一种局部放电实验联接螺栓结构的制作方法

本发明涉及断路器技术领域，具体为一种局部放电实验联接螺栓结构。

背景技术：

迄今为止，从全球范围内应用的各类中压断路器的市场来看，真空断路器以百分之六十五以上的占有率位居第一。本次毕业设计项目即以abb现有vd4真空断路器的产品性能及数据作为基础，在保证提高产品的品质的基础之上，进行断路器触臂的优化设计，方案研究及成本分析，最终选出最优方案，达到降低生产成本的目的。通过理论可操作性以及年度销售量选择并确定出需优化的断路器。探究断路器的基本原理，并且对其主回路的触臂系统进行剖析，选取平衡点以保证触臂在温升与绝缘两部分能够达到国际标准。同时保证断路器能达到正常性能指标，最后选择最适用的方案对现有的触臂方案进行改造和优化。

新触臂系统经过绝缘试验、动热稳定性试验以及温升试验，可以确认优化后的classicavd424-12-31完全符合国家以及行业相关标准，在保证其可操作性的前提下，加强了可靠性，同时将生产成本有效地减少。其中节约成本主要包括两大方面：第一个是耗材方面，减少了相对昂贵的铜材料耗材，但又保证了系统的基本运行和可靠，经过计算，新触臂系统方案减少了大约65％的成本；第二个是组装工时方面，新触臂系统方案装配更加简单，零件少，也减少了材料管理的工时成本。这样一个优化方案完全符合这次毕业设计课题的要求，结合该产品的年度销售量，这个方案所节约的成本是十分可观的。

在断路器局部放电实验中，需要将被实验样品通过螺栓连接起来，目前连接螺栓都采用标准件螺栓，但在局部放电实验中受环境和电压的影响，标准件螺栓的棱边会出现电晕放电现象，直接影响局部放电实验结果，且在局部放电试验中需要个部件紧密连接，不能出现部件之间的松动，所以需要一种局部放电实验联接螺栓结构。

技术实现要素：

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种局部放电实验联接螺栓结构，解决了电晕现象和测试件实验电压的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种局部放电实验联接螺栓结构，包括联接螺栓柱和电晕屏蔽头，所述联接螺栓柱的表面设置有联接螺纹，所述联接螺栓柱的顶部固定连接有联接头，所述联接头的表面开设有第一连接孔，所述电晕屏蔽头的底部开设有连接滑槽，所述电晕屏蔽头的表面分别开设有第二连接孔和第一紧固孔，所述第二连接孔与连接滑槽连通。

所述联接螺纹的表面分别螺纹连接有铜排软连接、连接测试件和第一紧固螺母，所述电晕屏蔽头的下表面固定连接有第一防滑凸点，所述第一防滑凸点的表面与铜排软连接的上表面固定连接，所述铜排软连接的下表面固定连接有第二防滑凸点，所述第二防滑凸点的下表面与连接测试件的上表面固定连接。

优选的，所述第一连接孔分别通过左固定螺栓和右固定螺栓与第二连接孔螺纹连接，所述左固定螺栓和右固定螺栓的表面均开设有紧固槽，所述紧固槽的内部滑动连接有堵块。

优选的，所述第一紧固螺母的表面开设有第二紧固孔，所述第一紧固螺母呈圆柱形状。

优选的，所述联接螺纹的表面螺纹连接有第二紧固螺母，所述第二紧固螺母位于第一紧固螺母的下表面，所述第二紧固螺母的表面呈圆弧形状。

优选的，所述电晕屏蔽头的表面呈半球形状，所述第一紧固孔的内壁呈圆弧形状。

优选的，所述连接滑槽的内部与联接头的表面滑动连接，所述连接滑槽的深度与联接头的高度相等。

(三)有益效果

本发明提供了一种局部放电实验联接螺栓结构，具备以下有益效果：

(1)、该局部放电实验联接螺栓结构，通过设置半球形状的电晕屏蔽头，达到了对标准件螺栓头棱边电晕现象避免的效果，通过设置圆弧形状的第一紧固螺母，达到了对铜排软连接和连接测试件进行固定的效果，避免铜排软连接和连接测试件松动时导致实验电压变化而影响实验结果的问题。

(2)、该局部放电实验联接螺栓结构，通过设置圆弧形状的第二紧固螺母，能够使第一紧固螺母更加紧固，避免第一紧固螺母出现松动的问题，通过设置堵块，能够有效避免紧固槽出现电晕现象，通过设置第一紧固孔和第二紧固孔，能够有效增强对电晕屏蔽头和第一紧固螺母的紧固效果，可通过棍棒插入第一紧固孔和第二紧固孔分别对电晕屏蔽头和第一紧固螺母实现紧固松开，通过设置第一防滑凸点和第二防滑凸点，能够有效降低铜排软连接和连接测试件出现相对位移滑动的可能性，增大接触面积，使得实验电压更加稳定，从而有效的解决了电晕现象和测试件实验电压的问题。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明电晕屏蔽头结构局部放大图。

图中：1联接螺栓柱、2电晕屏蔽头、3联接螺纹、4联接头、5第一连接孔、6连接滑槽、7第二连接孔、8第一紧固孔、9铜排软连接、10连接测试件、11第一紧固螺母、12第一防滑凸点、13第二防滑凸点、14左固定螺栓、15右固定螺栓、16紧固槽、17堵块、18第二紧固孔、19第二紧固螺母。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-2，本发明提供一种技术方案：一种局部放电实验联接螺栓结构，包括联接螺栓柱1和电晕屏蔽头2，电晕屏蔽头2的表面呈半球形状，通过设置半球形状的电晕屏蔽头2，达到了对标准件螺栓头棱边电晕现象避免的效果，联接螺栓柱1的表面设置有联接螺纹3，联接螺纹3的表面螺纹连接有第二紧固螺母19，第二紧固螺母19位于第一紧固螺母11的下表面，第二紧固螺母19的表面呈圆弧形状，通过设置圆弧形状的第二紧固螺母19，能够使第一紧固螺母11更加紧固，避免第一紧固螺母11出现松动的问题，联接螺栓柱1的顶部固定连接有联接头4，联接头4的表面开设有第一连接孔5，电晕屏蔽头2的底部开设有连接滑槽6，电晕屏蔽头2的表面分别开设有第二连接孔7和第一紧固孔8，第一连接孔5分别通过左固定螺栓14和右固定螺栓15与第二连接孔7螺纹连接，左固定螺栓14和右固定螺栓15的表面均开设有紧固槽16，设置紧固槽16，可通过螺丝刀对左固定螺栓14和右固定螺栓15进行紧固和松开，紧固槽16的内部滑动连接有堵块17，通过设置堵块17，能够有效避免紧固槽16出现电晕现象，第一紧固孔8的内壁呈圆弧形状，第二连接孔7与连接滑槽6连通，连接滑槽6的内部与联接头4的表面滑动连接，连接滑槽6的深度与联接头4的高度相等，可避免连接滑槽6的深度与联接头4出现相对位移滑动从而影响实验结果的问题。

联接螺纹3的表面分别螺纹连接有铜排软连接9、连接测试件10和第一紧固螺母11，第一紧固螺母11的表面开设有第二紧固孔18，通过设置第一紧固孔8和第二紧固孔18，能够有效增强对电晕屏蔽头2和第一紧固螺母8的紧固效果，可通过棍棒插入第一紧固孔8和第二紧固孔18分别对电晕屏蔽头2和第一紧固螺母11实现紧固松开，第一紧固螺母11呈圆柱形状，通过设置圆弧形状的第一紧固螺母11，达到了对铜排软连接9和连接测试件10进行固定的效果，避免铜排软连接9和连接测试件10松动时导致实验电压变化而影响实验结果的问题，电晕屏蔽头2的下表面固定连接有第一防滑凸点12，第一防滑凸点12的表面与铜排软连接9的上表面固定连接，铜排软连接9的下表面固定连接有第二防滑凸点13，第二防滑凸点13的下表面与连接测试件10的上表面固定连接，通过设置第一防滑凸点12和第二防滑凸点13，能够有效降低铜排软连接9和连接测试件10出现相对位移滑动的可能性，增大接触面积，使得实验电压更加稳定，从而有效的解决了电晕现象和测试件实验电压的问题。

工作原理：实验时，将联接头4插入连接滑槽6的内部，通过螺丝刀将左固定螺栓14和右固定螺栓15螺纹连接到第一连接孔5和第二连接孔7的内部，堵块17与紧固槽16滑动连接，将铜排软连接9和连接测试件10与3联接螺纹3螺纹连接，第一紧固螺母11螺纹连接到联接螺纹3上，将铜排软连接9和连接测试件10旋转紧固，第二紧固螺母19将第一紧固螺母11旋转紧固，通过棍棒插入第一紧固孔8内将联接螺栓柱1与实验器件螺纹连接。

综上所述，该局部放电实验联接螺栓结构，通过设置半球形状的电晕屏蔽头2，达到了对标准件螺栓头棱边电晕现象避免的效果，第一紧固螺母11呈圆柱形状，通过设置圆弧形状的第一紧固螺母11，达到了对铜排软连接9和连接测试件10进行固定的效果，避免铜排软连接9和连接测试件10松动时导致实验电压变化而影响实验结果的问题，通过设置连接滑槽6的深度与联接头4的高度相等，可避免连接滑槽6的深度与联接头4出现相对位移滑动从而影响实验结果的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。