专利名称：一种绝缘测试探针的制作方法
技术领域：
一种绝缘测试探针(一) 技术领域 本实用新型涉及一种测试探针。(二) 背景技术一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条 线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试，测试探针的一头接触 测试点，另一头连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。 当电路板或芯片上的焊点较密时，用于测试的测试探针排列得就较紧 密，在通电测试时测试探针之间会产生相互影响，严重时甚至会产生电火花。(三) 发明内容为了克服现有测试探针在测试测试点较密集的检测件时相互间易产 生干扰的不足，本实用新型提供一种即使在测试测试点较密集的检测件 时相互间也不会产生干扰的绝缘测试探针。本实用新型解决其技术问题的技术方案是 一种绝缘测试探针， 包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述的针体 上包裹有绝缘层，所述绝缘层前方的针体形成探测头所在的探测端， 所述绝缘层后方的针体形成连接导线的连接端。探测头的结构可根据不同测量点的实际情况而定，如所述的探测头呈圆锥状；或者所述的探测头呈圆弧状；或者所述的探测头上具有齿口。 本实用新型在使用时，测试探针探测端的探测头接触测试点，测 试探针的连接端连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。 由于针体上包覆有绝缘层，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。(四)
图l是本实用新型的结构示意图。图2是探测端顶部的另一种结构图。 图3是探测端顶部的另一种结构图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细说明。参照图1， 一种绝缘测试探针，包括针体1，所述针体1的前端为 用于接触测试点的探测头2，所述的针体1上包裹有绝缘层3，所述绝 缘层3前方的针体形成探测头2所在的探测端4，所述绝缘层3后方 的针体形成连接导线的连接端5，所述的探测头2呈圆锥状。在使用时，测试探针探测端的探测头2接触测试点，测试探针的连接端5连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。由于针体1上包覆有绝缘层3，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生千扰。探测头的结构可根据不同测量点的实际情况而定，可以是如图2所示的圆弧状，也可以是如图3所示的齿口状。
权利要求1. 一种绝缘测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测 试点的探测头，其特征在于所述的针体上包裹有绝缘层，所述绝缘 层前方的针体形成探测头所在的探测端，所述绝缘层后方的针体形成 连接导线的连接端。
2. 如权利要求1所述的绝缘测试探针，其特征在于所述的探测 头呈圆锥状。
3. 如权利要求1所述的绝缘测试探针，其特征在于所述的探测 头呈圆弧状。
4. 如权利要求1所述的绝缘测试探针，其特征在于所述的探测 头上具有齿口。
专利摘要一种绝缘测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述的针体上包裹有绝缘层，所述绝缘层前方的针体形成探测头所在的探测端，所述绝缘层后方的针体形成连接导线的连接端。探测头根据测试点的具体情况可设计为圆锥状、圆弧状、齿口状等。本实用新型在使用时，测试探针探测端的探测头接触测试点，测试探针的连接端连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来。由于针体上包覆有绝缘层，因此既使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。
文档编号G01R1/067GK201037848SQ200720108338
公开日2008年3月19日 申请日期2007年4月19日 优先权日2007年4月19日
发明者周燕明, 沈芳珍 申请人:沈芳珍