专利名称：一种显示面板和显示装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种显示面板，尤其涉及一种能够检测短路不良的显示面板。
背景技术：
显示面板基于其低电压、辐射小、重量轻以及体积小等优点现越来越被大众所接受。而对于显示面板设计及制作者来说，期望的是制作出高质量、低成本、少瑕疵的产品。显示面板的外围电路常因需节省空间或其他因素，需要对外围电路路径做最佳设置。而无论外围电路如何变化，作为显示面板有两部分必不可少，一部分是连接集成电路(IC)与像素区域的周边布线区域，其功能是将IC输出的信号传入像素区域，使显示面板正常显示画面；另一部分是显示画面区域的像素区域。只要这两部分中的任何一部分发生断路或短路，显示面板显示就会出现线状不良，需维修人员以寸动方式，沿该线状不良从IC处一直移动到像素区域末端，来寻找该缺陷点进行修复。而现有的不良点的寻找方式速度有限，严重增加人力成本，浪费产能；长时间的寻找易造成维修人员的疲劳，降低缺陷点的搜寻效率。随着工艺的发展以及市场的需求，现在显示面板逐渐向窄、薄、轻方向发展；这对面板内部线路的要求越来越严格，为了实现窄边框，需要线路尽可能的细，间距尽可能的小。随着线路的变细，间距变小，面板内部发生短路与断路的可能性随之增加，此时对于短路与断路的定位与维修就十分重要。对于断路，已有很多方法，而对于短路不良的判定，为数不多。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种显示面板，采用该显示面板设计能够准确地、快速的检测出是否有短路和断路不良，及发生不良的具体位置。为此，本发明提供了一种显示面板，包括像素区域和周边布线区域，其特征在于，所述像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，所述检测开关与像素区域的栅线和/或数据线一一对应，所述检测开关用于控制像素区域和周边布线区域的连接与断开。优选地，所述检测开关包括第一薄膜晶体管，所述周边布线区域为栅线布线区域，所述第一薄膜晶体管的栅极与第一外接控制信号连接，所述第一薄膜晶体管的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的栅线连接。优选地，所述显示面板还包括设置在显示面板与第一薄膜晶体管相对的一侧的第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第三薄膜晶体管的源极与第三外接信号线连接，所述第三薄膜晶体管的漏极与奇数行栅线连接；所述第四薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第四薄膜晶体管的源极与第四外接信号线连接，所述第四薄膜晶体管的漏极与偶数行栅线连接。优选地，所述检测开关包括第二薄膜晶体管，所述周边布线区域为数据线布线区域，所述第二薄膜晶体管的栅极与第二外接控制信号连接，所述第二薄膜晶体管的源极与所述数据线布线区的信号线连接，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的数据线连接。优选地，所述显示面板还包括设置在显示面板与所述第二薄膜晶体管相对的一侧的第五薄膜晶体管和第六薄膜晶体管，所述第五薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第五薄膜晶体管的源极与所述第五外接信号线连接，所述第五薄膜晶体管的漏极与奇数行数据线连接；所述第六薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第六薄膜晶体管的源极与所述第六外接信号线连接，所述第六薄膜晶体管的漏极与所述偶数行数据线连接。优选地，所述检测开关包括第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，以及所述周边布线区域包括栅线布线区域和数据线布线区域；第一薄膜晶体管的栅极与第一外接控制信号连接，第一薄膜晶体管的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，第一薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的栅线连接；以及第二薄膜晶体管的栅极与第二外接控制信号连接，第二薄膜晶体管的源极与所述数据线布线区的信号线连接，第二薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的数据线连接。优选地，所述显示面板还包括:设置在显示面板与检测开关相对的一侧的第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管、设置在显示面板与所述第二薄膜晶体管相对的一侧的第五薄膜晶体管和第六薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第三薄膜晶体管的源极与第三外接信号线连接，所述第三薄膜晶体管的漏极与奇数行栅线连接；所述第四薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第四薄膜晶体管的栅极与第四外接信号线连接，所述第四薄膜晶体管的漏极与偶数行栅线连接；所述第五薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第五薄膜晶体管的源极与所述第五外接信号线连接，所述第五薄膜晶体管的漏极与奇数行数据线连接；所述第六薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第六薄膜晶体管的源极与所述第六外接信号线连接，所述第六薄膜晶体管的漏极与所述偶数行数据线连接。本发明还提供了 一种显示装置，其包括上述的显示面板。本发明提供的显示面板，通过在像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，控制像素区域和周边布线区域的连接与断开，通过观察在连接和断开情况下奇数行/列和与其相邻偶数行/列像素的显示来判断是否有断路/短路不良的发生和不良发生的具体位置。
通过结合附图的以下描述，将会更容易地理解本发明并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中:图1示出了根据本发明第一实施例的显示面板的构造的示意图；图2示出了根据本发明第二实施例的显示面板的构造的示意图；以及图3示出了根据本发明第三实施例的显示面板的构造的示意图。
具体实施例方式为了使本发明的内容更加清楚和易于理解，下面结合附图对本发明的具体实施例进行详细描述。在本发明中，以示例方式，对本发明提出的显示面板进行了说明，但是本发明不限于所公开的优选实施例的具体形式。所属领域的技术人员可以根据本发明公开的内容对本发明进行修改和变型，这些修改和变型也应当属于由权利要求限定的本发明保护的范围。本发明提供的一种显示面板，包括像素区域和周边布线区域，像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，检测开关与像素区域的栅线一一对应，所述检测开关用于控制像素区域和周边布线区域的连接与断开。具体地，检测开关包括第一薄膜晶体管，第一薄膜晶体管的栅极与第一外接控制信号连接，第一薄膜晶体管的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的栅线连接。图1示出了根据本发明第一实施例的显示面板100的构造的示意图。如图1所示，根据本发明第一实施例的显示面板100包括处于中央的像素区域A、像素区域A外部的周边布线区域(包括栅线布线区域5和数据线布线区域9)、像素区域A内的数据线10和栅线11、短路环14、栅极数据线防静电电路6和线路图案(pattern on line, PLG)8。其中，像素区域A内的数据线10和栅线11分别与周边布线区域内的栅线布线区域5和数据线布线区域9的信号线连接。在显示面板100上还设置了共用电极布线7。短路环14和与其相连防静电电路6是用于防止显示面板制造过程中产生的静电而设置在显示面板的像素区域边缘的短路图形，其与本发明提出的利用在像素区域和周边布线区域之间设置的检测开关来对短路/断路进行检测的发明思想无关，在此不进行详细描述。为了使得本发明的显示面板能够进行开关式检测从而对显示面板100上的线路问题进行检测，在本发明第一实施例中的显示面板100上还设置了第一薄膜晶体管12、第三薄膜晶体管3、第四薄膜晶体管4。其中，第一薄膜晶体管12的栅极与第一外接信号线GS连接，第一薄膜晶体管12的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，所述第一薄膜晶体管12的漏极与所述像素区域的栅线连接。第三薄膜晶体管3和第四薄膜晶体管4设置在显示面板100上，且设置在与第一薄膜晶体管12相对的一侧，第三薄膜晶体管3的栅极与评估指示信号端子EN连接，第三薄膜晶体管3的源极与第三外接信号线GE连接，第三薄膜晶体管3的漏极与奇数行栅线连接；第四薄膜晶体管4的栅极与评估指示信号端子EN连接，所述第四薄膜晶体管4的源极与第四外接信号线GO连接，所述第四薄膜晶体管4的漏极与偶数行栅线连接。应用本显示面板进行检测的过程具体如下:第一步:检测显示面板中是否有短路/断路不良；具体过程为:1、给第一外接信号线GS施加信号，使第一薄膜晶体管12导通；2、给评估指示信号端子EN施加信号，使第三薄膜晶体管3和第四薄膜晶体管4导通；3、给第三外接信号线GE和第四外接信号线GO交替施加脉冲信号，观察是否有相邻两行像素单元同时显示的现象或施加信号的对应行是否有不能正常显示的像素单元。例如:在给第三行像素单元施加信号使第三行像素单元显示的同时，第四行像素是否与第三行同时显示，如同时显示，说明这相邻的两行像素有短路，如相邻两行像素单元与第三外接信号线GE和第四外接信号线GO同频率交替显示，则说明该相邻两行像素没有短路。或在给第三行像素单元施加信号使第三行像素单元显示时，第三行像素单元中有一个或多个像素单元不能正常显示，则说明有断路存在。如为断路情况，则对不能正常显示的像素进行扫描检测(或寸动检测)，确定断路发生的具体位置，并进行修复。如有短路情况，则进行第二步和第三步:第二步:判断是像素区域A短路还是周边布线区域短路；具体过程如下:1、给第一外接信号线GS施加信号，使第一薄膜晶体管12截止；2、给评估指示信号端子EN施加信号，使第三薄膜晶体管3和第四薄膜晶体管4导通；3、给第三外接信号线GE和第四外接信号线GO交替施加脉冲信号，同时，输入使各像素单元显示相同灰度的数据信号，观察在第一步中出现短路的相邻两行像素单元是否还同时显示，如同时显示，说明短路发生在像素区域，如不再同时显示，说明短路发生在周边布线区域。第三步:对短路区域进行修复。如短路发生在像素区域，对像素区域发生短路的相邻的两条栅线进行扫描，确定具体短路位置，对短路位置进行修复；如短路发生在周边布线区域，则对周边布线区域中与像素区域短路的栅线对应的信号线进行扫描，确定短路的具体位置，对短路位置进行修复。以上所述的所有薄膜晶体管可以为N型薄膜晶体管，也可以为P型薄膜晶体管，若为N型薄膜晶体管，则在需要薄膜晶体管导通时，施加高电平，在需要薄膜晶体管截止时施加低电平；如为P型薄膜晶体管，则在需要薄膜晶体管导通时施加低电平，在需要薄膜晶体管截止时施加高电平。采用上述的液晶面板设计，能够准确、快速的检测是否有短路或断路不良及不良发生的具体位置，在检测过程中仅需对小区域的信号线进行寸动检测，节省了检测时间，提高了检测效率。对于8”的1280X800的显示面板而言，外接信号端子GS的高电压一般在15V至50V的范围内，而低电压在-20V至OV的范围内；第三外接信号线GE和第四外接信号线GO的电压与显不面板工作时栅极电压相同。本发明提供的另一种显示面板，包括像素区域和周边布线区域，像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，检测开关与像素区域的数据线一一对应，所述检测开关用于控制像素区域和周边布线区域的连接与断开。具体的，检测开关包括第二薄膜晶体管，周边布线区域为数据线布线区域，第二薄膜晶体管的栅极与第二外接控制信号连接，第二薄膜晶体管的源极与所述数据线布线区的信号线连接，第二薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的数据线连接。图2示出了根据本发明第二实施例的显示面板200的构造的示意图。图2所示的根据本发明第二实施例的显示面板200与图1所示的根据本发明第一实施例的显示面板100的构造不同之处在于，显示面板200中，在像素区域A与周边布线区域中的数据线布线区域9之间设置了第二薄膜晶体管13。第二薄膜晶体管13的栅极与第二外接信号端子DS相连，以通过在第二外接信号端子DS上施加信号来控制第二薄膜晶体管13的开关状态。第二薄膜晶体管13用于控制数据线周边布线区与像素区域的连接与断开。在显示面板200中，还包括在显示面板200上与数据线布线区域9相对一侧设置的第五薄膜晶体管I和第六薄膜晶体管2，第五薄膜晶体管I的栅极与评估指示信号端子EN连接，第五薄膜晶体管I的源极与第五外接信号线DE连接，所述第五薄膜晶体管I的漏极与奇数行数据线连接；所述第六薄膜晶体管2的栅极与评估指示信号端子EN连接，所述第六薄膜晶体管2的源极与所述第六外接信号线DO连接，所述第六薄膜晶体管2的漏极与所述偶数行数据线连接。应用本显示面板进行检测的过程具体如下:第一步:检测显示面板中是否有断路/短路；具体过程为:1、给第一外接信号线DS施加信号，使第二薄膜晶体管13导通；2、给评估指示信号端子EN施加信号，使第五薄膜晶体管I和第六薄膜晶体管2导通；3、给第五外接信号线DE和第六外接信号线DO交替施加脉冲信号，同时给栅线输入信号，使各行中用于控制像素显示的像素薄膜晶体管均导通，观察是否有相邻两列像素单元同时显示的现象或是否有像素单元不能正常显示。例如:在给第三列像素单元施加信号使第三列像素单元显示的同时，第四列像素是否与第三列同时显示，如同时显示，说明这相邻的两列像素有短路，如相邻两列像素单元与第五外接信号线DE和第六外接信号线DO同频率交替显示，则说明该相邻两列像素没有短路。如在给第三列像素单元施加信号使第三列像素单元显示时，第三列中有一个或多个像素单元不能正常显示，则说明有断路现象存在。如有断路情况，则对该不能正常显示的像素单元进行扫描检测(或寸动检测)，确定断路的具体位置，并进行修复。如有短路情况，则进行第二步和第三步:第二步:判断是像素区域A短路还是周边布线区域短路；具体过程如下:1、给第二外接信号线DS施加信号，使第二薄膜晶体管13截止；2、给评估指示信号端子EN施加信号，使第五薄膜晶体管I和第六薄膜晶体管2导通；3、给第五外接信号线DE和第六外接信号线DO交替施加脉冲信号，观察在第一步中出现短路的相邻两列像素单元是否还同时显示，如同时显示，说明短路发生在像素区域，如不再同时显示，说明短路发生在周边布线区域。第三步:对短路区域进行修复。如短路发生在像素区域，对像素区域发生短路的相邻的两条数据线进行扫描，确定具体短路位置，对短路位置进行修复；如短路发生在周边布线区域，则对周边布线区域中与像素区域短路的数据线对应的信号线进行扫描，确定短路的具体位置，对短路位置进行修复。采用上述的液晶面板设计，能够准确、快速的检测是否有短路或断路不良及不良发生的具体位置，在检测过程中仅需对小区域的信号线进行寸动检测，节省了检测时间，提高了检测效率。本发明提供的第三种显示面板，包括像素区域和周边布线区域，像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，检测开关与像素区域的栅线和数据线均一一对应，检测开关用于控制像素区域和周边布线区域的连接与断开。具体的，检测开关包括第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，以及所述周边布线区域包括栅线布线区域和数据线布线区域；第一薄膜晶体管的栅极与第一外接控制信号线连接，第一薄膜晶体管的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，第一薄膜晶体管的漏极与像素区域的栅线连接；以及第二薄膜晶体管的栅极与第二外接控制信号连接，第二薄膜晶体管的源极与所述数据线布线区的信号线连接，第二薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的数据线连接。图3示出了根据本发明第三实施例的显示面板300的构造的示意图。如图3，显示面板300包括第一薄膜晶体管12和第二薄膜晶体管13，第一薄膜晶体管12的栅极与第一外接控制信号线GS连接，第一薄膜晶体管12的源极与栅线布线区域5的信号线连接，第一薄膜晶体管12的漏极与所述像素区域的栅线10连接；以及第二薄膜晶体管13的栅极与第二外接控制信号线DS连接，第二薄膜晶体管13的源极与所述数据线布线区9的信号线连接，第二薄膜晶体管13的漏极与所述像素区域的数据线11连接。显示面板300还包括设置在显示面板300上与第一薄膜晶体管12相对的一侧的第三薄膜晶体管3和第四薄膜晶体管4、设置在显示面板300与所述第二薄膜晶体管13相对的一侧的第五薄膜晶体管I和第六薄膜晶体管2，第三薄膜晶体管3的栅极与评估指示信号端子EN连接，第三薄膜晶体管3的源极与第三外接信号线GE连接，第三薄膜晶体管3的漏极与奇数行栅线连接；第四薄膜晶体管4的栅极与评估指示信号端子EN连接，第四薄膜晶体管4的栅极与第四外接信号线GO连接，第四薄膜晶体管4的漏极与偶数行栅线连接；第五薄膜晶体管I的栅极与评估指示信号端子EN连接，第五薄膜晶体管I的源极与第五外接信号线DE连接，第五薄膜晶体管I的漏极与奇数行数据线连接；第六薄膜晶体管2的栅极与评估指示信号端子EN连接，第六薄膜晶体管2的源极与第六外接信号线DO连接，第六薄膜晶体管2的漏极与所述偶数行数据线连接。采用该显示面板对栅线和数据线进行短路或断路不良检测的过程与实施例1和2中的检测过程基本相同，再此不再赘述。但在检测时，其检测顺序可以不固定，既可以先检测数据线，再检测栅线，也可以先检测栅线，再检测数据线，对此不作限定。采用上述的液晶面板设计，能够准确、快速的检测是否有短路或断路不良及不良发生的具体位置，在检测过程中仅需对小区域的信号线进行寸动检测，节省了检测时间，提高了检测效率。以上，示出了根据本发明的显示面板的三个实施例。其中，在显示面板的像素区域上靠近周边布线区域的一侧上设置了用于进行检测的作为开关的薄膜晶体管，使得用于进行检测的电流在经过像素区域的同时也经过周边布线区域，从而能够容易地判断短路出现在像素区域内还是出现在周边布线区域内。最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
权利要求
1.一种显示面板，包括像素区域和周边布线区域，其特征在于，所述像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，所述检测开关与像素区域的栅线和/或数据线均一一对应，所述检测开关用于控制像素区域和周边布线区域的连接与断开。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测开关包括第一薄膜晶体管，所述周边布线区域为栅线布线区域，所述第一薄膜晶体管的栅极与第一外接控制信号连接，所述第一薄膜晶体管的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的栅线连接。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括设置在显示面板与第一薄膜晶体管相对的一侧的第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第三薄膜晶体管的源极与第三外接信号线连接，所述第三薄膜晶体管的漏极与奇数行栅线连接；所述第四薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述 第四薄膜晶体管的源极与第四外接信号线连接，所述第四薄膜晶体管的漏极与偶数行栅线连接。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测开关包括第二薄膜晶体管，所述周边布线区域为数据线布线区域，所述第二薄膜晶体管的栅极与第二外接控制信号线连接，所述第二薄膜晶体管的源极与所述数据线布线区的信号线连接，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的数据线连接。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括设置在显示面板与所述第二薄膜晶体管相对的一侧的第五薄膜晶体管和第六薄膜晶体管，所述第五薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第五薄膜晶体管的源极与所述第五外接信号线连接，所述第五薄膜晶体管的漏极与奇数行数据线连接；所述第六薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第六薄膜晶体管的源极与所述第六外接信号线连接，所述第六薄膜晶体管的漏极与所述偶数行数据线连接。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测开关包括第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，以及所述周边布线区域包括栅线布线区域和数据线布线区域； 第一薄膜晶体管的栅极与第一外接控制信号连接，第一薄膜晶体管的源极与所述栅线布线区域的信号线连接，第一薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的栅线连接；以及 第二薄膜晶体管的栅极与第二外接控制信号线连接，第二薄膜晶体管的源极与所述数据线布线区的信号线连接，第二薄膜晶体管的漏极与所述像素区域的数据线连接。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括:设置在显示面板与检测开关相对的一侧的第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管、设置在显示面板与所述第二薄膜晶体管相对的一侧的第五薄膜晶体管和第六薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第三薄膜晶体管的源极与第三外接信号线连接，所述第三薄膜晶体管的漏极与奇数行栅线连接；所述第四薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第四薄膜晶体管的栅极与第四外接信号线连接，所述第四薄膜晶体管的漏极与偶数行栅线连接；所述第五薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第五薄膜晶体管的源极与所述第五外接信号线连接，所述第五薄膜晶体管的漏极与奇数行数据线连接；所述第六薄膜晶体管的栅极与评估指示信号端子连接，所述第六薄膜晶体管的源极与所述第六外接信号线连接，所述第六薄膜晶体管的漏极与所述偶数行数据线连接。
8.一种显示 装置，包括权利要求1-7任一所述的显示面板。
全文摘要
本发明公开了一种显示面板和显示装置，包括像素区域和周边布线区域，其特征在于，所述像素区域和周边布线区域之间设置有检测开关，所述检测开关与像素区域的栅线和/或数据线均一一对应，所述检测开关用于控制像素区域和周边布线区域的连接与断开。采用本发明的显示面板，能够准确、快速的检测是否有短路或断路不良及不良发生的具体位置，在检测过程中仅需对小区域的信号线进行寸动检测，节省了检测时间，提高了检测效率。
文档编号G02F1/13GK103217844SQ201310111159
公开日2013年7月24日 申请日期2013年4月1日 优先权日2013年4月1日
发明者邵贤杰, 李小和 申请人:合肥京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司