专利名称：环状元件测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属机械领域，具体是一种应用于自动分选机的环状元件测试装置。
背景技术：
在环状磁性元件的加工过程中，需要对不同磁性参数的环状元件进行检测分选，手工进行检测，效率非常低下。
发明内容
本实用新型的目的是提出一种环状元件测试装置，实现对环状元件的自动检测，提高检测效率。
本实用新型的目的是这样实现的本实用新型的环状元件测试装置包括一个转动的测试轮，测试轮的轮缘上均匀分布若干套杆，有一测试弹性电极与套杆相触。
本实用新型的环状元件测试装置，在测试轮转动时，自动将环状元件依次穿置在套杆上，在套杆与测试弹性电极接触的瞬间测出环状磁性元件的磁性参数。因此，可实现对磁性环状元件的自动检测，提高检测效率的目的。
图1为本实用新型的环状元件测试装置的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图通过实施例对本实用新型作进一步说明如图1所示，本实用新型的环状元件测试装置包括一个转动的测试轮(4)，测试轮(4)的轮缘上均匀分布套杆(5)，磁性环状元件(3)被弹簧(2)卡在输送导轨(1)的端口，当测试轮(4)转动时，自动将输送导轨(1)端口处的磁性环状元件(2)依次穿置在套杆(5)上，在测试弹性电极(6)与套杆(5)相触时，测出磁性环状元件(2)参数，测试完毕后的磁性环状元件(2)下落在输送装置(7)上。
权利要求1.一种环状元件测试装置，包括一个转动的测试轮(4)，其特征在于测试轮(4)的轮缘上均匀分布套杆(5)，有一测试弹性电极(7)与套杆(5)相触。
专利摘要一种环状元件测试装置包括一个转动的测试轮；测试轮的轮缘上均匀分布套杆，有一测试弹性电极与套杆相触。本实用新型的环状元件测试装置，在测试轮转动时，自动将环状元件依次穿置在套杆上，在套杆与测试弹性电极接触的瞬间测出环状磁性元件的磁性参数。因此，可实现对环状元件的自动检测，提高检测效率的目的。
文档编号B07C5/34GK2933617SQ20062010651
公开日2007年8月15日 申请日期2006年8月9日 优先权日2006年8月9日
发明者张红平, 周国平, 谢学风, 张治生 申请人:嘉兴市同信机电科技有限公司