发光设备和照明方法与流程

本发明涉及一种发光设备和照明方法，发光设备具有：用于发射至少一个初级光射束的至少一个半导体光源，用于使至少一个初级光射束偏转到发光材料体上的各个所属的不同的位置上的偏转装置，和用于探测由发光材料体发射的光的至少一个光探测器。本发明能特别用于投射设备、如车辆前大灯、舞台聚光灯等。

背景技术：

稳定的LARP(“Laser Activated Remote Phosphor，激光激活远程荧光粉”)系统是已知的，其中，波长转变的发光材料大规模地被稳定的蓝色激光束(“初级光”)照射，并且在此过程中该激光束部分地转变为黄色的光(“次级光”)。未转变的蓝色初级光和转变的黄色次级光一起得出白色的混合光。如果发光材料损坏或者甚至是完全从光路中移除，那么初级光就会有很大部分地并且此外相关地(kohaerent)从LARP系统中溢出。为了阻止这样的事情已知的是，安装两个光探测器，它们对于初级光或者次级光敏感，并且能够从其测量信号的强度的关系中指示发光材料的失效。如果确定了失效，那么就能够关断LARP系统(“安全关断”)，或者减小初级光的光通量，以维持安全规定(“紧急光运行”)。然而，该方法具有的缺点在于，小的损坏是会很难探测到的，并且对损坏的反应实际上导致了LARP系统的功能性中断。

WO 2015/000006A1公开了一种具有至少一个激光源的车辆前大灯，其激光束经由能绕着至少一个轴偏转的微型反射镜偏转到具有光转换荧光粉的发光面，以便在其上扫描地生成发光图像，该发光图像能经由光学系统投射到车道上。在该前大灯中，至少一个图像传感器关于具有光转换荧光粉的发光面如此定位，即，其在微型反射镜的预先确定的偏转位置中检测从发光面出发的次级激光束，并且设置用于发出信号。

技术实现要素：

本发明的目的在于，至少部分地克服现有技术的缺点，并且特别地提供具有至少一个半导体光源和发光材料体的发光设备，其能够实现对发光材料体的损坏的更好反应。

该目的通过一种发光设备实现，其具有：用于发射至少一个初级光射束的至少一个半导体光源，用于使至少一个初级光射束偏转到发光材料体上的各个所属的不同的位置上的偏转装置，用于探测由发光材料体发射的光的至少一个光探测器，和评估装置，其设置用于：(a)根据由至少一个光探测器生成的至少一个测量信号识别发光材料体的损坏；并且(b)使至少一个测量信号与偏转装置上的至少一个位置相关联。

该发光设备具有的优点在于，其能够以简单的方式定位发光材料体上的损坏的位置(即能够实现对发光材料体上的缺陷区域的更好的位置解析)，并且例如取决于损坏的类型和/或大小地激活合适的行为。特别地，有可能是成本有利的，这是因为实际上未位置解析的光探测以简单的方式与位置信息相关联，以便能够以较高的精度确定发光材料体的损坏的位置。

优选地，至少一个半导体光源包括至少一个激光器。该激光器能够是二极管激光器。至少一个半导体光源也能够具有至少一个发光二极管。特别地，半导体光源发送蓝色的初级光，特别是具有例如440nm的波长。

初级光射束的直径通常明显小于发光材料体的能被其照亮的面积。

偏转装置能够具有至少一个能运动的镜子。至少一个能运动的镜子能够具有至少一个能转动或者能摆动的镜子，然而附加地或者可替换地也能是能移动的。能转动的镜子能够占据多个角度位置形式的位置。至少一个镜子能够为了其运动而步进地或者连续地运动。特别地，至少一个镜子能够是共振运行或运动的镜子，例如MEMS(“Mikro-Elektro-Mechanisches System，微电子机械系统”)或者DMD(“Digital Mirror Device”，数字镜装置)。偏转装置除了至少一个能运动的镜子之外还能够具有另外的光学元件，比如至少一个透镜。

一个改进方案在于，至少一个能运动的镜子正好是一个镜子，这能够实现特别简单的结构。特别地，这样的镜子能绕着两个相互垂直的旋转轴偏转或转动，例如绕着x轴和y轴。

还有一个改进方案在于，至少一个能运动的镜子包括多个能运动的镜子。它们能够将初级光射束例如沿各个不同的空间方向偏转，例如用于光发射模型的行或纵型结构。因此能够存在每旋转轴各一个能转动的镜子，例如用于x轴的能转动的镜子和下游的用于y轴的能转动的镜子，或者反之亦然。这样的镜子是能特别简单实施的。

通过偏转装置，至少一个初级光射束也能够轨迹式地扫过发光材料体，或者在发光材料体上通过初级光射束生成的光斑能够在发光材料体上拉划出一个轨迹。这也能够被称为“扫描的”布置。该轨迹能够例如对应于行或纵型照明或者利萨佐斯图形(Lissajousfigur)。然而在此，初级光射束并不能够持续地接通，而是能够为了生成图像模型也在照明和不照明阶段之间交替。然而，至少一个初级光射束或者至少一个所属的半导体光源也能够接通，以得到发光材料体的均匀照亮。例如，初级光射束能够在照亮发光材料体时借助于闭合的图形(例如利萨佐斯图形)持续地接通。其能够在行或纵型照明中也持续接通直至返回到行或纵开端。与发光材料体的稳定的大规模的照明相比，发光材料体通过至少一个初级光射束的轨迹式的照明能够以简单的方式实现对局部损坏的探测。为了显示所期望的图像模型、即强度模型，在发光材料体上能够特别调制地运行初级光源。

一个改进方案在于，发光设备是所谓的“飞点(Fly-Spot)”设备，其使用扫描的方法，并且在此能够通过改变、例如接通和关断和/或强度调制发光材料体上的至少一个初级光射束生成图像模型。

一个改进方案在于，发光材料体借助于正好一个初级光射束能照亮或者照亮，这能够实现特别简单的结构。

还有一个改进方案在于，发光材料体借助于多个不相交(disjunkt)的初级光射束能照亮或者照亮，这能够实现特别高的光通量。特别地，多个光射束是这样“不相交的”，即它们并不或并不总是在相同的位置射到发光材料体上。多个不相交的初级光射束也能够经由共同的偏转装置或者经由多个偏转装置引导。在此，初级光射束相互平行和/或不平行地取向。

发光材料体的能由多个不相交的初级光射束分别照亮的“照明区域”能够是相同的。例如，发光材料体的确定的子区域能够通过多个初级光射束依次地、通常以一定的时间间隔地照亮。

还有一个改进方案在于，属于多个不相交的初级光射束的照明区域是不同的。其能够重叠或者不重叠或者本身在局部是不相交的。

在要整个面地显示的图像信息的意义上一次性完全照亮发光材料体所需要的持续时间能够被称为“图像建立持续时间”。其能够具有几百赫兹、例如250Hz的重复频率。在行式扫描发光材料体时，行的数量特别地能够到几百、例如300。利用250Hz的图像建立频率在行数为300时得到例如13微秒的每行图像建立时间。

发光材料体具有至少一种发光材料，其对此适用于将投射的初级光至少部分地转变或转换为不同波长的次级光。在存在多种发光材料时能够生成波长相互不同的次级光和/或通过不同波长的初级光生成次级光。次级光的波长能够比初级光的波长长(所谓的“下转换”)或者短(所谓的“上转换”)。例如，蓝色的初级光能够借助于发光材料转变为绿色、黄色、橙色或者红色的次级光。在仅部分的波长转变或波长转换中由发光材料体发射由次级光(例如黄色)和未转变的初级光(例如蓝色)的混合物，其能够用作为有效光(例如白色)。

发光材料体能够是(平的)发光材料片，例如陶瓷形式、例如由掺铈钇铝石榴石(Cer-dotiertem Yttrium-Aluminium-Granat)(Ce:YAG)制成。发光材料体也能够是被发光材料层覆盖的载体-例如由蓝宝石制成-。发光材料体能够至少在能通过初级光射束照射的表面上是平坦的。发光材料片能够具有恒定的或变化的厚度。其能够例如具有圆形或四边形的边缘轮廓。

可替换地或者附加地，发光材料片能够至少在能通过初级光射束照射的表面上也不是平坦的，例如是拱形或者波动的。

发光材料体能够是单独的、连续制造的发光材料体，这也能够被称为整体的发光材料体。可替换地，发光材料体能够由分开制造的子区段组合在一起，其相互偏移和/或扭转和/或倾斜和/或翻转，其中，子区段能够设置在共同的平面上，然而这并不需要。

这些子区段或者子发光材料体能够具有相同的或者不同的转变特性(例如有关转变度、应用的发光材料等方面)。这些子区段能够直接地相互邻接和/或相互间隔开。

发光材料体能够存在于或使用在反射布置和/或透射布置中。在反射布置中，这样的由发光材料体发射的光用作为有效光，其由发光材料体的初级光射束射入的那侧发射。在透射布置中，这样的由发光材料体发射的光用作为有效光，其由发光材料体的关于入射的初级光射束背离的那侧发射。特别地不仅能采用反射布置，也能采用透射的布置。在透射布置中最重要的是能实现另外的光学元件、例如分色镜，以用于提高效率。

“初级光学系统”形式的第一光学系统能够连接在至少一个半导体光源的下游，其使得这些或这个由至少一个半导体光源发出的初级光射束单独地光束成型、例如校准。

在至少一个半导体光源或-如果存在-第一初级光学系统和偏转装置之间的光路中能够布置具有至少一个光学元件的第二光学系统。在偏转装置和发光材料体之间的光路中能够布置具有至少一个光学元件的第三光学系统。具有至少一个光学元件的第四光学系统能够光学地连接在发光材料体的下游以用于使得有效光光束成型。第三光学系统和第四光学系统能够具有至少一个共同的光学元件，例如用于将初级光射束对焦到发光体上和用于使从发光材料体发射的有效光输出的至少一个光学元件。

也还能够存在有另外的光学系统或光学元件。

一个改进方案在于，至少一个图像或光探测器设置用于，仅识别初级光-即不识别次级光-。因此，能够例如根据初级光的强度的明显过小或明显过高而识别发光材料体的损坏。光探测器能够例如具有或者就是光电二极管。

还有一个改进方案在于，至少一个光探测器设置用于，仅识别次级光-即不识别初级光-。因此，能够例如根据次级光的强度的明显过小或明显过高而识别发光材料体的损坏。

还有一个改进方案在于，至少一个光探测器设置用于，不仅识别初级光、还识别次级光。因此，能够例如根据混合光的强度的明显过小或明显过高而识别发光材料体的损坏。至少一个光探测器也能够设置用于，通过(特别是标准化的)初级光强度与转换光的强度的改变的关系、例如蓝/黄比识别发光材料体的损坏。

还有一个改进方案在于，至少一个光探测器正好是一个光探测器，其视域特别包括发光材料体的总体能照亮的面积。这能够实现特别简单和物美价廉的结构。因此，通过正好一个光探测器能监视发光材料体的总体的通过初级光射束能照亮或能照射的区域。

此外的一个改进方案在于，至少一个光探测器包括多个光探测器，它们的视域分别包括发光材料体的总体能照亮的面积，并且它们对于不同的波长范围来说是敏感的，特别是识别或者探测要么初级光要么次级光。因此特别地，发光材料体的损坏能够可靠地确定。因此，通过多个不同的光探测器能分别监视发光材料体的总体能照射的面积。

还有一个改进方案在于，至少一个光探测器具有多个光探测器，其视域包括发光材料体的不同的能照亮的面积(“照明区域”)。特别地，这些光探测器能够对于相同的波长范围来说是敏感的，特别是对初级光和/或次级光。特别地，通过该改进方案能够高解析度进而快速和可靠地确定发光材料体的损坏。多个光探测器在发光材料体上的视域能够是重叠或不重叠或者“不相交”的。重叠的布置具有的优点在于，能够可靠地排除发光材料体的能照亮的区域的不能探测的区域或“盲”区。视域的不相交的布置的优点在于，损坏能明确地对应于某个探测器，并且因此简化了损坏的位置确定。特别地，当其相应于不相交的照明区域的相应布置的时候，能有利地应用视域的不相交的布置。

相关联能够是时间上的相关联，特别是对应于损坏的测量信号的时间点或时间段和至少一个初级光射束在发光材料体上的相应于时间点或时间段的位置之间的相关联。因为初级光射束的该位置相应于损害的位置，因此能够实现损害的精确的位置确定。

在此不必要(但可能)的是，清楚地确定或计算发光材料体上的至少一个初级光射束的位置。相反地，测量信号与发光设备的至少一个参数相关联，由此能够明确地推导出发光材料体上的至少一个初级光射束的位置。这样的参数能够例如是从开始图像建立起的时间、偏转装置的驱控电压、偏转装置的位置、从开始图像建立起启程的发光材料体上的至少一个初级光射束的轨迹的长度等。

一个设计方案在于，步骤(a)和/或步骤(b)之后接着至少一个行为的激活，因为特别地能通过发光设备实施安全功能。

该行为能够在最简单的情况下包括安全关断或者为紧急运行使得半导体光源变暗。

还有一个设计方案在于，至少一个行为包括执行至少一个发光材料体的至少一次-特别是扫描总体的发光材料面的-测试照明。通过测试照明或者测试照明流程能够检查或者确定发光材料体的损坏和/或精确地定位损坏。这特别合理的是，至少一个发光体由多个初级光射束照射。

此外的一个设计方案在于，测试照明或者测试照明流程能与损坏无关地执行。因此能够实现的优点在于，发光材料体能够预防性地检查损坏。由此，在发光材料体强力照明以用于生成有效光之前，又能够例如对识别的损坏起反应。

在此，测试照明能够取决于事件地触发或者执行。

因此一个改进方案在于，测试照明在接通或者激活发光设备之前执行，因为在发送有效光射束之前，能够针对损坏预防性地检查发光材料体。

可替换地或者附加地，测试照明能够在转换运行类型(例如在远光和雾光之间)之前执行，因为能够针对发光材料体的在之前使用的运行类型中不被照亮的范围中的损坏预防性地检查发光材料体。

还有一个改进方案在于，测试照明以时间上预设的间距执行或者在预设的时间点执行，因为在发送有效光射束之前，针对损坏能够预防性地检查发光材料体。

此外的一个设计方案在于，测试照明在识别损坏之后能执行或执行。因此，能够例如在250Hz的图像重复频率时总是为测试照明方法应用每秒一次图像建立。因此特别地，能够同时刻地识别发光材料的可能出现的损坏。

测试照明的不同的类型能够相互组合。

还有一个设计方案在于，至少一个发光体能通过至少两个不相交的初级光射束照射，并且至少一个行为包括为每个单独的初级光射束和/或为每个单独的照明范围执行至少一个发光体的至少一次测试照明。这允许准确定位发光材料体上的损坏也用于这样的情况，即在至少一个光探测器识别损坏的时间点，多个不相交的初级光射束照明相同的光探测器的视域中的发光材料体。

另一个设计方案在于，至少一个行为包括如下驱控至少一个半导体光源和/或偏转装置，即不照亮发光材料体上的属于识别的损坏的区域(“损坏区域”)。由此，损坏区域不在照明范围内，从而在这样的发光设备中一方面保障的是，初级光不能以有害的程度射出，并且另一方面能够尽可能地维持照明功能。在仅存在小损坏时能够实用性地仅不知不觉地限制照明功能。在车辆情况下因此显著提高行驶安全性。

损坏区域能够是受损的区域，即在其处识别损坏。损坏区域能够附加地包括围绕着损坏的未损坏的区域，这提高了安全性，即不会无意地照明损坏。因此在该情况下，损坏区域能够具有“安全区域”或者被称为围绕着损坏的安全区域。

构造为安全区域的损坏区域周围完全包围损坏。特别地，其侧面的尺寸能够大于损坏的相应的侧面的尺寸，例如大了固定的(“安全”)系数倍数，例如1.5或2。安全系数能够为各个侧面的方向个别地确定，并且在可能的情况下也进行改变。因此，能够根据发光设备的运行持续时间改变侧面的安全系数，例如随增大的运行持续时间增大安全系数。也能够取决于损坏的位置、即例如在发光材料体或发光设备的中心之中或者在边缘更大或更小地选择安全系数。损坏区域的形状能够任意选择，例如圆形、椭圆形、矩形、正方形、多边形、任意形状。

还有另一个设计方案在于，至少一个行为包括关断至少这种半导体光源，借助于这种半导体光源能照亮发光材料体上的属于识别的损坏的区域。这能够实现特别安全地防止初级光以有害的程度溢出。如果能生成多个不相交的初级光射束，那么就照亮的不同的照明区域，能够实现的是，仅关断或去除激活其初级光射束照亮损坏区域的这些或这个半导体光源。反之，能够接通或者激活其它的半导体光源，从而使其初级光射束继续照亮发光材料体-损坏区域之外-。

此外的一个设计方案在于，根据由至少一个光探测器生成的至少一个测量信号与相应的参考信号的比较执行识别发光材料体的损坏。因此，能够以相对简单的方式识别或确定损坏。参考信号能够计算或测量得出。

特别地，参考信号是与发光材料体上的至少一个初级光射束的位置相关的信号。因此，能够考虑到几何效果、如发光设备中部件的取向或间距(例如从光探测器到发光材料体)和/或有关发光材料体的设计方案的效果。

此外的一个设计方案在于，测量信号或者参考信号利用当前施加的至少一个半导体光源或者至少一个初级光射束的光功率(例如通过当前的光源激励表示)进行标准化。因此，能够例如一并考虑到初级光射束的变暗和/或初级光源的脉冲调制和/或发光材料的饱和、例如通过热冷却触发。初级光辐射的调制能够有利地提高测量传感器对抗外部干扰参量的信噪比，例如在阳光从外面辐射到发光设备中的情况下。

参考信号能够空间解析地-例如图像点方式-进行标准化，即例如对于每个通过发光材料体上的初级光射束生成的图像点来说都存在或应用个别的标准化，或者存在或应用至少一个个别的标准化值。因此，参考信号能够例如为发光材料上的空间解析的点而存在。然而，也能够位置平均地执行标准化，例如局部或按行平均等等地执行。

参考信号能够例如从当前的测试照明的标准化的空间解析的黄/蓝强度比中、和/或从初级光强度和/或转换光强度或者其强度比的更早空间解析的测量中推导出。

评估装置能够是专用的单元或者分布的系统。评估装置也能够实施另外的功能，例如驱控半导体光源和/或偏转装置。因此，评估装置能够是发光设备的控制装置，其具有相应的评估功能。

还有一个设计方案在于，发光设备是照明设备、特别是投射设备或者投射设备的一部分。特别地，本发明能用于投射设备、如车辆前大灯、舞台聚光灯等。

该目的还通过相应的方法实现。该方法能够例如包括：借助于由至少一个光探测器生成的至少一个测量信号识别发光材料体的损坏；并且使至少一个测量信号与偏转装置的至少一个所属的位置相关联。

特别地，该方法能够是照明方法，其中，借助于至少一个初级光射束扫描地照亮发光材料体，探测由发光材料体发射的光，根据探测识别发光材料体的损坏，并且将损坏的识别与发光材料体上的至少一个位置相关联。

附图说明

本发明的上述特性、特征和优点以及实现的方式和方法更加清楚和明确地结合以下联系附图详细阐述的实施例的示意性说明来理解。在此为了清楚起见，相同或作用相同的元件带有相同的参考标号。

图1示出根据第一实施例的发光设备的草图；并且

图2示出根据第二实施例的发光设备的草图。

具体实施方式

图1示出了根据第一实施例的发光设备1的草图。发光设备1具有发射或发出蓝色初级光射束P的激光二极管2形式的半导体光源。激光二极管2能够例如是单独的激光二极管或多个二极管的组，其单个初级光射束聚集成唯一的初级光射束P。

初级光射束P由具有至少一个能转动的镜子3的偏转装置偏转到-例如陶瓷的-片状的发光材料体4上。至少一个镜子3能如此转动，即初级光射束P能够在发光材料体4上画出轨迹B。该轨迹能够如所示那样按行地照明或者“扫描”发光材料体4。至少一个镜子3能够对此持续地(特别是无级地)占据多个或者不同的角度位置，以便将初级光射束P偏转到发光材料体4上的属于轨迹B的不同的位置上。

在初级光射束P入射并在该处生成光斑的位置上将初级光射束P的一部分转变为黄色的次级光S，并且使初级光射束P散射，从而总共由发光材料体4在光斑的位置发出或者发射作为有效光的黄蓝或者白色的混合光P，S。

此外，发光设备1具有带有例如光电二极管的光探测器6，其敏感地对混合光P，S起反应，并且不仅能够探测初级光P、还能探测次级光S。光探测器6的视域包括发光材料体4的能总共通过初级光射束P照亮的区域。因此，光探测器6设计用于探测混合光P，S，其由发光材料体4发射。光探测器6有利地布置在作为有效光发射的混合光P，S的区域中。其在反射的布置中着眼于发光材料体4的初级光射束P射入的那侧。在透射布置中，光探测器6着眼于发光材料体4的与此背离的那侧。

此外，发光设备1具有评估装置7，其设置用于(a)根据由光探测器6生成的至少一个测量信号M识别发光材料体4的损坏C和用于(b)使至少一个测量信号M与发光材料体4上的初级光射束P的至少一个位置相关联。这根据下面的图在评估装置7中示出，而上面的图示出了参考信号R。评估装置7能够是独立的单元并且例如与用于驱动发光设备的控制装置(未示出)耦联。可替换地，评估装置7能够集成到控制装置中，例如作为控制装置的功能。

在两幅图中，y轴能够描绘光探测器6的信号参数、如测量电压等。X轴有利地描绘了与发光材料体4上的初级光射束P的位置相关联的参数，例如从开始图像建立起的时间、至少一个镜子3的驱控电压、至少一个镜子3的角度位置、从开始图像建立起启程的轨迹B的长度等。在x轴上描绘的参数特别能够实现的是，指示发光材料体4上的初级光射束P的位置。

特别地，对于图像建立的持续时间而存在参考信号R。其能够预设用于发光设备1的确定的类型或者对于每个发光设备1个别地确定、特别是测定。

评估装置7对于连续的测量点或测量部段Δx将测量信号M与参考信号R的相应的点或部段进行比较。如果两个信号M和R超过预设的精度，那么由此得出的是，对于该测量点或测量部段Δx(以及在发光材料体4上的所属的位置处)不存在发光材料体4的损坏。其不触发行为。

该比较能够包括测量信号M和/或参考信号R到激光二极管2的当前的电功率和/或光功率的标准化或匹配，以便因此也能够考虑到所要求的功率改变(例如由于使激光二极管2变暗)或者无意的功率改变(例如由于温度效应和/或老化效应)。对此能够例如测量激光二极管2的电功率。

然而，如果如所示的那样(可能标准化的)测量信号M与参考信号R明显不同，那么这意味着在相应的地点或位置上有发光材料体4的损坏C。损坏C能够例如是裂缝、脱落、热冷却等。评估装置7能够根据识别损坏C触发至少一个行为，其能够取决于损坏C的大小和/或类型。

该行为能够在最简单的情况下包括关断激光二极管2或使其变暗。

更好地维持发光设备的功能的行为能够为，评估装置7要么确定损坏C的位置、要么确定损坏C周围的属于识别的损坏C的损坏区域A。损坏区域A在后一种情况中也能够被称为“安全区域”。该损坏区域的确定能够包括计算发光材料体4上的损坏C或所属的损坏区域A的位置，然而并不需要这样。能够足够的是，确定相应的能明确地与位置相关联的其它的参数，例如从开始图像建立起的时间、至少一个镜子3的驱控电压、至少一个镜子3的角度位置、从开始图像建立起启程的轨迹B的长度等。

接下来当初级光射束照亮损坏C或所属的损坏区域A的时候，驱动发光设备1，以使得激光二极管2至少总是随后不发送初级光射束P。因此，在不再照亮损坏C或所属的损坏区域A的期间，能够正常照亮发光材料体4的剩余的部分。这能够显著提高发光设备1的功能性，特别是在损坏C仅是很小的情况下。

构造为安全区域的损坏区域A周围完全包围损坏C。特别地，其侧面的尺寸能够大于损坏的相应的侧面的尺寸，例如大了固定的(“安全”)系数倍数，例如1.5或2。安全系数能够为各个侧面的方向个别地确定，并且在可能的情况下也进行改变。因此，能够根据发光设备1的运行持续时间改变侧面的安全系数，例如随增大的运行持续时间增大安全系数。也能够取决于损坏C的位置、即例如在发光材料体4或发光设备1的中心之中或者在边缘更大或更小地选择安全系数。在此，损坏区域A的形状能够任意选择，例如圆形、椭圆形、矩形、正方形、多边形、任意形状。

作为另外的行为能够例如将消息发送到监视装置。

发光设备1也能够扩展，例如其具有多个在图1中示出的部件组。在此能够应用共同的发光材料体4。在此，能由相应的初级光射束P照亮的照明区域能够是重叠的或不相交的。照明区域中的每个都能够通过至少一个相应的光探测器6能进行监视。

发光设备1能够是投射设备或者投射设备、例如车辆前大灯、效果或舞台聚光灯的一部分。

图2示出了根据第二实施例的发光设备11的草图。发光设备11与发光设备1不同的是，发光材料体4现在能通过多个(在此仅示例性地为两个)不相交的初级光射束P1和P2照亮。不相交的初级光射束P1和P2在此照亮两个实际不相干的照明区域I1和I2，由此能够分别应用类似于发光设备1的设置。所所属的轨迹B1或者B2能够是相同或者不同的。

替代关于发光设备1纯并行的运行，发光设备11仅具有至少一个光探测器6，其监视两个照明区域I1和I2，这能特别简单和物美价廉地实施。因此，光探测器6的可视区域包括两个照明区域I1和I2以及发光材料体4的能共同照射的区域。也仅给定了一个评估装置7。

评估装置7如在发光设备1中那样工作。然而现在，在识别损坏C时首先不明确的是，其存在于照明区域I1和I2中的哪个中。因此，利用识别损坏C执行测试照明，其中，两个照明区域I1和I2在时间上连续地被其相应的初级光射束P1或者P2照明，特别是完全地照明。因此，评估装置7能够单独针对损坏C检查照明区域I1和I2中的每个。在此，在所示的情况中损坏C能够明确地对应于照明区域I2，并且能够对于该照明区域I2执行向在发光设备1中那样的类似地行为。照明区域I1能够与此无关地照亮。

尽管通过优选的实施例在细节上详细地阐述并描述了本发明，但本发明并不局限于所公开的实例，并且其他的变体能够由专业人员推导出，这并不脱离本发明的保护范围。

一般地，能够将“一个”理解为单个或者多个，特别地，在“至少一个”或者“一个或者多个”等的意义上理解“一个”，只要其没有被明确地排除，例如通过“正好一个”等的表达。

数量说明也能够精确地包括也作为习惯上的公差范围的所给出的数量，只要其没有被明确地排除。

附图标记列表

1 发光设备

2 激光二极管

3 镜子

4 发光材料体

6 光探测器

7 评估装置

11 发光设备

A 损坏区域

B 发光材料体上的轨迹

B1 发光材料体上的轨迹

B2 发光材料体上的轨迹

C 损坏

Δx 测量信号的测量点或测量部段

I1 照明区域

I2 照明区域

M 测量信号

P 初级光射束

P1 初级光射束

P2 初级光射束

R 参考信号

S 次级光。