具有限位挡块的拾取器结构的制作方法

本实用新型涉及一种用于电子组件取放的机构，更具体地说，本实用新型涉及一种用于电子组件分类测试机台上的、具有限位挡块的拾取器结构，属于半导体测试设备技术领域。

背景技术：

如图1所示，为习用电子组件分类测试机台的平面俯视图。分类测试机台100前端处设有供料承盘101用以存放待测电子组件，以及设有多个收料承盘102用以存放已测电子组件。取放装置103滑走于X轴轨道104及Y轴轨道105。在运时作时是从供料承盘101中拾取一待测电子组件，并将其置于梭动器106的前容置槽106a内。接着，藉由移载轨道107将前容置槽106a从传统分类测试机台100的前端移动至后端。

测试区取放装置108滑走于X轴轨道109及Y轴轨道110，其将某一测试区111中的已测电子组件取出并置于后容置槽106b内。紧接着，将暂存于前容置槽106a的待测电子组件置入测试区111中的测试插座112以进行测试。前述暂存于后容置槽106b的已测电子组件则藉由移载轨道107及取放装置103，依照该电路的测试结果置于其中一个收料承盘102中。

如图2所示，在前述分类测试机台中，在测试不同型号及规格的电子组件或维修机台时，需一并更换梭动器106与取放装置103的零配件，例如该拾取器103a，并进行后续调校梭动器106与取放装置103的相对位置，但常因人员操作不慎，取放装置103的拾取器103a常过度下压，从而会损害待测电子组件400及拾取器103a。

目前传统分类测试机台的取放操作人员在调整电子组件至梭动器106放置吸取材料时，依靠目测调整，机台此位置为上下作动，极易造成电子组件损坏。尤其是在以下几种情况下：第一，目前测试电子组件厚度越来越薄；第二，效率的不断提升，对机台运行速度要求越来越快；第三，人员在维修机台故障时，针对表象去调整，忽略细节面确认，从而于此位置会出现损坏电子组件，且不易被发现。

因此，在目前产品越来越薄，越来越小的发展趋势，生产效率要求越来越高，及人员稳定性不高的情况，如何提供一种结构简单的防损坏设计，可以针对传统取放装置机型，手臂至梭动器吸取或放置时有效杜绝损坏电子组件的风险，已然成为业界研究人员长期以来一直努力的方向。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于提供一种具有限位挡块的拾取器结构，以克服现有技术中的不足。

为了实现前述目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型实施例提供了一种具有限位挡块的拾取器结构，其包括：依序串接的吸嘴本体、设置于所述吸嘴本体上的限位挡块、以及吸放头，所述限位挡块的径向尺寸大于所述吸嘴本体。

作为较佳优选实施方案之一，所述限位挡块沿所述吸嘴本体的径向向外延伸。

作为较佳优选实施方案之一，所述限位挡块的下边缘至吸嘴本体的底部之间的距离与待吸取或放置的电子组件的厚度之和等于所配合的容置槽的高度。

作为较佳优选实施方案之一，所述限位挡块的宽度大于所配合的容置槽的宽度。

进一步地，所述吸嘴本体与所述限位挡块为一体成型设置。

进一步地，所述吸嘴本体与所述限位挡为可分离式设置。

进一步地，所述吸放头与所述限位挡块为可分离式设置。

进一步地，所述吸放头、所述限位挡块及所述吸嘴本体为一体成型设置。

进一步地，所述限位挡块的形状包括圆形、椭圆形、方形-、多边形等其中至少一种

进一步地，所述吸嘴本体、所述吸放头内设有至少用以提供负压的供气管道。

本实用新型提供的具有限位挡块的拾取器结构设计简单合理，通过设置限位挡块，可以在吸嘴本体将电子组件移至移载装置的容置槽内时，可以有效限制在吸取、放置电子组件时的高度位置，不仅可以有效杜绝过压损坏电子组件与吸嘴本体的风险，而且还可以针对操作人员练习时一些细节作业可能会造成的一些问题点进行预防与防堵，以达到零损坏、高品质的目的，具有广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为现有技术中电子组件分类测试机台的平面俯视图。

图2为现有技术中电子组件分类测试机台中的梭动器与取放装置的示意图。

图3是本实用新型一典型实施方案之中一种具有限位挡块的拾取器结构的立体图示意图。

图4a是本实用新型一典型实施方案之中一种具有限位挡块的拾取器结构的应用示意图之一。

图4b是本实用新型一典型实施方案之中一种具有限位挡块的拾取器结构的应用示意图之二。

图5是本实用新型一典型实施方案之中一种具有限位挡块的拾取器结构于电子组件分类测试机台上整体应用示意图。

附图标记说明：100-分类测试机台，101-供料承盘，102-收料承盘，103-取放装置，103a-拾取器，104-X轴轨道，105-Y轴轨道，106-梭动器，106a-前容置槽，106b-后容置槽，107-移载轨道，108-测试区取放装置，109-X轴轨道，110-Y轴轨道，111-测试区，112-测试插座，200-拾取器，210-吸嘴本体，220-限位挡块，230-吸放头，240-供气管道，300-移载装置，310-容置槽，400-电子组件，500-取放装置，600-机台本体，700-轨道。

具体实施方式

鉴于现有技术中的不足，本案发明人经长期研究和大量实践，得以提出本实用新型的技术方案，如下将对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。

下面将结合附图及典型案例对本实用新型的技术方案进行清楚、完整的描述。

请参阅图3所示，为本实施例中的一种具有限位挡块的拾取器结构的立体图，该拾取器200包括：依序串接在一起的吸嘴本体210、限位挡块220、以及吸放头230，所述限位挡块220可设置于该吸嘴本体210上，沿所述吸嘴本体210径向向外延伸，因此所述限位挡块220的径向尺寸大于所述吸嘴本体210。进一步地，所述限位挡块220的形状可以是几何形状或是不规则形状，只要能够起到限制高度的作用均可，优选包括圆形、椭圆形、方形、多边形等其中至少一种，本实施例采用的是圆形。在本实施例中所述吸嘴本体210与所述限位挡块220为一体成型设置，但并不以此为限，亦可采用可离式。当所述吸嘴本体210与所述限位挡块220为一体成型时，与所述吸放头23可采用可分离式，通过螺纹连接所述吸放头230与所述限位挡块220，根据实际情况迅速更换尺寸合适的限位挡块220，便于进行后续维修及改机换线的作业。但亦不以此为限，所述吸放头230、所述限位挡块220及所述吸嘴210亦可为一体成型设置。进一步地，所述吸嘴本体210、所述吸放头230内设有至少用以提供正压及负压的供气管道240。

参见图4a所示，于分类测试机台中之移载装置300具有至少一容置槽310，用以供欲吸取或放置的电子组件400放置其中，所述限位挡块220的下边缘至吸嘴本体210的底部之间的距离(即H1)与电子组件400的厚度(即H2)之和等于所述容置槽310的高度(即H)，这样可以保证在吸嘴本体210将电子组件400移至移载装置300的容置槽310内时，使得拾取器200不会过度下压，损害待测电子组件400及拾取器200，有效杜绝过压损坏电子组件400与吸嘴本体210的风险。

参见图4b所示，所述限位挡块220的宽度(即L1)大于所述容置槽310的宽度(即L2)，这样可以有效将吸嘴本体210卡住，有效限制符合电子组件400时的适合高度位置。这样设置使得拾取器200若过度下压至移载装置300，会由限位挡块220限制向下行程的高度，杜绝损害待测电子组件400及吸嘴本体210。

参见图5所示，本实施例中的一种具有限位挡块的拾取器于电子组件分类测试机台上整体应用示意图，其包括：安装前述数个所述拾取器200的取放装置500，所述取放装置500固定设置于机台本体600上；以及，与所述取放装置500配合的移载装置300，所述移载装置300设置于轨道700上，所述移载装置300包括复数个容置槽310，所述容置槽310用于配合所述拾取器200及容置待吸取或放置的电子组件400。

本实用新型的原理及使用操作如下：如图5所示，在吸嘴本体210将电子组件400吸取或放置移至移载装置300的容置槽310内时，由于设置有限位挡块220，可以有效将吸嘴本体210卡住并限制在吸取、放置电子组件时的适合高度位置，使得拾取器200不会过度下压，杜绝损害待测电子组件400及吸嘴本体210的风险。

藉由上述技术方案，本实用新型的具有限位挡块的拾取器结构设计简单合理，通过设置限位挡块，可以在吸嘴本体将电子组件移至移载装置的容置槽内时，可以有效限制在吸取、放置电子组件时的高度位置，不仅可以有效杜绝过压损坏电子组件与吸嘴本体的风险，而且还可以针对操作人员练习时一些细节作业可能会造成的一些问题点进行预防与防堵，以达到零损坏、高品质的目的，具有广泛的应用前景。

虽然结合附图对本实用新型进行了说明，但是附图中公开的实施例旨在对本实用新型优选实施方式进行示例性说明，而不能理解为对本实用新型的一种限制。

本实用新型的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本实用新型的教示及揭示而作种种不背离本实用新型精神的替换及修饰，因此，本实用新型保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本实用新型的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。