专利名称：电子零件特性测试之探针结构的制作方法
技术领域：
本实用新型系关于一种电子零件特性测试之探针结构，更详而言之，特别系指一种利用弹线之弹力摩擦接触之原理检测电子零件产品之阻值及DM值，进而判别该电子零件产品系为良品与否之检测用探针结构。
<二>背景技术请参阅图1，2所示，其分别系为习知之电子零件测试机构示意图及习知之测试探针实施例示意图，如图所示，现今电子制造业用检测零件中，检测装置之运用可说是相当普遍，然而大多数检测装置系利用探针由下往上之方式检测作动，而习知之电子零件检测装置1系包含有一具容置槽11之盘状旋转盘10，且该容置槽11内系可置放电子零件12等待测物，又该电子零件12之两端系分别形成有端电极120，而该旋砖盘10外周缘系设置有一零件送入装置13及一零件送出装置14，且旋转盘10系与一可作旋转运动之转轴15相连结，该转轴11系设置与一机台16上，而该机台16上与零件送入装置13相对应处系设置有一活动空间17，该活动空间17内系设置有上升构件18，上升构件18上系设置有可供检测用之探针180，而探针180a，180b之一端系分别连接有电路线181，另一端则与检测电子零件12之端电极120相互接触，藉由检测用探针180a、180b来检测电子零件12是否为良品零件。
然而，因该检测电子零件12端电极120之探针180a、180b系为由下往上之探测方式来探测电子零件12是否为良品或符合电阻值，但在检测功效上系有实质上的缺点，在检测时容易产生因探针180a、180b之凸伸或下缩，产生电子零件12晃动或位移，而使所测之电阻值误差大造成良品合格率偏低，且探针180a、180b在探测时容易产生接触不确实，而为了求得准确之电阻值则产生检测速度缓慢之问题，进而使产量大幅降低，且不符合经济效益及产业界利用的价值，造成使用者极大的困绕。致使在实际操作中具有侦测不稳定及确实，检测速度慢及容易产生误差的缺点。
<三>发明内容本实用新型之主要目的，在于提供一种电子零件特性测试之探针结构，其系藉由弹线式探针利用弹力摩擦接触之模式，能使检测电子零件时更接触确实，且可增加检测速度，减少检测时所产生的误差，进而提高检测效率的准确度之测试探针结构。
本实用新型一种电子零件特性测试之探针结构，其主要系利用弹线式探针之弹力来测试电子零件之特性的一种改良式探针，藉由利用弹线式探针以由上往下探测之方式利用弹力摩擦接触之原理探测电子零件之电阻抗，经由检测电子零件产品电阻值及DM值，进而判别产品之良品与否，该弹线式探针能使检测电子零件时更接触确实，且经由弹线缠绕于杆体，可使弹线之弹力及阻抗增加，并可便于弹线之定位，且可增加检测速度，减少检测时所产生的误差，进而提高检测效率的准确度之测试探针结构。
再重述一次，本实用新型一种电子零件特性测试之探针结构，它包含有一回转盘，系设置与一机台连结之转轴上，该转轴之一端系连结有一驱动源，而该回转盘外周缘系形成有复数个可放置电子零件之置放槽，而置放槽之上方相对应处系设置有一对弹线式探针，该弹线式探针系为一具弹力之线状体，而该弹线式探针之线段中间处系缠绕于一杆体，该杆体系为一端呈固定状之杆件，而弹线式探针之另一端系固定于一讯号接收端上。
其中，该弹线式探针之一端系利用弹力摩擦接触之原理压触于电子零件之端电极藉由弹线式探针之弹力摩擦接触原理检测电子零件，可使受测之电子零件不易晃动或移位，达到有效检测及可得准确之检测数值。
其中，该弹线式探针缠绕于杆体上可使弹线式探针减少阻抗，且可使弹线式探针缠绕定位于杆体上以增加弹线之弹力。
其中，该弹线式探针系可设置于回转盘上方，系可形成由上往下检测之态样。
其中，该弹线式探针系设置于回转盘下方，系可形成由下往上检测之态样。
其中，该讯号接收端系可收取弹线式探针检测后之检测数值，并判别系为良品与否。
本实用新型一种电子零件特性测试之探针结构，其优点是结构简单、操作便捷、结实牢固、具有市场推广价值。
<四>
图1系为习知之电子零件测试机构示意图。
图2系为习知之测试探针实施例示意图。
图3系为本实用新型弹线式探针结构示意图。
图4系为本实用新型之弹线式探针局部示意图。
图5系为本实用新型之弹线式探针立体示意图。
习知图号1 电子零件检测装置 15 转轴10 旋转盘16 机台11 容置槽17 活动空间12 电子零件 18 上升构件120 端电极180a探针13 零件送入装置 180b探针14 零件排除装置 181 电路线图中标号如下2 零件检测装置 24 置放槽20 回转盘25a 测试弹线21 机台 25b 测试弹线22 转轴 26 杆体23 电子零件 27 讯号接收端230 端电极<五>具体实施方式
请参阅图3，4，5，其系为本实用新型弹线式探针结构示意图，本实用新型之弹线式探针局部示意图，本实用新型之弹线式探针立体示意图，如图所示，本实用新型一种电子零件特性测试之探针结构，系有关于一种检测电子零件特性用弹线式探针结构；该电子零件检测装置2，其特征在于包含有一回转盘20，系设置与一机台21连结之转轴22上，该转轴22之一端系连结有一驱动源，该驱动源系可藉由转轴22而使回转盘20做旋转运动，而该回转盘20外周缘系形成有复数个可放置电子零件23之置放槽24，当回转盘20转动时，系可将电子零件23带动而随着回转盘20转动，而置放槽24之上方相对应处系设置有一对弹线式探针25a、25b，该弹线式探针25a、25b系为一具弹力且呈弯曲状之线状体，该弹线式探针25a、25b之一端系利用弹力摩擦接触之原理压触于电子零件23之端电极230藉由弹线式探针25a、25b之弹力摩擦接触之原理，而由上往下之方式压触检测电子零件23，可使受测之电子零件23不易晃动或移位，达到有效检测及可得准确之检测数值，且该弹线式探针25a、25b系亦可形成由下往上压触之态样，而该弹线式探针25a、25b之线段中间处系缠绕于一杆体26，该杆体26系为一端呈固定状之杆件，藉由弹线式探针25a、25b缠绕于杆体26上可使探针减少阻抗，且可使弹线式探针25a、25b缠绕定位于杆体26上以增加弹线之弹力，而弹线式探针25a、25b之另一端系固定于一讯号接收端27上，而该讯号接收端27系可收取弹线式探针25a、25b检测后之检测数值，并判别系为良品与否。
由于本实用新型系藉弹线式探针25a、25b利用弹力摩擦接触之原理，能使检测电子零件23时更接触确实，又因于弹线式探针25a、25b线段中间处缠绕于一杆体26，除可增加弹线式探针25a、25b之弹力，且可使弹线式探针25a、25b之探测端准确地压触于电子零件23之端电极230上，使得所测试出的电阻值更准确，而电子零件23只良品合格率亦会因此大幅提升。且可增加检测之速度，减少检测时所产生之误差，进而提高检测效率的准确度之测试探针结构。
以上所述，仅系本实用新型之一较佳可行实施例而已，大凡应用本实用新型说明书及申请专利范围所为之其它各种等效结构变化，均属可行，故理应包含在本实用新型申请专利所涵盖之范围内。
权利要求1.一种电子零件特性测试之探针结构，其特征在于它包含有一回转盘，设置在与一机台连结的转轴上，该转轴的一端连结有一驱动源，而该回转盘外周缘形成有复数个可放置电子零件的置放槽，而置放槽的上方相对应处设置有一对弹线式探针，该弹线式探针系为一具弹力之线状体，而该弹线式探针直的线段中间处缠绕一杆体，该杆体为一端呈固定状之杆件，而弹线式探针的另一端固定在一讯号接收端上。
2.根据权利要求1所述的一种电子零件特性测试之探针结构，其特征在于该弹线式探针的一端系利用弹力摩擦接触之原理压触于电子零件的端电极。
3.根据权利要求1所述的一种电子零件特性测试之探针结构，其特征在于该弹线式探针缠绕定位于杆体上。
4.根据权利要求1所述的一种电子零件特性测试之探针结构，其特征在于该弹线式探针设置在回转盘的上方。
5.根据权利要求1所述的一种电子零件特性测试之探针结构，其特征在于该弹线式探针设置在回转盘的下方。
专利摘要一种电子零件特性测试之探针结构，包含有一回转盘，系设置与一机台连结之转轴上，且外周缘系形成有可放置电子零件之置放槽，而该置放槽之上方相对应处系设置有弹线式探针，该探针系缠绕于一杆体，并一端固定于一讯号接收端上；其特征在于藉由弹线式探针利用弹力摩擦接触之模式，能使检测电子零件时更接触确实，且可增加检测速度，减少检测时所产生的误差，进而提高检测效率的准确度之测试探针结构。
文档编号G01N27/04GK2729716SQ200420048520
公开日2005年9月28日 申请日期2004年4月15日 优先权日2004年4月15日
发明者万兆麟 申请人:万兆麟