域的面积与液晶面板的面积之比。
[0065]以上所述的图像转化、正常区域和缺陷区域的确定、具体缺陷类型的确定等方面的具体方式可参见上文中结合液晶滴注系统所做的说明，此处不再赘述。
[0066]接下来，根据示例性的实施例，控制方法还可包括:依据缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差、缺陷区域的面积、缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比、缺陷区域在液晶面板上的位置中的至少一项确定每个缺陷区域的缺陷严重等级和/或液晶面板的质量等级。在确定了每个缺陷的类型的情况下，具体的示例亦可参见前文。
[0067]最后，控制方法还可包括:将确定的缺陷等级、液晶面板的质量等级、以及相应的确定依据通知操作人员；和/或将所述确定依据发送到液晶滴注设备。从而，液晶滴注设备可根据通信模块提供的信息自动地调整ODF工艺的参数。在必要的时候，操作人员也可主动地介入液晶滴注设备的调整。
[0068]根据本发明的实施例提供的液晶滴注系统的控制方法，能够对液晶滴注工艺过程中产生的缺陷(例如，过充满、周边发黄、漏光等)进行有效的检查，从而能够早期发现各种缺陷，并及时对液晶滴注工艺进行调整，从而节约时间和成本。
[0069]至此，已经通过举例的方式详细地描述了认为本公开的优选实施例，但是本领域的技术人员将认识到:在不背离本公开物的精神的情况下，可以对其进行进一步的修改和变化，并且所有这些修改和变化都应当落入本发明的保护范围内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种液晶滴注系统，其特征在于，该液晶滴注系统包括: 液晶滴注设备，其配置为执行液晶滴注工艺以获得液晶面板； 图像采集设备，其配置为获取液晶面板的图像； 图像处理器，其配置为对获取的图像进行处理，并基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷；和 通信模块，其配置为将与图像处理器确定的缺陷相关的信息发送给液晶滴注设备，使得液晶滴注设备能够根据所述信息调整液晶滴注工艺的参数。2.根据权利要求1所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述图像处理器进一步配置为: 将获取的液晶面板的图像转化为灰阶图像。3.根据权利要求2所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述图像处理器进一步配置为: 识别灰阶图像中各像素的灰阶值，并且将所述灰阶图像中将灰阶值落入预定范围内的区域识别为正常区域，将灰阶值超出所述预定范围内的区域识别为缺陷区域。4.根据权利要求3所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述图像处理器进一步配置为: 根据缺陷区域的灰阶值确定缺陷的类型。5.根据权利要求4所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述图像处理器进一步配置为: 将缺陷区域中的灰阶值落入第一灰度值范围内的区域识别为过充满缺陷区域； 将缺陷区域中的灰阶值落入第二灰度值范围内的区域识别为周边发黄缺陷区域；和/或 将缺陷区域中的灰阶值落入第三灰度值范围内的区域识别为漏光缺陷区域。6.根据权利要求3-5中任一项所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述图像处理器配置为执行以下项目中的一种或多种: 计算缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差； 计算每个缺陷区域的面积； 计算每个缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比；以及 确定每个缺陷区域在液晶面板上的位置。7.根据权利要求6所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述图像处理器进一步配置为: 依据缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差、缺陷区域的面积、缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比、缺陷区域在液晶面板上的位置中的至少一项确定每个缺陷区域的缺陷严重等级和/或液晶面板的质量等级。8.根据权利要求7所述的液晶滴注系统，其特征在于，所述通信模块进一步配置为: 将图像处理器确定的缺陷等级、液晶面板的质量等级、以及相应的确定依据通知操作人员；和/或 将所述确定依据发送到液晶滴注设备。9.一种液晶滴注系统的控制方法，其特征在于，该方法包括以下步骤: 获取液晶面板的图像； 对获取的图像进行处理； 基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷；以及 根据与缺陷相关的信息调整液晶滴注工艺的参数。10.根据权利要求9所述的控制方法，其特征在于，对获取的图像进行处理的步骤包 括: 将所述图像转化为灰阶图像。11.根据权利要求10所述的控制方法，其特征在于，基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷的步骤包括: 识别灰阶图像中各像素的灰阶值，并将所述灰阶图像中灰阶值落入预定范围内的区域识别为正常区域，将灰阶值超出所述预定范围内的区域识别为缺陷区域。12.根据权利要求11所述的控制方法，其特征在于，基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷的步骤还包括: 根据缺陷区域的灰阶值确定缺陷的类型。13.根据权利要求12所述的控制方法，其特征在于，根据缺陷区域的灰阶值确定缺陷的类型的步骤进一步包括: 将缺陷区域中的灰阶值落入第一灰度值范围内的区域识别为过充满缺陷区域； 将缺陷区域中的灰阶值落入第二灰度值范围内的区域识别为周边发黄缺陷区域；和/或 将缺陷区域中的灰阶值落入第三灰度值范围内的区域识别为漏光缺陷区域。14.根据权利要求11-13中任一项所述的控制方法，其特征在于，该控制方法还包括以下步骤中的一个或多个: 计算缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差； 计算每个缺陷区域的面积； 计算每个缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比；以及 确定每个缺陷区域在液晶面板上的位置。15.根据权利要求14所述的控制方法，还包括: 依据缺陷区域的灰阶值与正常区域的灰阶值之差、缺陷区域的面积、缺陷区域的面积与液晶面板的面积之比、缺陷区域在液晶面板上的位置中的至少一项确定每个缺陷区域的缺陷严重等级和/或液晶面板的质量等级。16.根据权利要求15所述的控制方法，还包括: 将确定的缺陷等级、液晶面板的质量等级、以及相应的确定依据通知操作人员；和/或 将所述确定依据发送到液晶滴注设备。
【专利摘要】本发明公开了一种液晶滴注系统，包括：液晶滴注设备，其配置为执行液晶滴注工艺以获得液晶面板；图像采集设备，其配置为获取液晶面板的图像；图像处理器，其配置为对获取的图像进行处理，并基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷；和通信模块，其配置为将与图像处理器确定的缺陷相关的信息发送给液晶滴注设备，使得液晶滴注设备能够根据所述信息调整液晶滴注工艺的参数。此外，本发明还公开了一种液晶滴注系统的控制方法，包括：获取液晶面板的图像；对获取的图像进行处理；基于处理后的图像确定液晶面板的缺陷；以及根据与缺陷相关的信息调整液晶滴注工艺的参数。
【IPC分类】G02F1/1341
【公开号】CN105137670
【申请号】CN201510624533
【发明人】蒋学兵, 张然, 赵剑
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 合肥鑫晟光电科技有限公司
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2015年9月25日