一种快速筛检金属件槽/孔高度缺陷的装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型是涉及一种快速筛检金属件槽/孔高度缺陷的装置，属于质量控制技术领域。
【背景技术】
[0002]由于金属件都是通过多道成型工序加工而成，在加工成型中，容易使开槽或孔形成向外的凸起或向内的凹陷等变形情况，以致会影响金属件的装配性能，因此，为了避免影响金属件的装配，需要对所加工金属件的凹槽、孔的高度尺寸是否在误差范围内进行筛检，以及时剔除不良产品。
[0003]目前，实现金属件槽/孔高度尺寸的检测通常采用如下方法:
[0004]1、三次元量测仪，其基本原理就是通过探测传感器(探头)与测量空间轴线运动的配合，对被测几何元素进行离散的空间点位置的获取，然后通过一定的数学计算，完成对所测的点(点群)的分析拟合，最终还原出被测的几何元素，并在此基础上计算其与理论值之间的偏差。虽然这种检测方法的精度非常高，但存在检测效率低、检测成本高等缺陷，不适用于批量化检测，只适用于抽检，以致不能满足批量化生产高精度金属件的质检要求；
[0005]2、采用激光感应器检测，通过探针组件的多次移动以检测产品各点，这种检测方法不仅存在效率低、检测精度不能调节等缺陷，而且结构复杂、成本高、稳定度不足、容易受环境因素影响，因此，此检测方法也不适用于批量化生产高精度金属件的质检要求。
【实用新型内容】
[0006]针对现有技术存在的上述问题，本实用新型的目的是提供一种快速筛检金属件槽/孔高度缺陷的装置，以实现对所加工金属件的槽/孔高度缺陷进行批量化筛检，保证所出售的金属件的品质能满足高精度装配要求。
[0007]为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0008]—种快速筛检金属件槽/孔高度缺陷的装置，包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干双色指示灯;所述金属浮动触头绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，在其位于导电金属平台下方的部位上套设有弹簧，所述弹簧的底端与设在底座表面上的导电金属片相抵触;并且，在所述导电金属片上开设有穿孔，在所述底座上开设有与所述穿孔相连通的螺孔，在所述螺孔内设有限位金属触头，所述金属浮动触头能穿过穿孔与限位金属触头相抵触;位于同一个金属浮动触头正下方的导电金属片和限位金属触头分别通过金属导线与同一个双色指示灯电连接，所述双色指示灯通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。
[0009]作为一种实施方案，在自然状态下，所述金属浮动触头的最高点位于待检金属件槽/孔高度的上限位置，所述金属浮动触头的下端距离限位金属触头顶端的间距值为待检金属件槽/孔高度的最大允许上限误差值与最大允许下限误差值之和。
[0010]作为进一步实施方案，所述金属浮动触头包括上部、中部和下部，且位于上部与下部之间的中部形成凸台，从而达到对所述弹簧的限位。
[0011]作为优选方案，在所述上部与导电金属平台的接触面间设有绝缘套，在所述中部与导电金属平台的接触面间设有绝缘垫。
[0012]作为一种实施方案，所述限位金属触头通过螺纹连接设置在所述螺孔内。
[0013]作为优选方案，所述双色指示灯为LED灯。
[0014]相较于现有技术，本实用新型的有益技术效果在于:
[0015]因使用本实用新型所述装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯颜色的变化，即可直观判断待检金属件的槽/孔高度尺寸是否存在缺陷，不仅操作简单、快速，而且结构简单、受外界因素影响小、检测结果准确可靠、检测精度可控；因此，本实用新型所述装置可用于对大批量金属件的槽/孔高度缺陷进行快速筛检，以保证所出售的金属件的品质能满足高精度装配要求，具有明显的工业应用价值和显著性进步。
【附图说明】
[0016]图1为实施例提供的一种快速筛检金属件槽/孔高度缺陷的装置的结构示意图；
[0017]图2为图1中的局部放大图。
[0018]图中标号示意如下:1、底座;2、导电金属平台；21、检测区；3、金属浮动触头;31、上部;32、中部;33、下部;4、双色指示灯;5、弹簧;6、导电金属片;61、穿孔;7、电源;8、螺孔;9、限位金属触头;10、金属件;11、绝缘套;12、绝缘垫。
【具体实施方式】
[0019]以下结合附图和具体实施例，对本实用新型的技术方案做进一步清楚、完整地描述。
[0020]实施例
[0021]结合图1和图2所示:本实施例提供的一种快速筛检金属件槽/孔高度缺陷的装置，包括底座I和导电金属平台2，在所述导电金属平台2上设有检测区21，在所述检测区21内设有若干金属浮动触头3;在位于检测区21外周的导电金属平台2上设有若干双色指示灯4;所述金属浮动触头3绝缘穿设在检测区21内的导电金属平台2上，且在其位于导电金属平台2下方的部位上套设有弹簧5，所述弹簧5的底端与设在底座I表面上的导电金属片6相抵触；在所述导电金属片6上开设有穿孔61，在所述底座I上开设有与所述穿孔61相连通的螺孔8，在所述螺孔8内设有限位金属触头9，所述金属浮动触头3能穿过穿孔61与限位金属触头9相抵触;位于同一个金属浮动触头3正下方的导电金属片6和限位金属触头9分别通过金属导线与同一个双色指示灯4电连接，所述双色指示灯4通过金属导线与电源7的正极电连接，所述电源7的负极通过金属导线与导电金属平台2电连接。
[0022]在自然状态下:所述金属浮动触头3的最高点位于待检金属件10的待测槽/孔高度的上限位置(即:所述金属浮动触头3的上端高于检测区21内的导电金属平台2，