修补方法及装置与流程

文档序号:16523444发布日期:2019-01-05 10:09阅读:214来源:国知局
修补方法及装置与流程

本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种修补方法及装置。



背景技术:

彩膜(colorfilter,cf)是液晶面板的主要组成部分,由大量的像素矩阵组成,但在生产过程中容易产生白缺(像素坏点),一旦做成液晶屏后,坏点将无法修复,因此需要通过修补以提高生产良率,将彩膜中白缺修补为对应的rgb色阻或修补成黑色光阻,使基板达到进入下一流程的标准。

现有的彩膜修补一般采用人工修补的方式,由操作工操控设备,人眼识别彩膜上面的缺陷大小,然后根据对应色层(红(r)、绿(g)、蓝(b)的彩色色层)进行修补动作。然而,这种人工修补方式自动化程度低,所需操作人员多且人为因素影响大,降低了修补速度和修补质量,且提高了生产成本。



技术实现要素:

基于此,有必要针对目前人为彩膜修补方式存在的自动化程度低,所需操作人员多且人为因素影响大,修补速度和修补质量低,且成本高的问题,提供一种修补方法及装置。

为了实现本发明的目的,本发明采用如下技术方案:

一种修补方法,包括如下步骤:

识别彩膜上的缺陷;

判定所述缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域;

将所述覆盖区域消除,形成针孔;

将色阻材料填充到对应色层的针孔。

在其中一个实施例中,所述识别彩膜上的缺陷的步骤,包括:

对所述彩膜进行灰阶识别,获取彩膜的灰阶信息;

将所述灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别缺陷。

在其中一个实施例中,所述判定所述缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域的步骤,包括:

获取所述缺陷的颜色,将所述颜色与预定义的色相相对比,判定所述缺陷所在的一个或多个色层;

识别各色层缺陷的边界,将各色层缺陷的边界矩形化,判定为色层对应的覆盖区域。

在其中一个实施例中,所述将所述覆盖区域消除,形成针孔的步骤,具体为:

通过激光将所述覆盖区域进行刻蚀,形成针孔。

在其中一个实施例中,所述将色阻材料填充到对应色层的针孔的步骤之前,包括:

根据色阻颜色与色层的对应关系,获得色层的对应色阻。

为了实现本发明的目的,本发明还采用如下技术方案:

一种修补方法,包括如下步骤:

识别彩膜上的缺陷;

判定所述缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域;

将所述覆盖区域消除,形成针孔;

根据色阻颜色与色层的对应关系,获得色层的对应色阻;

将色阻材料填充到对应色层的针孔;

其中,所述识别彩膜上的缺陷的步骤,包括:

对所述彩膜进行灰阶识别,获取彩膜的灰阶信息;

将所述灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别缺陷;

所述判定所述缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域的步骤,包括:

获取所述缺陷的颜色,将所述颜色与预定义的色相相对比,判定所述缺陷所在的一个或多个色层;

识别各色层缺陷的边界,将各色层缺陷的边界矩形化,判定为色层对应的覆盖区域;

所述将所述覆盖区域消除,形成针孔的步骤,具体为:

通过激光将所述覆盖区域进行刻蚀,形成针孔。

为了实现本发明的目的,本发明还采用如下技术方案:

一种修补装置,包括:

识别模块,用于识别彩膜上的缺陷;

判定模块,用于判定所述缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域;

消除模块,用于将所述覆盖区域消除,形成针孔;

填充模块,用于将色阻材料填充到对应色层的针孔。

在其中一个实施例中,所述识别模块包括:

第一识别单元,用于对所述彩膜进行灰阶识别,获取彩膜的灰阶信息;

第二识别单元,用于将所述灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别缺陷。

在其中一个实施例中,所述判定模块包括:

第一判定单元,用于获取所述缺陷的颜色,将所述颜色与预定义的色相相对比,判定所述缺陷所在的一个或多个色层;

第二判定单元,用于识别各色层缺陷的边界,将各色层缺陷的边界矩形化,判定为色层对应的覆盖区域。

在其中一个实施例中,所述消除模块包括:

激光单元,用于通过激光将所述覆盖区域进行刻蚀,形成针孔。

上述修补方法,通过自动识别彩膜上的缺陷,判定缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域,将覆盖区域消除,形成针孔,以及将色阻材料填充到对应色层的针孔,能够实现对缺陷的自动识别、消除以及修补,自动化程度高,减少人为操作,提高了彩膜缺陷修补速度和修补质量,并降低了成本。

上述修补装置,通过识别模块自动识别彩膜上的缺陷,判定模块判定缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域,消除模块将覆盖区域消除,形成针孔,以及填充模块将色阻材料填充到对应色层的针孔,能够实现对缺陷的自动识别、消除以及修补,自动化程度高,减少人为操作,提高了彩膜缺陷修补速度和修补质量,并降低了成本。

附图说明

图1为一实施例中修补方法的方法流程图;

图2为一灰阶信息比较示例图;

图3为实施例1的缺陷图;

图4为实施例1的修补图;

图5为实施例2的缺陷图;

图6为实施例2的修补图;

图7为图1所示实施例中的修补方法的细化方法流程图;

图8为一实施例中修补装置的系统结构图;

图9为图8所示实施例中的修补装置的细化结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

参见图1,图1为一实施例中修补方法的方法流程图。

在本实施例中,修补方法用于自动识别并修补彩膜的缺陷,包括步骤s101、s102、s103以及s104。详述如下:

在步骤s101中,识别彩膜上的缺陷。

在本发明实施例中,彩膜上的缺陷包括彩膜在生产过程中产生的白缺陷或者黑缺陷,即像素坏点。对彩膜缺陷的识别,可以通过灰阶信息对比进行缺陷的识别,在其中一个实施例中,判定彩膜的某个区域上某点是否为缺陷,可以在某点同一距离上找出另外四点或更多点,通过各点灰阶识别和灰阶大小的排序选定预设灰阶信息,将灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,当两者的绝对差值大于预设阈值时,则将a点识别为缺陷,否则,a点识别为正常。例如,在彩膜的某个区域上检测a点是否为缺陷,则在同一距离中找出四个点,如图2所示,分别为a1、a2、a3、a4,其灰阶分别对应为a1、a2、a3、a4,对五点的灰阶根据大小进行排序:a1<a2<a3<a4<a,则定义a3为预设灰阶信息,将a与a3进行比较,当两者的绝对差值大于预设阈值时,则将a点识别为缺陷,否则,a点识别为正常。

在步骤s102中,判定缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域。

在本发明实施例中,缺陷所处的位置通常在彩膜的色层,其中,色层包括黑色矩阵(bm,blackmatrix)或者彩色色层,因此在识别缺陷后,需要判定缺陷所在的色层。其中,缺陷所在的色层包括一个色层或者多个色层。色层的判定可以通过获取缺陷的颜色,再将缺陷的颜色与预定义的色相相对比进行判定,例如,获取缺陷的颜色为红色,而预定义的色相中红色色相对应红色(r)色层,因此判定缺陷所处的色层为r色层。在其中一个实施例中,可以通过颜色传感器对缺陷的颜色进行获取。

在本发明实施例中,在判定缺陷所处的色层后,对色层的覆盖区域进行判定,以识别缺陷的大小以及各色层上子缺陷的大小。缺陷可能是规则或者不规则的,为了将缺陷全部消除,防止遗漏,在其中一个实施例中,可以先识别各色层缺陷的边界,然后将边界矩形化,获得各色层较大的覆盖区域,以使后续步骤将各色层的较大覆盖区域作为修补对象区域。

在步骤s103中,将覆盖区域消除,形成针孔。

在本发明实施例中,覆盖区域确认后,由于缺陷可能处于彩膜表面,也可能在表面凸起,因此将覆盖区域消除,可以保证表面缺陷及凸起缺陷均被去除,同时,形成针孔能够方便后续色阻材料的填充修补,避免过多材料的浪费。在其中一个实施例中,可以通过激光将覆盖区域进行刻蚀,形成针孔。

在步骤s104中,将色阻材料填充到对应色层的针孔。

本发明实施例中,色阻材料可以为对应黑色矩阵的黑色光阻材料,也可以是彩色色层相应颜色的色阻材料,具体对应色层进行选择。在其中一个实施例中,步骤s104还包括在将色阻材料填充到对应色层的针孔之前,预先设置色阻颜色与色层的对应关系,从而可以直接根据获得的色层判定需要填充的色阻材料,快速选取对应色层的色阻材料。其中,色阻材料根据对应色层的覆盖区域的大小进行填充,以填充量刚好使填充的表面与彩膜的表面平齐为准。

为了更好的理解本发明实施例,以下举例说明:

实施例1,参见图3(图3中虚线区域为缺陷)和图4(图4中阴影部分为黑色矩阵,透明部分为彩色色层)。

步骤s1011:识别出彩膜上的缺陷。

步骤s1012:判定缺陷处于黑色矩阵上,通过边界矩形化识别出缺陷在黑色矩阵上对应的覆盖区域为区域100。

步骤s1013:通过激光将区域100进行激光刻蚀,形成针孔。

步骤s1014:将黑色的光阻材料填充到针孔处,完成缺陷修补(参见图4)。

实施例2,参见图5(图5中不规则图形的阴影区域包括黑色矩阵和黑缺陷,此处黑缺陷为黑色光阻材料填充过多造成)和图6(图6中阴影部分为黑色矩阵,透明部分为彩色色层)。

步骤s1011:识别出彩膜上的缺陷。

步骤s1012:判定缺陷分别处于r色层、g色层以及b色层上,识别各色层上子缺陷的边界,将边界矩形化获得缺陷区域100,其中r色层的矩形化覆盖区域为区域101、g色层的矩形化覆盖区域为区域102以及b色层的矩形化覆盖区域为区域103。

步骤s1013:通过激光将区域101、区域102以及区域103,进行激光刻蚀,相成针孔。

步骤s1014:将红色的色阻材料填充到对应区域101的针孔处,将绿色的色阻材料填充到对应区域102的针孔处,将蓝色的色阻材料填充到对应区域103的针孔处,完成缺陷修补(参见图6)。

本发明实施例提供的修补方法,通过自动识别彩膜上的缺陷,判定缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域,将覆盖区域消除,形成针孔,以及将色阻材料填充到对应色层的针孔,能够实现对缺陷的自动识别、消除以及修补,自动化程度高,减少人为操作,提高了彩膜缺陷修补速度和修补质量,并降低了成本。

参见图7,图7为图1所示实施例中的修补方法的细化方法流程图。

在本实施例中,该修补方法用于自动识别并修补彩膜的缺陷,包括步骤s201、s202、s203、s204、s205、s206以及s207,其中,步骤s201、s202对应上一实施例中步骤s101,步骤s203、s204对应上一实施例中步骤s102,步骤s205对应上一实施例中步骤s103,步骤s206、步骤s207对应上一实施例中步骤s104。详述如下:

在步骤s201中,对彩膜进行灰阶识别,获取彩膜的灰阶信息。

在步骤s202中,将灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别缺陷。

在本发明实施例中,通过识别获取彩膜的灰阶信息,并选定预设灰阶信息,根据灰阶信息与预设灰阶信息的绝对差值进行判定,识别缺陷。具体地,判定彩膜的某个区域上某点是否为缺陷,可以在某点同一距离上找出另外四点,通过各点灰阶识别和灰阶大小的排序选定预设灰阶信息,将灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,当两者的绝对差值大于预设阈值时,则将a点识别为缺陷,否则,a点识别为正常。

在步骤s203中,获取缺陷的颜色,将颜色与预定义的色相相对比,判定缺陷所在的一个或多个色层。

在本发明实施例中,通过获取缺陷的颜色,再将缺陷的颜色与预定义的色相相对比进行判定,例如,获取缺陷的颜色为红色,而预定义的色相中红色色相对应红色(r)色层,因此判定缺陷所处的色层为r色层。在其中一个实施例中,可以通过颜色传感器对缺陷的颜色进行获取。

在步骤s204中,识别各色层缺陷的边界,将各色层缺陷的边界矩形化,判定为色层对应的覆盖区域。

在本发明实施例中,识别各色层缺陷的边界,然后将边界矩形化,获得各色层较大的覆盖区域,以使后续步骤将各色层的较大覆盖区域作为修补对象区域。

在步骤s205中,通过激光将覆盖区域进行刻蚀,形成针孔。

在本发明实施例中,通过激光将覆盖区域消除,可以保证表面缺陷及凸起缺陷均被去除,同时,形成针孔能够方便后续色阻材料的填充修补,避免过多材料的浪费。

在步骤s206中,根据色阻颜色与色层的对应关系,获得色层的对应色阻。

在本发明实施例中,在将色阻材料填充到对应色层的针孔之前,预先设置色阻颜色与色层的对应关系,然后直接根据获得的色层及色阻颜色与色层的对应关系判定需要填充的色阻材料,快速选取对应色层的色阻材料。

在步骤s207中,将色阻材料填充到对应色层的针孔。

在本发明实施例中,步骤s207与上一实施例中的步骤s104相同,具体请参阅上一实施例中步骤s104的相关描述,此处不赘述。

本发明实施例提供的修补方法,通过自动获取彩膜的灰阶信息,将灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别彩膜上的缺陷,并通过缺陷所在的色层和色层对应的矩形化覆盖区域的判定,以及对矩形化覆盖区域的消除和色阻材料的填充,能够实现对缺陷的自动识别、消除以及修补,自动化程度高,减少人为操作,提高了彩膜缺陷修补速度和修补质量,并降低了成本。

参见图8,图8为本实施例提供的一种修补装置的系统结构图。

本实施例的修补装置包括的各模块用于执行图1对应的实施例中的各步骤,具体请参阅图1以及图1对应的实施例中的相关描述,此处不赘述。本实施例的修补装置包括:识别模块101、判定模块102、消除模块103以及填充模块104。具体地:

识别模块101,用于识别彩膜上的缺陷。

判定模块102,用于判定缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域。

消除模块103,用于将覆盖区域消除,形成针孔。

填充模块104,用于将色阻材料填充到对应色层的针孔。

在一个实施例中,识别模块101包括但不限于摄像装置和颜色传感器,判定模块102包括但不限于智能控制芯片,消除模块103包括但不限于激光源,填充模块104包括但不限于带有色阻材料的墨水喷嘴。

本发明实施例提供的修补装置,通过识别模块101自动识别彩膜上的缺陷,判定模块102判定缺陷所在的色层和色层对应的覆盖区域,消除模块103将覆盖区域消除,形成针孔,以及填充模块104将色阻材料填充到对应色层的针孔,能够实现对缺陷的自动识别、消除以及修补,自动化程度高,减少人为操作,提高了彩膜缺陷修补速度和修补质量,并降低了成本。

参见图9,图9为图8所示实施例中的修补装置的细化结构示意图。

本实施例的各单元用于执行图7对应的实施例中的各步骤,具体请参阅图7以及图7对应的实施例中的相关描述,此处不再赘述。本实施例的修补装置包括:第一识别单元201、第二识别单元202、第一判定单元203、第二判定单元204、激光单元205、设置单元206以及填充单元207。具体地:

第一识别单元201,用于对彩膜进行灰阶识别,获取彩膜的灰阶信息。

第二识别单元202,用于将灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别缺陷。

第一判定单元203,用于获取缺陷的颜色,将颜色与预定义的色相相对比,判定缺陷所在的一个或多个色层。

第二判定单元204,用于识别各色层缺陷的边界,将各色层缺陷的边界矩形化,判定为色层对应的覆盖区域。

激光单元205,用于通过激光将覆盖区域进行刻蚀,形成针孔。

获取单元206,用于根据色阻颜色与色层的对应关系,获得色层的对应色阻。

填充单元207,用于将色阻材料填充到对应色层的针孔。

本发明实施例提供的修补装置,通过第一识别单元201自动获取彩膜的灰阶信息,第二识别单元202将灰阶信息与预设灰阶信息进行对比,识别彩膜上的缺陷,并通过第一判定单元203和第二判定单元204对缺陷所在的色层和色层对应的矩形化覆盖区域的判定,以及激光单元205对矩形化覆盖区域的消除和填充单元207对消除后的区域进行色阻材料的填充,能够实现对缺陷的自动识别、消除以及修补,自动化程度高,减少人为操作,提高了彩膜缺陷修补速度和修补质量,并降低了成本。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

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