专利名称：高灵敏度的ic板测试制具装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种高灵敏度的IC板测试制具装置，主要是在测试基板的上部设以一转接板，具有模式化的共通电路，提供于上部再组装以特定的IC测试板，以有效测试特定的IC板，即利用同一制具装置，便可适用于测试各种不同IC板的良率，无须麻烦的更换程序。
背景技术：
传统的高灵敏度的IC测试板制具装置的结构如图1，主要包括有一支撑框架1，组合以铝框11，提供于各开孔处设以一支撑座12，使IC测试板2可架设于支撑座12上，而内部连接以电线21至计算机主机。IC定位座3可设于IC测试板2的上部，并组合以IC板31于其上，与测试板2相接触，完成检测电路是否为正常。此传统结构由于每一IC测试板2仅能测试一种IC板31，当欲测试不同IC板时，必须更换整体支撑框架1及其上的测试板12，其工程相当繁琐，非常麻烦。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种高灵敏度的IC板测试制具装置，利用转换测量方式，在同一测试基板的结构下，以简易转换其测试功能，有效检测不同种类的IC板。
以下结合附图以具体实例对本实用新型进行详细说明。
图1为传统IC板测试制具装置局部立体图；图2为图1的分解图；图3为本实用新型的使用状态平面图；图4为图2的侧视图；
图5为本实用新型的局部立体图；图6为图5的分解图。
附图标记说明1支撑框架；11铝框；12支撑座；2 IC测试板；21电线；3 IC定位座；31 IC板；4测试基板；5转接板。
具体实施方式
请先参阅图3、图4，本实用新型的高灵敏度的IC板测试制具装置包括有传统的支撑框架1，铝框11及支撑座12，在该支撑框架1上可同时检测许多组IC板。而本实用新型的特征在于提供一测试基板4设于支撑座12，其内部以电线连接于计算机主机。另于测试基板4上设以一转接板5，该转接板5具有上下电路线路，可将测试电路转换为模式化的共通电路。而IC测试板2乃可置放于转接板5的上部，形成导通，使IC定位座3所组合的IC板31放置于IC测试板2上部后，获得高灵敏度的的检测效果，以确定的品质的良性与否，达成测试目的。
在本实用新型的转换程序下，整体制具无须更换其测试基板4及其内部线路，只须藉由转换板5的变化及IC测试板2的配合，即可利用该制具来测试不同的IC板31，提升产业上的利用性。
权利要求1.一种高灵敏度的IC板测试制具装置，包括有一支撑框架，铝框及支撑座，以同时检测许多组IC板；其特征在于没有一测试基板于支撑座上，其内部以电线连接于计算机主机；另于测试基板上设以一转接板，该转接板具有上下电路线路，将测试电路转换为模式化的共通电路，而IC测试板置放于转接板的上部，形成导通，使IC定位座所组合的IC板放置于IC测试板上部后，得到检测。
专利摘要本实用新型公开了一种高灵敏度的IC板测试制具装置，主要系于测试基板的上部设以一转接板，具有模式化的共通电路，以供于上部再组装以特定的IC测试板，以有效测试特定的IC板，即利用同一制具装置，便可适用于测试各种不同IC板的良率，无须麻烦的更换程序，深具产业上的利用价值。
文档编号G01R31/28GK2625911SQ0320015
公开日2004年7月14日 申请日期2003年1月3日 优先权日2003年1月3日
发明者罗文伶 申请人:追日润股份有限公司