本发明涉及薄膜,尤其涉及一种高透低雾光学基膜及其制备方法。
背景技术:
1、目前双向拉伸聚酯薄膜(bopet)是一种综合性能优良的高分子薄膜材料,它以聚对苯二甲酸乙二醇酯(pet)为主要原料,经结晶干燥、挤出熔融、铸片和双轴拉伸定向而得,其具有机械强度高、耐温性好、电绝缘性能优良和耐化学腐蚀的有点,被广泛使用在护目镜以及各种头盔的镜片保护上。
2、但在前述的现有技术中,在使用过程中,遭遇雨水、受潮或者冷气,容易导致膜面起雾,影响使用,同时光学基膜的透明性也较差,因此使用体验不佳。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种高透低雾光学基膜及其制备方法,解决现有技术中在使用过程中,遭遇雨水、受潮或者冷气,容易导致膜面起雾,影响使用,同时光学基膜的透明性也较差,因此使用体验不佳的问题。
2、为实现上述目的,本发明提供了一种高透低雾光学基膜,按重量份计,其制备原料包括:
3、100-130份苯二甲酸、100-130份乙二醇、1-3份醋酸钴、10-12份纳米分散液、1-3份聚乙烯基吡咯烷酮、1-3份平平加、10-12份蒸馏水、2-6份光固化剂、2-6份光引发剂和1-3份催化剂。
4、其中,所述光固化剂为酚醛环氧丙烯酸酯、改性环氧丙烯酸酯或环氧化油丙烯酸酯的一种。
5、其中,所述光引发剂为二芳基碘鎓盐、三芳基硫鎓盐或烷基硫鎓盐的一种。
6、本发明还提供一种高透低雾光学基膜制备方法,采用上述所述的高透低雾光学基膜,包括如下步骤:
7、将所述苯二甲酸、所述乙二醇和所述醋酸钴依次加入所述蒸馏水,使用搅拌机搅拌均匀,得到第一产物;
8、将所述纳米分散液加入所述第一产物并搅拌加热,得到第二产物;
9、将所述聚乙烯基吡咯烷酮、所述平平加和所述蒸馏水进行混合搅拌,使其溶解,然后等待沉淀,得到第三产物;
10、将所述第二产物和所述第三产物混合搅拌并加热,得到第四产物;
11、在所述第四产物内依次加入所述光固化剂、所述光引发剂和所述催化剂,并进行均匀搅拌和加热,然后等待其反应结束,得到第五产物;
12、将所述第五产物送入腔体中进行成型,再进行冷却铸片,最后经过重新预热拉伸后完成定型,得到高透低雾光学基膜。
13、其中,在所述将苯二甲酸、所述乙二醇和所述醋酸钴依次加入所述蒸馏水,使用搅拌机搅拌均匀,得到第一产物的步骤中:
14、搅拌速率为100-130r/min。
15、其中,在将所述纳米分散液加入所述第一产物并搅拌加热,得到第二产物的步骤中:
16、搅拌速率为100-130r/min,温度为220-260℃。
17、其中,在将所述聚乙烯基吡咯烷酮、所述平平加和所述蒸馏水进行混合搅拌,使其溶解,然后等待沉淀,得到第三产物的步骤中:
18、搅拌速率为100-130r/min,温度为220-260℃,沉淀时间为24-26小时。
19、其中,在将所述第二产物和所述第三产物混合搅拌并加热,得到第四产物的步骤中:
20、搅拌速率为100-130r/min,温度为220-260℃。
21、其中,在所述第四产物内依次加入所述光固化剂、所述光引发剂和所述催化剂,并进行均匀搅拌和加热,然后等待其反应结束,得到第五产物的步骤中:
22、搅拌速率为100-130r/min,温度为220-260℃,反应时间为1-3小时。
23、其中,在将所述第五产物送入腔体中进行成型,再进行冷却铸片,最后经过重新预热拉伸后完成定型,得到高透低雾光学基膜的步骤中:
24、预热温度为70-90℃,热定型温度为220-260℃。
25、本发明的一种高透低雾光学基膜及其制备方法,将所述苯二甲酸、所述乙二醇和所述醋酸钴依次加入所述蒸馏水,使用搅拌机搅拌均匀,得到第一产物,将所述纳米分散液加入所述第一产物并搅拌加热,得到第二产物,将所述聚乙烯基吡咯烷酮、所述平平加和所述蒸馏水进行混合搅拌,使其溶解,然后等待沉淀,得到第三产物,将所述第二产物和所述第三产物混合搅拌并加热,得到第四产物,在所述第四产物内依次加入所述光固化剂、所述光引发剂和所述催化剂,并进行均匀搅拌和加热,然后等待其反应结束,得到第五产物,将所述第五产物送入腔体中进行成型,再进行冷却铸片,最后经过重新预热拉伸后完成定型,得到高透低雾光学基膜,由此使得光学基膜具备高透光性和低雾的使用性能。
1.一种高透低雾光学基膜,其特征在于,按重量份计,其制备原料包括:
2.如权利要求1所述的高透低雾光学基膜,其特征在于,
3.如权利要求2所述的高透低雾光学基膜,其特征在于,
4.一种高透低雾光学基膜制备方法,采用如权利要求3所述的高透低雾光学基膜,其特征在于,包括如下步骤:
5.如权利要求4所述的高透低雾光学基膜制备方法,其特征在于,
6.如权利要求5所述的高透低雾光学基膜制备方法,其特征在于,
7.如权利要求6所述的高透低雾光学基膜制备方法,其特征在于,
8.如权利要求7所述的高透低雾光学基膜制备方法,其特征在于,
9.如权利要求8所述的高透低雾光学基膜制备方法,其特征在于,
10.如权利要求9所述的高透低雾光学基膜制备方法,其特征在于,