专利名称：集成电路的预烧控制装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用以控制集成电路质量的装置，特别是一种在集成电路出货前控制集成电路质量的集成电路的预烧控制装置，其为一种利用分散式的控制方式达到快速预烧的装置。
集成电路(IC)在出货前的质量管理控制阶段，需经过一段预烧(burn in)工序，该预烧工序是利用高温、高压或高湿度等方式将出厂后可靠性(reliability)不佳的产品预先检测出来，且予以淘汰，以免除将来不必要的回收成本。图1是现有集成电路的预烧控制装置，该装置是利用一个由中央控制(centralized control)的测试样本产生器11将共用的测试样本送至一个预烧炉12内的数个测试板13，这种现有装置存在如下缺点1、距离该测试样本产生器11较远的测试板，其接收到测试样本的时间将大于距离测试样本产生器11较近的测试板的接收时间，也就是说，各测试板接收到测试样本的时间将不一致；2、由于所有的测试板均连接至测试样本产生器11，而造成测试样本产生器11面对很重的输出负载，也就是说，测试样本产生器11输出测试样本的速度将因此而受到限制。
3、测试样本产生器11亦可能利用数个电缆线而连接至数个测试板13，但这样的结果将造成电缆线过多，而难以管理。
本发明的目的在与提供一种测试样本的输出速度快的集成电路的预烧控制装置。
为达到上述目的，本发明采取如下技术措施本发明的集成电路的预烧控制装置为一种分散式预烧控制装置，主要是将测试样本产生器分散地设置在各测试板内，而各个测试板的测试样本产生器可独立地动作，因此，各个测试板的测试样本的输出速度可以加快，且可提高抗杂信的能力；相对地，其单位时间的测试量便可以提高。此外，本发明的装置具有模组化的功能，即任一测试板毁损并不会影响其它测试板的动作；且维护工作非常方便，任一个测试板毁损时，仅须插拔该毁损的测试板。而各测试板可依其插入预烧炉的位置决定其装置的编号，不须再加入复杂的人工设定。
本发明采取如下具体结构本发明的集成电路的预烧控制装置，包括数个单元测试板；还包括一个区域分配板；各单元测试板包括一个测试样本产生器及一个待测试模组；测试样本产生器用于产生测试样本至该待测试模组以决定待测试模组内含的数个待测的集成电路是否有效；区域分配板用于控制至少一个单元测试板中的测试样本产生器的动作，并接收该单元测试板的测试结果。
其中，还包括一用于分析所述区域分配板接收的所述单元测试板测试结果的电脑。
其中，所述数个单元测试板彼此以串列的方式连接，所述区域分配板输出一个用于显示由那个单元测试板接受区域分配板控制的标记至串列的第一个单元测试板，串列的第一个单元测试板在接收到该标记时则进行比较，比较该标记是否为零；若答案是肯定的，则接受区域分配板传来的控制信号的指示若答案是否定的，则将该标记减一，并传至该串列的下一个单元测试板；依此类推，数个单元测试板中将至少有一个会收到内含值为零的标记。
其中，所述单元测试板还包括一驱动电路，所述测试样本产生器设在驱动电路中，所述待测试模组与躯动电路相连接。
其中，所述驱动电路还包括一个电压转换装置及一个信号加强装置；
电压转换装置分别连接所述待测试模组、测试样本产生器及所述信号加强装置；信号加强装置连接至待测试模组和测试样本产生器，用于加强单元测试板的信号输入，并拾取待测试模组的输出信号。
该分散式预烧控制装置包括复数个单元测试板及一区域分配板。该复数个单元测试板位于该预烧炉内，且该复数个单元测试板均各包括一测试样本产生器，该测试样本产生器可产生测试样本供该单元测试板决定其待测试模组内含的复数个集成电路是否有效。该区域分西己板用于潼未』该单元沮1试板中的测试样本产生器的动作，并接收该单元测试板的测试结果。
结合附图及实施例对本发明的结构特征详细说明如下
图1现有的预烧控制装置的连接示意图；图2本发明集成电路的预烧控制装置的一实施例的电路框图；图3本发明集成电路的预烧控制装置的另一实施例的电路框图；图4本发明图2所示实施例中单元测试板的电路框图。
如图2所示，其为本发明集成电路的预烧控制装置的一实施例的电路框图；其中，一个电脑14(本实施例中采用个人电脑)连接一个区域分配板(ZONE board)22，区域分配板22连接至一个预烧炉12内的数个单元测试板24；该电脑14用于分析数个单元测试板24的状态或测试结果，如分析单元测试板24内含的数个集成电路放置的位置或方向是否正确。此操作称为预烧监视(monitor burnin)。区域分配板22用于初始(initiate)及控制该数个单元测试板24的操作，并将该数个单元测试板24的状态或测试结果传输至该个人电脑14。区域分配板22因仅负责很单纯的操作，因此，其输出延迟很小，而不会影响整个预烧控制装置的工作速率。
如图3所示，其为本发明集成电路的预烧控制装置的另一实施例的电路框图；其中，数个单元测试板24彼此以串列(daisy chain)的方式相连。区域分配板22在输出一个控制信号至数个单元测试板24时，同时送出一个标记(token)至该串列的第一个单元测试板24；该标记用于显示由那一个单元测试板24接收该控制信号，并接受该区域分配板22的控制。该串列的第一个单元测试板24在接收到该标记时，则比较该标记是否为零。若答案是肯定的，则接受该区域分配板22传来的控制信号的指示。若答案是否定的，则将该标记减一，并传至该串列的下一个单元测试板24，依此类推。该数个单元测试板24中将仅有一个会收到内含值为零的标记，而该单元测试板24亦即为该区域分配板22所控制。此种串列的连接方式有个好处，即任一个单元测试板24可经由插放在该串列的任一位置而被自动检测出其在该串列的编号，若该串列是依据数个单元测试板24在预烧炉12的位置而循序排序，则亦可自动检测出任一单元测试板24在预烧炉12内的编号。
如图4所示，其为本发明图2所示实施例中单元测试板的电路框图，其中，单元测试板24包括一个待测试模组32及一个驱动电路33；待测试模组32包括数个待测的集成电路(图未示出)，置于高温下，且有数个连接头可连接至驱动电路33，驱动电路33位于常温下，且用于产生测试样本。驱动电路33包括一个电压转换装置34、一个测试样本产生器35及一个信号加强装置36。电压转换装置34可提供单元测试板24不同需求的电压。测试样本产生器35用于产生数组测试样本，并经由信号加强装置36以加强测试样本的驱动能力。信号加强装置36并可拾取待测试模组32的输出信号，并通过区域分配板22，送至电脑14作信号处理。因为单元测试板24都有独立的测试样本产生器35，所以，单元测试板24可依不同的需求执行不同的测试样本。因测试样本产生器35均以分散式的方式存在于单元测试板24内，因此，不会因数个单元测试板24累积的负载过大而降低预烧控制装置测试样本的产生速度。
与现有技术相比，本发明具有如下效果本发明的集成电路预烧控制装置具备模组化的功能，因此，在维护和检错能力上均较为方便。此外，本发明的预烧控制装置具有良好的隔离(isolation)效果，例如其中一个单元测试板24损坏了，并不会影响其它单元测试板24的运作，而且，单元测试板24仅与区域分配板22沟通，因此不需连接复杂的电缆线，也因此降低了由电缆线产生的延迟问题。本发明亦可设计为兼具集中式预烧控制及分散式预烧控制功能的结构，使用者可依系统需要而切换使用广域模式(global mode)，即集中式的预烧控制的功能，或区域模式(localmode)，即分散式的预烧控制的功能。
上述内容是利用实施例说明本发明的技术特征，并非用于限制本发明的保护范围，即使有人在本发明构思的基础上稍作变动，仍应属于本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种集成电路的预烧控制装置，包括数个单元测试板；其特征在于，还包括一个区域分配板；各单元测试板包括一个测试样本产生器及一个待测试模组；测试样本产生器用于产生测试样本至该待测试模组以决定待测试模组内含的数个待测的集成电路是否有效；区域分配板用于控制至少一个单元测试板中的测试样本产生器的动作，并接收该单元测试板的测试结果。
2.根据权利要求1所述的预烧控制装置，其特征在于，还包括一用于分析所述区域分配板接收的所述单元测试板测试结果的电脑。
3.根据权利要求1所述的预烧控制装置，其特征在于，所述数个单元测试板彼此以串列的方式连接，所述区域分配板输出一个用于显示由那个单元测试板接受区域分配板控制的标记至串列的第一个单元测试板，串列的第一个单元测试板在接收到该标记时则进行比较，比较该标记是否为零；若答案是肯定的，则接受区域分配板传来的控制信号的指示若答案是否定的，则将该标记减一，并传至该串列的下一个单元测试板；依此类推，数个单元测试板中将至少有一个会收到内含值为零的标记。
4.根据权利要求1或2或3所述的预烧控制装置，其特征在于，所述单元测试板还包括一驱动电路，所述测试样本产生器设在驱动电路中，所述待测试模组与躯动电路相连接。
5.根据权利要求4所述的预烧控制装置，其特征在于，所述驱动电路还包括一个电压转换装置及一个信号加强装置；电压转换装置分别连接所述待测试模组、测试样本产生器及所述信号加强装置；信号加强装置连接至待测试模组和测试样本产生器，用于加强单元测试板的信号输入，并拾取待测试模组的输出信号。
全文摘要
一种集成电路的预烧控制装置,包括:数个单元测试板及一区域分配板;各单元测试板包括一测试样本产生器及一待测试模组;测试样本产生器用于产生测试样本至待测试模组以决定待测试模组内含的数个待测的集成电路是否有效;区域分配板用于控制至少一单元测试板中的测试样本产生器的动作,并接收单元测试板的测试结果。本预烧控制装置中的各个测试板的测试样本产生器可独立动作,各测试板的测试样本的产生速度快,抗杂信能力高。
文档编号G01R31/26GK1351372SQ0013376
公开日2002年5月29日 申请日期2000年10月31日 优先权日2000年10月31日
发明者林殿方, 梁文山 申请人:京元电子股份有限公司