专利名称：光纤微弯发生装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光纤测试的辅助装置，尤其是测定光纤发生微弯情况下附加衰减的辅助装置。
背景技术：
目前在光纤的国际标准(IEC)中规定了光纤的宏弯附加衰减测试装置，对光纤微弯的附加衰减测试未作规定，也没有使光纤发生微弯的这样一种测定辅助装置。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种光纤微弯发生装置，能使光纤发生微弯状态，从而可以测定其在微弯时附加衰减的情况。
本实用新型提供的光纤微弯发生装置，含有盖板(1)和底板(3)，盖板(1)的下平面具有多条凸筋(2)，底板(3)的上平面具有与盖板(1)的凸筋(2)相对应的凹槽(4)和与凹槽(4)相垂直的多条线槽(5)。
为了测定光纤在不同微弯状态下的附加衰减，底板(3)上的线槽(5)具有不同深度。
本实用新型使用时，先将需测定的光纤放入底板(3)上的线槽(5)中，再把盖板(1)合在底板(3)上，盖板(1)上的凸筋(2)将光纤压入底板(3)上的凹槽(4)中，光纤发生了微弯，就可以用测试仪对光纤微弯状态下的附加衰减进行测试，当需要测定光纤在不同微弯状态下的附加衰减，只要将光纤放入底板(3)上不同深度的线槽(5)内即可。
本实用新型的有益效果是提供了一种可以很容易地使光纤发生微弯的装置，从而可以测定光纤微弯状态下附加衰减的情况。
图1是本实用新型的盖板(1)的示意图及其俯视图，图2是本实用新型的底板(3)的示意图及其俯视图、左视图，图3是本实用新型的盖板(1)和底板(3)合在一起的示意图。
在图1、图2、图3中，1.盖板，2.凸筋，3.底板，4.凹槽，5.线槽。
具体实施方式
本实用新型可以采用金属材料制作。在图1中，盖板(1)的下平面经过机械加工制成多条凸筋(2)。在图2中，底板(3)的上平面经过机械加工制成与盖板(1)上的凸筋(2)相对应的多条凹槽(4)和与凹槽(4)相垂直的多条线槽(5)；底板(3)上的凹槽(4)与盖板(1)上的凸筋(2)对应相嵌，底板(3)上的线槽(5)的深度由浅到深顺序排列。在图3中，当盖板(1)和底板(3)合在一起时，盖板(1)上的凸筋(2)嵌入底板(3)上的对应的凹槽(4)内，盖板(1)下平面与底板(3)上平面紧密接触。
权利要求1.一种光纤微弯发生装置，其特征在于含有盖板和底板，盖板的下平面具有多条凸筋，底板的上平面具有与盖板的凸筋相对应的凹槽和与凹槽相垂直的多条线槽。
2.按权利要求1所述的光纤微弯发生装置，其特征在于底板上的线槽具有不同深度。
专利摘要一种光纤微弯发生装置，含有盖板和底板，盖板的下面具有多条凸筋，底板的上平面具有与盖板凸筋相对应的凹槽和与凹槽相垂直的多条线槽，当盖板和底板合在一起时，盖板的凸筋嵌入底板上对应的凹槽内，本实用新型使用时，只需将光纤放入底板上的线槽中，合上盖板，光纤就发生了弯曲，给测定光纤微弯的附加衰减提供了方便。
文档编号G01M11/02GK2758793SQ20042010794
公开日2006年2月15日 申请日期2004年11月2日 优先权日2004年11月2日
发明者高安敏, 王德荣, 赵建东, 孙贵林, 贺作为 申请人:江苏亨通光电股份有限公司