技术特征：
技术总结
本发明涉及一种用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法，包括以下步骤：a.对器件表面进行抗结露处理；b.记录器件在正常环境中、通电正常工作状态下的性能参数；c.将器件置于结露环境中；d.对结露环境中的所述器件通电，监测并记录所述器件在结露环境中通电状态下的性能参数。根据本发明的用于航天器密封舱内的器件抗结露环境模拟测试方法简单有效，测试成本低，测试结果准确可信。
技术研发人员：明章鹏
受保护的技术使用者：北京空间技术研制试验中心
技术研发日：2017.11.21
技术公布日：2018.04.24