，仅示出3列彩色滤光层，但可以理解，彩色滤光 层的数量可以根据需要而定，图IA和图IB彩色滤光层的数量仅为了说明和解释本发明而 已。在本发明中，将彩色滤光层与遮光图案层相互重叠的重叠量的大小设置成不一 致。即(31、(32、(3...宽度设置成不一致。如果即可在一块基板上同时制作出具有各种重叠 量的彩色滤光层与遮光图案层，从而只需要一块基板，即可完成对各色滤光层与遮光图案 层之间重叠量与突起量之间的相关系数。在本发明的实施例中，该重叠量的范围较佳地为1_30μπι，对于不同的应用需求， 更佳地，该范围为3-15 μ m。较佳地，不同重叠部分的重叠量的差值以Iym为间隔。再请参见图IA和图1B，尤其是图1B，一般情况下，如背景技术中所述，彩色滤光层 分为三种，即红色滤光层、绿色滤光层和蓝色滤光层。图IB中的第1行示出了红色滤光层 的结构，第2行示出了绿色滤光层的结构，第3行示出了蓝色滤光层的结构，从第4行起重 复上述的结构。各种颜色的滤光层的结构基本相同。因此，从俯视图上看，彩色滤光层与遮 光图案层呈格式状排列。但应当理解，格式状排列并非是本发明所必需的，本领域中已应用 的其它形状的排列方式也可以在本发明中使用。图2示出了整张基板的示意图。在一张透明基板上，可以布置多个显示区，每个显 示区之间为空白区。在本发明中，可以把上述测度用的彩色滤光层b和遮光图案层a设置 在该空白区中。如果设置的优点在于1)不影响显示区的图形，可以出货给客户。2)不影响其他特性的测量，如色度膜厚等其他评价项目是需要测量显示区的。
本发明的技术效果在传统技术中，为了获得多种测试数据，需要制作5-10张彩 色滤光片，然后将这些基板进行切割取样和测试，这使得试验分析成本很高。另外测量时， 每次只能测得一个数据，测量时间很长，大概需要1天才能把所有样品测量完成。而使用本 发明的彩色滤光片，只需要一张基板，就可以聚焦所需要的重叠量。测量时，一次测量就可 以获得所需数据，不仅大大降低了基板的成本，而且将测量时间缩短至了 1个小时左右。
权利要求
一种用于测试的彩色滤光片包括透明基板、设置在所述透明基板上的多个彩色滤光层和设置在所述透明基板上的多个遮光图案层，多个所述彩色滤光层与多个所述遮光图案层相互重叠形成多个重叠部分，其特征在于，所述重叠部分的重叠量不一致。
2.如权利要求1所述的彩色滤光片，其特征在于，所述重叠量的范围为1_30μπι。
3.如权利要求2所述的彩色滤光片，其特征在于，所述重叠量的范围为3-15μ m。
4.如权利要求2或3所述的彩色滤光片，其特征在于，所述重叠量的差值以Ιμπι为间隔。
5.如权利要求1或2或3所述的彩色滤光片，其特征在于，所述彩色滤光层与所述遮光 图案层呈格式状排列。
6.如权利要求1或2或3所述的彩色滤光片，其特征在于，所述遮光图案层与所述彩色 滤光层设置在透明基板的空白区。
全文摘要
本发明涉及一种用于测试的彩色滤光片，包括透明基板、设置在所述透明基板上的多个彩色滤光层和设置在所述透明基板上的多个遮光图案层，多个所述彩色滤光层与多个所述遮光图案层相互重叠形成多个重叠部分，所述重叠部分的重叠量不一致。重叠量的范围为1-30μm。本发明的应用可以大大降低了测量的成本和缩短了测量时间。
文档编号G02B5/20GK101995597SQ20091005642
公开日2011年3月30日 申请日期2009年8月14日 优先权日2009年8月14日
发明者唐文静, 王菁晶, 金子若彦, 陈颖明 申请人:上海广电富士光电材料有限公司