技术总结
本发明公开了一种低熔点包装膜，按质量百分数计，该低熔点包装膜的配方为：乙烯醋酸乙烯共聚物65％；二氧化硅2％；硫酸钡(沉淀法)2％；低密度聚乙烯23％；复合开口母料8％。本发明在配方中添加成核剂二氧化硅，使得包装膜具有良好的透明度；并且熔点控制在90±1℃，熔点稳定，不易破损。该低熔点包装膜特别适用于生产袋宽≤400mm的低熔点包装袋，获得的包装袋尺寸稳定，纵横向物性一致，封合强度高，不易产生形变，不易破损；透明度高，无皱褶，外观优良。
技术研发人员：周中华
受保护的技术使用者：潍坊仲铂新材料有限公司
文档号码：201611023050
技术研发日：2016.11.18
技术公布日：2017.05.10