1.一种光纤的衰减熔接方法，其特征在于，使用光纤熔接机进行光纤衰减熔接，包括：
步骤1：通过熔接机的两路专用显微镜把光纤成像在CMOS传感器上，两路CMOS传感器上的光纤图像分别存储在两片FIFO存储器中；
步骤2：两路光纤图像经过现场可编程门阵列处理和拼接后通过CPU送往液晶显示器进行显示，CPU对图像信号进行分析处理，产生提示信息和控制信号，提示信息与实时光纤图像同时在液晶显示器上显示；
步骤3：控制信号通过驱动电路驱动两个轴向推进马达和两个径向对准马达来调整光纤，使两根光纤靠近完成端面间隙设置和对准设置；
步骤4：光纤熔接机中的CPU读取用户通过菜单设置的目标衰减值x，CPU控制模块调用目标衰减值x与光纤径向偏轴量y对应函数y＝f(x)，在CPU中计算得到目标衰减值为x时光纤熔接机所需的光纤径向偏轴量y；
步骤5：根据当前的光纤径向偏轴量y，CPU通过驱动光纤熔接机的两个径向对准马达来调整左右两根光纤径向偏轴量，使光纤径向偏轴量为y；
步骤6：进行放电熔接两根光纤。
2.根据权利要求1所述的一种光纤的衰减熔接方法，其特征在于，所述函数y＝f(x)的获取方法为：
步骤1：根据需要的衰减范围和精度的要求，确定目标衰减值测试点的个数；
步骤2：在各个目标衰减值测试点，控制熔接机的径向对准马达使两根光纤产生一定的径向偏轴量，完成熔接后，查看光纤实际熔接损耗，如果实际熔接损耗小于此测试点目标衰减值则加大径向偏轴量，否则减小径向偏轴量；
步骤3：重复步骤2，重新进行光纤熔接，直到光纤实际熔接损耗达到此测试点目标衰减值，记录此时的光纤径向偏轴量，多次测试取该目标衰减值测试点的光纤径向偏轴量的平均值作为这个测试点的光纤径向偏轴量；
步骤4：使用多台光纤熔接机得到不同目标衰减值测试点下的光纤径向偏轴量，利用Matlab软件对得到的光纤径向偏轴量数据进行曲线拟合，获得目标衰减值与光纤径向偏轴量对应函数y＝f(x)。