本发明涉及一种化学镀金浴。
背景技术:
1、金具有仅次于银、铜的高电导率,热压合的连接性等物理性质优异,并且耐氧化性、耐化学性等化学性质也优异。因此,在电子工业领域,用金进行的镀金被作为印刷线路板的电路、ic封装体的安装部分或端子部分等的最终表面处理法而广泛使用。近年来,伴随着电子部件的小型化、高密度化,较适宜使用不需要导线而功能性等优异的化学镀覆法。
2、作为该化学镀覆法,例如使用化学镀镍浸金法(electroless nickel immersiongold:enig)。通过使用该enig法能够得到依次镀上了化学镀镍膜、置换镀金膜的镀膜。例如,还使用化学镀镍钯浸金法(electroless nickel electroless palladium immersiongold:enepig)。通过使用该enepig法能够得到依次镀上了化学镀镍膜、化学镀钯膜以及置换镀金膜的镀膜。
3、作为在这些化学镀覆法中使用的还原置换型化学镀金浴,例如有人提出以下化学镀金浴。该化学镀金浴含有水溶性金化合物、络合剂和还原剂,作为稳定剂添加了聚乙烯醇和/或聚乙烯吡咯烷酮。并且,通过使用如此的构成,能够仅在金属部分形成良好的镀金膜,适合用于陶瓷ic或封装体等的镀金处理(例如,参照专利文献1)。
4、专利文献1:日本专利公报专利第2927142号
技术实现思路
1、-发明要解决的技术问题-
2、此处,在上述现有化学镀金浴中,由于金难以在镀钯膜上析出,因此存在以下问题:在微小的端子部分等,镀金膜的形成不充分,难以形成均匀的镀金膜。
3、为了在镀镍膜上形成具有充分厚度(0.1μm以上的厚度)的镀金膜,需要在对被镀覆物上形成置换镀金膜后,再使用上述化学镀金浴来形成化学镀金膜,因此存在需要两道工序的问题。
4、于是,鉴于上述问题,本发明的目的在于:提供一种化学镀金浴,其在enig法和enepig法的任一种方法中,都能够用一道工序来形成均匀的具有充分厚度的镀金膜。
5、-用于解决技术问题的技术方案-
6、为达成上述目的,本发明所涉及的化学镀金浴含有亚硫酸金盐、硫代硫酸盐、抗坏血酸类、肼类,其特征在于:肼类为从己二酸二酰肼、丙酸酰肼、硫酸肼、单盐酸肼、二盐酸肼、碳酸肼、肼一水合物、癸二酸二酰肼、十二烷二羧酸二酰肼、间苯二甲酸二酰肼、水杨酸酰肼、3-氢-2-萘甲酸酰肼、二苯甲酮腙、苯肼、苯甲基肼单盐酸盐、甲基肼硫酸盐、异丙基肼盐酸盐、1,1-二甲基肼、2-肼基苯并噻唑、乙酰肼、2-羟乙基肼、乙氧羰基肼、甲氧羰基肼、苯肼-4-磺酸以及苯甲酰肼所构成的组中选择的至少一种。
7、-发明的效果-
8、根据本发明,能够提供一种化学镀金浴,其在enig法和enepig法的任一种方法中,都能够用一道工序来形成均匀的具有充分厚度的镀金膜。
1.一种化学镀金浴,其含有亚硫酸金盐、硫代硫酸盐、抗坏血酸类、肼类,其特征在于:
2.根据权利要求1所述的化学镀金浴,其特征在于:
3.根据权利要求1或2所述的化学镀金浴,其特征在于:
4.根据权利要求1或2所述的化学镀金浴,其特征在于:
5.根据权利要求1或2所述的化学镀金浴,其特征在于: