具有检测功能的液晶显示面板的制作方法

本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种具有检测功能的液晶显示面板。

背景技术：

在小尺寸液晶显示面板中，为了防止模组(Module)材料浪费，会在面板(panel)设计中，加入cell电路，用于R、G、B or灰阶画面的测试，将不良panel拦检在Cell段制程。常见的Cell测试电路等效电路如图1，包括一条扫描测试线和两条数据测试线，扫描测试线连接至开关的栅极，以控制开关的开启或关断，一条数据测试线DO连接至奇数开关的漏极，另一条数据测试线DE连接至偶数开关的漏极，开关的源极连接待测试的数据线或扫描线，图中D1、D2、D3、D4可以是待测试的数据线或扫描线。Cell测试电路等效电路位置常常在IC键合(bonding)位置下端和扇出区(fanout)与多路分配(Demux)电路之间。

数据测试线DO信号与第二金属层M2同层，无需换线，数据测试线DE与第一金属层M1同层，数据测试线DE连接到偶数开关的漏极时，需换线到M1，存在换线阻抗，如图1中的虚线框部分。若偶数开关未做补偿设计，则会存在换线阻抗差异，从而奇偶数据测试线信号均一性存在差异。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种具有检测功能的液晶显示面板，使得无需在测试时进行测试数据线的切换，能够保证奇偶数据线测试的均一性。

本发明提供一种具有检测功能的液晶显示面板，包括：开关电路，用于开启或关闭液晶显示面板的测试功能；数据测试线，通过开关电路连接至液晶显示面板的扫描线或数据线；至少两条扫描测试线，用于通过开关电路控制对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试。

其中，液晶显示面板还包括多条短路杆，数据测试线和扫描测试线通过短路杆与开关电路连接。

其中，液晶显示面板还包括多个扫描测试垫，设置在扫描测试线上，短路杆通过扫描测试垫与扫描测试线连接。

其中，液晶显示面板还包括多个数据测试垫，设置在薄膜晶体管一侧，扫描线或者数据线通过数据测试垫与薄膜晶体管的源极连接。

其中，开关电路包括多个薄膜晶体管，液晶显示面板的每条扫描线以及每条数据线分别对应一薄膜晶体管。

其中，薄膜晶体管的源极与液晶显示面板的扫描线或数据线连接，每个薄膜晶体管的栅极通过两条短路杆与其中一条扫描测试线连接，每个薄膜晶体管的漏极通过两条短路杆与数据测试线连接。

其中，液晶显示面板包括两条扫描测试线，分别为奇数扫描测试线和偶数扫描测试线，奇数扫描测试线用于测试液晶显示面板的奇数扫描线或奇数数据线，偶数扫描测试线用于测试液晶显示面板的偶数扫描线或偶数数据线。

其中，开关电路包括第一组薄膜晶体管和第二组薄膜晶体管，奇数扫描测试线通过第一组薄膜晶体管控制对液晶显示面板的奇数扫描线或奇数数据线进行测试，偶数扫描测试线通过第二组薄膜晶体管控制对液晶显示面板的偶数扫描线或偶数数据线进行测试。

其中，开关电路、数据测试线以及扫描测试线设置在显示区域与扇出区域之间。

其中，扇出区域还包括多个数据测试垫以及对应的短路杆，数据测试垫通过短路杆与开关电路连接。

通过上述方案，本发明的有益效果是：本发明通过开关电路开启或关闭液晶显示面板的测试功能；数据测试线通过开关电路连接至液晶显示面板的扫描线或数据线；至少两条扫描测试线，用于通过开关电路控制对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试，使得无需在测试时进行测试数据线的切换，能够保证奇偶数据线测试的均一性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是现有技术中的具有检测功能的液晶显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的结构示意图；

图3是本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的电路示意图；

图4是本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的时序示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板包括：开关电路、数据测试线以及至少两条扫描测试线。开关电路用于开启或关闭液晶显示面板的测试功能；数据测试线通过开关电路连接至液晶显示面板的扫描线或数据线；至少两条扫描测试线用于通过开关电路控制对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试。由于只应用一条数据测试线，使得在数据测试线与开关连接时不需要进行换线，减小了换线阻抗，能够保证数据测试线连接至开关电路中各开关的信号的均一性。以下以包括一条数据测试线和两条扫描测试线为例进行说明：

具体参见图2-4，图2是本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的结构示意图。图3是本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的电路示意图。图4是本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的时序示意图。具有检测功能的液晶显示面板包括：开关电路11、数据测试线data以及两条扫描测试线SW1、SW2。开关电路11用于开启或关闭液晶显示面板的测试功能。数据测试线data通过开关电路11连接至液晶显示面板的扫描线或数据线。两条扫描测试线SW1、SW2用于通过开关电路11控制对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试。图中D1、D2、D3、D4可以是待测试的数据线，也可以是待测试的扫描线，在此不作具体限制。

液晶显示面板还包括多条短路杆12，数据测试线data和扫描测试线SW1、SW2通过短路杆12与开关电路11连接。液晶显示面板包括两条扫描测试线SW1、SW2，分别为奇数扫描测试线SW2和偶数扫描测试线SW1。奇数扫描测试线SW2用于测试液晶显示面板的奇数扫描线或奇数数据线，偶数扫描测试线SW1用于测试液晶显示面板的偶数扫描线或偶数数据线。

开关电路11包括多个薄膜晶体管13、14，液晶显示面板的每条扫描线以及每条数据线分别对应一薄膜晶体管13、14。薄膜晶体管13、14的源极与液晶显示面板的扫描线或数据线连接，每个薄膜晶体管13、14的栅极通过两条短路杆12与其中一条扫描测试线SW1、SW2连接，每个薄膜晶体管13、14的漏极通过两条短路杆12与数据测试线data连接。

更详细地，开关电路11包括第一组薄膜晶体管13和第二组薄膜晶体管14。奇数扫描测试线SW2通过第一组薄膜晶体管13控制对液晶显示面板的奇数扫描线或奇数数据线进行测试。偶数扫描测试线SW1通过第二组薄膜晶体管14控制对液晶显示面板的偶数扫描线或偶数数据线进行测试。

具体地，数据测试线data通过短路杆12与第一组薄膜晶体管13、或第二组薄膜晶体管14的漏极连接。扫描测试线SW1通过短路杆12与第二组薄膜晶体管14的栅极连接，扫描测试线SW2通过短路杆12与第一组薄膜晶体管13的栅极连接。第一组薄膜晶体管13的源极与奇数的待测数据线或扫描线连接。第二组薄膜晶体管14的源极与偶数的待测数据线或扫描线连接。

在本发明实施例中，液晶显示面板还包括多个扫描测试垫15，设置在扫描测试线SW1、SW2上，短路杆12通过扫描测试垫15与扫描测试线SW1、SW2连接。液晶显示面板还包括多个数据测试垫16，设置在薄膜晶体管一侧，待测试的扫描线或者数据线通过数据测试垫16与薄膜晶体管的源极连接。而本发明实施例的数据测试线是不需要设置测试垫，每条数据测试线直接通过短路杆与薄膜晶体管的漏极连接，因此，测试信号不需要经过换线即可直接传输至薄膜晶体管，减小了换线阻抗，能够保证奇偶数据线测试的均一性。

在本发明实施例中，开关电路、数据测试线以及扫描测试线设置在显示区域与扇出区域之间。扇出区域还包括多个数据测试垫以及对应的短路杆，数据测试垫通过短路杆与开关电路连接。

本发明实施例的具有检测功能的液晶显示面板的测试电路参见图3，薄膜晶体管的漏极连接动至数据测试线data，而相邻的薄膜晶体管的栅极连接不同的扫描测试线SW1或SW2，薄膜晶体管的源极连接液晶显示面板的扫描线或数据线，通过扫描测试线SW1、SW2控制薄膜晶体管通过或关断，进而对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试。如果薄膜晶体管的源极连接液晶显示面板的扫描线，则对扫描线进行测试。如果薄膜晶体管的源极连接液晶显示面板的数据线，则对数据线进行测试。扫描测试线SW1、SW2以及数据测试线data参见图4，扫描测试线SW1、SW2交替控制相邻的薄膜晶体管导通以对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试。

综上所述，本发明通过开关电路开启或关闭液晶显示面板的测试功能；数据测试线通过开关电路连接至液晶显示面板的扫描线或数据线；至少两条扫描测试线，用于通过开关电路控制对液晶显示面板的扫描线或数据线进行测试，使得无需在测试时进行测试数据线的切换，能够保证奇偶数据线测试的均一性。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。