专利名称：测试治具的探针结构改良的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试治具的探针结构改良，旨在提供一针体藉外套筒内的二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构，并藉由针体顶端的压抵部与接触部间形成一肩部，可利用测试面板的穿孔阶级部使肩部定位，进而可固定探针长度，可避免探针长短不一而造成短路的探针结构。
背景技术：
按，一般印刷电路板在完成线路布值后，为确保每条线路皆可正常导通，必需经过测试将电子线路完好的印刷电路挑出，再将各电子组件固定于印刷电路板上，而一般探针的作用是配置于测试治具上，而与各电子组件或印刷电路板接触，续由探针将测试结果接导线传回计算机，以确认待测物是否有不良的地方。
如图1所示，为一般探针的结构示意图，其探针1包含外套筒11、轴杆12、针体13、弹性体14及尾盖15，该外套筒11具有一中空状的容置空间111，且该外套筒11一端为口径较大的接合口112，另端为口径较小的穿设口113，该轴杆12的一端为较大管径的顶掣部121，并容设于前述的容置空间111中，且该顶掣部121是顶置于前述穿设口113的内侧壁上，该针体13是配置于轴杆12上方，且穿透出穿设口113，该弹性体14是套设于轴杆12上，其一端是顶设于顶掣部121上，该尾盖15是具有一中空状的信道152，且该信道152可供轴杆12穿设，其尾盖15是迫紧于接合口112处，其一端是成小管径的抵止部151并将前述弹性体14作抵止。
且一般测试治具使用该探针1时，各复数个探针1是插置于针板3及固定板8所欲设的针孔31、81内，其针孔31、81的位置是对应于待测电路板5的各待测点51的位置，其一端设有导线2用以将讯号传递至测试机7，而测试面板4则设于针板3上方，测试面板4上亦预设有与针板3的针孔31相对应的穿孔41，而针体13是穿过测试面板4的穿孔41，而凸出于测试面板4，另有一斜率板6设置于针板3与测试面板4之间，其可导正针体13的位置，将待测试电路板5设置于测试面板4上方，藉由测试机具将待测试电路板5的待测点51与探针1的针体13接触，而将电讯号依序传递至轴杆12，而由轴杆12底部连接的导线2传递至测试机上，由测试机7判定各待测点是否导通，以完成电路板的测试作业。
虽然该针体13可藉由外套筒11内弹性体14的顶持作一弹性的位移，而与测试电路板5的待测点51接触；惟，仅藉由单一弹性体较易形成弹性疲乏且使用寿命较短，形成测试的准确性不佳，亦增加汰换率，且其针体13凸出于测试面板4时并无定位作用，使针体13易晃动不稳定，而各针体13经过斜率板6的导正后，会形成长短不一而造成短路的情形。
实用新型内容本创作的主要目的，在于解决上述的缺失，藉由二弹性体的弹性压抵作用，且该针体并穿透该外套筒另端的穿设口，及可使该针体于外套筒藉由二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构，且藉由二个弹性体的作用可增加其使用寿命，且针体的压抵部顶端形成有一管径较小的接触部，使压抵部与接触部间形成一肩部，测试面板的穿孔并形成可与前述肩部相对应的阶级部，使其阶级部可固定探针长度，可避免探针长短不一而造成短路。
为达成上述目的，本创作包含一外套筒、一套设于外套筒内的轴杆、一配置于轴杆上方的针体、一套设于针体上的第一弹性体、一配置于针体与轴杆间的第二弹性体、以及一配置于外套筒接合口上的尾盖，藉由二弹性体的弹性压抵作用，且该针体并穿透该外套筒另端的穿设口，及可使该针体于外套筒藉由二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构。
图1为习有探针的结构示意图；图2为本实用新型中探针的结构示意图；图3为本实用新型中肩部与阶级部的放大结构示意图；图4为本实用新型中测试治具的结构分解图。
图号说明1探针 151 抵止部11 外套筒152 信道111 容置空间 2导线112 接合 3针板113 穿设 31 针孔12 轴杆 4测试面板121 顶掣部4＇ 第一副板体。
13 针体 4″ 第二副板体131 压抵部41、 穿孔41＇、41″132 套接部42 阶级部133 接触部5待测电路板134 肩部 51 待测点14 弹性体6斜率板141 第一弹性体7测试机142 第二弹性体8固定板15 尾盖 81 针孔
具体实施方式
为能使贵审查员清楚本创作的结构组成，以及整体运作方式，兹配合图式说明如下本实用新型测试治具的探针结构改良，其探针1的结构如图2所示，同样是包含金属制成的外套筒11、轴杆12、金属制成的针体13及尾盖15，该外套筒11具有一中空状的容置空间111，且该外套筒一端为口径较大的接合口112，另端为口径较小的穿设口113，该轴杆12的一端为较大管径的顶掣部121，并容设于前述的容置空间111中，且该顶掣部121是顶置于前述穿设口113的内侧壁上，该针体13的一端为较大管径的压抵部131，另端为管径较小的套接部132，并配置于轴杆12上方，且套接部132一端则穿透出穿设口113，该尾盖15是具有一中空状的信道152，且该信道152可供轴杆12穿设，其尾盖15是迫紧于接合口112处。
本案的重点在于该容置空间111中是设有二个弹性体，其均可为压缩弹簧，第一弹性体141是配置于针体的套接部132上，而第二弹性体142则配置于针体压抵部131与轴杆顶掣部121之间，而轴杆12相对应于顶掣部121的另端则接设导线2，以由第一、二弹性体141、142可分担探针1所受的压力，并达到相互补偿的作用，请同时参照图3所示，且其针体13的套接部132顶端形成有一管径较小的接触部133，使套接部132与接触部133间形成一肩部134。
而目前产业间所采用测试印刷电路板的测试治具，如图2、图3及图4所示，是包括有一固定板8、针板3及测试面板4，该针板3及固定板8上预设有对应待测电路板5的各待测点51位置的针孔31、81，而复数个探针1则插置于该针孔31、81内，其一端设有导线2用以将讯号传递至测试机7，而测试面板4则设于针板3上方，测试面板4上亦预设有与针板3的针孔31相对应的穿孔41，而针体13是穿过测试面板4的穿孔41，而凸出于测试面板4，将待测试电路板5设置于测试面板4上方，藉由测试机具将待测试电路板5的待测点51与探针1的针体13接触，而将电讯号依序传递至第二弹性体142、轴杆12，而由轴杆12底部连接的导线2传递至测试机上，由测试机7判定各待测点是否导通，以完成电路板的测试作业。
其中，测试面板4的穿孔41并形成可与前述肩部134相对应的阶级部42，如本实施例所示，其测试面板4是由第一、二副板体4＇、4″所组成，其第一副板体4＇的穿孔41＇孔径是小于第二副板体4″的穿孔41″孔径，以由不同孔径的穿孔41＇、41″形成阶级部42，藉由该针体的肩部134卡置于阶级部42下，不仅可固定针体13位置，且可使针体13凸出于测试面板4的长度固定，可避免针体长短不一而造成短路。
另外，一般待测试电路板5的待测点51的密度较为密集，而探针1的体积较大，使针板3上相对应于各待测点51位置的针孔31，无法正对应于各待测点51的下方，而利用一斜率板6设置于针板3与测试面板4之间，如图2所示，而可导正针体13的位置，使针体13穿过该斜率板6后，可由各待测点51的正下方穿出，而可藉由第一、二弹性体141、142的弹性作用，以及阶级部42的卡置作用，使针体13凸出于测试面板4的相同高度。
如上所述，本实用新型提供一较佳可行的测试治具的探针结构改良，于是依法提呈新型专利的申请；惟，以上的实施说明及图式所示，系本创作较佳实施例，并非以此局限本创作，是以，举凡与本创作的构造、装置、特征等近似、雷同，均应属本创作的创设目的及申请专利范围之内。
权利要求1.一种测试治具的探针结构改良，是包含外套筒、轴杆、针体及尾盖，该外套筒具有一中空状的容置空间，且该外套筒一端为口径较大的接合口，另端为口径较小的穿设口，该轴杆的一端为较大管径的顶掣部，并容设于前述的容置空间中，且该顶掣部是顶置于前述穿设口的内侧壁上，该针体的一端为较大管径的压抵部，另端为管径较小的套接部，并配置于轴杆上方，且套接部一端则穿透出穿设口，该尾盖是具有一中空状的信道，且该信道可供轴杆穿设，其尾盖是迫紧于接合口处；其特征在于该容置空间中设有二个弹性体，第一弹性体配置于针体的套接部上，而第二弹性体则配置于针体压抵部与轴杆顶掣部之间，且其针体的压抵部顶端形成有一管径较小的接触部。
2.如权利要求1所述的测试治具的探针结构改良，其特征在于该轴杆相对应于顶掣部的另端可接设导线。
3.如权利要求1所述的测试治具的探针结构改良，其特征在于该弹性体为压缩弹簧。
4.如权利要求1所述的测试治具的探针结构改良，其特征在于该外套筒及针体为金属制成。
5.一种测试治具的探针结构改良，包括有一固定板、针板及测试面板，该针板上预设有对应待测电路板的各待测点位置的针孔，而复数个探针则插置于该针孔内，其一端设有导线用以将讯号传递至测试机，而测试面板则设于针板上方，测试面板上亦预设有与针板的针孔相对应的穿孔，而探针是穿过测试面板的穿孔，而凸出于测试面板，将待测试电路板设置于测试面板上方，藉由测试机具将待测点与探针接触，而将电讯号由导线传递至测试机上，由测试机判定各待测点是否导通，以完成电路板的测试作业；其特征在于该探针包含外套筒、轴杆、针体、二弹性体及尾盖，且其针体具有一与待测试电路板接触压抵的压抵部，而压抵部顶端形成有一管径较小的接触部，使压抵部与接触部间形成一肩部，测试面板的穿孔并形成可与前述肩部相对应的阶级部。
6.如权利要求5所述的测试治具的探针结构改良，其特征在于该探针的外套筒具有一中空状的容置空间，且该外套筒一端为口径较大的接合口，另端为口径较小的穿设口，该轴杆的一端为较大管径的顶掣部，并容设于前述的容置空间中，且该顶掣部是顶置于前述穿设口的内侧壁上，该针体的一端为较大管径的压抵部，另端为管径较小的套接部，并配置于轴杆上方，且套接部一端则穿透出穿设口，该二弹性体设于容置空间中，第一弹性体是配置于针体的套接部上，而第二弹性体则配置于针体压抵部与轴杆顶掣部之间，该尾盖具有一中空状的供轴杆穿设的信道，其尾盖迫紧于接合口处。
7.如权利要求5所述的测试治具的探针结构改良，其特征在于该针板与测试面板之间另外设置有一可导正针体位置的斜率板。
8.如权利要求5所述的测试治具的探针结构改良，其特征在于该测试面板由第一、二副板体所组成，其第一副板体的穿孔孔径小于第二副板体的穿孔孔径。
专利摘要本实用新型的测试治具是包括有一固定板、针板及测试面板，而其探针则包含一外套筒、一套设于外套筒内的轴杆、一配置于轴杆上方的针体、一套设于针体上的第一弹性体、一配置于针体与轴杆间的第二弹性体、以及一配置于外套筒接合口上的尾盖，而探针是穿过测试面板的穿孔，而凸出于测试面板，将待测试电路板设置于测试面板上方，藉由测试机具将待测点与探针接触，而将电讯号由导线传递至测试机上，由测试机判定各待测点是否导通，以完成电路板的测试作业；其中，该针体的压抵部顶端形成有一管径较小的接触部，使压抵部与接触部间形成一肩部，测试面板的穿孔并形成可与前述肩部相对应的阶级部，使其阶级部可固定探针长度，可避免探针长短不一而造成短路。
文档编号G01R31/28GK2833600SQ20052011232
公开日2006年11月1日 申请日期2005年7月6日 优先权日2005年7月6日
发明者颜鸿杰 申请人:颜鸿杰