一种具有导光装置的光源的制作方法

本实用新型属于光源设备技术领域，具体涉及一种具有导光装置的光源。

背景技术：

在机器视觉检测中，被检测对象的形状各异，工业相机为采集到完整、清晰的图像，需要光源的密切配合，不仅要求光照能完整覆盖被检测对象，还要考虑光照效率，希望光线能集中照射在被检测对象上，减小发散, 从而降低功耗。因此，需要选择合适的光源作为检测光源。

现有技术中，光源一般都是采用LED作为发光器，LED水平阵列排布，由于LED本身特性，LED发光角度一般在30°以上，此种设计方案，存在以下缺陷：

1.产生杂光，干扰相邻特征检测。当同一个工件，需要同时检测两个或两个以上相邻位置特征时，由于LED有一定发光角度，当光线照射到某一个特征上时，光线是分散传播的，多余的杂光会干扰到相邻特征的检测。目前的解决方案一般是将特征分开检测，每个特征检测一次，在特征较多的情况下，一个工件可能需要来回重复检测多次，效率非常低。

2.单个光源无法改变照射方向：由于发光体LED水平阵列排布，当光源需要利用LED一定照射角度时，只有通过两个或多个光源组合使用，将光源倾斜一定角度安装，以达到改变光源照射角度目的，这样会导致安装空间变大，光源数量增加，进而造成成本增加。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于：针对现有技术的不足，而提供一种具有导光装置的光源，以消除余光干扰，提高光照利用率，同时，单个光源改变照射方向，从而降低生产成本。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种具有导光装置的光源，包括导光装置，所述导光装置包括基板、设置于所述基板的透光结构、设置于所述基板并与所述透光结构对接的导光结构，所述基板用于阻挡光的传播，所述导光结构用于将来自于所述透光结构的光聚集到待测物体表面。在对待测物体进行检测时，从透光结构中出来的光直线传播进入导光结构，在导光结构的引导下，光的传播方向发生改变，光向待测物体表面聚集，减少发散，消除了余光干扰，提高了工作效率，该光源结构简单，光照利用率高，实用性强。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述导光结构呈矩形均匀分布于所述基板。这种结构设计便于将光的传播方向向待测物体表面聚集，同时便于工业化、大批量生产。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述导光结构的个数至少为4个。根据实际生产的需求，导光结构的个数可以灵活地设置成多个。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述导光结构包含凸透镜和/或反射镜。除此之外，导光结构还可以包含其他的能够改变光的传播方向的机构。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述透光结构为通孔或镜片。除此之外，透光结构还可以是其他的能够达到相同效果的机构。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，还包括光源发生装置，所述光源发生装置与所述导光装置对应。光源发生装置发出的光是分散传播的，如果直接检测待测物体，会有很多余光干扰检测结果。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述光源发生装置包括基座、发光器、控制器和电源，所述发光器设置于所述基座，所述发光器与所述透光机构对应，所述发光器与所述控制器电连接，所述控制器与所述电源电连接。电源提供了工作所需的电量，通过控制器可以控制发光器发出的光照强度。

作为本实用新型所述的具有导光装置的光源的一种改进，所述发光器为LED或日光灯。除此之外，发光器还可以是其他的能够达到相同效果的器件。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型中实施例1的主视的结构示意图 ；

图2为本实用新型中实施例1的侧视的结构示意图 ；

图3为本实用新型中导光结构的结构示意图之一；

图4为本实用新型中导光结构的结构示意图之二；

图5为本实用新型中导光结构的结构示意图之三；

图6为本实用新型中实施例2的主视的结构示意图 ；

图7为本实用新型中实施例2的侧视的结构示意图 ；

图8为本实用新型中实施例3的主视的结构示意图 ；

图9为本实用新型中实施例3的侧视的结构示意图 ；

其中：1-导光装置；11-基板；12-透光结构；13-导光结构；2-光源发生装置；21-基座；22-发光器；23-控制器；24-电源；3-待测物体；4-凸透镜；5-反射镜。

具体实施方式

如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接 ；可以是机械连接，也可以是电连接 ；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明，但不作为对本实用新型的限定。

实施例1

如图1-5所示，一种具有导光装置的光源，包括导光装置1，导光装置1包括基板11、设置于基板11的透光结构12、设置于基板11并与透光结构12对接的导光结构13，基板11用于阻挡光的传播，导光结构13用于将来自于透光结构12的光聚集到待测物体3表面。在对待测物体3进行检测时，从透光结构12中出来的光直线传播进入导光结构13，在导光结构13的引导下，光的传播方向发生改变，光向待测物体3表面聚集，减少发散，消除了余光对物体测量的干扰，提高了工作效率，该光源结构简单，光照利用率高，实用性强。

优选的，导光结构13呈矩形均匀分布于基板11。这种结构设计便于将光的传播方向向待测物体3表面聚集，同时便于工业化、大批量生产。

优选的，导光结构13呈两排两列均匀排列。这种设计用于测量较小的物体。

优选的，导光结构13包含凸透镜4和/或反射镜5。除此之外，导光结构13还可以包含其他的能够改变光的传播方向的机构。

优选的，透光结构12为通孔或镜片。除此之外，透光结构12还可以是其他的能够达到相同效果的机构。

本实用新型还包括光源发生装置2，光源发生装置2与导光装置1对应。光源发生装置2发出的光是分散传播的，如果直接检测待测物体3，会有很多余光干扰检测结果。

优选的，光源发生装置2包括基座21、发光器22、控制器23和电源24，发光器22设置于基座21，发光器22与透光机构对应，发光器22与控制器23电连接，控制器23与电源24电连接。电源24提供了工作所需的电量，通过控制器23可以控制发光器22发出的光照强度。

优选的，发光器22为LED或日光灯。除此之外，发光器22还可以是其他的能够达到相同效果的器件。

本实用新型的工作原理是：电源24提供了工作所需的电量，通过控制器23可以控制发光器22发出的光照强度，发光器22产生的光穿过透光结构12，紧接着进入导光结构13，在导光结构13的作用下，光的传播方向发生改变，光向待测物体3表面聚集，从而消除了余光对物体测量的干扰，通过调节控制器23可以改变所述发光器22产生的光照强度，从而改变了待测物体表面的光照强度，通过调整导光结构13的出光角度，达到调整光照角度的目的。

实施例2

如图6-7所示，与实施例1不同的是：本实施例中的导光结构13呈两排七列均匀排列。这种设计用于测量较大的物体。

其他结构与实施例1中相同，这里不再赘述。

实施例3

如图8-9所示，与实施例1不同的是：本实施例中的导光结构13呈两排七列均匀排列。这种设计用于测量较大的物体，同时加强了光照效果。

其他结构与实施例1中相同，这里不再赘述。

上述说明示出并描述了本实用新型的若干优选实施例，但如前所述，应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述实用新型构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围，则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。