r>[0026]图1是现有技术的用于液晶滴注系统的控制方法的示例性流程图；
[0027]图2是根据本发明的实施例的液晶滴注系统的示意性方块图；
[0028]图3是根据本发明的实施例的用于液晶滴注系统的控制方法的示例性流程图；
[0029]图4是由根据本发明的实施例的液晶滴注系统的图像采集装置获得的液晶面板的图像的示意图；以及
[0030]图5是将图4中的液晶面板的图像进行灰度化处理后获得的灰阶图像的示意图。
【具体实施方式】
[0031]为了使本发明的目的、技术方案及优点更易于理解，下文将结合附图及本发明的示例性实施例对本发明的原理进行详细说明。应当理解的是，示例性实施例中图示的本发明的结构、方法、过程不应当被认为是对本发明的技术方案的限制，本发明原理可在不具有部分步骤或细节的情况下加以实施，也可以在实施过程中增加额外的步骤或过程。因此，本发明的范围应当根据权利要求的内容加以确定。
[0032]接下来将结合图2对根据本发明实施例的液晶滴注系统进行详细的说明。如图2所示，根据本发明的第一方面，液晶滴注系统包括:液晶滴注设备201，其配置为执行液晶滴注工艺以获得液晶面板；图像采集设备202，其配置为获取液晶面板的图像；图像处理器203，其配置为对获取的图像进行处理，并基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷；通信模块204，其配置为将与图像处理器确定的缺陷相关的信息发送给液晶滴注设备，使得液晶滴注设备能够根据所述信息调整液晶滴注工艺的参数。
[0033]根据示例性的实施例，图像采集设备202可以设置在用于对液晶面板进行目视检查的暗室中，这种暗室可与现有技术中的暗室相同，例如包括背光系统，背光源的尺寸至少与液晶面板的玻璃基板的尺寸相匹配，或者可以设为待检查的液晶面板的尺寸的数倍，这样可以同时对多个液晶面板进行检查。这样，可以在进行目视检查的同时，通过图像获取装置202获取液晶面板的图像。同时，无需将液晶面板运送到另一专门的检查位置，从而能够不影响液晶面板检查的效率。
[0034]图像采集设备202可以是基于CXD的图像采集装置，例如照相机等。图像处理器203可以是能够进行图像处理的任意一种图像处理器，包括但不限于计算机处理器、微处理益寺O
[0035]根据示例性的实施例，图像处理器203被进一步配置为:将获取的液晶面板的图像转化为灰阶图像；以及识别灰阶图像中各像素的灰阶值，并将所述灰阶图像中将灰阶值落入预定范围内的区域识别为正常区域，将灰阶值超出所述预定范围内的区域识别为缺陷区域。
[0036]具体而言，图像采集设备202获得的图像被传输到图像处理器203之后，图像处理器203可通过灰度化处理将彩色图像转化为灰阶图像(或灰度图像)。现有技术中存在图像灰度化处理的各种具体方法，为简洁起见，此处不再具体说明。
[0037]在转化为灰阶图像之后，图像处理器首先确定灰阶图像中各个像素的灰阶值，然后判断像素的灰阶值是否落入灰阶值的预定范围。其中，根据使用的液晶材料的不同、TFT基板和彩膜基板的材料不同等因素，灰阶值的所以预定范围也不同。针对某一液晶材料或特定条件的预定范围通常可通过实验方式获得。如果灰阶值落入所述预定范围，则图像处理器判定与该像素对应区域内的液晶面板的液晶分布正常，反之，则判定与该像素对应区域内的液晶面板的液晶分布存在缺陷。
[0038]在示例性的实施例中，图像处理器进一步配置为:根据缺陷区域的灰阶值确定缺陷的类型。
[0039]具体地，根据示例性实施例，图像处理器进一步配置为:将缺陷区域中的灰阶值落入第一灰度值范围内的区域识别为过充满缺陷区域；将缺陷区域中的灰阶值落入第二灰度值范围内的区域识别为周边发黄缺陷区域；和/或将缺陷区域中的灰阶值落入第三灰度值范围内的区域识别为漏光缺陷区域。
[0040]其中，所述第一灰度值范围是与过充满缺陷相对应的灰阶图像中的灰阶值范围；所述第二灰度值范围是与周边发黄缺陷相对应的灰阶图像中的灰阶值范围；所述第三灰度值范围是与漏光缺陷相对应的灰阶图像中的灰阶值范围。与上文所述的液晶的预定范围类似，上述第一至第三灰度值范围也可以通过实验方式预先获得。
[0041]如图4和5所示，其分别示意性地图示了通过液晶滴注系统的图像采集装置获得的液晶面板的图像以及将图像进行灰度化处理后获得的灰阶图像。
[0042]图4和5中分别示出了六个液晶面板400排成的阵列。当然，在实际的检测过程中，可以对单个液晶面板进行检测，也可以将多个液晶面板排布成不同的布置进行同时检测。图4所示的图像示出了液晶面板中的正常区域403和所存在的缺陷区域。这些缺陷区域包括但不限于:过充满区域402、漏光区域403、和周边发黄区域404。在获取的彩色图像中，它们具有各自的颜色。例如，过充满区域402由图4中浅蓝色区域表示、漏光区域403由图4中的亮黄色区域表示、而周边发黄区域404由图4中的土黄色周边区域表示。之后，图4所示的图像被灰度化处理后形成了图5所示的灰阶图像。图5中正常区域和各缺陷区域的颜色已经被转化为相对应的灰阶，从而图像处理器203可确定各个区域的灰阶值，从而进行上文所述的具体缺陷类型的分析和确定。
[0043]在通过灰度图像确定液晶面板是否存在缺陷之后，可进一步判断这些缺陷是否足以导致液晶面板不合格。有些缺陷可能有法定标准，另一些缺陷虽然没有法定标准，但是有行业标准；还有一些缺陷既没有法定标准，也没有行业标准，可能仅有企业标准，而且每个企业各自的标准往往不同。因此，液晶面板是否合格的标准可根据实际情况来确定。
[0044]在本发明示例性的实施例中，图像处理器203进一步配置为执行以下项目中的一种或多种:计算缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差；计算每个缺陷区域的面积；计算每个缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比；以及确定每个缺陷区域在液晶面板上的位置。
[0045]其中，关于上文所述的缺陷区域的灰阶值和正常区域的灰阶值，例如，可采用各自区域内的像素灰阶值的平均值、中值、上限值、下限值中的一种或根据需要选取适当的值。
[0046]例如，在已经确定每个缺陷的类型(例如，过充满、周边发黄、以及漏光等)的情况下，图像处理器203被进一步配置为计算:过充满缺陷区域的面积；过充满缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比；周边发黄缺陷区域的面积；周边发黄缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比；漏光缺陷区域的面积；以及漏光缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比。
[0047]在示例性的实施例中，所述缺陷评价模块进一步配置为:依据缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差、缺陷区域的面积、缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比、以及缺陷区域在液晶面板上的位置中的至少一项确定每个缺陷区域的缺陷严重等级和/或液晶面板的质量等级。
[0048]具体